
- •Фотоэффект
- •3. Теоретическая часть
- •3.1. Виды фотоэлектрического эффекта
- •3.2. Законы внешнего фотоэффекта
- •3.3. Уравнение Эйнштейна для внешнего фотоэффекта
- •3.4. Применение фотоэффекта
- •3.5. Характеристики фотоэлементов
- •3. ТеоРитическая часть
- •3.1. Дифракция Фраунгофера на одной щели
- •3.2. Дифракция Фраунгофера на дифракционной решетке
- •3. Теоретическая часть
3.2. Дифракция Фраунгофера на дифракционной решетке
Дифракционная решетка– это система параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками.
Рассмотрим
дифракционную решетку с двумя параллельными
щелями, находящимися на расстоянии
друг от друга (рис. 4.4).
Величина
называетсяпериодом
дифракционной решетки. Пусть
пучок параллельных монохроматических
лучей падает перпендикулярно на
дифракционную решетку
.
Тогда обе щели являются когерентными
источниками света. Если за экраном
помещена собирающая линза
,
то на экране
,
расположенном в фокальной плоскости
линзы, возникнет дифракционная картина,
являющаяся результатом интерференции
лучей, испущенных каждой отдельной
щелью и интерференции лучей, испущенных
обеими щелями. Однако, основные черты
этой картины определяются вторым
процессом, с которым подробнее и
познакомимся.
Рис. 4.4. Возникновение дифракционной картины при дифракции света на двух щелях |
щелей свет будет распространяться во всех возможных направлениях. Из рис. 4.4 видно, что разность хода параллельных лучей, дифрагирующих от щелей под углом ,
.
Собранные
линзой
в одну линию (проходящую параллельно
щелям через точку
на экране
),
эти лучи проинтерферируют. Очевидно,
что в тех направлениях, в которых ни от
одной из щелей свет не распространяется,
он не будет распространяться и от двух
щелей, т.е прежние (главные) минимумы
интенсивности будут наблюдаться в
направлениях, определенных условием (4.4):
,
(4.5)
где
.
Вследствие взаимной интерференции
световых лучей, посылаемых двумя щелями,
в некоторых направлениях они будут
гасить друг друга, т.е. возникнут
дополнительные минимумы. Очевидно, что
эти дополнительные минимумы будут
наблюдаться в тех направлениях, которым
соответствует разность года лучей/2,
3/2,..., посылаемых,
например, от крайних левых точек обеих
щелей (рис. 4.4). Таким образом, с учетом
(4.5)условие
дополнительных минимумов:
,
(4.6)
где
.
Наоборот, действие одной щели будет
усиливать действие другой, если
,
(4.7)
где
,
т.е. направлениям (4.7) соответствуют так
называемыеглавные
максимумы.
Таким образом, полная дифракционная картина для двух щелей определяется условиями:
главные минимумы
;
дополнительные минимумы:
;
главные максимумы:
.
т.е. между двумя главными максимумами располагается один дополнительный минимум. Аналогично можно показать, что между каждыми двумя максимумами при трех щелях располагаются два дополнительных минимума, при четырех щелях – три и т.д.
Если
дифракционная решетка состоит из
параллельных щелей, то условием главных
минимумов является условие (4.6), условием
главных максимумов – условие (4.7), а
условием дополнительных минимумов –
условие:
,
(4.8)
где
т.е.
может принимать все целочисленные
значения, кроме 0,
,
,
..., т.е. кроме тех, при которых условие (4.8)
переходит в условие (4.6). Следовательно,
в случае
щелей между двумя главными максимумами
располагается
дополнительных минимумов, разделенных
вторичными максимумами, создающими
весьма слабый фон. На рис. 4.5
качественно сопоставлена дифракционная
картина от одной, двух, четырех и восьми
щелей. Так как модульsinне может быть больше единицы, то из (4.7)
следует, что число главных максимумов
определяется
отношением периода решетки
(рис. 4б) к длине волны.
Положение
главных максимумов зависит от длины
волны .
Как следует из формулы (4.7) синус
угла отклонения пропорционален длине волны
.
Следовательно, красные лучи, имеющие
большую длину волны, чем фиолетовые,
отклоняются дифракционной решеткой
сильнее, поэтому при пропускании через
решетку белого света все максимумы,
кроме центрального (
),
разложатся в спектр, фиолетовая область
которого будет обращена к центру
дифракционной картины, красная – наружу.
Это свойство дифракционной решетки
используется для исследования
спектрального состава света (определения
длины волны и интенсивностей всех его
монохроматических компонентов), т.е.
дифракционная решетка может быть
использована как спектральный прибор.
С помощью дифракционной решетки
проводятся очень точные измерения длины
световых волн.