Анализ матричных данных для составных частей изделия :

•а) выбирается изобретение с суммарного коэффициента влияния ΣKXij;

•б) из каждой группы взаимозаменяемых признаков (А, Б, В и т.д.) выбирают существенные признаки с максимальным значением суммарных коэффициентов влияния ΣKA1; ΣKА5; ΣKВ2; ΣKБ4; ΣKД5; ΣKД7 и т.д.

•в) дополнительно исследуется каждый признак по его влиянию на важнейшие показатели.;

•г) сопоставляют значение суммарных коэффициентов влияния всех признаков различных изобретений (ΣΣKj ) и определяют изобретение, с максимальным суммарным влиянием на изделие;

График тенденции изменения технико- экономических показателей изделия :

•устанавливают дату приоритета каждого изобретения или год создания изделия, описание которого содержится в анализируемых документах;

•строят систему координат, на оси абсцисс которой наносят приоритетные данные каждого исследуемого вида продукции или изобретения;

•на ось ординат в точках дат приоритетов откладывают значения коэффициентов влияния изобретений на соответствующие показатели;

•полученные точки соединяют кривыми, характеризующими тенденцию изменения соответствующих исследуемых показателей;

График тенденции изменения технико- экономических показателей изделия (продолжение):

•кривые изменения значений всех показателей наносят на один график в одном масштабе;

•по суммарным значениям коэффициентов влияния изобретений строят кривую изменения во времени всех показателей, взятых в совокупности, с выделением на графике достигнутых значений показателей лучшей Российской и иностранной продукцией (изобретениями);

•экстраполируют кривые, получаемые по данным матриц анализа за исследуемый период,

•определяют изменение их в перспективе, дающее представление об изменении значений показателей в ближайшем будущем

По изменению кривых значений показателей устанавливают:

•изобретения, обеспечивающие получение наилучших значений важнейших технико- экономических показателей (на графиках - это наивысшие точки кривых);

•бесперспективные направления решений технических задач (на графиках они, как правило, соответствуют самым низким точкам);

•оптимальный вариант использования изобретений для получения значений наилучших показателей.

Окончательный вариант информационной модели

•существенные признаки изобретений и составные части продукции :

•Им = ΣKA1 + ΣKБ3 +ΣKВ2 + ΣKГ2 + ΣKД1 + ΣKЕ2

Краткое описание информационной модели разрабатываемого изделия

Оценка технического уровня разрабатываемой продукции:

а) составляют неполную матрицу на разрабатываемый объект, для чего:

•уточняют значения показателей Хij, которые будут достигнуты совокупностью всех технических решений, используемых при разработке продукции;

•определяют значения коэффициентов влияния разрабатываемого изделия на показатели KXij;

•определяют суммарный коэффициент влияния на показатели ΣKXij;

•из имеющихся данных заполняют графы 2, 4 и 5 матрицы таблицы (пред. слайд)

Оценка технического уровня разрабатываемой продукции:

б) определяют относительный показатель технического уровня Тур. разрабатываемого изделия путем деления суммарного

коэффициента влияния ΣKXij на суммарный коэффициент ΣmXjб :

Tур. K Xij

mXij

Тур. характеризует

•технический уровень разрабатываемого изделия по отношению к среднему техническому уровню, соответствующему изделию, принятому за базу сравнения