- •Управление качеством электронных средств
- •Лекция 1. Вводная лекция. Методологические и теоретические основы системы управления качеством
- •Введение в дисциплину
- •Определения понятия «качество»
- •Экономическое и социальное значение повышения качества
- •Цикл эдварда деминга
- •Лекция 2. Классификация показателей качества
- •Понятие показателя качества
- •Единичные, комплексные, базовые и интегральные показатели
- •Лекция 3. Номенклатура показателей качества (часть 1)
- •Вводная часть лекции. Понятие номенклатурной группы
- •Показатели назначения
- •Показатели надежности. Показатели экономного использования ресурсов
- •2.1 Показатели надежности
- •2.2 Показатели экономного использования ресурсов
- •Эргономические показатели. Эстетические показатели
- •3.1 Эргономические показатели
- •3.2 Эстетические показатели
- •Лекция 4. Номенклатура показателей качества (часть 2)
- •Показатели технологичности
- •Показатели транспортабельности. Показатели стандартизации и унификации. Патентно-правовые показатели
- •2.1 Показатели транспортабельности
- •2.2 Показатели стандартизации и унификации
- •2.3 Патентно-правовые показатели
- •2) Показатель патентной чистоты
- •Лекция 5. Методы оценки уровня качества
- •Методы оценки уровня качества
- •Задачи, решаемые с помощью оценки уровня качества
- •Методы определения значений показателей качества
- •Лекция 6. Факторы и условия, влияющие на обеспечение качества
- •Факторы обеспечения качества
- •Условия обеспечения качества
- •Основные направления повышения качества электронных средств
- •Лекция 7. Системы менеджмента качества
- •Системы менеджмента качества
- •Стандарты на системы менеджмента качества
- •Требования к системам менеджмента качества. Основные составляющие функционирования систем менеджмента качества
- •Всеобщее управление качеством (tqm)
- •Лекция 8. Контроль качества электронных средств
- •Виды контроля качества электронных средств. Классификация видов контроля качества электронных средств
- •1.1 Контроль качества. Виды контроля качества электронных средств. Классификация видов контроля качества электронных средств
- •1.2 Испытания. Виды испытаний электронных средств. Классификация видов испытаний электронных средств
- •Контролепригодность конструкций электронных средств и технологических процессов их производства
- •2.1 Контролепригодность и тестопигодность конструкций электронных средств
- •2.2 Первый показатель контролепригодности и тестопригодности электронных средств – управляемость
- •2.3 Второй показатель контролепригодности и тестопригодности электронных средств – наблюдаемость
- •2.4 Анализ качества технологических процессов производства электронных средств
- •2.5 Оценка информативности и выбор контролируемых параметров технологического процесса
- •Проектирование тестопригодных электронных средств, их контроль и диагностика при производстве и эксплуатации
- •Понятие брака. Принципы проектирования ремонтопригодных и тестопригодных электронных средств
- •4.1 Понятие брака
- •4.2 Принципы проектирования ремонтопригодных, контролепригодных и тестопригодных электронных средств
- •Лекция 9. Инструменты контроля качества (часть 1)
- •Назначение инструментов контроля качества
- •Контрольный листок
- •Замененные компоненты.
- •Гистограмма
- •Лекция 10. Инструменты контроля качества (часть 2)
- •Диаграмма разброса
- •Стратификация
- •Лекция 11. Инструменты контроля качества (часть 3)
- •Диаграмма исикавы
- •Диаграмма парето
- •Кружки контроля качества
- •Лекция 12. Статистическое регулирование технологических процессов (часть 1)
- •Статистическое регулирование технологических процессов. Карты контроля по количественному признаку
- •1.1 Основы контрольных карт Шухарта
- •1.2 Классификация контрольных карт Шухарта
- •1.3 Карта средних арифметических и размахов (-r-карта)
- •1.4 Пример построения и анализа -r-карты
- •Лекция 13. Статистическое регулирование технологических процессов (часть 2)
- •Статистическое регулирование технологических процессов. Карты контроля по качественному и альтернативному признакам
- •1.1 Краткие сведения о картах контроля по качественному и альтернативному признакам
- •1.2 Карта долей несоответствующих единиц продукции (p-карта)
- •1.3 Пример построения и использования p-карты
- •Лекция 14. Статистический приемочный контроль
- •Статистический приемочный контроль
- •Принципы статистического приемочного контроля
- •Планы контроля
- •3.1 Планы контроля. Разработка правил контроля
- •1. Контролируемые показатели качества продукции
- •8. Объем выборки.
- •3.2 Алгоритм одноступенчатого контроля. Пример записи плана контроля
- •3.3 Оценка эффективности статистического приемочного контроля с помощью операционных характеристик
- •Автоматизированные системы контроля и управления качеством электронных средств
- •Лекция 15. Определение и роль сертификации. Российская система сертификации росс
- •Определение и роль сертификации
- •Российская система сертификации росс
- •Основные документы по сертификации, действующие в российской федерации
- •Лекция 16. Схемы сертификации
- •Основные схемы сертификации iso
- •Дополнительные схемы сертификации росс
- •Лекция 17. Сертификация систем менеджмента качества и производств
- •Сертификация систем менеджмента качества и производств
- •1.1 Сертификация систем менеджмента качества
- •1.2 Сертификация производства
- •1.3 Аккредитация
- •Нормативно-методические основы и этапы процесса сертификации систем менеджмента качества и производств
- •Список используемой литературы
Проектирование тестопригодных электронных средств, их контроль и диагностика при производстве и эксплуатации
Часть информации по тестопригодности электронных средств была рассмотрена в предыдущем вопросе. В данном вопросе отметим ряд других моментов.
Анализ тестопригодности цифровой электронной схемы позволяет решать следующие задачи:
- выявлять потенциально трудные для тестирования узлы схемы (узлы с низкой управляемостью и наблюдаемостью) и модернизировать их таким образом, чтобы повысить их тестопригодность с сохранением прежних логических функций;
- оптимизировать выбор испытательных точек при использовании внутрисхемного контроля (с перемещаемыми зондами);
- принимать решение о модернизации всего узла (блока) с целью улучшения его тестопригодности.
Улучшить показатели тестопригодности той или иной схемы можно несколькими способами.
Самым простым из них является вынесение на выходной разъём электронной платы выходов тех узлов, которые имеют самые низкие показатели управляемости и наблюдаемости.
Другим способом является изменение логической структуры наиболее труднотестируемых узлов с сохранением той же логической функции.
Но самым эффективным способом является применение элементной базы более высокого уровня интеграции, что позволяет плохо тестируемые узлы погружать внутрь интегральной схемы более высокой степени интеграции. Особенно удобны в этом отношении программируемые логические интегральные схемы (ПЛИСы).
В настоящее время некоторые САПР электронных средств комплектуют подсистемой тестопригодного проектирования – DFT (Design for Test). Эта подсистема позволяет вычислять оценки управляемости, наблюдаемости и тестопригодности для разрабатываемых схем. Для проведения такого анализа в подсистему вводится полное описание проверяемой схемы на языке данной САПР.
Анализ проводится в три этапа: сначала проводится анализ управляемости каждого логического узла схемы, затем анализ наблюдаемости каждого узла и всей схемы в целом и, наконец, определяются показатели тестопригодности для каждого логического узла и всей схемы в целом. Поскольку логические узлы могут быть и комбинационными, и последовательностными (с памятью), то на каждом этапе определяется два вида показателей: комбинационные и последовательные. Определение комбинационных показателей было рассмотрено выше. Показатели же последовательного вида определяют, какое число последовательных состояний должен пройти данный логический узел (или вся электронная схема), чтобы в данной точке (на определённом логическом выходе) можно было бы получить требуемое состояние (показатель управляемости) или чтобы можно было бы на данном выходе наблюдать требуемое состояние (показатели наблюдаемости).
Однако эти подсистемы, позволяя оценить тестопригодность проектируемой схемы, не обеспечивают генерацию теста для её контроля. Поэтому в настоящее время лабораторией «Testware Lab» был разработан пакет Tw-CAD (Testware CAD), который позволяет не только определять показатели тестопригодности разрабатываемой схемы, но и рекомендует улучшения, которые надо в неё внести для улучшения тестопригодности, а для полученной в результате такого улучшения схемы генерирует тест высокого качества, обеспечивающий нужную глубину диагностики неисправностей.