- •1. Уровни энергии электронов в кристалле.
- •2. Тепловая генерация электронно-дырочных пар
- •3. Энергия электронов в кристалле полупроводника
- •4. Проводимость полупроводников
- •5. Примесные полупроводники
- •6. Понятие о фононах
- •1. Концентрация носителей заряда в собственном полупроводнике
- •2. Концентрация носителей заряда
- •3. Электропроводность полупроводников
- •4. Эффект Холла
- •1. Собственное поглощение света при прямых переходах
- •2. Собственное поглощение света при непрямых переходах
- •3. Примесное поглощение света
- •4. Равновесные и неравновесные носители заряда
- •5. Механизмы рекомбинации
- •6. Поверхностная рекомбинация
- •7. Релаксация неравновесных носителей заряда
- •8. Фотопроводимость
- •1. Электронно-дырочный переход
- •2. Равновесное состояние р-n-перехода
- •3. Контактная разность потенциалов
- •4. Толщина р-n-перехода
- •5. Токи в равновесном р-n-переходе
- •8. Вольт-амперная характеристика р-n-перехода
- •9. Барьерная емкость р-n-перехода
- •10. Пробой р-n-перехода
- •1. Вырожденные полупроводники
- •2. Неравновесные носители заряда
- •3. Излучательная рекомбинация
- •4. Прямые и непрямые переходы
- •5. Поглощение и усиление света в полупроводниках
- •6. Принцип действия полупроводникового квантового генератора
- •7. Инжекционные полупроводниковый квантовый генератор
- •8. Зависимость мощности оптического
- •9.Спектр излучения
- •10. Расходимость излучения
1. Вырожденные полупроводники
Если концентрация примеси очень большая, то уровни примесных атомов в полупроводнике (см. «Введение» п.6) расширяются в полосы, сливающиеся с зоной проводимости в случае донорной примеси или с валентной зоной в случае акцепторной примеси. Уровень Ферми (см. «Введение» п.3) оказывается при этом либо в зоне проводимости (рис.4.1.а), либо в валентной зоне (рис.4.1.б). В этом случае говорят о вырождении электронов или дырок и, соответственно, о вырожденных полупроводниках n- или р-типа.
В вырожденном полупроводнике n-типа электроны полностью заполняют не только уровни валентной зоны, но и практически все
Уровни, лежащие в зоне проводимости вблизи ее дна ниже уровня Ферми EF(рис.4.1.а). При повышении температуры электроны получают энергию от тепловых колебаний кристаллической решетки полупроводника и переходят на уровни с большей энергией. Поэтому слой плотно заполненных уровней вблизи дна зоны проводимости уменьшается, уровень Ферми опускается вниз и при достаточно высокой температуре может оказаться в запрещенной зоне, т.е. вырождение может исчезнуть.
В вырожденном полупроводнике р-типа электроны почти полностью заполняют все уровни валентной зоны ниже уровня Ферми EF. Выше EFэлектронов практически нет (рис.4.1.б). Повышение температуры приводит к переходу электронов на уровни с большей энергией и смещению уровня EFвверх, и при некоторой температуре вырождение исчезает. Критическая температура, при которой исчезает вырождение, тем выше, чем больше концентрация примеси.
2. Неравновесные носители заряда
В состоянии теплового равновесия полупроводника произведение концентраций носителей заряда nopo=ni2не зависит от концентрации примеси, где ni– собственная концентрация носителей заряда. Например, рост noза счет доноров сопровождается уменьшением рoиз-за перехода электронов из зоны проводимости в валентную зону. Поэтому в врожденном полупроводнике n-типа концентрация дырок очень мала, а в вырожденном полупроводнике р-типа почти нет электронов в зоне проводимости.
Однако возможна такая ситуация, при которой одновременно велики и n, и р, т.е. np>ni2. Такое отклонение от равновесия получается в результате внешнего воздействия на полупроводник, например, облучение его потоком электронов, оптическим излучением и т.д. Но в любом случае энергия внешнего воздействия должна превышать ширину запрещенной зоны полупроводника ΔEg. Генерируемые при этом электронно-дырочные пары рекомбинируют не сразу, и в полупроводнике появляются дополнительные неравновесные электроны и дырки.
51
Распределение неравновесных носителей по энергии описывается формулами (В.4) и (В.5), но уровни Ферми для электронов и дырок будут разными. Их называют электронным EFnи дырочнымEFpквазиуровнями Ферми (рис.4.2.а).
Особенно важен случай, когда электроны и дырки в полупроводнике вырожденны одновременно, т.е. расстояние между квазиуровнями Ферми превышает ширину запрещенной зоны ΔEg(рис.4.2.б). В таком полупроводнике практически все уровни в зоне проводимости междуEFnи Ес заняты электронами, а в валентной зоне уровни между Ev иEFpв основном заполнены дырками.