- •Лекция 6
- •Отбор изобретений для анализа
- •Комбинированная система
- •Достоверность экспертных оценок УКП зависит от:
- •Области применения экспертных методов - оценка
- •Оценка технического уровня продукции заключается в установлении соответствия установленным нормам совокупности:
- •Единичные, групповые и обобщенные ПКП приводятся в
- •В комплексном методе оценки
- •Основание выбора норм и предельных значений ПКП
- •Комплексные показатели качества
- •Значения ПК, которые могут быть достигнуты за счет применения
- •Значимость применения изобретения в оцениваемой продукции
- •Значимость применения изобретения
- •Анализ влияния изобретений
- •Основа матрицы
- •Матрица анализа влияния исследуемого изобретения на уровень качества продукции
- •Оценка степени влияния
- •В каждой матрице суммируют:
- •Определяют:
- •Влияние изобретения на продукцию
- •Анализ матричных данных для составных частей изделия :
- •База информационной модели :
- •График тенденции изменения технико- экономических показателей изделия :
- •График тенденции изменения технико- экономических показателей изделия (продолжение):
- •По изменению кривых значений показателей устанавливают:
- •Окончательный вариант информационной модели
- •Краткое описание информационной модели разрабатываемого изделия
- •Оценка технического уровня разрабатываемой продукции:
- •Оценка технического уровня разрабатываемой продукции:
- •Тур. характеризует
- •Оценка уровня качества изготовления продукции
- •Коэффициент дефектности
- •Коэффициент дефектности
- •Стоимостной способ -
- •Косвенные расходы U включают
- •Балльный метод (проще стоимостного)
- •Балльный метод (процедуры оценки)
- •Коэффициент дефектности
- •Балльный метод
- •Уровень качества изготовления продукции У (при известных
- •Балльным методом
- •Максимальное число баллов
Значения ПК, которые могут быть достигнуты за счет применения
изобретения в изделии, определяют
•расчетами;
•перенесением опыта использования содержащихся в изобретении признаков, ранее применявшихся в других изделиях и для других целей;
•макетированием или опытной проверкой;
•сопоставительным анализом;
•экспертным методом
Значимость применения изобретения в оцениваемой продукции
•коэффициент влияния j-го изобретения на i-тый показатель качества изделия с помощью следующего соотношения:
•
Kij mxiб Xij Xiб
Значимость применения изобретения
воцениваемой продукции (2)
•где Xij – значение показателя Xi с учетом j-го изобретения;
•Xiб – значение показателя Xi базового образца;
•mxiб = mxij – коэффициент весомости показателя Xi ;
•i – порядковый номер показателя при ранжировании; j- порядковый номер изобретения
Анализ влияния изобретений
•Составляется матрица анализа на каждое изобретение
Цель - разработка информационной модели разрабатываемого изделия - представления проектируемого изделия в виде совокупности технических решений, составляющих это изделие
Основа матрицы
•существенные признаки каждого j-го изобретения, (А1, Е1, В1, Г1, Д1, Е1 — для первого изобретения, А2, Е2, В2, Г2, Д2, Е2 - для второго изобретения и т. д.)
•признаки изобретений (составные части продукции), с одинаковыми буквенными обозначениями, взятые из различных изобретений (например, А1, А2, А3, и т. д.), являются взаимозаменяемыми, т. е. выполняющими аналогичные функции
•существенные признаки каждого изобретения заносят в соответствующие графы матрицы
Матрица анализа влияния исследуемого изобретения на уровень качества продукции
№ Наименован Значение |
Коэффициент |
Коэффициент влияния Коэффициент влияния составных частей изделия или |
|||
|
ие |
показателя |
весомости |
изобретения на |
существенных частей изобретения А1, Е1,В1, Г1, |
п |
показат |
качества |
показателя |
показатель |
Д1, Е1 и т.д. на показатель |
. |
еля |
Исследуем Базового |
|
|
|
п |
|
|
|
||
|
ого |
изд |
|
|
|
. |
|
|
|
||
|
издел |
ели |
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
ия |
я |
|
|
1 |
2 |
3 |
|
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
i |
Xi |
Xij |
Xiб |
mXjб |
KXij |
|
KAj |
KБj |
KВj |
KГj |
KДj |
KЕj |
1
2
…
.
n
ΣmXjб |
ΣKXij |
ΣKAj |
ΣKБj |
ΣKВj |
ΣKГj |
ΣKДj |
ΣKЕj |
Оценка степени влияния
•«положительное влияние»,
•«отрицательное влияние»,
•«признак влияния не оказывает».
В каждой матрице суммируют:
•значения коэффициентов весомости показателей (графа 5);
•значения коэффициентов влияния изобретения на показатели (графа 6);
•значения коэффициентов влияния каждого существенного признака, например А, на все показатели (графа 7);
•суммарные значения коэффициентов влияния существенных признаков каждого изобретения (или их составных частей)
Определяют:
•суммарный коэффициент весомости всех показателей ΣmXi, который является равным
по величине суммарному коэффициенту весомости базового образца ΣmXjб и служит основой для сравнения всех исследуемых аналогов продукции и разрабатываемого изделия;
•суммарный коэффициент влияния каждого изобретения ΣKXij;
•суммарное значение влияния признака А на изделие ΣKAj;
Влияние изобретения на продукцию
•ΣΣKj = ΣKAj + ΣKБj +ΣKВj + ΣKГj + ΣKДj + ΣKЕj
