Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Юркевич В.Э. Термодинамика твердых растворов с сегнетоактивной подсистемой учеб. пособие

.pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
5.43 Mб
Скачать

 

 

-

1X9 -

 

 

А

дТ

- m i] ) = l n

і - Ч

(22.36)

( 1

Ч

 

 

 

 

 

где величина А имеет

тот же

вид,

что в формуле (2 2 .2 5 ). Из

соотношений (22.11) и (22.35) в нашем случае вытекает усло­ вие 172 < 2. Коэффициент те характеризует интенсивность взаимодействия. Наконец отметим, что уравнение (22,36) мо­ жет быть представлено в виде

____________ 1 _____________

П(т)=

(22.3?)

1 + ехр | а у ( і - т

: r ) ) J

Это трансцендентное уравнение дает возможность найти функ­

цию X = —j—(Т ). При m = 0 уравнение

(22.37) переходит

в

выражение (22.25) для функции

t] 0 (Т)

невзаимодействующих

 

ОК. Решение трансцендентного

уравнения (22.37) приводит

к

весьма громоздким расчетам при разных значениях то . Ре­ зультаты приведены далее графически. Все графики получены

путем

подстановки в

уравнение

Ѳ = 400 °К

и А = 200,

что

примерно соответствует данным,для титаната

бария.

 

На рис,24 (Приложение

II)

изображено

поведение

функции

-*—( Т)

вблизи точки

фазового

перехода 6 при

некоторых

зна­

чениях

параметра то

, характеризующих интенсивность

взаимо­

действия ОК. Как видно, в результате взаимодействия, депо­ ляризация ОК несколько ускоряется до "макроскопического" ФП, но значительно замедляется за точкой ФП. Следовательно, учет взаимодействия приводит к изменению (Степени размытия.

На рис.25

(Приложение

I I) показано поведение отношения

аномальной части теплоемкости 0 к энергии деполяризации CJ .

Это отношение

дает

производную фуннции

-^-(Т), так как

 

 

С

dt] (т'і

d

г n

J 1

 

 

 

с} "

dT

’ d r

L7Г - '

 

Параметр га влияет

на максимальное значение

теплоемкости

Cn!QS.

Сначала

максимум уменьшается, .а

далее

при увеличении m

быстро

растет,

рис.26 (Приложение

I I ) .

Из рис.25 видно так­

же, что максимум

теплоемкости с ростом то смещается влево, .

в сторону низких

температур. Если точку ФП определять

по

максимумутеплоемкости, то полученный результат будет

сви-

- 120 -

детельствоватъ о том, что учет взаимодействия приводит к смещению точки ФП в сторону низких температур.

Полуширина Г кривой теплоемкости при разных значени­ ях т дана на рис.27 (Приложение П). Полуширина характери­ зует интервал температуры,' в котором теплоемкость уменьша­ ется вдвое по сравнению с максимальным значением. При ма­ лых те величина Г немного увеличивается и потом с ростом in значительно уменьшается. Это, очевидно, является след­ ствием того, что при больших значениях т несущественно изменяется ширина кривой теплоемкости и сильно возрастает высота кривой.

Концентрация примеси, а также гидростатическое давле­ ние в твердых растворах приводят к перестройке структуры кристалла, что влияет на величину взаимодействия между от­ дельными ОК и энергию деполяризации. Влияние последнего фактора как для СЗТР, так и для СПТР проанализировано в §2t Более точная модель фазовых флуктуаций с учетом взаимодей­ ствия между отдельными ОК, численно характеризуемого пара­ метра 172 , должна определенным образом учитывать зависи­ мость величины гл от р и X. В первом приближении можно ог­ раничиться лишь линейными членами и представить параметр взаимодействия в виде

172 = 1Т20 + 172, X + 1722 р + Т723 р Х .

§23. Влияние внешнего электрического поля на размытый сегнетоэлектрический фазовый переход с учетом взаимодействующих

областей Кенцига

В рамках рассматриваемой модели все аномалии физичес­ ких величин, например поляризации, теплоемкости и т . д ., вблизи точки ФП полностью определяются поведением функции ~ ( Т ) . По этой причине исследование общих свойств этой функции с учетом влияния различных факторов, способных из­ менять характер размытия ФП; имеет весьма важное значение. Особенно это касается влияния внешнего электрического поля.

-I2I -

Вмодели невзаимодействующих ОК учет влияния внешнего элек­ трического поля приводит к смещению точки ФП в сторону бо­ лее высоких температур /ЗОО/. Сама функция ~ ( Т ) не меняет своего вида, но смещается вправо. Наблюдаемый эффект до­ вольно хорошо совпадает с имеющимися экспериментальными данными. Однако в этих исследованиях остается открытым во­ прос о влиянии внешнего электрического поля в том случае, когда ОК взаимодействуют между собою. Используя обобщение

модели, предложенной Стреслером и Киттелем /2 9 9 /, в §22 было показано, что в простейшем случае учет взаимодействия приводит к уравнению для определения функции -~-(Т) в виде (2 2 .3 7 ). При наличии электрического поля энергия деполяри­ зации изменяется. Для простоты предположим, что спонтанная поляризация в ОК может быть ориентирована только в двух на­ правлениях: по положительной или отрицательной оси х . Если включить внешнее электрическое поле Е, направленное парал­ лельно или антипараллельно вектору спонтанной поляризации

Рс , то

соответствующие функции 4 тЧТ) определяются из урав-

Э

 

 

fvj

 

 

 

нений

 

 

 

 

 

 

■Cf f,T) =

 

 

 

 

(23 .1)

 

1 + с*р [

а

(l-rn i ( f

t,T))*

}

 

 

- ( м , т ) -

 

 

 

 

(23.2)

N

1 + схр

1 А ~ k h (^ г о т г С + г д )) -

 

 

 

 

 

 

 

 

N

-----кТ

 

 

Если точку ФП, как

обычно, определить

из условия

-jg"(6 ) +

1/2, то из

(23 .1) и (23 .2)

следует,

что приложение

внешнего электрического поля вызывает смещение этой точки на величину

л ѳ

©( e) - е со)

Рд ѳ Со)

 

 

, (23 .3)

Е

Е

" * С | ( 1 - Щ .

где Ѳ(Е) и Ѳ(0) - температуры ФП при наличии и отсутствии электрического поля. Как видно, точка ФП смещается в сто­ рону более высоких температур в случае параллельной ориен­ тации поля и поляризации и соответственно - в сторону низ-

- 122 -

них температур в случае антипараллелыюй ориентации. В си­ лу свойств сегнетоэлектриков, а именно легкой переориента­ ции направления поляривации во внешнем поле, интерес пред­ ставляет только случай параллельной ориентации поля и спон­ танной поляризации. Следовательно, приложение внешнего электрического поля в сегнетоэлектриках практически вызы­ вает смещение точки ФП вправо. Формула (23.3) показывает, что учет взаимодействия областей Кенцига между собой уве­ личивает смещение точки ФП.

Учет взаимодействия выявляет некоторые особенности ФП. Для анализа этого явления были проведены численные расчеты, представленные графически. Все графики получены при А = 200 и Ѳ =.400°К, что примерно соответствует данным для титаната бария.

На рис.2В (Приложение П) дано поведение функции -^-(Т)

вблизи точки ФП, согласно

уравнению (23. 1), в зависимости

от значений величин ш и а

= ^ . Как и можно было ожидать,

 

кѲ

увеличение а , характеризующее взаимодействие сегнетоэлек-

трика с внешним полем, приводит к

смещению кривых

вправо.

В свою очередь, рост величины т .

, характеризующей

взаимо­

действие ОК между собой, приводит к размытию ФП. В отсут­ ствие внешнего электрического поля это взаимодействие уско­ ряет процесс ФП ниже точки ФП и замедляет - выше ее. В слу­ чае наличия поля, взаимодействие областей Кенцига всегда приводит к замедлению процесса и размытию области ФП.

На рис.29 (Приложение П) показано поведении отношения аномальной части теплоемкости CQ к энергии деполяризации^,. Это отношение дает производную функции -Ü(T), так как

Ca

d

г п

я N

ц

= dT

L N

^Т).

В отсутствие внешнего электрического поля учет взаимодей­ ствия приводит к смещению максимума кривой влево, в сторо­ ну более низких температур, причем максимум сначала умень­ шается с ростом m , а потом увеличивается. В присутствии поля все кривые смещаются в сторону более высоких темпера­ тур, причем максимум с ростом а постепенно уменьшается,

-123 -

аувеличение га вызывает размытие фазового перехода.

Учет взаимодействия-ОК требует пересмотра определения точки ФП. При отсутствии взаимодействия ОК точку ФП обычно

определяют, из соотношения -~(Ѳ) = 1/2, При этой же

темпера­

туре кривая ~ Ч Т )

имеет и точку перегиба.

В случае

наличия

взаимодействия ОК

условие -~(Ѳ) -

1/2 не

совпадает

о темпе­

ратурой точки перегиба. Следовательно, тбперь

точку

Кюри

можно определить

либо из условия

-|~(Ѳ) *

1/2,

либо

из точ­

ки перегиба. Если точку ФП связать с максимумом кривой теп­ лоемкости, как это часто делается, то здесь, очевидно, ис­

пользуется точка перегиба. Поэтому на рис.29

кривые -~ а ,

в отсутствие электрического поля, с ростом т

смещаются

влево, хотя кривые -$-(Т) в этом случае проходят через поло­

вину

при одной

и той же температуре,

т .е . точка

ФП как буд­

то

не

смещается.

 

 

 

 

 

На рис.30

(Приложение П) приведена зависимость макси­

мума кривой

от величины га при

заданных а .

Как

видно,

в

присутствии ^электрического поля увеличение га всегда

при­

водит к уменьшению максимумов кривых. Исключение составляет случай отсутствия поля, когда кривая, изображающая зависи-;

мостъ

максимума кривой

 

от m , проходит через минимум.

Из рис.31 (Приложение П), на котором показана зависи­

мость

максимума кривой

^

о і а при

заданных значениях га~,

видно,

что во всех случаях

увеличение

а приводит к умень­

шению максимума. Эта закономерность весьма слабо выражена при отсутствии взаимодействия ОК.

Рис. 32 и 33 (Приложение П) показывают поведение полу­ ширины Г кривой теплоемкости'в зависимости от га и а . По­ луширина характеризует интервал температуры, в котором теп­ лоемкость уменьшается вдвое по сравнению с максимальным значением. При заданных а полуширина Т, если значения т малы, увеличивается, а затем с ростом га уменьшается. При заданных m полуширина Т быстро растет о увеличением а . Исключение составляет случай с m ■ 0, когда отсутствует взаимодействие между DK.

- 124 -

Из полученных результатов следует, что учет внешнего элѳктричеокого поля уже в простейшей модели взаимодейст­ вующих ОК указывает на существенное изменение характера сегнетоэлектрического ФП.

§24. Учет влияния дефектов на физические характеристики твердых растворов

Физические свойства кристаллов существенным образом зависят от различных дефектов кристаллической решетки. • Всестороннее изучение этого вопроса представляет собой не только научный, но и практический интерес, так как подоб­ ные исследования позволяют учитывать влияние полей различ­ ной природы (механических, температурных и т . д . ) на физи­ ческие свойства синтезируемых сегнетоэлектрических и сегнетополупроводниковых материалов.

Согласно /301,302/, число дефектов в кристалле пропорционально ехр(- гДе Е “ энергия возникновения де­ фекта. Учитывая, что энергия активации имеет для сегиетоэлектриков типа перовскита достаточно большое значение /303,304/ и рассматривая кристалл в достаточно узком интер­ вале температур, например, вблизи температуры ФП, число де­ фектов в кристалле можно считать постоянной величиной, не зависящей от температуры. Эту величину можно связать со степенью упорядоченности кристалла £ , которая может ме­ няться от нуля (идеальный кристалл, число дефектов равно нулю) до единицы (в кристалле полный беспорядок). Величина упорядоченности может быть введена йак отношение числа де­ фектов к общему числу атомов кристалла.

Следовательно, концентрация дефектов есть степень упорядоченности*кристалла, описывающей отклонение реаль­ ного кристалла от идеального, и дефекты могут рассматри­ ваться как дополнительная компонента, характеризующая дан­ ный кристалл. Тогда реальный кристалл может быть представ­ лен как твердый раствор, где роль основной компоненты иг­ рает идеальный кристалл, а дефекты, соответствуют примеси

- 125 -

кристалла. Эта дает возможность применить для списания де­

фектов кристалла метод,

используемый при

анализе

твердых .

растворов в зависимости

от концентрации

примеси

(гл.П и Ш).

В данном случае роль примеси играют дефекты,

т . е . коэффи­

циенты разложения термодинамического потенциала

будут

за­

висеть от величины упорядоченности кристалла

\ .

В предло­

женном методе (г;..П )

рассмотрение проведено

с точностью

до

квадратичных членов по концентрации примеси, что вполне

 

применимо для рассмотрения влияния дефектов,

так

как

£ «

I

/3 0 5 /, Такой подход

позволяет учесть влияние

дефектов

кри­

сталла на величину поляризации, диэлектрической проницае­ мости, пьезомодулей и других свойств как для случая ФПІ, так и для случая ФПІІ.

Представляется интересным также рассмотрение вопроса о влиянии дефектов на физические свойства в твердых раст­ ворах. В этом случае также применим изложенной выше метод, но в качестве основной компоненты будет рассматриваться твердый раствор без дефектов, а в качестве примеси - дефек­ ты. Следовательно, коэффициенты разложения термодинамичес­ кого потенциала зависят от двух концентраций: во-первых,от концентрации примеси, а во-вторых, от концентрации дефектов кристалла. Это аналогично рассмотренному в гл.Ш вопросу о влиянии гидростатического давления на физические свойства кристалла в окрестности точки ФП для твердых растворов,ког­ да учитывались два параметра: концентрации примеси и гидро­ статическое давление. Следовательно, в данном случае приме­ нимы все результаты гл.Ш, но необходимо гидростатическое

давление

заменить

на концентрацию дефектов.

.Предложенный

метод может быть применим, подобно гл.П

и гл.Ш,

для СЭТР,

СПТР и СФТР,

Наконец, анализ влияния дефектов на свойотва кристал­ лов может быть проведен на основе модели фазовых флуктуа­ ций, рассмотренной в §§ 21, 22, 23, Очевидно, что энергия деполяризации кристалла будет существенным образом зави­ сеть от степени упорядоченности кристалла, Учитывая, что коэффициенты термодинамического разложения зависят от кон­

- 126 -

центрации дефектов, энергия деполяризации кристалла может быть представлена в виде произведения двух сомножителей, где первый из них описывает энергию деполяризации идеаль­ ного криоталла, а второй - влияние дефектов. Это позволя­ ет связать между собой в точке ФП величину энергии деполяриаации, теплоемкость, обънм области Кенцига, вызванные влиянием дефектов. Все аналитические соотношения, получен­ ные в §2 1 , непосредственно применимы для описания дефек­ тов.

Следовательно, проблема влияния дефектов кристалла на его физические свойства в окрестности точки ФП может быть в некотором смысле решена на основе предложенного метода. Отсутствие комплексных исследований эксперимен­ тального порядка лишает возможности полного сравнения с экспериментом. Качественное совпадение очевидно /3 0 6 /. Необходимо отметить, что вое приведенные выше рассуждения корректны в предположении, что число дефектов в кристалле есть величина постоянная и не зависящая от температуры, а оамо рассмотрение проводится в узком температурном ин­ тервале в окрестности точки ФП.

- 127 -

ПРИЛОЖЕНИЕ I

Таблица I

число

 

 

П критерий

Шкритерий

Среднее

заданных I критерий

точек

 

 

 

 

 

 

 

 

83%

I

90%

I

84%

I

85,6% I

1 2

17%

П

1 0 %

П

16%

П

14,4% П

 

II

83%

I

90%

I

84%

I

85,6% I

17%

П

1 0 %

П

16%

П

14,4% П

 

1 0

78%

I

92%

I

87%

I

85,6% I

22%

П

8 %

П

13%

П

14,4% П

 

9

63%

I

95% П

92%

I

83,6% I

37%

П

5% I

8 %

П

16,4% П

 

8 -

44%

I

9>4% I

91%

I

76,3% I

56%

П

6 % П

9%

П

23,7% П

 

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ