Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Келли А. Кристаллография и дефекты в кристаллах

.pdf
Скачиваний:
25
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
17.8 Mб
Скачать

160 Г л а в а 4

Тогда уравнения

 

Р

і —

S i j q j

принимают простой вид

 

 

РХ =

xqx, Р2

=

5 2 2?2> Рз = S 3 зЧз'

Вернемся теперь к простому примеру электропроводности. Тензор электропроводности а і7симметричен, и если отнести его

Ф и г . 4.2. К выводу соотношения между векторами напряжен­ ности электрического поля Е и плотности тока J в кристалле.

к главным осям, то все ои = 0, кроме ох l5 сг2 2 и а3 3. Будем счи­ тать, что действует электрическое поле Е с компонентами [Е1 Е 2 0] по этим главным осям. Тогда

 

=

°1 1^1

Оі 2-^2

+ 0 1 3Р 3 =

°1 1^ 1)

 

 

потому что и

2 ,

и

3 равны нулю.

а 3

32?3, но мы приняли, что

Точно так же / 2 =

2 2Е 0 и /

3 =

£ 3 = 0, поэтому / 3 =

0. Это можно показать на схеме фиг. 4.2.

Чтобы построить эту схему,

надо отложить Е и найти 2^

и Е 2;

умножая затем Ех на

ах х,

получим

/ 1;

а умножая Е 2 на сг2 2>

получим / 2. Затем можно построить

J,

зная его компоненты по

осям координат, т. е.

J x

и

/ 2.

Нужно

особо подчеркнуть, что

Е и J не параллельны. Если бы вектор

Е был направлен вдоль

Ох, мы получили бы J x =

ах ХЕХ, потому что тогда / 2

и /

3 были

бы равны нулю. Значит, если

вектор

Е

направлен

по

одной

из главных

осей,

то

вектор

J

параллелен

Е. В общем

случае

электропроводность по трем главным осям не одинакова, посколь­ ку не одинаковы значения ах х, о2 2, ст3 3.

Тензоры

161

Если говорят об электропроводности в каком-то заданном направлении, то при этом подразумевается, что поле Е приложено в этом направлении и плотность тока J измерена в том же направнии, т. е. измерена ее компонента / ц , так что электропроводность в этом направлении равна компоненте /ц, деленной на абсолют­ ную величину Е, т. е. /ц/|Е|. Найдем выражение для компонен­ ты J, параллельной Е. Пусть поле Е действует в направлении,

Ф и г. 4.3. К выводу величины электропроводности в заданном направлении.

Чертеж построен для частных значений он = 2,5 и ап = 0,75 (Ом-см)-1.

косинусы углов которого с главными осями тензора электропро­ водности обозначим cos а, cos ß, cos у. Тогда получаем

— Од ХЕХ — оу ХЕ cos а,

J% — С?2 2Е 2

2Е COS ß,

/ 3 = а 3 3Е 3 =

а3 cos у,

где Е — абсолютная величина Е (т. е. |Е|). Отсюда имеем

/ (I = /iCos а + / 2 cos ß +

/ 3 cos у =

=

Е(ах iCos2 а + о2 2cos2 ß + о3 3 cos2 у),

и, таким образом, проводимость в данном направлении оказы­ вается равной

о = /ц/2? = о, jCos2 а + о2 2 COS2 ß + О3 3COS2 у.

(4.24)

Последовательные этапы вывода уравнения (4.24) схематически показаны на фиг. 4.3 для частного случая, когда вектор Е норма­ лен к главной оси Ох3 тензора электропроводности, так что cos у — 0 .

1 1 - 0 1 2 2 1

162 Г л а в а 4

Результат, описываемый уравнением (4.24), полезно вывести еще одним способом. Допустим, что нам надо отыскать значение компоненты о[ х тензора электропроводности независимо от того, отнесен ли он к главным осям или нет. Компонента о[ х связывает напряженность электрического поля вдоль оси Ох[ с компонентой плотности тока вдоль той же оси Ох[. Поэтому если надо найти значение электропроводности в заданном направлении, зная компоненты тензора электропроводности, отнесенные к главным осям, то будем поступать следующим образом. Выберем новую систему осей координат так, чтобы ось Ох\ была параллельна интересующему нас направлению. Тогда компонента а[ х тензора электропроводности, отнесенного к этой новой системе коорди­ нат, даст нам искомое значение электропроводности в заданном направлении. Нас интересует только компонента сг( х, поэтому, чтобы написать совокупность величин ац для этого преобразова­ ния, достаточно знать только значения косинусов углов между Ох\ и главными осями тензора электропроводности Охх, Ох2 и Ох3.

Согласно

уравнениям

(4.3), достаточно знать только аг х, ах 2

и аг 3; эти

величины

представляют собой соответственно cos а,

cos ß и cos у. Воспользовавшись формулой преобразования (4.18), получим

(J%j — Q-ihQ'H®hl

 

и отсюда

(4.25)

oil = alhaUGhl.

Поскольку Oij отнесены к своим главным осям, все члены в (4.25)

равны нулю, кроме тех,

в которых к = I, так что

Оі j — а±

1 аі 2аі 2СТ2 2 " f fli заі з° 3 з*

Подставляя выражения для ах х, а4 2, % 3, получаем

°'і 1= сті 1 cos2 a -j- п2 2 cos2 ß + 0зз cos2

т. е. приходим к уравнению (4.24).

Совершенно очевидно, что точно тем же путем мы могли бы найти электропроводность в заданном направлении, даже если бы нам были заданы значения компонент тензора электропровод­ ности Oij, отнесенные не к главным осям. В общем случае в урав­ нении (4.25) в развернутом виде было бы тогда девять членов. В выводе формул (4.25) не содержится предположения, что ком­ поненты Оц отнесены к главным осям. Теперь можно сформули­ ровать, как находить свойство кристалла в заданном направлении.

Допустим, что заданы компоненты описывающего это свойство тензора Ти в осях {Охг, Ох2, Ох3). Выберем одну из осей вдоль интересующего нас направления. Пусть направляющие косинусы этого направления по отношению к осям (Охг, Ох2, Ох3) будут

Тензоры

163

соответственно аг, а2, а3. Тогда 'значение свойства, характери­ зуемого тензором Т в заданном направлении, будет

Т = atajTi}.

(4.26)

Это выражение пригодно для всех тензоров второго ранга независимо от того, симметричны они или нет.

4.7.Ограничения, налагаемые симметрией кристалла

Вэтом разделе будут рассматриваться тензоры, описывающие физические свойства кристаллов, причем только кристаллов бездефектных.

Допустим, что две векторные величины Р и q связаны между собой в кристалле тензором Т ц, так что этот тензор описывает физическое свойство кристалла. Тогда сам кристалл определяет соотношения между компонентами Р и компонентами q, и мы представляем эти соотношения с помощью тензора Т^. Запишем компоненты тензора Ти в какой-нибудь системе координат. Если

теперь выбрать другую систему осей координат в кристалле, то компоненты Р и q в этой новой системе в общем случае окажут­ ся другими, а значит, изменится и соотношение между компонен­ тами Р и q.

Если же новую систему координат в кристалле выбрать так, чтобы она была свяеана со старой некими операциями симметрии, то значения компонент Р и q в этой новой системе координат будут отличаться от их значений в старой системе, но соотношение между компонентами Р и q останется неизменным, т. е.

Тіз = Т і}.

Так получится потому, что свойство кристалла не меняется при перемене осей координат. Это должно быть верно для любых преобразований симметрии. На компоненты тензора Т описы­ вающего физическое свойство кристалла, накладываются поэтому определенные ограничения. Такие же рассуждения приведут к ограничениям, налагаемым на тензоры третьего и более высо­ ких порядков. Пример их встретится в разд. 5.5.

Физические свойства, характеризуемые тензором второго ранга, обязательно центросимметричны. Это подразумевается в линей­ ных соотношениях

р і = Т і і Чі ,

потому что если мы заменим Р, на —Pt, а qj на — (т. е. если поменяем направления векторов Р и q на обратные), то эти соот­ ношения будут сохраняться при тех же значениях Тц.

Мы сможем легче понять дальнейшее, если посмотрим на пре­ дыдущее рассуждение с другой точки зрения. Допустим, что для

11*

164

 

Г л а в а

4

 

какой-то

системы осей координат

(Охі, Ох2 и Ох3)

соотношение

между Рі

и

qj задано тензором

Если теперь

мы поменяем

направления

осей координат, оставив неизменными векторы Р

и q, это равносильно тому, что мы выберем новую систему осей координат так, чтобы этим осям отвечала совокупность величин au, имеющая вид

- 1

0

0

0 - 1

 

0

0

0

- 1

Воспользуемся теперь формулой преобразования (4.18):

Тц = üikCLjiTfri.

Все а,j равны нулю, кроме тех, для которых і = /. Поэтому

ТИatiajjTtj Tijt

поскольку

ai 1 a 2 2 — ' a 3 3 1 .

Таким образом, мы оставили измеренные величины Р и q неизмен­ ными и произвели инверсию кристалла в центре симметрии. Такой же результат мы получили бы, если бы поменяли направле­ ния векторов Р и q на обратные.

Допустим теперь, что в кристалле есть ось симметрии второго порядка. Если мы измерим какое-то свойство кристалла вдоль какого-то направления, а затем повернем кристалл на 180° вокруг этой оси и снова измерим это свойство в том же направлении, должно получиться значение такое же, как и раньше. Это нала­ гает определенные условия на значения компонент симметричного тензора второго ранга Sij, описывающего это свойство. Чтобы

посмотреть, каковы эти ограничения,

выберем оси (Oxlt

Ох2, Ох3)

и допустим,

что ось симметрии

второго порядка

совпадает

с осью Охг.

Сначала предположим,

что тензор S tj симметричен,

а значит, что у него шесть независимых компонент. Если теперь выберем новые оси, связанные со старыми поворотом на 180° вокруг оси Ох2, то физическое свойство от этого не должно изме­ ниться. Эти новые оси связаны со старыми осями следующей совокупностью величин ац\

 

Охі

Ox2

Oxз

Ох{

— 1

0

0

Ох'2

0

1

0

Oxz

0

0

— 1

Компоненты тензора

S tj по

отношению к

новой системе осей

выражаются через компоненты в старой системе осей как

Sij = aihanShl,

Тензоры

165

и для всех і и j должно быть справедливо равенство S[j — S tj. Выписывая компоненты S'a подряд одну за другой, получим

Sii = alia1iiSj j =

Sj г,

S22 = a2 2a2 2S2 2=

S22;

З 3з — а з за з 3 S 3 3 =

з!

3 =

a i ia 3»5 ,3 =

*^i3j

ho

 

 

 

 

*$2 3 = a 2 2a 3 3*^2 3 — —

^ 2 3 и

^ 1 2 =

a lla 2 2^1 2 =

2 •

Однако мы считаем, что S2 3 = S 2 3, а поэтому, если свойство, описываемое тензором S tj, не должно меняться при таком преоб-

Таблща 4.2

Число независимых компонент тензора второго ранга, описывающего физическое свойство кристалла

 

О р и е н т и р о в к а г л а в н ы х

 

Ч и с л о

Х а р а к т е р и ­

К р и с т а л л о г р а ­

 

н е з а ­

о с е й т е н з о р а п о о т н о ш е н и ю

В и д т е н з о р а

в и с и ­

с т и ч е с к а я

ф и ч е с к а я

к к р и с т а л л о г р а ф и ч е с к и м

м ы х

п о в е р х ­

с и с т е м а

 

о с я м

 

к о м п о ­

н о с т ь 1)

 

 

 

н е н т

 

Кубическая

Ориентировка

осей

Г 5

0

0

1

1 Сфера

 

произвольная

 

0 5

0

 

 

 

 

 

0

0

5

 

 

Тетрагональ­

Ось

х 3

параллельна

ная

осям 4,

6,

3

или 3

Гексагональ­

 

 

 

 

 

ная

 

 

 

 

 

Тригональ-

 

 

 

 

 

ная (с гек­

 

 

 

 

 

сагональной

 

 

 

 

 

ячейкой)

 

 

 

 

 

Ромбическая

Оси X j, х 2 ,

х 3

парал­

 

лельны осям 22), сов­

 

пала ющим

с

осями

 

X ,

у , z

 

 

 

г 5j

0

0

0 5’!

0

 

0

0

5 3

 

1 1 0

о

1<5°<=><=>1

2 Эллипсоид

вращения

3Трехосный

эллипсоид

Моноклинная

Ось

х 2

параллельна

S

1 1

0

5j

з

4

 

оси 2, совпадающей

 

0

5 22

0

 

 

с

осью

у

 

5і з

0

53

з_

 

Триклинная

Положение

относи­

$

1 1

^ 1 2

^ 1 3

6

 

тельно

 

кристалло­

$ 2

1

$ 2 2

^ 2

3

 

 

графических

осей і-^з1S 3 2 S 3з_

 

не фиксировано

 

1)

Д о п о л н е ш іе р е д а к т о р а п е р е в о д а .— П р ь jit.р е д .

2)

И л и со о т в е т о т в е н н о н о р м а л я м к

п л о ск сэстям симметрии.-- П р и м . р е д .

166

Г л а в а 4

разовании,

значит, S 2 з должно равняться нулю. Очевидно, и ^ 2

тоже должно равняться нулю. Таким образом, у тензора второго ранга Sij, описывающего физическое свойство кристалла, обла­ дающего осью симметрии второго порядка, компоненты S 2 3

и2 должны равняться нулю, если этот тензор отнесен к такой

системе осей, в которой ось Ох2 совпадает с осью симметрии вто­ рого порядка.

В табл. 4.2 представлена сводка ограничений, налагаемых на компоненты симметричного тензора второго ранга, описываю­ щего физическое свойство кристалла для каждой из кристалло­ графических систем. В кубической, тетрагональной, гексаго­ нальной и тригональной системах главные оси тензора совпадают с кристаллографическими осями, а в моноклинной системе с кри­ сталлографической осью совпадает только одна из главных осей. Данные этой таблицы очень просто вывести, воспользовавшись методом, изложенным в разд. 4.8. Но часть этих данных можно было бы получить, применяя к каждому из элементов симметрии заданного класса симметрии тот способ, который мы только что использовали г). Табл. 4.2 применима к любому из физических свойств кристаллов, перечисленных в табл. 4.1 (см. примечание на стр. 167).

4.8.Характеристическая поверхность

Вразд. 4.8 было показано, что измеряемое значение свойства,

описываемого тензором второго ранга,

зависит от

направления,

в котором оно измеряется, и что эту

зависимость

можно найти

по способу, описанному в том же разделе и приводящему к урав­ нению (4.26), т. е.

Т = aidjTij.

Раскрывая это уравнение, получаем

Т — а,і {ахТҢ а2Тi2-f- а3Тіз) а\Т11 -j- a1a2T12 -f- а ^ 3Т13 а2а^Г2 1 +

+ o\T22 + a2a3T23+ a3a1T3l-\- a3a2T3 2-f- а\Т33. (4.27)

Здесь al5 a2, a3 — направляющие косинусы данного направления по отношению к тем же осям координат, в которых описывается тензор Т tj. Ограничимся пока рассмотрением симметричных тен­ зоров второго ранга, так что Тц = Tjt. Если физические свой­ ства описываются тензорами второго ранга, то почти всегда

х) Этим способом — так называемым методом прямой проверки — нельзя пользоваться для кристаллов тригональной и гексагональной сингоний. —

Прим. ред.

Тензоры

167

можно показать, что данный тензор симметричен (доказательство всегда основывается на термодинамических рассуждениях) *).

Как будет показано в гл. V, тензоры второго ранга, описываю­ щие напряжения и малые деформации, всегда симметричны. Если тензор симметричен, то такие члены, как ata2Tt 2 и а2аіТ2і, равны друг другу. Обозначим симметричный тензор через S tj (буква S должна напоминать, что тензор симметричен). На осно­ вании (4.27) имеем

S = a\SJ J ~f-a\S2 2 + а1$з з+ 2a1a25'i 2 + Z a ^ S i 3 -}- 2aza3Sz3. (4.28)

Если же Sij не только симметричен, но и отнесен к главным осям,

то равенство

(4.27) упростится, и мы получим

 

 

S = a\Si -j- a\Sz -f- a\S3,

(4-29)

потому что

Si 2 = Si 3 = S z 3 = 0. Уравнение

(4.28) имеет

такой же вид, как общее уравнение поверхности второго порядка (квадрики) *2), записанное в полярных координатах, начало кото­ рых совпадает с началом выбранной нами системы координат. Общее уравнение поверхности второго порядка имеет вид

— = A cos2 а + В cos2 ß С cos2 у -f- 2D cos а cos ß -f 2І? cos а cos у + -f 2F cos ß cos a, (4.30)

где r — радиус-вектор, а cos а, cos ß, cos у — направляющие косинусы г по отношению к системе ортогональных осей. Если общая поверхность второго порядка отнесена к своим главным осям, то это уравнение принимает вид

-4j- = A cos2 a - f 5 cos2 ß + Ceos2 у,

(4.31)

т. е. выглядит так же, как уравнение (4.29). При перемене осей координат, к которым отнесена общая поверхность второго поряд­ ка, коэффициенты в уравнении (4.30) преобразуются совершенно так же, как компоненты симметричного тензора второго ранга. Поэтому зависимость данного физического свойства кристалла от направления, заданную уравнениями (4.28) и (4.29), можно

*) Можно показать, что все свойства, перечисленные в табл. 4.1, описы­ ваются симметричными тензорами второго ранга. Но в случае свойств, отно­ сящихся к явлениям переноса (например, электропроводность, теплопровод­ ность, коэффициент диффузии), для полноты доказательства нужно обращать­ ся к экспериментальным данным. Насколько известно авторам, для коэффи­ циента диффузии достаточно надежных данных пока нет.

2) Авторы пользуются термином «квадрика», который в отечественной кристаллографической литературе переводится всегда как «поверхность вто­ рого порядка» (см. Дж. Най, Физические свойства кристаллов, ИЛ, М., 1960,

стр. 31). — Прим. ред.

168

Г л а в а 4

изобразить в трехмерном пространстве поверхностью, характе­ ризующей изменение свойства S в зависимости от направления.

Общая поверхность второго порядка может быть эллипсоидом, однополостным гиперболоидом или двухполостным гиперболои­ дом. Чтобы пояснить, как именно можно изобразить зависимость свойства S от направления в кристалле, ограничимся случаем, когда значения S y, S 2и в уравнении (4.29) или А, В и С в урав­ нении (4.30) положительны *). В этом случае поверхность второго

порядка, которую мы будем называть характеристической поверх­ ностью, представляет собой эллипсоид 2)* .

Обратившись к уравнениям (4.29) и (4.31), видим, что если построить эллипсоид, у которого величины главных полуосей

равны І / У Si, НУ S 2 и НУ S 3, как на фиг. 4.4, то обратная вели­ чина длины г любого радиуса-вектора этого эллипсоида (характе­ ристической поверхности) будет равна корню квадратному из вели­ чины свойства S в том же направлении. Обратимся к нашему примеру с электропроводностью. Если известны значения а1? а 2, а 3 компонент электропроводности по главным осям, то можно

Ч Если два из коэффициентов Sly S2, S3 положительны, а третий отрица­ телен, то характеристическая поверхность представляет собой однополостный гиперболоид; если два коэффициента отрицательны, а третий положите­ лен — это двухполостный гиперболоид. Если все три коэффициента отри­ цательны, характеристической поверхностью будет мнимый эллипсоид.

2) Для тензора, описывающего физическое свойство кристалла, имеет смысл рассматривать только положительные и действительные значения А ,

В, С, т. е. характеристическая поверхность никогда не будет гиперболоидом,

авсегда только эллипсоидом. — Прим. ред.

Тензоры

169

построить характеристическую поверхность электропроводности: если все аи- положительны, то это будет эллипсоид. Таким обра­ зом, если поле Е действует в каком-то направлении, то величину электропроводности в этом направлении найдем, проведя радиусвектор г в направлении Е, измерив величину г и взяв обратную величину корня квадратного из г.

Нетрудно теперь установить ограничения, налагаемые сим­ метрией кристалла на любое физическое свойство кристалла, опи­ сываемое симметричным тензором второго ранга. Симметрия физи­ ческих свойств кристалла подчиняется принципу Неймана, кото­ рый гласит: «Элементы симметрии физического свойства кри­ сталла должны включать в себя элементы симметрии точечной группы кристалла» *). Характеристическая поверхность показы­ вает, как меняется данное свойство в зависимости от направления, а симметрия характеристической поверхности является симмет­ рией физического свойства. Число независимых коэффициентов в уравнении характеристической поверхности [уравнение (4.30)1 равно числу независимых компонент тензора, описывающего данное физическое свойство, — уравнение (4.28). Рассмотрим симметрию характеристической поверхности, описывающей свой­ ство кристалла, принадлежащего какой-либо из групп Лауэ *2). Оказывается, что симметрия характеристической поверхности для симметричного тензора второго ранга определяется только сим­ метрией кристаллографической системы. Все эти результаты сведены в табл. 4.2.

Кубический кристалл должен иметь четыре оси симметрии третьего порядка. Характеристическая поверхность будет сферой, а значит, выбор осей координат для симметричных тензоров второго ранга, описывающих любое из свойств, перечисленных в табл. 4.1, не играет никакой роли. В отношении этих свойств кристалл является изотропным. У гексагональных, тригоналъных

и тетрагональных кристаллов имеются по две независимые компо­ ненты для свойств, приведенных в табл. 4.1, поэтому характери­ стическая поверхность должна быть поверхностью вращения вокруг оси симметрии соответственно шестого, четвертого или третьего порядков. В общем случае у характеристической поверх­ ности есть три взаимно перпендикулярные оси второго порядка. В ромбической системе оси характеристической поверхности должны совпадать с тремя взаимно перпендикулярными осями симметрии второго порядкакристалла. В этом случае и для опи­

х) Принцип Неймана не утверждает, что симметрия фпаического свойства такая же, как симметрия точечной группы кристалла. Симметрия физического свойства часто выше симметрии точечной группы.

2) Здесь надо учитывать не классы симметрии, а именно группы Лауэ, потому что все свойства, описываемые тензором второго ранга, обязательно центросимметричны.

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ