Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Литература / Шишкин Г. Г. , Шишкин А. Г. Электроника 2009

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
05.06.2026
Размер:
30.97 Mб
Скачать

322

Раздел 3. ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИ.БОРЫ

а)

б)

в)

Рис. 11.8

транзисторов (4.4), и линейное приближение, когда в уравнениях

приращения заменяются мгновенными малыми значениями пе­

ременных составляющих токов ic, ia и напряжений ис, иа, систе­

му уравнений для линейного четырехполюсника запишем в сле­

дующем виде:

(11.4, а)

(11.4, б)

Эти уравнения можно представить в виде некоторой схе­ мы замещения (рис. 11.8, а), в которой ис и ic являются входны­

ми, а иа и ia - соответственно выходными напряжениями и то­

ками. Если ic =О, то схема замещения превращается в эквива­

лентную схему анодной цепи триода с генератором тока Sue (рис. 11.8, б). На этой схеме учтено и сопротивление нагрузки. Решая уравнение (11.4, б) относительно иа и учитывая, что SR; =

= µ, получаем

(11.5)

Этому выражению соответствует эквивалентная схема анодной

цепи с генератором напряжения, представленная на рис. 11.8, в,

где изображено и сопротивление нагрузки.

Проведенное рассмо.трение справедливо не только для три­

ода. Если тетрод или пентод используются с усилительной схе­

мой, то цепи экранирующей и защитной сеток заземлены по пе­

ременной составляющей. Защитная сетка обычно соединена с

катодом и через большую емкость, шунтирующую резистор

смещения в цепи катода, подключена к земле. Экранирующ&я

сетка также через большую емкость обычно соединяется с зем­

лей. Поэтому в цепях этих электродов не выделяются перемен­ ные напряжения. Входной цепью усилителя на тетроде или

пентоде, как и усилителя на триоде, является цепь управляю- '

Глава 11. Электровакуумные приборы с электростатическим управлением 323

sйс

-

 

Увых

иа

 

 

Рис. 11.9

щей сетки. Усиленное напряжение снимается с анодной нагруз­ ки, и анодная цепь лампы оказывается выходной. Таким обра­

зом, схемы на рис. 11.8 могут служить еще и эквивалентными

схемами для тетрода или пентода.

При рассмотрении работы лампы на высоких частотах ха­

рактеристические проводимости лампы из-за наличия распре­

деленных реактивностей (включая междуэлектродные емкос­

ти) становятся комплексными величинами. Эквивалентная схе­

ма лампы на высоких частотах для случая, когда Ja

определяется только входной проводимостью, будет иметь вид,

представленцый на рис. 11.9. (Здесь jc' ja' uc, ua - комплекс­

ные токи и напряжения соответственно.)

В этом случае проводимости лампы могут быть определены

согласно выражениям:

Упрох = jcfuc = jroCacl; Увых = ja/ua = 1/Ri + jrоСвых;

свых =сак+ сас3 + сас2; s = jafuc;

Увх = jcfuc = GBX + JroCBX; свх = сск(триод);

свх = ссlк + ccl,c2 (пентод); GBX = 4/Ric; Ric - сопротивление

«сетка-катод».

11.6. Вакуумные интегральные схемы

В вакуумных интегральных схемах (ВИС) активными эле­

ментами являются электровакуумные лампы с размерами, близ­

кими к размерам интегральных транзисторов. Электровакуумные

микролампы по своим свойствам во многом подобны полевым

транзисторам. Вакуумные интегральные триоды называют также

вакуумными полевыми транзисторами, а их электроды - катод, сетка,

анод называются соответственно эмиттер, затвор, коллектор.

Воснове работы ВИС лежат те же физические явления, что и

воснове работы рассмотренных электровакуумных триодов.

11·

1)
2)
3)

324

Раздел 3. ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИБОРЫ

ВИС обладают рядом уникальных характеристик, в частности, скорость электронов в них может быть намного больше, чем в любом полупроводнике, их частотные свойства лучше частот­

ных свойств кремниевых ИС и сравнимы со свойствами арсе­ нид-галлиевых. Кроме того, ВИС обладают лучшей радиацион­ ной стойкостью. При изготовлении ВИС используется хорошо отработанная технология полупроводниковых ИС.

Одной из основных проблем при создании ВИС является разра­

ботка холодных (неподогреваемых) эмиттеров (катодов). В ВИС используется в основном электростатическая (автоэлектронная)

эмиссия.

Наиболее исследованы интегральные триоды, устройство

которых вклюЧает холодный эмиттер (катод), управляющий

электрод (затвор - аналог управляющей сетки) и коллектор (анод).

Можно выделить четыре типа холодных катодов, используе-

мых в ВИС:

полупроводниковые (кремниевые) решетки эмиттеров; металлические катоды; структуры металл-диэлектрик-полупроводник (МДП­

структуры);

4) обратносмещенные р-п-переходы, диоды Шоттки и р­ i-п-диоды.

Структуры планарных приборов, создаваемых с использова­ нием катодов 1-го и 2-го типов, во многом схожи (рис. 11.10).

При изготовлении металлических эмиттеров 2 (см. рис. 11.10)

используется диэлектрическая изолирующая подложка 1 (на­ пример, стеклянная), на которой и формируется решетка

эмиттеров. Расстояние между электродами (катод - 2, уп­ равляющий электрод - 3, анод - 4) колеблется от десятых

долей микрона до нескольких микрон; радиус закругления

кончика эмиттера - 20... 30 нм; напряжение на коллекторе -

от единиц до десятков, а иногда и до нес­

кольких сотен В. В таких условиях в облас-

ти эмиттера создается поле с напряженностью

около 107 В/см, которое достаточно для соз­

дания силы, необходимой для выхода элект­

ронов из катода, т. е. для осуществления

1

2

3

электростатической эмиссии. С помощью та­

 

ких эмиттеров МО'!<НО получить ПЛОТНОСТЬ тока

Рис. 11.10

102... 103 А/см2.

Глава 11. Электровакуумные приборы с электростатическим управлением

325

Хорошими эмитирующими свойства­

А!

ми обладают и МДП-структуры (диоды)

 

(рис. 11.11). В эмиттерах такого типа работа выхода полупроводника (обычно п-кремния) меньше работы выхода ме­ талла Аl.

Металл и полупроводник разделены пленкой (15 ... 20 мкм) диэлектрика (Si02)

(см. рис. 11.11). При подаче прямого сме­ щения между Al и n-Si электроны из n-Si через пленку Si02 туннелируют

AuSb

n-Si

вметалл и занимают энергетические

уровни выше уровня Ферми металла ЕФ м

Рис. 11.11

 

(рис. 11.12, а), тем самым снижая его ра-

 

боту выхода и обеспечивая эмиссию электронов из структуры (кривая 1 на рис. 11.13).

Если же на рассматриваемую структуру катода подать обрат­

ное смещение («МИНУС» ИСТОЧНИКа ПОДКЛЮЧаеТСЯ К Металлу,

1

1

рис. 11.12, б), то электроны будут туннелировать через Si02 из ме­ талла в полупроводник и ток потечет подобно тому, как это проис­ ходит для малых напряжений при прямом смещении. Однако при

увеличении обратного напряжения обедненная область простира­

ется все больше и больше в полупроводник, т. е. приложенное на­

пряжение падает в основном на обедненном слое полупроводника.

Это ограничивает число электронов, туннелирующих через оксид­

ный слой, что вызывает насыщение тока (кривая 2 на рис. 11.13).

 

j, А/см2

 

 

 

10

 

1

U>O

 

 

.)_-

 

 

/

2

И<О

 

1

 

 

/

 

 

 

 

/

 

 

 

10-1

1

 

 

 

/

 

 

 

 

/

 

 

 

10-2

/

 

 

 

/

 

 

а)

б)

'/

 

 

 

10-3

0,5 1

1,5

и,в

 

 

Рис. 11.12

Рис. 11.13

326 Раздел 3. ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИБОРЫ

 

 

 

Иу

 

 

1

2

 

+

3

lОнм

 

иа

 

р

 

]

 

р+

 

 

 

Рис. 11.14

Рис. 11.15

 

Катоды на основе обратносмещенных р-п-переходов относятся к

самым эффективным и хорошо изученным. Пример устройства

таких катодов представлен на рис. 11.14.

Между тонкой п+-областью и pt-, р+-областями создается об­ ратное смещение. Рабочий (эмитирующий) р-п-переход форми­

руется между областями Pt и п+. Этот переход смещается в об­

ласть лавинного пробоя. Возникающая лавина локализуется практически на поверхности А1-структуры. Образующаяся в ре­ зультате пробоя электронно-дырочная плазма и является источ­ ником эмиссии электронов с поверхностиА1 (см. рис. 11.14). Под

действием поля, формируемого напряжениями Иу и Иа, прило­ женными к управляющему электроду УЭ и аноду А (коллектору),

электроны перемещаются к аноду (коллектору). Одним из сущест­

венных достоинств таких холодных кремниевых катодов .являет­

ся то, что форму активной эмитирующей электроны поверхности

можно выбирать.

Эффективность эмиссии и электронная температура зависят от степени легирования областей структуры (п+ и pt), от про­

странственного распределения (профиля) легирующей примеси

и очень сильно - от условий на поверхности А1• Качественно

эти зависимости можно объяснить следующим образом.

Степень легирования и профиль легирования определяют вели­

чину и пространственное распределение электрического поля вну­

три обедненного слояр+-п+-перехода и, следовательно, скорость и

функцию распределения электронов в переходе. Часть этих элект­ ронов (наиболее быстрые, горячие) эмщируется в вакуум. Для уменьшения работы выхода электронов с поверхности и, следова-

Глава 11. Электровакуумные приборы с электростатическим управлением 327

А

УЭ

ш

к

Рис. 11.16

Рис. 11.17

· тельно, увеличения тока эмиссии поверхность А1 покрывают це-

1 зием. Такими методами получена плотность тока до 8000 А/см2

Были разработаны и исследованы также катоды на основе

переходов Шоттки, р-i-п-диодов. Они имеют структуры, по­

добные рассмотренным для р-п-перехода.

Примеры устройств вакуумных микротриодов плоской и вер­

тикальной конструкции приведены на рис. 11.15-11.17. На рис. 11.15катод1 изготовлен в виде острия из кремния. Между массивной частью :катода и уnравляющим электродом (сеткой) 2,

выполненным из металлической пленки, располагается диэлект­ рический слой Si02 (3). Структура на рис. 11.15 выполнена на

плоскости (поверхности) диэлектрической подложки и накры­ вается диэлектрическим пустотелым колпачком. Аналогично функционируют и структуры, показанные на рис. 11.16 и 11.17. Однако в отличие от плоских микротриодов (см. рис. 11.16, 11.17) прибор на рис. 11.15 может быть сделан и в вертикальном

исполнении. В этом случае анод впаивается в диэлектрический колпачок, через который делаются выводы других электродов.

--0--------

1 Контрольные допросыli---------

1. Что такое работа выхода и какой физический смысл имеет это понятие?

2. Какие физические механизмы имеют место при различных

видах эмиссии электронов?

3. Физические процессы в диодах; Анодные характеристики и

параметры диодов.

328

Раздел З. ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИБОРЫ

4. Устройство и физические процессы в триодах.

5.Объяснить анодные и анодно-сеточные характеристики три­

одов. Параметры триодов.

6.Устройства, физические процессы, параметры и характерис­

тики тетродов и пентодов.

7. Мощные модуляторные и генераторные лампы, их особен­

ности, параметры и характеристики.

8.Эквивалентные схемы электровакуумных приборов.

9.Вакуумные интегральные схемы, их особенности, разно­

видности и устройство.

10. Каковы особенности катодов интегральных схем?

Глава 12

ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВЫЕ ПРИБОРЫ

12.1. Классификация, устройство и принцип действия электронно-лучевых приборов

Элекrронно-лучевыми приборами называются такие электрова­

куумные приборы, в которых используются сформированные в

виде лучей потоки электронов. Различают одно-, двух- и многолу­ чевые приборы. Приборы, у которых форма баллона выполнена наподобие трубки, называют элекrронно-лучевыми трубками (ЭЛТ).

Основным классификационным признаком для электронно­ лучевых приборов является назначение приборов. Различают

следующие виды электронно-лучевых приборов: приемные ЭЛТ,

передающие трубки, запоминающие трубки, элекrронно-оптические преобразователи.

Электронно-лучевые приборы являются приборами отображе­

ния и преобразования информации, представляемой в виде элект­

рических или световых сигналов.

В приемных трубках, к которым относятся индикаторные

трубки радиолокационных станций, осциллографические труб­ ки, телевизионные трубки (кинескопы), 'трубки дисплеев, обес­

печивающие вывод информации из ЭВМ, последовательности электрических сигналов преобразуются в определенную форму

Глава 12. Электронно-лучевые приборы

329

видимого изображения. В передающих трубках, наоборот, опти­ ческое изображение преобразуется в последовательность элект­

рических сигналов.

Взапоминающих трубках возможно как преобразование элект­ рических сигналов в изображение и изображения в последователь­ ность электрических сигналов, так и то и другое преобразования.

Для формирования и управления электронными потоками в ЭЛТ могут использоваться или только одни электрические поля (ЭЛТ с электростатическим управлением), или же электрические и магнитные поля (ЭЛТ с магнитным управлением).

Вконструкциях большинства видов электронно-лучевых

приборов имеются следующие основные элементы: электронный прожектор 1, отклоняющая система 2, экран, или мишень 3 (рис. 12.1).

Втрубках с магнитным управлением используются также магнитные фокусирующие катушки 4 (рис. 12.1, б).

Электронный прожектор, который часто называют электронной пушкой, создает и фокусирует электронный пучок (поток) в элек­ тронный луч. Он состоит из :катода и, как правило, из нескольких электродов, формирующих электронный луч с заданными (необ­ ходимыми) энергетическими и геометрическими характеристи­ :ками. Отклоняющая система сканирует (перемещает) луч, сфор­ мированный прожектором, по заданному закону в пространстве. Отклонение осуществляете.я: или с помощью взаимно перпенди­ кулярных двух пар пластин определенной формы (электростатиче­

ское отклонение, см. рис. 12.1, а), или с помощью ортогонально расположенных двух пар магнитных катушек (магнитное отклоне­ ние, см. рис. 12.1, б). При магнитном управлении используются

не только фокусирующие катушки, но и магнитные отклоняю­

щие системы. На экране (мишени) происходит преобразование кинетической энергии электронов в оптическое излучение или в

энергию электрического поля, формирующих соответствующий

вид изображения.

с=t,- ~~.G,F·-;~

4 2

а)

б)

Рис. 12.1

ззо

Раздел З. ЭЛЕКТРОВАКУУМНЫЕ ПРИБОРЫ

Принцип работы большинства электронно-лучевых трубок сво­

дится к следующему. Электроны луча, сфокусированные и ус­

коренные прожектором, поступают в отклоняющую систему,

где под действием электрических и магнитных полей осуществ­

ляется пространственное перемещение луча.

После отклоняющей системы электронный луч попадает на экран, представляющий собой конструктивный элемент ЭЛТ со

слоем люминофора, нанесенного на дно баллона трубки_. При от­ сутствии отклонения электронный луч формирует в центре эк­ рана маленькое яркое пятно. Для отвода вторичных электронов,

выбиваемых лучом с поверхности экрана, на внутреннюю по­

верхность трубки наносите.я проводящий слой 5 (см. рис. 12.1, б), соединенный с прожектором. В трубках с магнитным управле­

нием для фокусировки используется магнитная фокусирующая

катушка.

12.2.Электронный прожектор

сэлектростатической фокусировкой

Вэлектронном прожекторе, состоящем обычно из катода и

нескольких электродов, происходит управление величиной то­ ка и плотностью электронного потока (фокусировка).

Управление плотностью (интенсивностью) электронного по­

тока позволяет менять яркость пятна на экране ЭЛТ. Управле­

ние плотностью тока осуществляется за счет изменения харак­

теристик электрического поля в основном в межэлектродных

областях. Катод в ЭЛТ обычно выполняется в форме небольшого цилиндра 2, внутри которого помещен подогреватель 1 (рис. 12.2).

Эмитирующей частью является дно цилиндра, покрытое оксид­ ным слоем. Катод располагаете.я внутри другого цилиндра с от-

2 4

1

3

5

6

8

Рис. 12.2

Глава 12. Электронно-лучевые приборы

331

верстпем, являющегося управляющим электродом (модулятором) 3. Основное назначение модулятора - изменение тока электрон­ ного луча 7, и его действие подобно действию управляющей сет­

ки в триоде. На модулятор подается небольшой отрицательный относительно катода потенциал Им· В пространстве между като­

дом и модулятором формируется неоднородное электрическое

поле 4, изменяющее объемный заряд около катода. Зависимость

катодного тока I" от потенциала модулятора, которая называет­

ся модуляционной характеристикой I" = f(Uм), в ЭЛТ несколько от­

личается от закона трех вторых и может быть выражена сле­

дующим соотношением:

I

к = Ь (

и

- и

 

)r

мО

\3/2 '

 

 

мИмо

мо

 

(12.1)

где Им, Имо - напряжение на модуляторе и запирающее напря­ жение в В; Iк - ток катода в мкА; Ь и у- коэффициенты про­

порциональности: Ь = 2,3 ... 3, у= 2,5 ... 3,5.

Отличие формулы (12.1) от закона трех вторых обусловлено

тем, что ток катода зависит не только от потенциала модулято­

ра, но и от величины поверхности катода, охваченной полем с по­

ложительным градиентом потенциала. Кроме того, в трубках с

электростатическим управлением при малых отрицательных по­

тенциалах на модуляторе, и, следовательно, при большой эмити·

рующей поверхности катода увеличивается диаметр луча и часть

электронов не пропускается диафрагмой. В трубках с магнитной

фокусировкой ограничивающие диафрагмы отсутствуют и ток

луча близок к катодному току. По аналогии с триодом для напря­

жения запирания модулятора Имо можно записать:

(12.2)

'где Dм, Sм - соответ'ственно проницаемость модулятора икру­

тизна модуляционной характеристики Iк = f(Uм) при постоял·

ном напряжении 2-го анода Иа = const и Иа = Иуэ или Иа = Иal

(напряжение ускоряющего электрода или первого анода 5 (см. рис. 12.2), т. е. электрода, который расположен сразу за модуля­ тором и имеет положительный потенциал). Как уже отмечалось,

электронный прожектор содержит электроды, с помощью кото­

рых осуществляется не только управление плотностью электрон-