Добавил:
Адепт твердотельной электроники, последователь учений Михайлова Н.И. Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Презентации / ФХОТ Все Презентации

.pdf
Скачиваний:
76
Добавлен:
21.06.2024
Размер:
18.7 Mб
Скачать

Диффузия из постоянного источника

с(x,t) = D 2 с(x,t)

t x 2

с(x, t)

t = 0

= 0

при 0 x

 

 

 

 

 

 

 

c( x,t )

x =0

= c

s

= const

 

c(x, t)

x

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

при t 0

с(x, t) = сs erfc

x

 

 

 

 

 

 

 

 

2 Dt

 

 

 

 

 

 

erf z

erfc z

 

 

2

 

erfc z

 

 

1

 

 

erf z

0

z

 

 

 

1

 

erfc z = 1 erf z — дополнительная функция ошибок (error function complement)

c (x,t)

 

 

 

 

 

 

c

 

 

 

 

 

 

s

 

 

 

 

 

 

0 t

1

t

t

3

 

 

 

2

 

 

0

 

 

 

 

 

x

J (t) = −D

с(x,t)

 

= с

D

 

 

 

 

 

 

x

 

s

π t

 

x = 0

 

 

 

 

 

 

 

 

t

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D t

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Q(t) = 0

c(x, t) dx

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Q(t) =

= 2cs

π 1,13cs D t

 

J (t ) dt

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Диффузия из полуограниченного источника

C0

п/п

источник

0 x

 

 

 

 

0

 

 

с(x, t)

 

c

 

при x 0,

t = 0

=

0

при

0 x ,

 

 

 

 

c(x, t)

 

 

 

c

 

 

 

 

 

 

x → −

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

при t 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c(x, t)

x

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

при x = 0

 

D

c

 

= const

 

 

 

x x=0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с(x,t) =

с

0

erfc

x

 

 

2

Dt

 

2

 

 

 

 

 

c (x,t)

 

 

 

 

 

 

 

с

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

полупроводник

с

/2

0 t

1

t

t

3

0

 

 

2

 

источник

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

x

Представленные кривые далеки от реальных распределений, так как получены в предположении, что коэффициент диффузии примеси одинаков для материала источника и для полупроводника. В действительности это не так, поскольку обычно это разные вещества, т. е. система является гетерогенной.

источник и полупроводник рассматриваются как две отдельные среды с искомыми распределениями диффузанта: с1(х, t) — в источнике (при х 0) и

с2(х, t) — в полупроводнике (при 0 х ).

с(x,t)

 

 

2

с(x,t)

= D

 

t

 

x

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

с(x, t)

 

c

 

t = 0

=

0

 

 

 

 

c( x,t )

x → −

 

 

 

 

 

 

 

c(x, t)

x

0

 

 

 

при x 0,

при

0 x ,

c0 при t 0

дополнительные граничные условия при х = 0

 

c

 

(x, t)

 

 

 

c

2

(x, t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D

1

 

 

 

= D

 

 

 

 

1

x

 

 

2

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x = 0

 

 

 

x = 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c ( x,t )

x =0

= K c

( x,t )

x =0

1

2

 

 

 

 

 

 

непрерывность потока из-за

отсутствия накопления примеси

на границе

перераспределение примеси между

средами из-за различия ее раство-

римости в веществе источника и в полупроводнике

 

 

 

 

 

с

0

 

 

 

 

x

 

 

 

 

с

 

(x, t)

=

 

 

K R erf

 

 

при х 0 ,

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

K + R

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

D1t

 

 

D

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R =

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с

 

 

x

 

 

 

D

 

 

с

 

(x,t) =

 

0

erfc

 

при 0 х

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

K + R

D t

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c(x,t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с0

t = const

 

 

 

 

 

 

 

 

c1(x,t)

 

c .

полупроводник

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

s1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

cs2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

источник

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c2(x,t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

x

 

Диффузия из поверхностного источника с отражающей границей.

C0

п/п

0 d

x

с(

с(x,t) = D

t

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

с(x,t)

 

=

 

c

 

 

 

 

 

t = 0

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

J (t)

 

x = 0

= −D

c(x, t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x = 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с0

 

x + d

 

 

x d

x, t) =

 

erf

 

 

 

erf

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

2 Dt

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

Dt

2 с(x,t)

x 2

при 0 x d , при d x ,

 

 

 

= 0

 

c(x, t) x 0

 

 

 

 

 

 

1

При диффузии из слоя конечной толщины количество легирующей примеси ограничено исходной величиной Q = c0d. В процессе легирования происходит перераспределение примеси между слоями, называемое «разгонкой примеси», так что при t концентрация примеси, разогнанной на очень большое

расстояние, стремится к нулю.

1

В случае бесконечно тонкого слоя (d 0)

 

Q

 

 

x

2

 

- распределение легирующей примеси в

 

 

 

 

 

 

c (x, t) =

 

exp

 

 

 

 

 

 

 

 

Dt

 

 

4D t

 

форме Гауссовой функции

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c(x,t)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

t1

 

0 t1 t2 t3

 

 

 

 

 

 

t2

t3

0

x

площадь под каждой кривой одинакова и равняется Q = const

диффузии из постоянного источника

 

Еrfc-распределение

 

 

 

cs = const

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Q (t) = cs

4Dt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

.

 

 

 

 

 

 

 

 

,

 

 

 

 

 

 

c/cs

0

диффузии из бесконечно тонкого слоя с отражающей границей

Гауссово распределение

 

 

Q = const

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

c

(t) =

Q

 

 

 

 

 

s

 

Dt

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

x

5.9 Принципы диффузионного легирования полупроводников

Методы легирования

Легирование из

 

Легирование из

парогазовой фазы.

 

поверхностных источников.

 

 

 

Легирование из парогазовой фазы.

в запаянной

 

в вакуумной камере с

 

в открытой проточной

кварцевой

 

откачкой или с

 

системе с потоком газа-

ампуле

 

наполнением инертным

 

носителя (Н2, N2, Ar, Не).

 

 

газом (Ar, Не)

 

 

 

 

 

 

 

легирующая примесь поставляется в газовую фазу за счет:

подачи соответствующего газа

 

испарения твердого или жидкого источника

 

 

 

pлегир. прим. = f (Pгаз или Tист)