Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Электроника. Виртуальные лабораторные работы. Методические указания

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
15.08.2026
Размер:
1 Мб
Скачать

Министерство цифрового развития, связи и массовых коммуникаций Российской Федерации

Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики»

(СибГУТИ)

М. С. Шушнов

Электроника. Виртуальные лабораторные работы

Методические указания

Новосибирск

2022

УДК 621.382.2.3

Утверждено редакционно-издательским советом СибГУТИ

Рецензент: канд. техн. наук, доц. Е.В. Кокорева

Шушнов М. С. Электроника. Виртуальные лабораторные работы: методические указания / М. С. Шушнов ; Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, каф. радиотехнических устройств и техносферной безопасности. – Новосибирск, 2022. – 60 с.

В методических указаниях даются рекомендации по исследованию основных электронных полупроводниковых приборов: диод, биполярный, полевой транзистор с изоляцией p-n-переходом и имеющий структуру МДП. Исследование предлагается выполнять в программе схемотехнического компьютерного моделирования, распространяемой на свободной основе Micro-CAP 10. Даны описания исследуемых схем, задания для самостоятельной работы, контрольные вопросы.

Методические указания предназначены для студентов очного и заочного обучения, в том числе и дистанционного, обучающихся по направлениям 11.03.02 – Инфокоммуникационные технологии и системы связи, 11.03.01 – Радиотехника, 11.05.01 – Радиоэлектронные системы и комплексы, 11.05.02 – Специальные радиотехнические системы и 11.04.01 – Радиотехника.

©Шушнов М.С., 2022

©Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2022

Содержание

 

Краткие сведения по применению программы схемотехнического

 

моделирования Micro-CAP 10....................................................................................

4

Требования к содержанию и оформлению отчета по лабораторной работе.......

29

Лабораторная работа 1. Ознакомление с пакетом моделирования электронных

схем Micro-CAP. Построение вольтамперных характеристик

 

полупроводникового диода ......................................................................................

30

Лабораторная работа 2. Построение вольтамперных характеристик биполярного

транзистора ................................................................................................................

40

Лабораторная работа 3. Построение вольтамперных характеристик полевого

 

транзистора с изоляцией канала p-n-переходом и ознакомление с анализом схем

по переменному току ................................................................................................

47

Лабораторная работа 4. Построение вольтамперных характеристик полевого

 

транзистора с изолированным затвором и индуцированным каналом. Анализ

 

работы схемы на транзисторе в ключевом режиме ...............................................

53

Литература .................................................................................................................

59

3

Краткие сведения по применению программы схемотехнического моделирования Micro-CAP 10

В данном разделе даются краткие сведения по применению этой программы в лабораторных работах. Версии программы постоянно обновляются.

Интерфейс пользователя состоит из полоски меню, панели инструментов и рабочей области (Рис. К1).

Полоса меню состоит из следующих компонент: меню работы с файлами (File), меню редактирования (Edit), меню элементов схемы (Component), меню работы с окнами (Window), меню настроки программы (Options), меню анализа схем (Analysis), меню справки (Help).

Меню

Панель инструментов

Рабочая

область

Библиотеки

Рис. К1 – Окно программы Micro-Cap

Сборка схем. Сборка осуществляется выбором соответствующих элементарных элементов из меню Component (компоненты) и их последующим соединением.

Для того чтобы повернуть элемент на 900, необходимо при нажатой пра-

вой кнопки мыши нажать левую или выделить с помощью область, в которой находится этот элемент, и использовать Edit\Box\Rotate (Редактирование\операции с блоком\повернуть блок), Edit\Box\Flip_X (Редактирование\операции с блоком\отразить по Х) или Edit\Box\Flip_Y (Редактирование\операции с блоком\отразить по Y), или нажать на панели соответствующие кнопки на панели инструментов. Значения параметров компонентов задаются

4

при их создании в Окне Атрибутов (рис. К2). Параметры резисторов приведены в Таблица 1.

Ввод величины сопротивления

Рис. K2 – Окно Атрибутов: выбор параметров резистора

Таблица 1. Параметры резисторов

 

 

 

 

 

Значение по

Обозначение

Параметр

 

Размерность

умолча-

 

 

 

 

 

нию

R

Масштабный

множитель со-

1

противления

 

 

 

 

 

 

 

ТС1

Линейный температурный ко-

C-1

0

эффициент сопротивления

 

 

 

ТС2

Квадратичный температурный

C-2

0

коэффициент сопротивления

 

 

 

 

Экспоненциальный

темпера-

 

 

ТСЕ

турный коэффициент сопро-

%/C

0

 

тивления

 

 

 

 

NM

Масштабный

коэффициент

1

спектральной плотности шума

 

 

 

T_MEASURED

Температура измерения

C

T_ABS

Абсолютная температура

C

T_REL_GLOBAL

Относительная температура

C

 

Разность между температурой

 

 

T_REL_LOCAL

устройства

и

модели-

C

 

прототипа

 

 

 

 

5

Пользователь должен выбрать параметр VALUE (Величина) и в поле Value (Величина) указать его значение (для пассивных элементов). Выбор транзисторов (активных элементов) осуществляется из заданного перечня или вводится название модели в окне ввода (рис. К3).

Параметры транзисторов приведены в Таблица 2.

Выбор транзистора

Рис. K3 – Окно выбора параметров транзисторов

Таблица 2 – Параметры транзисторов

Обозначение

 

Значение

Единица

Параметр

по умол-

параметра

измерения

 

чанию

 

 

 

 

 

 

 

IS

Ток насыщения при температуре

1E-16

А

27°С

 

 

 

 

Максимальный коэффициент усиле-

 

 

BF

ния тока в нормальном режиме в

100

 

 

схеме с ОЭ (без учета токов утечки)

 

 

 

Максимальный коэффициент усиле-

 

 

BR

ния тока в инверсном режиме в схе-

1

 

 

ме с ОЭ

 

 

NF

Коэффициент эмиссии (неидеально-

1

 

сти) для нормального режима

 

 

 

 

NR

Коэффициент эмиссии (неидеально-

1

 

сти) для инверсного режима

 

 

 

 

 

6

 

 

Продолжение таблицы 2

ISC*

Ток насыщения утечки перехода база-

0

А

коллектор

 

 

 

ISE*

Ток насыщения утечки перехода база-

0

А

эмиттер

 

 

 

ISS

Ток насыщения p-n перехода подлож-

0

А

ки

 

 

 

NS

Коэффициент эмиссии тока p-n-

 

 

перехода подложки

 

 

 

 

 

 

Ток начала спада зависимости BF oт

 

 

IKF*

тока коллектора в нормальном режи-

 

А

 

ме

 

 

IKR*

Ток начала спада зависимости BR от

 

А

тока эмиттера в инверсном режиме

 

 

 

 

NE*

Коэффициент эмиссии тока утечки

1,5

 

эмиттерного перехода

 

 

 

 

NC*

Коэффициент эмиссии тока утечки

2

 

коллекторного перехода

 

 

 

 

NK

Коэффициент перегиба при больших

0.5

 

токах

 

 

 

 

VAF

Напряжение Эрли в нормальном ре-

 

В

жиме

 

 

 

 

VAR*

Напряжение Эрли в инверсном режи-

 

В

ме

 

 

 

 

RC

Объемное сопротивление коллектора

0

Ом

RE

Объемное сопротивление эмиттера

0

Ом

 

Объемное сопротивление базы (мак-

 

 

RB

симальное) при нулевом смещении

0

Ом

 

перехода база-эмиттер

 

 

RBM*

Минимальное сопротивление базы

RB

Ом

при больших токах

 

 

 

 

Ток базы, при котором сопротивление

 

 

IRB*

базы уменьшается на 50% полного

 

А

 

перепада между RB и RBM

 

 

TF

Время переноса заряда через базу в

0

с

нормальном режиме

 

 

 

TR

Время переноса заряда через базу в

0

с

инверсном режиме

 

 

 

 

Коэффициент, определяющий зави-

 

 

XTF

симость TF от смещения база-

0

 

 

коллектор

 

 

 

Напряжение, характеризующее зави-

 

 

VTF

симость TF от смещения база-

 

В

 

коллектор

 

 

 

7

 

 

Продолжение таблицы 2

 

Ток, характеризующий зависимость

 

 

ITF

ТF от тока коллектора при больших

0

А

 

токах

 

 

 

Дополнительный фазовый сдвиг на

 

 

PTF

граничной частоте транзистора

0

град.

 

 

1

 

 

f =

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

гр 2 TF

 

 

CJE

Емкость эмитгерного перехода при

0

пФ

нулевом смещении

 

 

 

VJE (РЕ)

Контактная разность потенциалов пе-

0,75

В

рехода база-эмиттер

 

 

 

MJE (ME)

Коэффициент, учитывающий плав-

0,33

 

ность эмиттерного перехода

 

 

 

 

 

 

 

 

CJC

Емкость коллекторного перехода при

0

Ф

нулевом смещении

 

 

 

VJC (PC)

Контактная разность потенциалов пе-

0,75

В

рехода база-коллектор

 

 

 

MJC(MC)

Коэффициент, учитывающий плав-

0,33

 

ность коллекторного перехода

 

 

 

 

CJS (CCS)

Емкость перехода коллектор-

0

Ф

подложка при нулевом смещении

 

 

 

VJS (PS)

Контактная разность потенциалов пе-

0,75

В

рехода коллектор-подложка

 

 

 

MJS (MS)

Коэффициент, учитывающий плав-

0

 

ность перехода коллектор-подложка

 

 

 

 

 

Коэффициент расщепления барьерной

 

 

XCJC

емкости база-коллектор по отноше-

1

~

 

нию к внутренней базе

 

 

 

Коэффициент нелинейности барьер-

 

 

FC

ных емкостей прямосмещенных пере-

0,5

 

 

ходов

 

 

EG

Ширина запрещенной зоны

1,11

эВ

XTB

Температурный коэффициент BF и

0

ВR

 

 

 

 

 

 

 

XTI(PT)

Температурный экспоненциальный

3

коэффициент для тока IS

 

 

 

TRE1

Линейный температурный коэффици-

0

C-1

ент RE

 

 

 

TRE2

Квадратичный температурный коэф-

0

C-2

фициент RЕ

 

 

 

TRB1

Линейный температурный коэффици-

0

C-1

ент RВ

 

 

 

 

8

 

 

 

 

Продолжение таблицы 2

TRB2

Квадратичный температурный коэф-

0

C-2

фициент RB

 

 

 

TRM1

Линейный температурный коэффици-

0

C-1

ент RВМ

 

 

 

TRM2

Квадратичный температурный коэф-

0

C-2

фициент RВМ

 

 

 

TRC1

Линейный температурный коэффици-

0

C-1

ент RС

 

 

 

TRC2

Квадратичный температурный коэф-

0

C-2

фициент RС

 

 

 

KF

Коэффициент, определяющий спек-

0

 

тральную плотность фликкер-шума

 

 

 

 

 

Показатель степени, определяющий

 

 

AF

зависимость спектральной плотности

1

 

 

фликкер-шума от тока через переход

 

 

T_MEASURED

Температура измерений

°С

T_ABS

Абсолютная температура

°С

T_REL_GLOBAL

Относительная температура

°C

T_REL_LOCAL

Разность между температурой транзи-

 

°C

стора и модели-прототипа

 

 

 

 

 

* Для модели Гуммеля-Пуна.

 

 

При необходимости параметры транзисторов можно редактировать в окне Text, где располагается текстовая математическая модель компонента (в данном

случае транзистора). Текстовое окно включается с помощью кнопки в правом нижнем углу окна.

Для удобства редактирования можно окно разделить на две части (верти-

кальные или горизонтальные) – меню Windows/Split Horizontal (Vertical).

Для соединения элементов между собой используются кнопки . Первая соединяет элементы связями только под прямым углом, вторая – под произвольным. MicroCap автоматически нумерует точки, в которых могут быть разные потенциалы. Чтобы просмотреть эту нумерацию, надо кликнуть на

. Для того чтобы позже можно было проще анализировать схемы, необходимо отметить точки, которые будут использоваться для анализа. Для этого надо

инструментом поставить текстовую метку так, чтобы ее левый нижний угол оказался на отмечаемой точке.

Источники сигналов. Для того чтобы задать или изменить параметры

источника сигналов, необходимо кликнуть инструментом на соответствующий источник на схеме. В появившемся окне автоматически будет выбрана строчка, в которой задаются параметры данного источника. Для источника синусоидального сигнала это: F – частота, А – амплитуда. Выход из этого окна осуществляется нажатием на в нижнем левом углу окна.

9

Для источника импульсных сигналов: VZERO – начальное значение, VONE – максимальное значение, p1 – начало переднего фронта, p2 – начало плоской вершины импульса, p3 – конец плоской вершины импульса, p4 – достижение начального уровня, p5 – период повторения. Последние пять параметров задаются в секундах.

Представление чисел. Представление в Micro-Cap возможно в одной из трех нотаций.

1)Действительные числа с фиксированным десятичным знаком.

2,5 кОм записывается как 2500

1 мкФ записывается как 0.000001

Обратим внимание, что в качестве разделителя десятичных разрядов используется точка.

2)Действительные числа с плавающим десятичным знаком

2,5 кОм записывается как 2.5e3

1мкФ записывается как 1e-6

3)Действительные числа с плавающим десятичным знаком. Согласно этой нотации различные степени 10 обозначаются следующими суффиксами.

F

фемто

10-15

P

пико

10-12

N

нано

10-9

U

микро

10-6

M

милли

10-3

K

кило

103

MEG

мега

106

G

гига

109

T

тера

1012

Для экономии места на графиках малая буква “m” обозначает 10-3, большая буква “M” - 106.

При этом большие и малые буквы не различаются. Сопротивление 1,5 МОм может быть записано как 1.5MEG, 1.5meg, 1500K.

Программный комплекс Micro-Cap представляет собой средство разработки, имитации и анализа электрических цепей. Программа разработана фирмой Spectrum Software (www.spectrum-soft.com). Имеется библиотека моделей более 18 тыс. электрорадиокомпонентов.

Программа позволяет:

1)создать схему электрическую принципиальную проектируемого устройства и отредактировать ее;

2)провести расчет статического режима по постоянному току;

3)рассчитать частотные характеристики и переходные процессы;

4)провести оценку уровня внутреннего шума и предельной чувствительности;

5)провести многовариантный анализ, включая статистический анализ по методу Монте-Карло;

10

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]