Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

13 Электроника Лекции в презентациях 2012

.pdf
Скачиваний:
39
Добавлен:
10.04.2015
Размер:
1.34 Mб
Скачать

Обзор механизмов отказов

 

Устройство

Наблюдаемый отказ

Возможная причина

 

 

 

 

 

Трансформаторы

Обрыв

Электрическая и тепловая

 

 

 

перегрузка

 

 

 

 

Физический контакт

витков

 

 

Замыкание между

обмоток вследствие электрической

 

 

и тепловой перегрузок,

плохая

 

 

обмотками

 

 

изоляция обмоток и сердечника,

 

 

 

 

 

 

низкая прочность диэлектрика

 

 

Высокая индуктивность

Плохая разработка или техника

 

 

рассеяния и емкость

намотки

 

 

 

 

 

 

 

 

Высокие омические

 

 

 

 

потери и потери на

Плохая разработка

 

 

вихревые токи

 

 

 

Реле

Разрушение контактов,

Электрическая дуга, коррозия

 

включая коррозию

загрязняющими веществами из-за

 

 

 

 

 

плохой герметичности

 

 

 

 

 

 

 

 

 

11

Обзор механизмов отказов

Устройство

Наблюдаемый отказ

Возможная причина

 

 

 

 

 

Оплавление контактов

Электрическая перегрузка (высокий ток)

 

Разрушение катушки

Электрическая перегрузка (высокий ток)

Реле

Разрушение

Перегрев при пайке или электрической

 

пластмассового

 

перегрузке

 

 

корпуса

 

 

 

 

Печатные

 

Перегрев во время пайки из-за

платы

Изменение цвета

передачи тепла от нагревающих

 

 

 

компонентов

 

 

Расслоение материала

Перегрев во время пайки или из-за

 

теплового излучения нагревающихcя

 

платы

 

компонентов

 

 

 

 

 

 

Перегрев во время пайки, неправильно

 

Деформация

выбранная толщина материала, плохая

 

топология платы, монтаж больших

 

 

 

 

элементов без дополнительного крепления

 

 

 

 

 

Вспучивание

Высокая температура

12

 

 

Внешние признаки теплового пробоя

Свидетельства воздействия импульсного перенапряжения:

Видимые следы поверхностного пробоя в форме черных линий на дорожках плат и контактах штекеров, маленькие пузырьки на плате;

Взорвавшиеся электронные компоненты: резисторы, полупроводники, микросхемы;

Изогнутые соединительные провода разрушенных компонентов, например, резисторов;

Взорванные коммутирующие устройства, например, УЗО;

Локальные поверхностные пробои кабельной изоляции;

Предохранители не сработали из-за слишком короткой длительности импульса (единицы или десятки микросекунд).

Свидетельства длительной перегрузки:

Видимые следы горения и следы теплового воздействия в виде вздутий на платах;

Оплавленные изоляция кабеля и штекеры;

Следы воздействия тепла на корпуса приборов в виде деформации;

Сгоревшие электронные компоненты;

Входные предохранители могли сработать.

13

Тепловой пробой

14

Импульсные перенапряжения

 

Последствия воздействия

Последствие воздействия

 

импульсного перенапряжения

токов перегрузки

 

 

 

15

Факторы внешней среды, влияющие на параметры полупроводниковых приборов

Вид внешнего

Вызываемые или

Типичные дефекты

воздействия

ускоряемые процессы

 

 

 

 

 

Повышенная

Высыхание защитных

Тепловой пробой.

температура

покрытый и деформация их.

Увеличение

обратных

 

Выделение газов.

токов.

 

 

Расплавление.

 

Потеря герметичности.

 

Растрескивание

кристаллов.

Обрывы и короткие

 

Миграция ионов примесей и

замыкания

 

 

влаги.

 

 

 

 

Изменение электрических

 

 

 

характеристик

полупроводника

 

 

 

 

 

Пониженная

Конденсация влаги.

Лавинный пробой.

температура

Растрескивание

кристаллов.

Снижение коэффициента

 

Изменение электрических

передачи.

 

 

характеристик

полупроводника

Потеря герметичности.

 

 

 

Обрывы и короткие

 

 

 

замыкания

 

 

 

 

 

 

Повышенная

Адсорбция и

абсорбция

Изменение

электрических

влажность

влаги. Химические реакции с

параметров. Появление

 

влагой. Электролиз. Коррозия

нестабильности. Коррозия

 

 

 

выводов и корпуса.

 

 

 

Повреждения лакокрасочных

 

 

 

покрытий

16

 

 

 

 

 

Факторы внешней среды, влияющие на параметры полупроводниковых приборов

 

 

 

 

 

 

 

Вид внешнего

Вызываемые или

Типичные дефекты

 

 

воздействия

ускоряемые процессы

 

 

 

 

 

 

 

 

Резкие изменения

Механические напряжения в

Потеря герметичности.

 

 

температуры

местах спаев.

Обрывы и короткие

 

 

 

Растрескивание кристаллов.

замыкания.

 

 

 

Растрескивание и

Изменение

 

 

 

деформация покрытый

электрических

 

 

 

 

Параметров

 

 

 

 

 

 

 

Пониженное

Ухудшение теплоотдачи

Перегрев

 

 

давление

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Механические

Механические напряжения.

Обрывы и короткие

 

 

ускорения

Усталость

замыкания.

 

 

 

 

Потеря герметичности

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

17

Повреждения, вызываемые электростатическими разрядами

Максимальные значения возникающих в различных случаях электростатических потенциалов:

Объект, получающий заряд

Напряжение, В

 

 

Человек, идущий в ботинках на каучуковых подошвах

1000

 

 

Человек, идущий по ковру в ботинках на каучуковых

14000

подошвах

 

 

 

Человек, идущий по полу, вымощенному плиткой, в

13 000

ботинках на каучуковых подошвах

 

 

 

Человек, идущий по деревянному полу

800

 

 

Человек, сидящий на рабочем месте

3000

 

 

Целлулоид при трении

40 000

 

 

Газ, выходящий из баллона со сжатым газом

9000

 

 

Свободно капающий бензин

4000

 

 

18

Повреждения, вызываемые электростатическими разрядами

19

Повреждения, вызываемые электростатическими разрядами

разрыв тонких оксидных плёнок в полупроводниковых устройствах как следствие пробоя диэлектрика;

плавление проводников и областей металлизации как следствие перегрева при воздействии высокого напряжения;

запирание КМОП-устройств вследствие возникновения паразитных p-n- p-n структур;

ухудшение параметров или скрытые дефекты в структуре компонентов, не приводящие к немедленному выходу устройства из строя, но делающие работу системы неустойчивой и провоцирующие эксплуатационные отказы в жёстких условиях;

наведение мощных электрических полей, приводящих к возникновению помех и сбоев в работе расположенных рядом электронных устройств.

20