Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Неразрушающие методы контроля металлов на тепловых электростанциях

..pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
21.10.2023
Размер:
8.82 Mб
Скачать

ряд Других мсталЛой и сгілавой, злектропроводимбсть которых на­ ходится в указанных пределах. Прибор надежно определяет трещи­

ны глубиной более 0,15

мм

и протяженностью более 4

мм

при зазоре

между

 

контролируемой

 

поверхностью и

торцом

датчика не более

0,8

мм.

Определение наличия и

размера

 

дефекта

производится

по

стрелочному индикатору.

Рабочая частота прибора 15

кгц,

диаметр

датчика 8

мм.

Питание прибора

осуществляется от сети переменного

тока напряжением 220

в,

масса

прибора

8

кг,

размеры

 

297 X 188 ×

X 247

мм.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Дефектоскоп ДНМ-500 предназначен для контроля деталей из

металлов,

электропроводимость

которых

 

составляет

 

 

от

0,5

до

10

m .(om

мм2),

па отсутствие трещин, имеющих

выход

 

па

контро­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лируемую поверхность. Прибором можно контролировать титановые сплавы, сплавы на никелевой основе, а также ряд нержавеющих

сталей.

Прибор надежно

выявляет

трещины

глубиной

более 0,15

 

мм

и протяженностью

более

‘1,0

мм

при зазоре

между контролируемой

поверхностью и торцом

датчика не

более 0,8

мм.

Определение на­

личия и

размера дефекта

производится

так

же, как и прибором

ДЫМ-15.кгРабочая,

частота

прибора

500

кгц,

диаметр

датчика

4

 

мм.

Питание

прибора

от сети

 

переменного

 

тоКа

напряжением

220

в,

масса 3

размеры 278 X 200 X 215

мм.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Дефектоскоп ДН'М-2000,

работающий

на

частоте

2000

кгц,

име­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ет техническую характеристику, близкую к характеристике ДНМ-500.

При ремонте энергетического оборудования для обнаружения

коррозионных трещин в бандажных кольцах турбогенераторов се­

рий

 

ТВ,

TBB

 

и

ТВФ, изготовленных из немагнитной стали

60ХЗГ8Н8В,

широко

применяются

дефектоскопы

ДНМ-500

и

ДНМ-2000.

 

 

 

магнитных

и

немагнитных материалов заводом

 

Для

контроля

«Контрольприбор» выпускаются приборы ППД-2 и ЭМИД-8.

 

 

Дефектоскоп ППД-2 предназначен для выявления трещин в по­

верхностных

слоях

металлов

с

электропроводимостью

от 0,5

до

40,0

mJ(oM'MM2).

Прибор позволяет выявлять трещины длиной

не

менее

2

мм

и

глубиной

не менее 0,15

мм.

Наличие дефекта опре­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

деляется по стрелочному индикатору и по звуковому сигналу в науш­ нике головного телефона. Максимальный зазор между датчиком и

контролируемой деталью должен быть 0,2 мм. Питание осуществ­

ляется от аккумуляторной батареи напряжением 7,5—8,75 в, масса прибора 0,75 кг.

Для контроля качества изделий цилиндрической формы ‘приме­

няются электроиндуктивные дефектоскопы типа ЭМИД, имеющие

датчики проходного типа. Электромагнитный индуктивный дефекто­

скоп ЭМИД-8 предназначен для неразрушающего контроля изделий

из ферромагнитных и некоторых неферромагнитных металлов и

сплавов с

удельной

электропроводимостью не менее 10—12

m[(om

X

X

мм2).

Проверка

качества

деталей

производится

посредствомв,

сравнения

эталонной деталью,

выбранной из

данной партии.

Пита­

скг.

 

 

 

 

220

 

ние

прибора — от

сети переменного тока напряжением

 

масса

прибора 45

 

результатов

контроля

тем выше, чем

ближе

диа­

 

 

^Надежность

метр контролируемых изделий к внутреннему диаметру датчика. Оценка качества деталей производится по изображению на экране электронно-лучевой трубки.

Заводом «Электроточприбор» (г. Кишинев) выпускается вих­

ретоковый дефектоскоп «Вихрь», предназначенный для обнаружения

70

поверхностных и подповерхностных дефектов в виде трещин, волосо­

вин,t закатов, посторонних включений и других нарушении сплошно­

сти в изделиях из цветных и черных металлов и сплавов при помо­

щи, накладных и проходных датчиков. Прибор работает на рабочих

частотах 20—200 кгц, размер выявляемых дефектов не менее: глу­

бина 0,1 мм, длина 1,0 мм. Размеры прибора 376 X 430 X'194 мм,

масса 10 кг.

Предприятием Харьковэнергоремонт выпускается прибор ВД-2.

предназначенный для обнаружения поверхностных трещин в любых

металлических деталях, имеющих чистоту поверхности не ниже V 4: лопатках и ступицах дисковых турбин, бандажных кольцах и др.

Питание прибора осуществляется от батареи КБС-Л-0,5 с напря­

жением 3,7 в, размеры 180 X 95 X 70 мм, масса 1,0 кг.

19. КАПИЛЛЯРНЫЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ НЕСПЛОШНОСТЕЙ

Поверхностные дефекты малых размеров (трещины,

поры, волосовины, закаты и др.) обладают свойствами капиллярных трубок.

Смачивающие жидкости сравнительно легко прони­ кают в несплошности, выходящие на поверхность матери­

алов. Проникающая способность жидкости тем выше,

чем ниже ее вязкость, чем лучше смачиваемость, чем

больше поверхностное натяжение и меньше ширина

раскрытия несплошности.

Проникающие жидкости, применяемые в дефектоско­

пии, должны быть нелетучими, не изменять длительное время своей концентрации, не быть ядовитыми и не

должны вступать в химическую реакцию с материалом

изделия.

Капиллярные методы дефектоскопии высокопроизво­

дительны, просты в выполнении и надежны при выяв­

лении даже незначительных по размерам дефектов. Ка­ пиллярные методы делятся на два вида: люминесцент­ ный и цветной. Так как методы капиллярной дефекто­

скопии основаны на свойстве смачивающих жидкостей проникать в поверхностные несплошности, то эти мето­

ды имеют еще и другое название — контроль методами

проникающих жидкостей.

При люминесцентной дефектоскопии выявление де­

фектов производится с помощью люминесцирующих про­

никающих жидкостей. Явление люминесценции харак­

терно для жидких растворов ряда органических соеди­ нений (родамин, нориол и др.) и некоторых кристаллов.

Сущность люминесценции состоит в следующем. Под воздей­

ствием внешнего облучения молекулы люминесцентного вещества

получают избыточную энергию и дереходят в возбужденное состоя­

71

ние. Возбужденные молекулы за миллиардные доли секунды теряю г

приобретенную избыточную энергию, которая передается окружаю­ щим частицам вещества в виде тепла или сопровождается излуче­

нием, которое называется люминесценцией. Процесс люминесценции

наблюдается при облучении люминесцентного вещества видимым или ультрафиолетовым светом. Для целен люминесцентной дефекто­

скопии подбирают вещества, способные давать под’ воздействием

ультрафиолетового облучения видимый свет. При этом необходимо,

чтобы видимое свечение приходилось на желто-зеленую область

спектра, что соответствует максимальной чувствительности глаза.

Технологический процесс люминесцентной дефекто­ скопии состоит из следующих операций:

подготовка контролируемой

поверхности

изделия

к контролю;

индикаторным

раство­

пронитка поверхности детали

ром; удаление индикаторного раствора с поверхности из­

делия с целью сохранения его только в полостях де­

фектов; проявление дефектов с помощью освещения (преиму­

щественно ультрафиолетового) ;

осмотр поверхности изделия и оценка его качества.

Операция подготовки изделия к дефектоскопии долж­ на обеспечить очистку контролируемой поверхности от покрытий, закрывающих капиллярный несплошности, а также от масла и влаги, препятствующих проникнове­

нию индикаторной жидкости в эти несплошности. Тща­

тельное удаление масла необходимо и по той причине,

что некоторые сорта масел, обладая люминесценцией, вызывают появление ложных дефектов во время прове­ дения контроля. Обезжиривание производят пропарива­ нием и промывкой растворителями (авиабензин, ацетон и др.). Удаление остатков влаги с поверхности произво­ дят просушиванием при легком нагреве или обдувании

теплым воздухом. Твердые загрязнения (лаковые покры­

тия, краски, нагары) удаляют струей пара или химиче­

ской обработкой. Окалину и ржавчину удаляют механи­

ческим путем. Следует иметь в виду, что материалы,

имеющие твердость HRc<⅛ очищать с помощью дро­

беструйной очистки и металлических щеток не рекомен­

дуется, так как это может привести к закрытию дефек­

тов. Грубой обработки следует избегать. Чрезмерная ше­

роховатость поверхности или царапины могут быть при­

чиной появления «ложных дефектов». Температура ис­

следуемой поверхности и индикаторной жидкости в про­

цессе контроля должна лежать в пределах 15—50 °С.

72

В качестве индикаторных жидкостей (пенетрантов)

в люминесцентной дефектоскопии широко применяются следующие смеси:

. 64,5% керосина, 25% нориола, 10% бензина, 0,5% эмульгатора ОП-10, ОП-7, ОГІ-4;

84,5% керосина, 15% авиационного масла, 0,5%

эмульгатора ОП-Ю, ОП-7; 50% керосина, 25% 'бензина, 24,97% светлого мине­

рального масла (трансформаторного, вазелинового, ве­ лосита); 0,03% дефектоля зелено-золотистого.

Люминесцентные жидкости, в состав которых входит

пориол и дефектоль зелено-золотистый, люминесцируют

желто-зеленым светом. Поэтому применение этих сме­ сей предпочтительнее. Широкое применение в люмине­

сцентной дефектоскопии нашли также специальные жид­

кости типа ЛЖ (ЛЖ-1; ЛЖ-2; ЛЖ-3; ЛЖ-4 и др.).

Индикаторную жидкость наносят на контролируемую

поверхность методом погружения (для мелких деталей),

напылением или с помощью мягкой кисточки. После вы­ держки в течение не менее 30 мин, необходимых для

проникновения пенетранта в несплошности, его остатки удаляют с поверхности. Смываемые водой и эмульгиро­ ванные пенетранты удаляют промывкой струей воды, на­

гретой до температуры 35—45 oC или при помощи губки.

Применение более горячей воды может привести к ча­

стичному вымыванию пенетранта из полости мелких де-’

фектов. Наличие в составе пенетрантов эмульгаторов (ОП-4, ОП-7, ОП-Ю и др.) облегчает процесс смывания.

Удаление остатков пенетранта растворителями лучше

производить в два приема: сначала сухой хлопковой тряпкой (марлей), затем промывкой соответствующим

растворителем и вытиранием поверхности сухой либо смоченной растворителем чистой тряпкой. Неполное удаление остатков пенетранта с поверхности контроли­ руемого изделия затрудняет обнаружение дефектов.

Для возбуждения люминесценции при проведении

контроля используют ультрафиолетовые лучи ртутно­ кварцевых ламп высокого давления (ПРК-2; ПРК-4;

ПРК-7) и сверхвысокого давления (СВД-120, СВД-120А;

ДРШ-100; ДРГМ-500-3). В практике промышленной де­ фектоскопии широкое применение нашли светильники ультрафиолетового света (УФС): ЛЮМ-1-ЛИВТ, УН-1,

УЛ-1, УМ-1, УФО-4 и др. Обычно ртутно-кварцевые лам­

пы дают интенсивный видимый свет совместно с ультра-

73

фиолетовым. Поэтому лампы 'Помещают в закрытые ме­ таллические футляры-рефлекторы, которые позволяют по­

лучить пучок лучей, расходящийся под малым углом. Обычно рефлектор представляет собой параболоид вра-

а)

Рис. 37. Схематическое изображение процесса капиллярной дефекто­

а —

нанесение

и

 

в —

 

скопии.

вг несплошности;

б —

удаление

 

проникновение пенетранта

 

излишков пенетранта;

 

нанесение проявляющей жидкости и проявление не­

сплошностей

при

цветной дефектоскопии;

проявление несплошностей

 

ультрафиолетовым облучением при люминесцентной дефектоскопии.

щения, в

центре

которого помещается

ИСТОЧНИК

УФС.

C целью пропускания только УФС устанавливаются спе­

циальные

светофильтры

типа УФС-3.

Вышеописанный

метод капиллярной дефектоскопии принято называть лю­

минесцентным методом в чистом виде (рис. 37).

Люминесцентный метод дефектоскопии часто приме­

няется и в другом варианте. При этом методе после

удаления индикаторного раствора изделие подсушивают, поверхность его посыпают специальным порошком (сор­

бентом) и выдерживают некоторое время. Индикаторная

жидкость смачивает порошок, и он прочно слипается

71

с поверхностью в местах дефектов. Путем обдувания

струей воздуха поверхность освобождают от излишне­

го порошка, облучают УФС и осматривают. Раствор по­ глощенный сорбентом, люминесцирует и дает картину

расположения дефектов. Получается четкое, контраст­ ное изображение дефектов. В качестве сорбентов приме­

няют порошки окислов магния, тальк, мел, каолин тонко­

го помола и др.

Осмотр контролируемых изделий в УФС производит­

ся в затемненных помещениях. При этом внимательно

осматривается поверхность изделия/фиксируются дефек­

ты и оценивается их качество в соответствии с действу­

ющими ТУ.

Цветной метод дефектоскопии — разновидность ка­

пиллярного метода, при котором выявление дефектов

производится с помощью ярко окрашенных проникаю­

щих жидкостей. Технологически процесс цветной дефек­ тоскопии состоит из следующих операций:

очистка деталей (удаление масел, грязи, окалины,

нагаров и др.) ; нанесение проникающей жидкости;

пропитка изделий индикаторной жидкостью;

удаление избыточной индикаторной жидкости с по­ верхности изделия;

нанесение па поверхность изделия проявляющих ма­ териалов — абсорбирующего порошка или белых краси­

телей.

Индикаторная жидкость под действием проявителя выходит на поверхность изделия, указывая места распо­

ложения дефектов; после этого осматривают и оцени­ вают качество изделия и удаляют проявитель.

По сравнению с люминесцентным методом цветная дефектоскопия более проста в выполнении: при этом не требуется источников УФС; контроль проводится визу­

ально при дневном свете.

Подготовка поверхности контролируемого изделия

производится так же, как для люминесцентной дефекто­

скопии. В качестве проникающих цветных растворов

(пенетрантов) применяются смеси:

79% керосина, 20% бензола, 1% судана-І\^; 94% бензола, 5% трансформаторного масла, 1% су-

дана-ІѴ; 79% керосина, 10% трансформаторного масла, 10%

скипидара, 1%' судана-ІѴ или судана-Ш;

75

красная проникающая жидкость по МРТУ 6-10-750-68

и др. Индикаторную жидкость наносят на контролируе­

мую поверхность погружением (для мелких деталей),

напылением или с помощью мягкой кисточки. После вы­

держки в течение 15—20 мин, необходимых для проник­ новения жидкости в несплошности, остатки ее удаляют промывкой. Для удаления индикаторных жидкостей с по­

верхности изделия применяют поверхностно-активные вещества (ПАВ) типа ОП-7, ОП-4, ОП-Ю. Очищающей

смесью может служить смесь этилового спирта (гидро­ лизный или синтетический) или бутилового с ОП-7 или ОП-Ю. Для очистки стальных деталей также пользуются следующими составами:

10% водный раствор едкого натра — 1 часть и этил-

целлозольв— 1 часть; 30% водный раствор кальциниро­ ванной соды;

Для удаления остатков краски «К» применяют смесь

70% трансформаторного масла и 30%' керосина.

Для проявления дефектов применяют суспензию ка­ олина в воде (1 л воды и 400—500 г каолина). Каолин

наносится на сухую поверхность изделия распылением и

просушивается теплым воздухом. Индикаторная жид­

кость, выделяющаяся из полостей дефектов, окрашива­

ет каолин в красный цвет.

Для цветной дефектоскопии также широко применя­ ется белая проявляющая краска «М» (МРТУ-6-10-749-68),

которая на поверхность изделия наносится мягкой ки­ сточкой.

Осмотр поверхности изделия проводится через 25— 30 мин после нанесения проявляющих веществ. На бе­ лом фоне проявителя четко выделяются красные полосы, линии или пятна, соответствующие форме дефектов из­

делия. Оценка качества проводится в соответствии с дей­

ствующими ТУ.

В практике контроля нашли применение различные

комбинированные методы капиллярной дефектоскопии:

люминесцентно-цветной, капиллярно-магнитопорошко­

вой, капиллярно-токовихревой и др.

Методами капиллярной дефектоскопии надежно вы­

являются поверхностные дефекты на различных деталях

энергетического оборудования: наличие трещин в кон­

денсаторных латунных трубках, на лопатках паровых

турбин, бандажах роторов генераторов, крепежных де* талях и др.

Необходимость удаления проявителя увеличивает

трудоемкость контроля цветными методами. Поэтому

известный интерес представляют самопроявляющие ка­

пиллярные методы контроля. Суть метода заключается

в следующем: деталь пропитывают специальным пене-, трантом, выдерживают, очищают от излишков и подвер­ гают нагреву до температуры IOOoC в течение 5 мин,

вследствие чего происходит проявление дефектов.

К капиллярным методам дефектоскопии принадле­

жит метод испытания изделий и сварных соединений

керосином. Данный метод позволяет определять

сквозные песплошности в сварных соединениях. При­

менение керосина для испытаний основано на его

высокой проникающей способности. Технологически ме­

тод прост в выполнении. Для обнаружения несплошно­ стей сварных соединений их покрывают меловой суспен­

зией со стороны, доступной для осмотра. После высыха­

ния меловой краски обратная сторона швов смачивается керосином и выдерживается 15—60 мин в зависимости

от толщины стенки изделия. Керосин, проникая сквозь

дефекты, выступает на окрашенной мелом стороне в ви­

де жирных пятен и полос, указывающих на наличие

сквозных несплошностей. Испытанию на непроницае­ мость керосином подвергаются обычно сосуды, предназ­

наченные для хранения жидкостей (цистерны и др.).

20. РАДИАЦИОННАЯ ДЕФЕКТОСКОПИЯ

При монтаже и ремонте энергетического оборудова­ ния применяются следующие методы радиационной де­

фектоскопии:

метод радиографии; метод ксерорадиографии.

Метод радиографии основан на регистрации интен­

сивности рентгеновского и гамма-излучения, прошедшего

через изделие, на специальную фотографическую пленку

(рентгеновскую). Метод радиографии обладает высокой

чувствительностью, легко выполним как в стационарных,

так и в полевых условиях и в настоящее время приме­ няется наиболее широко.

Метод ксерорадиографии основан на получении изо­ бражения на специальных пластинках, предварительно

заряженных электрическим зарядом. Под действием из­

лучения электрический заряд пластинок уменьшается

пропорционально интенсивности падающих лучей. Ta-

77

ким образом, на пластинках, помещенных за контроли­ руемым изделием, образуется скрытое электростатиче­

ское изображение. Проявление проводится с помощью сухих красящих порошков. Метод ксерорадиографии от­ носится к числу наиболее перспективных методов про­

мышленной дефектоскопии просвечиванием. В настоя­

щее время применение его ограничено вследствие высо­

кой стоимости пластин и недостаточно разработанной

методики контроля.

Для промышленной радиографии применяется гамма-

излучение искусственных радиоактивных изотопов и рентгеновское излучение.

Гамма-излучениеэлектромагнитное излучение ядерного про­

исхождения, возникающее в результате перехода возбужденных ядер атомов в устойчивое состояние. Ядра атомов тяжелых элемен­

тов содержат большое число протонов и нейтронов, что приводит

к увеличению размеров, ядра и вызывает уменьшение сил ядерного

притяжения между ними. При значительном избытке нейтронов ядра некоторых тяжелых элементов (уран, торий, радий и др.) становятся

неустойчивыми. Переход таких ядер в устойчивое состояние сопро­ вождается излучением альфа и бета-частиц, нейтронов и гамма-лу­

чей, т. е. радиоактивным излучением. Такое неустойчивое (возбуж­

денное) ^состояние может быть создано искусственно в ядрах более

легкихРентгеновскоеэлементов (излучениецезий, кобальт, иридий и др.) путем

облучения

их в ядерных реакторах.

является электромагнитным

излучени­

ем и возникает в результате торможения быстрых электронов, вы­

летающих из катода, при столкновении их с атомами металла анода

(мишени) в рентгеновской трубке или в вакуумной камере бета­

трона.

В качестве источников излучения, применяемых при просвечи­ вании изделий, чаще всего используются рентгеновские трубки и

радиоактивные изотопы.

Источники излучения для гаммаграфии изготавливают из ра­ диоактивных изотопов с высокой удельной активностью и достаточ­ но продолжительным периодом полураспада. Диаметр активной ча­

сти источника при просвечивании выступает как фокусное -пятно.

Основными радиационными характеристиками источников, применяе­

мых в гаммаграфии, являются:

■спектральный состав излучения источников '(энергии квантов, из­

лучаемых данным источником и их процентное содержание в общем

потоке излучения источника);

активность источника (радиационный выход).

Радиационные характеристики источников излучений определяют их дефектоскопические характеристики: диа­

пазон просвечиваемых толщин, чувствительность метода

и время экспозиции при просвечивании.

Основные характеристики некоторых радиоактивных

источников, 'применяемых в радиографии, приводятся

в табл. 3.

78

Таблица З

Характеристики радиоактивных источников

 

Период

Энергия основ­

Гамма-эквива-

Диаметр

Толщина

 

лент источ­

 

мм

Источник

полурас­

ных гамма-

гников для

активной

просвечивае­

мого материала

 

пада

квантов,

Мэв

дефектоскопии,

части,

мм

 

 

 

-экв

радия

 

(сталь),

 

Tm-170

129 дней

0,084

9

 

 

0,5

 

1—15

Іг-192

-74 дня

0,201

5,0

2

 

10—60

 

 

0,296

 

 

 

 

 

 

 

 

0,316

 

 

 

 

 

 

 

 

0,468

W

 

 

 

 

 

 

 

0,604

 

 

 

 

 

 

Cs-137

26,6 года

1,060- ɔ

 

2,0

5

 

 

 

0,661

 

 

10—80

Со-60

5,3 года

1,333

20,0

10

 

 

0,5

0,5

60—200

 

W

2,158

 

 

 

 

 

 

 

1,172

 

 

 

 

 

 

 

 

0,825

 

 

 

 

 

 

В зависимости от энергии гамма-квантов источники излучения разделяют на три группы: источники с жест­ ким излучением с энергией около 1 Мэв (Со-60), источ­

ники с излучением средней жесткости с энергией 0,3— 0,7 Мэв (Cs-137, Іг-192) и источники с мягким излу­ чением с энергией ниже 0,3 Мэв (Tm-170).

Источником рентгеновских лучей служит трубка рент­ геновского аппарата (рис. 38) или вакуумная камера бе­ татрона.

C увеличением анодного напряжения излучение ста­ новится более жестким, т. е. легче проникает через ве­

щество. Интенсивность излучения также возрастает по

всему спектру. Зависимость интенсивности излучения Y

от анодного напряжения и силы тока выражается фор­

мулой

 

 

 

Y≈kV2I,

 

(27)

где

k—

коэффициент;

I —

анодный ток;

V —

 

 

 

анодное на­

пряжение.

Из формулы видно, что интенсивность излучения пря­ мо пропорциональна анодному току и квадрату анодного

напряжения. Увеличение или уменьшение анодного тока

при неизменном напряжении приводит соответственно

79

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ