Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Болдырев, А. И. Физическая и коллоидная химия учеб. пособие

.pdf
Скачиваний:
67
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
24.47 Mб
Скачать

дов между собой. Непосредственное наблюдение расположения органически* коллоидов и бактерий на поверхности минералов стало доступно только при та­ ком увеличении, какое может дать электронный микроскоп.

§ 98. Рентгенографический метод

Рентгенографические исследования в последние годы получили широкое распространение в почвоведении. Определение содержания высокодисперсных минералов в почвах или в каких-либо других объектах методом рентгенографии основано на явлении дифракции рентгеновских лучей от плоскостей кристаллов и интерференции. Лучи, отраженные от исследуемого объекта, попадают на фото­

бумагу, где образуют симметрично рас­

 

положенные линии

дугообразной

фор­

 

мы различной степени интенсивности.

 

Атомы, молекулы и ионы,

образую­

 

щие кристалл,

располагаются

в нем

 

в правильном порядке, образуя струк­

 

туру.

Характер этого

порядка

может

 

быть разным,

но для данного вида кри­

 

сталла всегда одинаков.

 

служить

 

В качестве примера может

 

хлорид натрия (см. рис.

12).

Его

кри­

 

сталлы

построены

из

ионов

натрия и

 

хлора, которые, чередуясь,

распола­

 

гаются правильными рядами, объеди­

 

няющимися

в

плоскостную

решетку.

 

В узлах решетки в шахматном порядке

 

находятся ионы Na+ и С1~. Плоскости

 

располагаются

в пространстве парал­

 

лельно одна другой (смещаясь на одно

 

звено)

и

образуют

пространственную

 

кристаллическую решетку*.

 

 

 

Решетка имеет три

измерения и ее

Рис. 121. Рентгеновский аппарат

можно представить

в виде примыкаю­

УРС-55А

щих друг

к

другу

параллелепипедов,

каждый из которых можно назвать эле­ ментарной ячейкой. В пространствен­ ной решетке можно выделить узловые прямые и узловые плоскости, кото­

рые находятся друг от друга на определенном расстоянии d, которое является

характерным для каждой системы плоскостей данного кристалла.

Длины волн рентгеновских лучей имеют тот же порядок, что и расстояние между атомами или ионами в кристаллах (10~8сж). Именно благодаря этому при дифракции рентгеновских лучей от граней кристалла и получается рентгенограм­ ма, которая дает возможность, в частности, определить расстояние между узловы­ ми плоскостями, а также между частицами в кристалле. Каждая линия на рентге­ нограмме соответствует отражению рентгеновских лучей от определенных узло­ вые плоскостей.^При расшифровке рентгенограмм сначала делают точные про­ меры расстояний между симметрично расположенными линиями (дугами). Зная эти величины, можно сравнительно легко рассчитать межплоскостные расстоя­ ния в кристаллах, являющиеся характерными для каждого минерала.

При расчете пользуются формулой Брегга—Вульфа:

 

nk = 2d sin 0,

(VIII,2)

где п — целое число или порядок отражения от разных параллельно располо­ женных плоскостей в кристалле, X — длина волны падающего на объект рентге­

* Расположение частиц в пространстве может быть иным и более сложным,

чем у хлорида натрия. В таком случае усложняется геометрическая форма самих кристаллов.

— 330 —

Инфракрасный спектр любого химического соединения — одна из наиболее важных его характеристик и может использоваться для идентификации вещества. При сравнении двух соединений идентичность их инфракрасных спектров указы ­ вает (за очень редким исключением) на идентичность самих соединений. Инфра­ красные спектры любых веществ дают ценные сведения об их внутренней струк­ туре. Для расшифровки ИК-спектра нужно найти соответствие между положением полос поглощения и наличием отдельных структурных элементов в молекуле, а уж е затем по ИК-спектру определить присутствие тех или иных атомных групп и их взаимное расположение.

 

У

У

АХг~НРШЧШ ' A Веерное

АХг-крутильное

ил'и плдхдсщнув

ипи6нерцдскошное

или днеллоскостное •

У

АХzмаятниковое АХ3-симметричное АХ3-асимметричное

АХг-симметричное

АХ}-симметричное

AXZ-асимметричное

АХ3-асимметричное

Рис. 123. Валентные колебания молекул типа АХг и АХз

Метод инфракрасной спектроскопии в последние годы стал особенно широ­ ко применяться в органической и неорганической химии, биохимии, биологии, почвоведении, минералогии и во многих других областях науки и народного хо­ зяйства.

Что же собой представляет инфракрасный спектр любого химического соеди­ нения? Известно, что все молекулы состоят из атомов, соединенных между собой химическими связями. Атомы в молекуле находятся в постоянном колебательном движении. В простейшем случае, когда молекула вещества состоит только из двух атомов А и Б , происходит единственный вид колебаний — периодическое растяжение и сжатие по линии связи А — Б . Движение химически связанных ато­ мов в молекуле можно сравнить с непрерывным колебанием систем шаров, кото­ рые связаны между собой пружинами. Оба вида колебательного движения хорошо описываются математически при помощи закона Гука. Колебательная частота в случае двухатомной молекулы определяется уравнением:

( V I I I .3)

— 332 —

где v — колебательная частота,

с м - 1 ,

с -г- скорость света, Ц—- силовая постоян­

ная связи и ) 1 — приведенная

масса,

определяемая уравнением:

тАтъ

(V III ,4)

тА+тБ ’

где т А и т Б — массы отдельных атомов А и Б.

Аналогичным образом могут рассматриваться валентные колебания и в бо­ лее сложных молекулах, хотя здесь становятся возможными и другие виды коле­ баний, в частности деформационные колебания. При валентных колебаниях из­ меняются в основном длины связей, углы между ними остаются приближенно не­ изменными. В случае деформационных колебаний изменяются главным образом углы между связями. Валентные колебания молекул типа A X j и АХд схематич­ но представлены на рис. 123, где стрелки показывают направление периодическо­ го смещения атомов, а знаки плюс и минус соответствуют периодическим смеще­ ниям перед плоскостью или за плоскостью бумаги.

Инфракрасное излучение принято характеризовать волновым числом v, ко­ торое выражается в обратных сантиметрах (с м '" 1) и называется обычно частотой,

хотя на

самом деле единица частоты v

имеет размерность

обратной секунды

(сек-1).

Д ля

характеристики излучения используется также длина волны X, из­

меряемая в

микронах. Волновое число v

связано с длиной

волы X следующей

простой зависимостью:

 

 

104 V“ X -

Таким образом, частота v представляет собой величину, равную числу длин волн, выраженных в микронах, уложенных на расстоянии 1 см. Например, интервал от 2,5 до 40,0 мк соответствует интервалу от 4000 до 250 см~1.

Как видно из уравнений (V III, 3) и (V III, 4), частоты колебаний зависят не только от самой природы отдельных связей, но и от всей молекулы и ее окруж е­ ния. В случае системы шариков, связанных пружинками, происходит совершенно аналогичное явление — на колебание одной пружинки оказывает влияние вся система в целом. Если по такой системе произвести удар, амплитуды колебаний шариков возрастут. Аналогичное явление происходит и в молекуле вещества при воздействии на нее электромагнитных волн (инфракрасных лучей): амплиту­ ды колебаний отдельных связей и вместе с ними колебаний электрических зарядов будут увеличиваться.

Полной аналогии между системой шаров на пружинах и молекулой какоголибо химического вещества быть не может: колебательные энергетические уров­ ни молекулы изменяются скачкообразно. В системе же шаров на пружинах ам­ плитуды колебаний изменяются непрерывно. Следовательно, молекула погло­ щает только те частоты инфракрасного излучения, энергия которых точно соот­ ветствует разностям между двумя уровнями энергии связи, т. е. амплитуды ко­ лебаний возрастают скачкообразно.

Таким образом, при взаимодействии молекулы какого-либо вещества с элект­ ромагнитным полем (инфракрасным излучением) может произойти передача энер­ гии от поля молекуле, в результате чего молекула перейдет из одного квантового состояния в другое (возбужденное). Приобретенная молекулой величина энергии Е связана с частотой поглощенного излучения v простым соотношением:

АЕ =hv, ( V I I I ,5)

где h — постоянная Планка (Л = 1,623 • 10 -27 эрг-сек).

При возвращении молекулы в исходное состояние она испускает такой же квант энергии АЕ частоты v. Итак, если исследуемое вещество облучать инфра­ красным светом с непрерывно меняющейся частотой, определенные участки спект­ ра излучения будут поглощаться молекулой, в результате чего луч, проходящий через вещество, в области поглощения будет ослабляться. Регистрируя интен­ сивность прошедшего через данное вещество инфракрасного излучения в зависи­ мости от длин волн или от волновых чисел, можно получить кривую, на которой

333 —

будут в и д н ы п о л о с ы п о г л о щ е н и я . Э та к р и в а я и н а з ы в а е т с я и н ф р а к р а с н ы м с п е к т -

Р° М Инфракрасные спектры могут дать весьма богатую информацию, поскольку

каждая молекула имеет только ей присущий набор колебаний, К°3 ° Р “ ■ ® “ С11Г от массы и взаимного расположения атомов в данной молекуле, межатомных рас­ стояний, типов меж- и внутримолекулярных взаимодействий. Д аж е самые незначительные изменения в структуре молекул отражаются на инфракрасных спект­ рах поглощения, поэтому инфракрасный спектр поглощения может являться од­ нозначной характеристикой вещества, образно говоря его «паспортом».

Рис. 124. Принципиальная схема однолучевого

инфракра­

 

 

сного спектрометра:

 

 

/ — источник

инфракрасных

лучей; // — монохроматор; / // — уси­

литель термотока;

IV — регистрирующее

устройство;

/ — источник

излучения (штифт

Нернста

или глобар);

2 — исследуемое

вещест­

во; 3 — входная щель монохроматора; 4 — выходная

щель

моно­

хроматора;

5 — отсчетное

устройство;

6 — приемник

излучения

 

 

(термоэлемент)

 

 

 

Метод инфракрасной спектроскопии может применяться для идентификации различных химических соединений. Поскольку полосы поглощения непосредст­ венно отражают состояние связей и наличие в молекуле различных атомных труппироврк, можно получать весьма ценную информацию о структуре данного ве­ щества. Интенсивность полосы поглощения в ИК-спектре любого химического соединения пропорциональна количеству исследуемого вещества, и это обстоя­ тельство лежит в основе еще одного важного направления применения инфра­ красной спектроскопии — количественного анализа.

Прибор, в котором получают запись инфракрасного спектра поглощения, норит название инфракрасного спектрофотометра (или спектрометра). Принцип действия инфракрасных спектрометров в общем довольно прост, сложны лишь их механические и электрические устройства, необходимые для воспроизведения мддейших изменений поглощаемой энергии в виде точно зарегистрированного спектра. Поскольку обычное стекло не прозрачно для инфракрасных лучей, в ин­ фракрасных спектрометрах оптика изготовляется из кристаллов галидов (NaCl, K Br, L iF), которые не поглощают инфракрасные излучения.

Принцип работы инфракрасного спектрометра заключается в следующем. Инфракрасное излучение, получаемое от специального источника, проходит

-334 —

через исследуемое вещество и далее разлагается в спектр с помощью моно­ хроматора. Отдельные лучи этого спектра последовательно направляются на приемник излучения и затем, после усиления, фиксируются соответст­ вующим записывающим устройством. Принципиальная схема однолучевого прибора представлена на рис. 124. Имеются более сложные двухлучевые инфра­ красные спектрометры, в которых световое излучение от источника разделяется

на два потока: один из них

проходит че­

 

 

 

 

рез кювету

с

исследуемым

веществом,

 

 

 

 

другой — через

аналогичную

 

кювету,

 

 

 

 

не содержащую этого вещества.

 

 

 

 

 

 

 

 

Наша промышленность серийно

вы­

 

 

 

 

пускает

однолучевые

 

инфракрасные

 

 

 

 

спектрометры моделей ИКС-9,

И К С -11,

 

 

 

 

И К С -12,

а также

двухлучевой

прибор

 

 

 

 

марки

И КС -14.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 125 приведены

инфракра­

 

 

 

 

сные спектры

поглощения

некоторых

 

 

 

 

высокодисперсных

глинистых

 

минера­

 

 

 

 

лов,

 

наиболее

часто

встречающихся

 

 

 

 

в почвах.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Полосы

 

поглощения

 

ИК-спектров

%

 

л

|

любых веществ,

в том числе

и

 

минера­

 

 

' 80 г

лов,

обусловлены колебаниями

опреде­

ленных атомных групп и их

связей.

 

-fV

Так, полосы, обусловленные Si — О ко­

60

 

1 1

лебаниями, в спектрах диккита и каоли­

00

 

нита

 

наблюдаются

при

v =

435,

470,

г

ц

Г

685,

1010 ,

1030

и 1110

см"1,

Полосы

го

поглощения,

приписываемые Si — О —

 

_Li

_JL

А1 колебаниями, проявляются

 

при

v =

я

 

2т 3200

= 7 5 0

и

790

см“ х,

полоса

 

при

v =

 

 

= 910

см- 1

обусловлена

 

колебаниями

 

 

 

 

связи

Н — О — А 1.

Все рассмотренные

 

 

 

 

полосы

поглощения

характерны

для

 

 

 

 

обоих

минералов.

 

Отличие в

 

этой об­

 

 

 

 

ласти спектра каолинита и

 

диккита

за­

 

 

 

 

ключается

в

том,

что

диккит

имеет

 

 

 

 

в своем ИК-спектре две

полосы

погло­

 

 

 

 

щения:

слабую

при

v =

 

645

см-1 и

 

 

 

 

очень интенсивную

при

V— 1435

см"1.

 

 

 

 

В ИК-спектре каолинита эти полосы от­

 

 

 

 

сутствуют.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Однако главные отличия в спектрах

 

 

 

 

минералов каолинитовой группы наблю­

 

 

 

 

даются в коротковолновой области.

Ко­

 

 

 

 

лебания в этом участке спектра обуслов­

 

 

 

 

лены

 

О — Н-группами,

 

входящими

 

 

 

 

в состав исследуемых минералов. Н а­

 

 

 

 

пример,

каолинит имеет очень узкую и

 

 

 

 

интенсивную

полосу

поглощения при

 

 

 

 

v = 3700

см"1

и

 

менее

 

интенсивную

 

 

 

 

при

 

v = 3630

см"1.

Полосы

 

погло­

 

 

 

 

щения при

v =

3675 и 3660 см"1у него

 

 

 

 

очень слабые. У диккита только три

 

 

 

 

очень интенсивных

 

полосы

поглощения

 

 

 

 

с максимумами

при v =

 

3630,

 

3660 и

 

 

 

 

3710

см"1.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Минералы

группы

 

галлуазита со­

Рис. 125. ИК-спектрограммы раз­

держат в своих

ИК-спектрах

те же по­

личных

глинистых минералов:

лосы

поглощения,

что и минералы груп­

а — каолинит; б —

галлуазит; в

пы

каолинита.

Отличие

наблюдается

 

монтмориллонит;

. вермикулит

335

в коротковолновой области спектра. Так, галлуазит характеризуется лишь дву­ мя узкими полосами поглощения при v = 3640 и 3700сж-1, причем полоса 3640 с.н-1 значительно интенсивнее аналогичной полосы поглощения при v = =3630 см~1 каолинита. Для галлуазита характерно обратное (чем у каолинита) соотношение интенсивностей этих полос.

Из этого примера явствует: даже близкие по структуре глинистые минералы можно сравнительно легко идентифицировать по их инфракрасным спектрам поглощения. Напомним, что идентификация этих минералов с помощью других физико-химических методов (термический анализ, рентгенография) очень затруд­

нена.

Метод инфракрасной спектроскопии широко применяется во многих облас­ тях сельского хозяйства. В частности, с его помощью изучают гуминовые соеди­ нения почвы, а также проводят анализ растений на содержание различных органических соединений (аминокислотный состав, сахара, кислоты жирного ряда и целый ряд других жизненно важных веществ).

§ 100. Фотометрический анализ

Фотометрический метод количественного анализа основан на измерении светопоглощения растворами окрашенных соединений. Через слой окрашенного ве­ щества свет частично проходит, частично отражается, частично поглощается

(рис. 126).

Интенсивность* падающего светового потока при прохождении через погло­ щающий раствор разлагается на составляющие:

1ъ = 1 + / п + ^ о т .

где / — интенсивность светового потока, прошедшего через слой вещества, /от — интенсивность отраженного светового потока, /п — интенсивность светового потока, поглощенного окрашенным веществом.

Интенсивность падающего светового потока /0 и прошедшего через раствор / можно определять экспериментально. Эти две величины связаны между собой

соотношением (закон Бугера—Ламберта):

 

/ = l 0e~al,

(V III,6)

где е — основание натуральных логарифмов,

а — коэффициент поглощения,

I — толщина поглощающего слоя. Для различных фотометрических исследо­ ваний наиболее удобно выражать интенсивность светопоглощения уравнением:

D= \ g ~ .

(V III,7)

Эта величина называется оптической плотностью. Связь между

концентрацией

поглощающего раствора и его оптической плотностью выражается законом Бера:

0 = lg y - = ftiC,

(V III,8)

где kf — коэффициент пропорциональности, С — концентрация

растворенного

вещества.

 

Зависимость интенсивности прошедшего через раствор монохроматического светового потока от интенсивности падающего потока света, концентрации окра­

шенного вещества и толщины просвечиваемого слоя

выражается уравнением:

/ = /о-10-ш .

(V III,9)

Под интенсивностью света понимают энергию светового потока, испускае­ мого источником света в 1 сек внутри телесного угла, равного единице. Единица

световой энергии (люмен-секунда) — это энергия светового потока в 1 лм, кото­ рая расходуется в течение 1 сек.

— 336 —

где k — коэффициент погашения, который зависит от природы растворенного вещества, температуры, растворителя и длины волны падающего светового пото­ ка. Это соотношение носит название основного закона светопоглощения или объединенного закона Бугера—Ламберта—Вера. Оно лежит в основе большинст­ ва фотометрических методов анализа.

Рис. 126. Прохождение светового потока через окрашенный раствор

Если концентрация С выражена в моль/л, а толщина слоя I в см, то k стано­ вится молярным коэффициентом погашения и обозначается е^. Уравнение (VIII,9)

в этом случае будет иметь вид:

/ = /<>• Ю гхс1-

(V III,10)

Если раствор подчиняется закону Бугера—Ламберта—Бера, то оптическая плот­ ность раствора прямо пропорциональна концентрации поглощающего вещества, толщине слоя раствора и молярному коэффициенту погашения:

D ~ sx Cl-

(V III,11)

Различают в основном три группы способов измерений концентрации окра­ шенного соединения в растворе: визуальное сравнение, фотоколориметрирование и спектрофотометрирование. Остановимся на краткой их характеристике.

Визуальный метод сравнения. Как известно, визуально можно довольно точ­ но устанавливать равенство интенсивности окрасок двух растворов. Визуальный колориметрический метод отличается быстротой и простотой. В силу этого он получил довольно широкое распространение в количественном агрохимическом анализе. Он принципиально основан на том, что согласно закону Бугера— Ламберта—Бера при определенных условиях существует прямая пропорциональ­ ная зависимость между интенсивностью окраски раствора и концентрацией окрашенного соединения. Окраски стандартного и испытуемого растворов сравнивают в приборе, который носит название колориметра. Уравнивания окрасок обоих растворов добиваются изменением толщины слоев окрашенных растворов, что осуществляется при помощи погружателей, которые представляют собой призмы, связанные с отсчетной шкалой и изготовленные из оптического стекла.

Наиболее распространенным прибором является колориметр марки КОЛ-1М, общий вид которого показан на рис. 127.

В момент равенства окрасок стандартного и испытуемого растворов^ опти­ ческие плотности их одинаковы. Таким образом, отношение концентраций раст­ воров обратно пропорционально толщине их поглощающих слоев:

С-у 1ст Сет

откуда

Ся = -^ -е -т - ,

(VIII, 12)

- 337 —

где Сх и Сст—соответственно концентрации исследуемого и стандартного раст­ воров, a U и /ст — толщина слоев этих растворов. Визуальный метод колоримет­ рии имеет существенные недостатки. Он является очень субъективным, точность анализа во многом зависит от индивидуальных особенностей зрения исследовате­ ля. Кроме того, при длительной и непрерывной работе глаза сравнительно быст­

ро устают, что отрицательно сказывается на точности измерений. Фотоколориметрический анализ. В фотоколориметрии степень поглощения

света окрашенными растворами определяется не визуально, а йри помощи спе­ циальных приборов с ф о т о э л е м е н т о м . Такие приборы называются фо­ тоэлектроколориметрами (ФЭК). Фотоэлемент преобразует световую энергию, проходйщую через окрашенный раствор, в электрическую. Поскольку сила возникающего фототока прямо пропорциональна интенсивности падающего на фотоэлемент света, с помощью ФЭК можно непосредственно измерить ослабле-

Рис. 127. Внешний

вид

концентрационного калоримет­

 

 

ра КОЛ-1М:

 

 

/ — окуляр; 2 —диск

со светофильтрами;

3 — лупа нониуса

от-

счетной шкалы;

4 — рукоятка перемещения погружателя;

5 —

трансформатор;

б — патрон

для лампы;

7 — кожух; б — потру-

жатель; 9 — кювета

ние интенсивности первоначального светового потока. Нет необходимости каж­ дый раз готовить стандартные растворы. При работе с ФЭК обычно строят гра­ дуировочный график по серии растворов с известной концентрацией окрашенного соединения. Такой график особенно удобен при массовых однотипных анализах.

В настоящее время существует много фотоэлектроколориметров различных конструкций. Все они имеют обязательно следующие элементы схемы: 1) осве­ титель, 2) светофильтры, 3) кюветы, 4) фотоэлементы, 5) система регулируемых сопротивлений, 6) гальванометры.

Различают два типа фотоэлектроколориметров: однолучевые, или приборы

содним фотоэлементом, и двухлучевые, или приборы с двумя фотоэлементами

Внастоящее время однолучевьщ фотоэлектроколориметры практически не при­ меняются. В двухлучевом приборе оба фотоэлемента соединены по принципу про­ тивотока, гальванометр показывает разницу фототоков между исследуемым раст­ вором и чистым растворителем, так что небольшие колебания света осветителя практически не отражаются на точности определений.

Современные фотоэлектроколориметры ФЭК-М, ФЭК-Н-52, 64, 57, ФЭК-56, которые наиболее широко распространены, являются двухлучевыми приборами

иимеют одинаковые оптические схемы. На рис. 128 показан внешний вид и прин-

-338 -

ципиальная схема фотоэлектроколориметра ФЭК-М. Как видно из рисунка, один из фотоэлементов находится в «контрольном» световом потоке, что позволяет автоматически компенсировать колебания тока в цепи осветителя. Для уравни­ вания двух световых потоков в ФЭК-М применена щелевая диафрагма. Для По­ вышения точности измерений в прибор вмонтировано два набора из четырех светофильтров: нейтрального, синего, зеленого и красного. Оптическая характе­ ристика этих светофильтров представлена на рис. 129. От визуальных приборов фотоэлектроколориметры отличаются значительно более высокой точностью.

Рис.

128.

Принципиальная схема

(а)

и внешний

вид

(б) фотоколориметра

 

 

 

 

ФЭК-М:

 

 

 

/ — лампа;

2 и 2 ' — конденсаторы; J я

S' -

зеркала; 4

и 4' — светофильтры; J и S'. 7 и

V — линзы; 6 и 5' — кюветы с растворами;

8 и 81

призмы;

9 и У — фотоэлементы;

10 и

// — фотометрические клинья; 12

— щелевая диафрагма;

13 — отсчетный барабан}

14

гальванометр; /5 — шкала

отсчетных

барабанов:

16 — шторка, перекрывающая

световые потоки; 17 — арретир

гальванометра; 18 — механический корректор; 19 — пере­

ключатель

чувствительности гальванометра;

20 — кюветодержатель; 21 — переключатель

 

 

 

светофильтров

 

 

 

Спектрофотометрический анализ. Наиболее совершенным и сложным фото­ метрическим прибором является спектрофотометр. Ослабление интенсивности светового потока в спектрофотометре измеряется с помощью фотоэлементов. Од­ нако в отличие от фотоэлектроколориметров спектрофотометры дают возможность применять строго монохроматический свет для проведения фотометрических из­ мерений. Достигается это с помощью специальной призмы, которая разлагает «белый» свет в спектр, и щелевого устройства. Все это позволяет выделить очень узкий участок спектра с определенной длиной волны. Измерение светопоглоще-

ния в узком участке спектра

дает более

стро­

 

 

 

 

гую пропорциональность между концентра­

 

 

 

 

цией исследуемого окрашенного

соединения

 

 

 

 

и численным отклонением показания прибо­

 

 

 

 

ра. Рассмотрим это положение на конкретном

 

 

 

 

примере.

 

что

исследуемое

вещество

 

 

 

 

Допустим,

 

 

 

 

имеет спектр

поглощения,

представленный

 

 

 

 

на рис.

130,

а.

Максимума

поглощение

до­

 

 

 

 

стигает при длине волны

к = 550 нм,

а

ми­

 

 

 

 

нимума — при к = 640 нм.

Спектры

погло­

 

 

 

 

щения построены для

трех

различных

кон­

 

 

 

 

центраций,

причем

С1 <

С2 < С3. На рис.

 

 

 

 

130, б показана

зависимость оптической плот-

 

 

 

 

"°HCoT" T

n X“aKC

И Хши 0Т концеатРации

Ра-

Рис. 129. Спектральная ка­

пп^‘°Ра опРеделяемого

вещества. Из него вид-

рактеристика

Исветофнль-

но, что при

изменении

концентрации

в ин-

v

v

t d o b -

тервале

от

Сг до С2

(АС)

соответствующее

 

^

2 -

зетеный з -

ему изменение оптической плотности

AD бу-

 

 

‘красный

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ