Министерство цифрового развития, связи и массовых коммуникаций

Российской Федерации Ордена Трудового Красного Знамени

федеральное государственное бюджетное образовательное

учреждение высшего образования

Московский технический университет связи и информатики

Кафедра «Экология, безопасность жизнедеятельности и электропитание»

Лабораторная работа №9Э

по дисциплине

«Безопасность жизнедеятельности»

Выполнили: Проверил:

к.ф.м.н Курбатов В.А.

Москва 2023

Цель работы

1. Ознакомиться с макетом установки по измерению низкоэнергетического излучения в диапазоне длин волн 320 нм ≥ λ ≥ 280 нм.

2. Фиксированное показание α₀ – в левом нижнем углу (при расчетах для данного опыта эта величина не меняется). Для определения исходной оптической плотности кристалла до облучения – D0 = lg (α/α₀) необходимо определить - α.

Выполнение работы

1 - источник УФИ; 2 - линза ; 3 - фильтры; 4 - диафрагма; 5 - кристалл; 6 - лампа накаливания; 7-линза; 8 - светофильтр; 9, 10 - фокусирующие линзы; 11 - фотоприемник; 12 - измеритель. Рисунок 1 – Блок-схема установки по дозиметрии УФИ-излучения

На рисунках 2-16 представлено выполнение лабораторной работы.

Рисунок 2 – Измерение в 0 сек

Рисунок 3 – Измерение в 30 сек

Рисунок 4 – Измерение в 60 сек

Рисунок 5 – Измерение в 90 сек

Рисунок 6 – Измерение в 120 сек

Рисунок 7 – Измерение в 150 сек

Рисунок 8 – Измерение в 180 сек

Рисунок 9 – Измерение в 210 сек

Рисунок 10 – Измерение в 240 сек

Рисунок 11 – Измерение в 270 сек

Рисунок 12 – Измерение в 300 сек

Рисунок 13 – Измерение в 330 сек

Рисунок 14 – Внесение данных в таблицу

Рисунок 15 – Внесение данных в таблицу

Рисунок 16 – Отчет по внесенным данным

На рисунках 17, 18 представлены графики зависимости.

Рисунок 17 – График зависимости ΔD от t

Построение зависимости доз УФИ, поглощенного кристаллом, от времени:

I = 10^-5Вт/ см2.

Рисунок 18 – Зависимость оптической плотности от энергетической экспозиции

Таблица 1 – Зависимость H P_n от времени

t	HPn
0	0
30	3*10-4
60	6*10-4
90	9*10-4
120	1,2*10-3
150	1,510-3
180	1,8*10-3

В таблице 2 представлено значение допустимого времени облучения ультрафиолетовым излучением.

Таблица 2 - Значение допустимого времени облучения ультрафиолетовым излучением

Вывод

В ходе лабораторной работы мы изучили измерение низкоэнергетического излучения в диапазоне длин волн 320 нм ≥ λ ≥ 280 нм.

1. Что означает "пороговая" доза облучения?

Пороговая доза облучения – это уровень общей энергетической освещенности, превышение которого ведет к повреждению органов и тканей человека.

2. Какова "пороговая" доза облучения незащищенных участков кожи и глаз в спектральных диапазонах 290–315 нм; 290–380 нм?

Для УФИ ближнего спектрального диапазона (320–400 нм) общая энергетическая освещенность не должна превышать 1 мВг/см² если воздействие длится более 10³ секунд (16 минут) и 1 Дж/см² если менее. Дозы облучения спектрального диапазона 200-315 нм в течение 8 часов не должны превышать 4.7 для 290, 10 для 300, 50 для 305, 200 для 310 и 1000 для 315 мДж/см².

3. Что означает понятие "оптическая плотность" и как она определяется?

Оптическая плотность – это характеристика кристалла, которая определяет его способность пропускать падающий свет. Определяется по формуле , где – интенсивность падающего света, а – интенсивность прошедшего света.

4. Как по полученным экспериментальным результатам, зная оптическую плотность, определить дозу УФ облучения?