- •Измерение микротвердости
- •Составитель:
- •Рецензент:
- •1. Теоретические сведения
- •Микротвердость структурных составляющих сталей и чугуна
- •2. Практические сведения
- •3. Выполнение работы
- •3.1. Изучение методик и экспериментального оборудования
- •3.2. Определение цены деления шкалы окулярного микрометра
- •4. Контрольные вопросы
- •5. Список рекомендуемой литературы
Министерство образования Российской Федерации
Ивановский государственный университет
Кафедра экспериментальной и технической физики
Измерение микротвердости
Методические указания к лабораторному практикуму
по курсу «Механические свойства твердых тел» для студентов
физического факультета специализации 01.04.07
Иваново 2000
Печатается по решению методической комиссии
физического факультета Ивановского государственного университета
Составитель:
кандидат техн. наук В.В. Новиков
(Ивановский государственный университет),
Рецензент:
кандидат техн. наук С.А. Егоров
(Ивановская государственная текстильная академия)
1. Теоретические сведения
Метод определения микротвердости предназначен для оценки твердости очень малых (микроскопических) объемов материалов. Его применяют для измерения твердости мелких деталей, тонкой проволоки или ленты, тонких поверхностных слоев, покрытий и т. д. Важное назначение —оценка твердости отдельных фаз или структурных составляющих сплавов, а также разницы в твердости отдельных участков этих составляющих.
Метод стандартизован (ГОСТ 9450—76).В качестве индентора при измерении микротвердости чаще всего используют алмазную пирамиду Виккерса — правильную четырехгранную алмазную пирамиду с углом при вершине 136° (рис. 1).
П
Рис.
1. Схема определения твердостипо
Виккерсу
По сравнению с методом Бринелля метод Виккерса имеет ряд преимуществ. Метод Виккерса позволяет измерять твердость как мягких, так и твердых материалов. Кроме того, величина твердости не зависит от приложенной нагрузки, что позволяет использовать метод Виккерса при малых нагрузках на индентор, т.е. при измерении микротвердости материалов.
При в вдавливании в поверхность алмазная пирамида образует в материале оптечаток пирамидальной формы. Проекция этого отпечатка — квадрат (рис.1). Число микротвердости по Виккерсу определяется отношением величины нагрузки Р к площади боковой поверхности отпечатка S:
. (1)
Площадь поверхности отпечатка может быть рассчитана по формуле
, (2)
где h – глубина отпечатка,а – длина стороны квадрата отпечатка.
Связь между стороной квадрата и глубиной оптечатка определяется из геометрических соотношений для правильной пирамиды
. (3)
При измерениях параметров оптечатка обычно определяют не длину стороны квадрата, а длину диагонали отпечатка d:
. (4)
С учетом выражений (1)…(4), число микротвердости рассчитывается по формуле:
. (5)
При измерениях микротвердости нагрузка на индентор составляет 0,05…5Н, диагональ отпечатка – 7…50 мкм. По ГОСТу число микротвердости записывается без указания единицы измерения с указанием нагрузки в кгс или граммах, например, 120HV100 (120 – число твердости, 100 г – нагрузка). Если число твердости выражают в МПа, то для него указывают единицу измерения (например, НV50 = 3200 МПа, 50 г – нагрузка).
Кроме четырехгранной пирамиды с квадратным отпечатком стандартом предусмотрено использование алмазных наконечников другой формы: 1) четырехгранной пирамиды с ромбическим основанием (пирамида Кнупа, 1939) 2)трехгранной пирамиды с треугольным основанием и 3)биконического наконечника, состоящего из двух конусов, соединенных между собой основаниями (метод Гродзинского, 1949). Соответствующие числа твердости — Н, Ни Н – определяются какHV по отношению нагрузки к боковой поверхности отпечатка. Н измеряют при испытаниях объектов высокой твердости> 1000 HV. Микротвердости Ни Н используют при оценке твердости очень тонких слоев. Так глубины отпечатков в методе Кнупа и в методе Гродзинского составляют соответственно1/30 и1/80часть от длины диагонали отпечатка.
Микротвердость массивных образцов измеряют на металлографических шлифах, приготовленных специальным образом. Глубина вдавливания индентора при определении микротвердости составляет несколько микрометров и соизмерима с глубиной получаемого в результате механической шлифовки и полировки наклепанного поверхностного слоя. Поэтому методика удаления этого слоя имеет важное значение.
Наклепанный слой удаляют обычно одним из трех методов: электрополировкой, отжигом готовых шлифов в вакууме или инертной атмосфере и глубоким химическим травлением. При использовании любого метода экспериментально устанавливают режим (время электрополировки или травления, плотность тока и концентрацию реактива, температуру и время отжига и т. д.), при котором полностью снимается наклеп в поверхностном слое образца. Для этого строят зависимость HVот параметра, изменяемого при подборе режима снятия наклепанного слоя. Момент выхода на горизонталь величины HVсоответствует оптимальному режиму, который затем используется при подготовке аналогичных образцов.
При измерении микротвердости расстояние между центрами соседних отпечатков должно быть не менее двух длин диагонали большего отпечатка. Таким же должно быть расстояние от центра отпечатка до края образца, длина диагонали отпечатка —не более полуторной толщины образца.
Фактически при использовании четырехгранной пирамиды с квадратным отпечатком метод микротвердости —это разновидность метода Виккерса и отличается от него только использованием меньших нагрузок и соответственно меньшим размером отпечатка. Поэтому физический смысл числа микротвердости аналогичен HV.Часто наблюдаемые отклонения от равенства чисел микротвердости и твердости по Виккерсу, особенно в областиP < 0,05–0,1 H,объясняются в основном большими погрешностями измерения микротвердости. Источники этих погрешностей—вибрации, инструментальные ошибки в измерении длины диагонали отпечатка, неидентичность условий ручного нагружения, искажения структуры поверхностного слоя и др. По мере уменьшения нагрузки все погрешности возрастают. Поэтому не рекомендуется работать с нагрузками, которые дают отпечатки с < 8–9мкм. Использование приставок для автоматического нагружения, всемерное устранение вибраций, тщательная отработка методики приготовления шлифов позволяют свести ошибки в определении числа микротвердости к минимуму.
Как уже отмечалось, главная ценность метода микротвердости —это возможность оценки твердости сверхтонких слоев и отдельных фаз и структурных составляющих, что очень важно при решении многих материаловедческих задач, что нельзя сделать другими методами. В табл. 1 представлены данные о микротвердости основных структурных составляющих ряда сталей и чугунов.