книги из ГПНТБ / Неразрушающие методы контроля металлов на тепловых электростанциях
..pdfряд Других мсталЛой и сгілавой, злектропроводимбсть которых на ходится в указанных пределах. Прибор надежно определяет трещи
ны глубиной более 0,15 |
мм |
и протяженностью более 4 |
мм |
при зазоре |
||||||||||||||||
между |
|
контролируемой |
|
поверхностью и |
торцом |
датчика не более |
||||||||||||||
0,8 |
мм. |
Определение наличия и |
размера |
|
дефекта |
производится |
по |
|||||||||||||
стрелочному индикатору. |
Рабочая частота прибора 15 |
кгц, |
диаметр |
|||||||||||||||||
датчика 8 |
мм. |
Питание прибора |
осуществляется от сети переменного |
|||||||||||||||||
тока напряжением 220 |
в, |
масса |
прибора |
8 |
кг, |
размеры |
|
297 X 188 × |
||||||||||||
X 247 |
мм. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
Дефектоскоп ДНМ-500 предназначен для контроля деталей из |
|||||||||||||||||||
металлов, |
электропроводимость |
которых |
|
составляет |
|
|
от |
0,5 |
до |
|||||||||||
10 |
m .(om • |
мм2), |
па отсутствие трещин, имеющих |
выход |
|
па |
контро |
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
лируемую поверхность. Прибором можно контролировать титановые сплавы, сплавы на никелевой основе, а также ряд нержавеющих
сталей. |
Прибор надежно |
выявляет |
трещины |
глубиной |
более 0,15 |
|
мм |
|||||||||||
и протяженностью |
более |
‘1,0 |
мм |
при зазоре |
между контролируемой |
|||||||||||||
поверхностью и торцом |
датчика не |
более 0,8 |
мм. |
Определение на |
||||||||||||||
личия и |
размера дефекта |
производится |
так |
же, как и прибором |
||||||||||||||
ДЫМ-15.кгРабочая, |
частота |
прибора |
500 |
кгц, |
диаметр |
датчика |
4 |
|
мм. |
|||||||||
Питание |
прибора |
от сети |
|
переменного |
|
тоКа |
напряжением |
220 |
в, |
|||||||||
масса 3 |
размеры 278 X 200 X 215 |
мм. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
Дефектоскоп ДН'М-2000, |
работающий |
на |
частоте |
2000 |
кгц, |
име |
||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ет техническую характеристику, близкую к характеристике ДНМ-500.
При ремонте энергетического оборудования для обнаружения
коррозионных трещин в бандажных кольцах турбогенераторов се
рий |
|
ТВ, |
TBB |
|
и |
ТВФ, изготовленных из немагнитной стали |
||||||||
60ХЗГ8Н8В, |
широко |
применяются |
дефектоскопы |
ДНМ-500 |
и |
|||||||||
ДНМ-2000. |
|
|
|
магнитных |
и |
немагнитных материалов заводом |
||||||||
|
Для |
контроля |
||||||||||||
«Контрольприбор» выпускаются приборы ППД-2 и ЭМИД-8. |
|
|||||||||||||
|
Дефектоскоп ППД-2 предназначен для выявления трещин в по |
|||||||||||||
верхностных |
слоях |
металлов |
с |
электропроводимостью |
от 0,5 |
до |
||||||||
40,0 |
mJ(oM'MM2). |
Прибор позволяет выявлять трещины длиной |
не |
|||||||||||
менее |
2 |
мм |
и |
глубиной |
не менее 0,15 |
мм. |
Наличие дефекта опре |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
деляется по стрелочному индикатору и по звуковому сигналу в науш нике головного телефона. Максимальный зазор между датчиком и
контролируемой деталью должен быть 0,2 мм. Питание осуществ
ляется от аккумуляторной батареи напряжением 7,5—8,75 в, масса прибора 0,75 кг.
Для контроля качества изделий цилиндрической формы ‘приме
няются электроиндуктивные дефектоскопы типа ЭМИД, имеющие
датчики проходного типа. Электромагнитный индуктивный дефекто
скоп ЭМИД-8 предназначен для неразрушающего контроля изделий
из ферромагнитных и некоторых неферромагнитных металлов и
сплавов с |
удельной |
электропроводимостью не менее 10—12 |
m[(om |
X |
||||||||||
X |
мм2). |
Проверка |
качества |
деталей |
производится |
посредствомв, |
||||||||
сравнения |
эталонной деталью, |
выбранной из |
данной партии. |
Пита |
||||||||||
скг. |
|
|
|
|
220 |
|
||||||||
ние |
прибора — от |
сети переменного тока напряжением |
|
масса |
||||||||||
прибора 45 |
|
результатов |
контроля |
тем выше, чем |
ближе |
диа |
||||||||
|
|
^Надежность |
метр контролируемых изделий к внутреннему диаметру датчика. Оценка качества деталей производится по изображению на экране электронно-лучевой трубки.
Заводом «Электроточприбор» (г. Кишинев) выпускается вих
ретоковый дефектоскоп «Вихрь», предназначенный для обнаружения
70
поверхностных и подповерхностных дефектов в виде трещин, волосо
вин,t закатов, посторонних включений и других нарушении сплошно
сти в изделиях из цветных и черных металлов и сплавов при помо
щи, накладных и проходных датчиков. Прибор работает на рабочих
частотах 20—200 кгц, размер выявляемых дефектов не менее: глу
бина 0,1 мм, длина 1,0 мм. Размеры прибора 376 X 430 X'194 мм,
масса 10 кг.
Предприятием Харьковэнергоремонт выпускается прибор ВД-2.
предназначенный для обнаружения поверхностных трещин в любых
металлических деталях, имеющих чистоту поверхности не ниже V 4: лопатках и ступицах дисковых турбин, бандажных кольцах и др.
Питание прибора осуществляется от батареи КБС-Л-0,5 с напря
жением 3,7 в, размеры 180 X 95 X 70 мм, масса 1,0 кг.
19. КАПИЛЛЯРНЫЕ МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ НЕСПЛОШНОСТЕЙ
Поверхностные дефекты малых размеров (трещины,
поры, волосовины, закаты и др.) обладают свойствами капиллярных трубок.
Смачивающие жидкости сравнительно легко прони кают в несплошности, выходящие на поверхность матери
алов. Проникающая способность жидкости тем выше,
чем ниже ее вязкость, чем лучше смачиваемость, чем
больше поверхностное натяжение и меньше ширина
раскрытия несплошности.
Проникающие жидкости, применяемые в дефектоско
пии, должны быть нелетучими, не изменять длительное время своей концентрации, не быть ядовитыми и не
должны вступать в химическую реакцию с материалом
изделия.
Капиллярные методы дефектоскопии высокопроизво
дительны, просты в выполнении и надежны при выяв
лении даже незначительных по размерам дефектов. Ка пиллярные методы делятся на два вида: люминесцент ный и цветной. Так как методы капиллярной дефекто
скопии основаны на свойстве смачивающих жидкостей проникать в поверхностные несплошности, то эти мето
ды имеют еще и другое название — контроль методами
проникающих жидкостей.
При люминесцентной дефектоскопии выявление де
фектов производится с помощью люминесцирующих про
никающих жидкостей. Явление люминесценции харак
терно для жидких растворов ряда органических соеди нений (родамин, нориол и др.) и некоторых кристаллов.
Сущность люминесценции состоит в следующем. Под воздей
ствием внешнего облучения молекулы люминесцентного вещества
получают избыточную энергию и дереходят в возбужденное состоя
71
ние. Возбужденные молекулы за миллиардные доли секунды теряю г
приобретенную избыточную энергию, которая передается окружаю щим частицам вещества в виде тепла или сопровождается излуче
нием, которое называется люминесценцией. Процесс люминесценции
наблюдается при облучении люминесцентного вещества видимым или ультрафиолетовым светом. Для целен люминесцентной дефекто
скопии подбирают вещества, способные давать под’ воздействием
ультрафиолетового облучения видимый свет. При этом необходимо,
чтобы видимое свечение приходилось на желто-зеленую область
спектра, что соответствует максимальной чувствительности глаза.
Технологический процесс люминесцентной дефекто скопии состоит из следующих операций:
подготовка контролируемой |
поверхности |
изделия |
к контролю; |
индикаторным |
раство |
пронитка поверхности детали |
ром; удаление индикаторного раствора с поверхности из
делия с целью сохранения его только в полостях де
фектов; проявление дефектов с помощью освещения (преиму
щественно ультрафиолетового) ;
осмотр поверхности изделия и оценка его качества.
Операция подготовки изделия к дефектоскопии долж на обеспечить очистку контролируемой поверхности от покрытий, закрывающих капиллярный несплошности, а также от масла и влаги, препятствующих проникнове
нию индикаторной жидкости в эти несплошности. Тща
тельное удаление масла необходимо и по той причине,
что некоторые сорта масел, обладая люминесценцией, вызывают появление ложных дефектов во время прове дения контроля. Обезжиривание производят пропарива нием и промывкой растворителями (авиабензин, ацетон и др.). Удаление остатков влаги с поверхности произво дят просушиванием при легком нагреве или обдувании
теплым воздухом. Твердые загрязнения (лаковые покры
тия, краски, нагары) удаляют струей пара или химиче
ской обработкой. Окалину и ржавчину удаляют механи
ческим путем. Следует иметь в виду, что материалы,
имеющие твердость HRc<⅛ очищать с помощью дро
беструйной очистки и металлических щеток не рекомен
дуется, так как это может привести к закрытию дефек
тов. Грубой обработки следует избегать. Чрезмерная ше
роховатость поверхности или царапины могут быть при
чиной появления «ложных дефектов». Температура ис
следуемой поверхности и индикаторной жидкости в про
цессе контроля должна лежать в пределах 15—50 °С.
72
В качестве индикаторных жидкостей (пенетрантов)
в люминесцентной дефектоскопии широко применяются следующие смеси:
. 64,5% керосина, 25% нориола, 10% бензина, 0,5% эмульгатора ОП-10, ОП-7, ОГІ-4;
84,5% керосина, 15% авиационного масла, 0,5%
эмульгатора ОП-Ю, ОП-7; 50% керосина, 25% 'бензина, 24,97% светлого мине
рального масла (трансформаторного, вазелинового, ве лосита); 0,03% дефектоля зелено-золотистого.
Люминесцентные жидкости, в состав которых входит
пориол и дефектоль зелено-золотистый, люминесцируют
желто-зеленым светом. Поэтому применение этих сме сей предпочтительнее. Широкое применение в люмине
сцентной дефектоскопии нашли также специальные жид
кости типа ЛЖ (ЛЖ-1; ЛЖ-2; ЛЖ-3; ЛЖ-4 и др.).
Индикаторную жидкость наносят на контролируемую
поверхность методом погружения (для мелких деталей),
напылением или с помощью мягкой кисточки. После вы держки в течение не менее 30 мин, необходимых для
проникновения пенетранта в несплошности, его остатки удаляют с поверхности. Смываемые водой и эмульгиро ванные пенетранты удаляют промывкой струей воды, на
гретой до температуры 35—45 oC или при помощи губки.
Применение более горячей воды может привести к ча
стичному вымыванию пенетранта из полости мелких де-’
фектов. Наличие в составе пенетрантов эмульгаторов (ОП-4, ОП-7, ОП-Ю и др.) облегчает процесс смывания.
Удаление остатков пенетранта растворителями лучше
производить в два приема: сначала сухой хлопковой тряпкой (марлей), затем промывкой соответствующим
растворителем и вытиранием поверхности сухой либо смоченной растворителем чистой тряпкой. Неполное удаление остатков пенетранта с поверхности контроли руемого изделия затрудняет обнаружение дефектов.
Для возбуждения люминесценции при проведении
контроля используют ультрафиолетовые лучи ртутно кварцевых ламп высокого давления (ПРК-2; ПРК-4;
ПРК-7) и сверхвысокого давления (СВД-120, СВД-120А;
ДРШ-100; ДРГМ-500-3). В практике промышленной де фектоскопии широкое применение нашли светильники ультрафиолетового света (УФС): ЛЮМ-1-ЛИВТ, УН-1,
УЛ-1, УМ-1, УФО-4 и др. Обычно ртутно-кварцевые лам
пы дают интенсивный видимый свет совместно с ультра-
73
фиолетовым. Поэтому лампы 'Помещают в закрытые ме таллические футляры-рефлекторы, которые позволяют по
лучить пучок лучей, расходящийся под малым углом. Обычно рефлектор представляет собой параболоид вра-
а)
Рис. 37. Схематическое изображение процесса капиллярной дефекто
а — |
нанесение |
и |
|
в — |
|
скопии. |
вг несплошности; |
б — |
удаление |
||
|
проникновение пенетранта |
|
|||||||||
излишков пенетранта; |
|
нанесение проявляющей жидкости и проявление не |
|||||||||
сплошностей |
при |
цветной дефектоскопии; |
— |
проявление несплошностей |
|||||||
|
ультрафиолетовым облучением при люминесцентной дефектоскопии. |
||||||||||
щения, в |
центре |
которого помещается |
ИСТОЧНИК |
УФС. |
|||||||
C целью пропускания только УФС устанавливаются спе |
|||||||||||
циальные |
светофильтры |
типа УФС-3. |
Вышеописанный |
метод капиллярной дефектоскопии принято называть лю
минесцентным методом в чистом виде (рис. 37).
Люминесцентный метод дефектоскопии часто приме
няется и в другом варианте. При этом методе после
удаления индикаторного раствора изделие подсушивают, поверхность его посыпают специальным порошком (сор
бентом) и выдерживают некоторое время. Индикаторная
жидкость смачивает порошок, и он прочно слипается
71
с поверхностью в местах дефектов. Путем обдувания
струей воздуха поверхность освобождают от излишне
го порошка, облучают УФС и осматривают. Раствор по глощенный сорбентом, люминесцирует и дает картину
расположения дефектов. Получается четкое, контраст ное изображение дефектов. В качестве сорбентов приме
няют порошки окислов магния, тальк, мел, каолин тонко
го помола и др.
Осмотр контролируемых изделий в УФС производит
ся в затемненных помещениях. При этом внимательно
осматривается поверхность изделия/фиксируются дефек
ты и оценивается их качество в соответствии с действу
ющими ТУ.
Цветной метод дефектоскопии — разновидность ка
пиллярного метода, при котором выявление дефектов
производится с помощью ярко окрашенных проникаю
щих жидкостей. Технологически процесс цветной дефек тоскопии состоит из следующих операций:
очистка деталей (удаление масел, грязи, окалины,
нагаров и др.) ; нанесение проникающей жидкости;
пропитка изделий индикаторной жидкостью;
удаление избыточной индикаторной жидкости с по верхности изделия;
нанесение па поверхность изделия проявляющих ма териалов — абсорбирующего порошка или белых краси
телей.
Индикаторная жидкость под действием проявителя выходит на поверхность изделия, указывая места распо
ложения дефектов; после этого осматривают и оцени вают качество изделия и удаляют проявитель.
По сравнению с люминесцентным методом цветная дефектоскопия более проста в выполнении: при этом не требуется источников УФС; контроль проводится визу
ально при дневном свете.
Подготовка поверхности контролируемого изделия
производится так же, как для люминесцентной дефекто
скопии. В качестве проникающих цветных растворов
(пенетрантов) применяются смеси:
79% керосина, 20% бензола, 1% судана-І\^; 94% бензола, 5% трансформаторного масла, 1% су-
дана-ІѴ; 79% керосина, 10% трансформаторного масла, 10%
скипидара, 1%' судана-ІѴ или судана-Ш;
75
красная проникающая жидкость по МРТУ 6-10-750-68
и др. Индикаторную жидкость наносят на контролируе
мую поверхность погружением (для мелких деталей),
напылением или с помощью мягкой кисточки. После вы
держки в течение 15—20 мин, необходимых для проник новения жидкости в несплошности, остатки ее удаляют промывкой. Для удаления индикаторных жидкостей с по
верхности изделия применяют поверхностно-активные вещества (ПАВ) типа ОП-7, ОП-4, ОП-Ю. Очищающей
смесью может служить смесь этилового спирта (гидро лизный или синтетический) или бутилового с ОП-7 или ОП-Ю. Для очистки стальных деталей также пользуются следующими составами:
10% водный раствор едкого натра — 1 часть и этил-
целлозольв— 1 часть; 30% водный раствор кальциниро ванной соды;
Для удаления остатков краски «К» применяют смесь
70% трансформаторного масла и 30%' керосина.
Для проявления дефектов применяют суспензию ка олина в воде (1 л воды и 400—500 г каолина). Каолин
наносится на сухую поверхность изделия распылением и
просушивается теплым воздухом. Индикаторная жид
кость, выделяющаяся из полостей дефектов, окрашива
ет каолин в красный цвет.
Для цветной дефектоскопии также широко применя ется белая проявляющая краска «М» (МРТУ-6-10-749-68),
которая на поверхность изделия наносится мягкой ки сточкой.
Осмотр поверхности изделия проводится через 25— 30 мин после нанесения проявляющих веществ. На бе лом фоне проявителя четко выделяются красные полосы, линии или пятна, соответствующие форме дефектов из
делия. Оценка качества проводится в соответствии с дей
ствующими ТУ.
В практике контроля нашли применение различные
комбинированные методы капиллярной дефектоскопии:
люминесцентно-цветной, капиллярно-магнитопорошко
вой, капиллярно-токовихревой и др.
Методами капиллярной дефектоскопии надежно вы
являются поверхностные дефекты на различных деталях
энергетического оборудования: наличие трещин в кон
денсаторных латунных трубках, на лопатках паровых
турбин, бандажах роторов генераторов, крепежных де* талях и др.
Необходимость удаления проявителя увеличивает
трудоемкость контроля цветными методами. Поэтому
известный интерес представляют самопроявляющие ка
пиллярные методы контроля. Суть метода заключается
в следующем: деталь пропитывают специальным пене-, трантом, выдерживают, очищают от излишков и подвер гают нагреву до температуры IOOoC в течение 5 мин,
вследствие чего происходит проявление дефектов.
К капиллярным методам дефектоскопии принадле
жит метод испытания изделий и сварных соединений
керосином. Данный метод позволяет определять
сквозные песплошности в сварных соединениях. При
менение керосина для испытаний основано на его
высокой проникающей способности. Технологически ме
тод прост в выполнении. Для обнаружения несплошно стей сварных соединений их покрывают меловой суспен
зией со стороны, доступной для осмотра. После высыха
ния меловой краски обратная сторона швов смачивается керосином и выдерживается 15—60 мин в зависимости
от толщины стенки изделия. Керосин, проникая сквозь
дефекты, выступает на окрашенной мелом стороне в ви
де жирных пятен и полос, указывающих на наличие
сквозных несплошностей. Испытанию на непроницае мость керосином подвергаются обычно сосуды, предназ
наченные для хранения жидкостей (цистерны и др.).
20. РАДИАЦИОННАЯ ДЕФЕКТОСКОПИЯ
При монтаже и ремонте энергетического оборудова ния применяются следующие методы радиационной де
фектоскопии:
метод радиографии; метод ксерорадиографии.
Метод радиографии основан на регистрации интен
сивности рентгеновского и гамма-излучения, прошедшего
через изделие, на специальную фотографическую пленку
(рентгеновскую). Метод радиографии обладает высокой
чувствительностью, легко выполним как в стационарных,
так и в полевых условиях и в настоящее время приме няется наиболее широко.
Метод ксерорадиографии основан на получении изо бражения на специальных пластинках, предварительно
заряженных электрическим зарядом. Под действием из
лучения электрический заряд пластинок уменьшается
пропорционально интенсивности падающих лучей. Ta-
77
ким образом, на пластинках, помещенных за контроли руемым изделием, образуется скрытое электростатиче
ское изображение. Проявление проводится с помощью сухих красящих порошков. Метод ксерорадиографии от носится к числу наиболее перспективных методов про
мышленной дефектоскопии просвечиванием. В настоя
щее время применение его ограничено вследствие высо
кой стоимости пластин и недостаточно разработанной
методики контроля.
Для промышленной радиографии применяется гамма-
излучение искусственных радиоактивных изотопов и рентгеновское излучение.
Гамма-излучение — электромагнитное излучение ядерного про
исхождения, возникающее в результате перехода возбужденных ядер атомов в устойчивое состояние. Ядра атомов тяжелых элемен
тов содержат большое число протонов и нейтронов, что приводит
к увеличению размеров, ядра и вызывает уменьшение сил ядерного
притяжения между ними. При значительном избытке нейтронов ядра некоторых тяжелых элементов (уран, торий, радий и др.) становятся
неустойчивыми. Переход таких ядер в устойчивое состояние сопро вождается излучением альфа и бета-частиц, нейтронов и гамма-лу
чей, т. е. радиоактивным излучением. Такое неустойчивое (возбуж
денное) ^состояние может быть создано искусственно в ядрах более
легкихРентгеновскоеэлементов (излучениецезий, кобальт, иридий и др.) путем |
облучения |
|
их в ядерных реакторах. |
является электромагнитным |
излучени |
ем и возникает в результате торможения быстрых электронов, вы
летающих из катода, при столкновении их с атомами металла анода
(мишени) в рентгеновской трубке или в вакуумной камере бета
трона.
В качестве источников излучения, применяемых при просвечи вании изделий, чаще всего используются рентгеновские трубки и
радиоактивные изотопы.
Источники излучения для гаммаграфии изготавливают из ра диоактивных изотопов с высокой удельной активностью и достаточ но продолжительным периодом полураспада. Диаметр активной ча
сти источника при просвечивании выступает как фокусное -пятно.
Основными радиационными характеристиками источников, применяе
мых в гаммаграфии, являются:
■спектральный состав излучения источников '(энергии квантов, из
лучаемых данным источником и их процентное содержание в общем
потоке излучения источника);
активность источника (радиационный выход).
Радиационные характеристики источников излучений определяют их дефектоскопические характеристики: диа
пазон просвечиваемых толщин, чувствительность метода
и время экспозиции при просвечивании.
Основные характеристики некоторых радиоактивных
источников, 'применяемых в радиографии, приводятся
в табл. 3.
78
Таблица З
Характеристики радиоактивных источников
|
Период |
Энергия основ |
Гамма-эквива- |
Диаметр |
Толщина |
|||||
|
лент источ |
|
мм |
|||||||
Источник |
полурас |
ных гамма- |
гников для |
активной |
просвечивае |
|||||
мого материала |
||||||||||
|
пада |
квантов, |
Мэв |
дефектоскопии, |
части, |
мм |
||||
|
|
|
-экв |
радия |
|
(сталь), |
|
|||
Tm-170 |
129 дней |
0,084 |
9 |
|
|
|||||
0,5 |
|
1—15 |
||||||||
Іг-192 |
-74 дня |
0,201 |
5,0 |
2 |
|
10—60 |
||||
|
|
0,296 |
|
|
|
|
|
|
||
|
|
0,316 |
|
|
|
|
|
|
||
|
|
0,468 |
W |
|
|
|
|
|
||
|
|
0,604 |
|
|
|
|
|
|
||
Cs-137 |
26,6 года |
1,060- ɔ |
|
2,0 |
5 |
|
|
|
||
0,661 |
|
|
10—80 |
|||||||
Со-60 |
5,3 года |
1,333 |
20,0 |
10 |
|
|||||
|
0,5 |
0,5 |
60—200 |
|||||||
|
W |
2,158 |
|
|
|
|
|
|
||
|
1,172 |
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
0,825 |
|
|
|
|
|
|
В зависимости от энергии гамма-квантов источники излучения разделяют на три группы: источники с жест ким излучением с энергией около 1 Мэв (Со-60), источ
ники с излучением средней жесткости с энергией 0,3— 0,7 Мэв (Cs-137, Іг-192) и источники с мягким излу чением с энергией ниже 0,3 Мэв (Tm-170).
Источником рентгеновских лучей служит трубка рент геновского аппарата (рис. 38) или вакуумная камера бе татрона.
C увеличением анодного напряжения излучение ста новится более жестким, т. е. легче проникает через ве
щество. Интенсивность излучения также возрастает по
всему спектру. Зависимость интенсивности излучения Y
от анодного напряжения и силы тока выражается фор
мулой
|
|
|
Y≈kV2I, |
|
(27) |
|
где |
k— |
коэффициент; |
I — |
анодный ток; |
V — |
|
|
|
|
анодное на |
пряжение.
Из формулы видно, что интенсивность излучения пря мо пропорциональна анодному току и квадрату анодного
напряжения. Увеличение или уменьшение анодного тока
при неизменном напряжении приводит соответственно
79