3. График абсолютной инструментальной погрешности цип:

3.1 По графику определим аддитивную и мультипликативную погрешности:

– зависимость абсолютной инструментальной погрешности от R.

Табл. 3

Аддитивная (а), [кОм]	-0,0005
Мультипликативная (b), [кОм]	-0,0012

4. График зависимости = F(R) – участок статической характеристики ЦИП в режиме омметра и абсолютной погрешности ∆R(R):

5. Вычислим значение основной погрешности сопротивлений:

5.1 Значение абсолютной погрешности:

, где

[кОм]

5.1 Значение относительной погрешности:

Аналогично вычисляем для других значений, результаты занесем в таблицу.

Табл. 4

Номер резистора	Диапазон измерений, кОм	Значения кванта для диапазона измерения, кОм	Показания ЦИП , кОм	Абсолютная погрешность измерения	Относительная погрешность измерения, %	Результат измерения
1	0,2	0,0001	0,1174	0,0003348	0,00285179	0,1174 0,0003
	2	0,001	0,117	0,001234	0,01054701	0,117 0,001
	20	0,01	0,11	0,01022	0,09290909	0,11 0,01
	200	0,1	0,2	0,1004	0,502	0,2 0,1
	2000	1	0	1	-	0
2	0,2	0,0001	-	-	-	-
	2	0,001	1,138	0,00329	0,003276	1,138 0,003
	20	0,01	1,14	0,01228	0,01228	1,14 0,01
	200	0,1	1,2	0,1024	0,1024	1,2 0,1
	2000	1	1	1,002	1,002	1,000 1,000
3	0,2	0,0001	-	-	-	-
	2	0,001	-	-	-	-
	20	0,01	8,19	0,02638	0,003221	8,19 0,03
	200	0,1	8,2	0,1164	0,01419512	8,3 0,1
	2000	1	8	1,016	0,127	8 1

ВЫВОД

В ходе данной лабораторной работы были изучены методы экспериментального определения метрологических характеристик цифровых приборов, а также их применения для измерения физических величин и оценили погрешности результатов измерений. Удалось определить аддитивную составляющую погрешности, не зависящую от значения измеряемой величины, и мультипликативную составляющую погрешности, растущую с её увеличением. Так же удалось определить, что абсолютная и относительная погрешности увеличиваются при увеличении диапазона измерений ЦИП, следовательно, для получения наиболее точных результатов измерения стоит производить на минимально возможных пределах измерений