Добавил:
Адепт твердотельной электроники, последователь учений Михайлова Н.И. Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Презентации / ФХОТ Все Презентации

.pdf
Скачиваний:
5
Добавлен:
21.06.2024
Размер:
18.7 Mб
Скачать

4.2 Классификация пространственных решёток кристаллов

Для кристаллов характерна трансляционная симметрия.

Точки, связанные трансляциями, образуют трехмерную систему эквивалентных узлов, называемую пространственной решеткой, базирующейся на элементарной ячейке в форме исходного параллелепипеда

Ячейку принято выбирать таким образом, чтобы она:

а) обладала наименьшим объемом (кратчайшие трансляции);

б) имела прямые углы и равные стороны (если это возможно);

в) отражала симметрию кристалла максимальным образом.

Ячейки, которые имеют те же элементы точечной симметрии, что и решетка в целом, называют ячейками Браве.

Решетки Браве

решетки кубические (примитивная, объемноцентрированная, гранецентрированная)

решетки тетрагональные (примитивная, объемноцентрированная)

решетки ромбические (примитивная, базоцентрированная, объемно-центрированная, гранецентрированная)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

решетка гексагональная

 

решетки моноклинная (примитивная, базоцентрированная)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

решетка ромбоэдрическая

 

решетка триклинная

 

 

 

Индексы Миллера обозначают пространственную ориентацию кристаллографических плоскостей и направлений в решетке.

Для определения индексов Миллера необходимо:

найти точки пересечения плоскости кристаллической решетки с осями координат и перевести результат в единицы постоянных решетки - 1, 2, 3

взять обратные значения полученных чисел

1, ½, 1/6.

и привести их к наименьшему целому, кратному каждого из чисел

(6, 3, 2)

4.3 Классификация и свойства атомных дефектов кристаллической структуры

Дефекты в кристаллах

 

 

 

 

 

 

 

 

По размерному признаку

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Точечные

 

 

 

 

Линейные

 

Поверхностные

 

 

Объемные

 

 

(нульмерные)

 

 

 

 

(одномерные)

 

(двумерные)

 

 

(трехмерные)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тепловые

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

колебания

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

решетки

 

 

 

 

 

Кристаллизация, термическая или

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

механическая обработка кристаллов

 

 

 

Облучение

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

кристаллов

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

равновесные

 

 

 

неравновесные

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

по энергетическому состоянию

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Точечные дефекты

Дефекты, вызваные нарушениями периодичности структуры, в отдельных точках решетки , с размерами микроскопического масштаба, не превышающими нескольких периодов решетки по каждому из трех измерений

Основные типы точечных дефектов: 1 — вакансия, 2 — междоузельный атом, 3 — примесь замещения, 4 — примесь внедрения

Линейные дефекты

Дефекты, имеющие макроскопическую протяженность только в одном измерении на расстояния, много бóльше периода решетки, с поперечными размерами порядка межатомных расстояний — краевые и винтовые дислокации

Линейные дефекты: краевая дислокация (а), винтовая дислокация (б)

Поверхностные дефекты

Дефекты, имеющие макроскопическую протяженность в двух измерениях

— границы зерен, межфазные границы, дефекты упаковки и свободная поверхность кристалла

Виды поверхностных дефектов: а — малоугловая граница зерен; б — двойниковая структура