
- •654100 – Электроника и микроэлектроника
- •Оглавление
- •Часть первая. Микроэлектроника Глава 1. Общая характеристика микроэлектроники. Принципы функционирования элементов
- •1.1. Основные определения
- •1.2. Классификация изделий микроэлектроники
- •1.3. Физические явления, используемые в интегральной микроэлектронике
- •1.4. Процессы и явления, определяющие функционирование интегральных схем (ис)
- •1.5. Контактные явления в микроэлектронных структурах
- •1.6. Поверхностные явления в полупроводниках
- •1.7. Механизмы переноса носителей заряда
- •Глава 2. Базовые физико-химические методы создания микроэлектронных структур
- •2.1. Очистка поверхности пластин для ис
- •2.2. Получение полупроводниковых монокристаллов методом вытягивания из расплава
- •2.3. Термическое окисление
- •2.4. Эпитаксия
- •2.5. Фотолитография
- •2.6. Диффузия
- •2.7. Ионная имплантация (ионное легирование)
- •2.8. Металлизация
- •Глава 3.Типы подложек интегральных схем, их основные характеристики и процессы изготовления подложек
- •3.1. Изготовление подложек ис
- •3.3. Оптический метод ориентации полупроводниковых пластин
- •3.4. Шлифовка и полировка пластин
- •3.5. Строение нарушенного слоя после механической обработки пластины
- •Глава 4. Технология химической обработки подложек для интегральных микросхем
- •4.1. Механизм химической обработки кремниевых пластин
- •4.2. Термохимическое (газовое) травление
- •4.3. Ионно-плазменное травление
- •Глава 5. Диэлектрические пленки в ис. Методы их получения. Технологии изготовления гибридных ис
- •5.1. Конструктивно-технологические функции диэлектрических плёнок
- •5.2. Формирование плёнок SiO2термическим окислением кремния
- •5.3. Методы получения диэлектрических пленок в технологии гибридных ис
- •5.3.1. Термовакуумное реактивное испарение
- •5.3.2. Анодное окисление
- •5.3.3. Ионно-плазменное окисление
- •Глава 6. Ионное легирование полупроводников
- •6. 1. Общие принципы процесса ионного легирования
- •Для количественной оценки ф согласно (6.1) необходимо знать потенциал φ(u) взаимодействия частиц. В простейшем случае он равен кулоновскому потенциалу. Однако в реальном случае
- •6.2. Отжиг дефектов и электрические свойства слоёв
- •6.3. Импульсный лазерный отжиг
- •6.4. Маскирование в процессах ионного легирования
- •6.5. Маскирование фоторезистами
- •6.6. Маскирование пленками металлов
- •Глава 7. Элионные методы литографических процессов
- •7.1. Электронно-лучевая литография
- •7.2. Рентгенолучевая литография (рлл)
- •7.2.1. Особенности экспонирования в рлл
- •7.2.2. Технология рентгенолитографических процессов
- •7.2.3. Выбор резистов для рлл
- •Глава 8.Пленки в технологии ис, микросборок и коммутационных элементов
- •8.1. Металлические пленки для ис
- •8.2. Технология коммутационных элементов ис
- •8.3. Технология пленочных резисторов
- •8.4. Чистый металл и сплавы
- •8.5. Керметы (микрокомпозиционные пленки)
- •8.6. Изготовление тонкопленочных конденсаторов
- •8.7. Монооксид кремнияSiO
- •8.8. Пятиокись тантала Та2о5
- •8.9. Оксид алюминия Al2o3 и диоксид кремнияSiО2
- •8.10. Диоксид титана ТiО2
- •Глава 9.Монтаж кристаллов ис на носителях. Типы носителей. Особенности сборки ис в корпуса
- •9.1. Конструктивно-технологические варианты монтажа
- •9.2. Изготовление ленточных носителей
- •9.3. Получение внутренних выводов на кристаллах ис
- •9.4. Монтаж кристалла ис на гибкую ленту
- •9.5. Монтаж гибридных ис и микросборок
- •9.6. Особенности сборки сверхбыстродействующих ис и процессоров
- •Глава 10. Технология герметизации ис и мп
- •10.1. Пассивирующие и защитные покрытия ис
- •10.2. Принципы герметизации ис в корпусах
- •10.3. Герметизация ис в металлических корпусах
- •Часть вторая наноэлектроника
- •Глава 11. Теоретические основы наноэлектроники. Одноэлектронные приборы
- •11.1. Проблемы наноэлектроники (одноэлектроники)
- •11.2. Базовая теория кулоновской блокады
- •11.3. "Кулоновская лестница"
- •11.5. Квантовые размерные эффекты
- •11.6. Классификация одноэлектронных приборов
- •11.7. Одноэлектронный прибор на основе сканирующего туннельного микроскопа
- •11.8. Субмикронный вертикальный одноэлектронный транзистор (транзистор Остина)
- •11.9. Применение одноэлектронных приборов
- •Глава 12. Наночастицы и нанокластеры
- •12.1. Свойства наночастиц и их характеристики
- •12.2. Теоретическое моделирование наночастиц (модель ″желе″)
- •12.3. Геометрическая и электронная структуры нанокластеров
- •12.4. Реакционная способность наночастиц
- •12.5. Флуктуационные наноструктуры
- •12.6. Магнитные кластеры
- •12.7. Переход от макро- к нано-
- •12.8. Полупроводниковые наночастицы
- •12.9. Кулоновский взрыв
- •12.10. Молекулярные кластеры
- •12.11. Методы синтеза наночастиц
- •12.12. Химические методы синтеза наночастиц
- •12.13. Термолиз
- •12.14. Импульсные лазерные методы
- •Глава 13.Углеродные наноструктуры
- •13. 1. Природа углеродной связи
- •13.2. Малые углеродные кластеры – с60.
- •13.3. Неуглеродная шарообразная молекула
- •13.4. Углеродные нанотрубки
- •13.4.1. Методы получения нанотрубок
- •13.4.2. Электрические свойства нанотрубок
- •13.4.3. Колебательные свойства нанотрубок
- •13.4.4. Механические свойства нанотрубок
- •13.5. Применение углеродных нанотрубок
- •13.5.1. Полевая эмиссия и экранирование
- •13.5.2. Информационные технологии, электроника
- •13.5.3. Топливные элементы
- •13.5.4. Химические сенсоры
- •13.5.5. Катализ
- •13.5.6. Механическое упрочнение материалов
- •Глава 14.Объемные наноструктурированные материалы: разупорядоченные и кристаллизованные
- •14.1. Методы синтеза разупорядоченных структур
- •14.2. Механизмы разрушения традиционных материалов
- •14.3. Механические свойства наноструктурированных материалов
- •14.4. Многослойные наноструктурированные материалы
- •14.5. Электрические свойства наноструктурированных материалов
- •14.6. Нанокластеры в оптическом материаловедении
- •14.7. Пористый кремний
- •14.8. Упорядоченные наноструктуры
- •14.8.1. Упорядоченные структуры в цеолитах
- •14.8.2. Кристаллы из металлических наночастиц
- •14.8.3. Нанокристаллы для фотоники
- •Глава 15.Наноприборы и наномашины
- •15.1. Микроэлектромеханические устройства (mems)
- •15.2. Наноэлектромеханические системы (nems)
- •15.3. Наноактуаторы
- •15.4. Молекулярные и супрамолекулярные переключатели
- •Библиографический список Основной
- •Физические основы технологии микро- и наноэлектроники
- •620002, Екатеринбург, Мира, 19
- •620002, Екатеринбург, Мира, 19
4.2. Термохимическое (газовое) травление
В основе термохимического процесса обработки пластин ИС лежит образование летучих продуктов кремния после реакции с газообразными веществами: галогенами, галогеноводородами, парами воды, соединениями серы. Эти вещества добавляют в небольших количествах к потоку газообразного водорода и вводят в кварцевый реактор. Обработка проводится при температурах от 700-1300оС. Процесс термохимического травления обычно трактуется как обратный эпитаксиальному наращиванию и описывается теми же реакциями и законами, что и эпитаксия. Однако при эпитаксиальном наращивании обычно пренебрегают стадией удаления в газовый поток продуктов реакции от поверхности кремния. При термохимическом же травлении эта стадия является определяющей.
Особенность метода термохимической обработки заключается в том, что, подбирая режимы травления, можно придать процессу ориентированный (анизотропный) характер. Например, для 5% смеси HCl+H2 при 1200°С скорость травления кремния по плоскостям (111) составляет 1,48, по плоскостям (110) – 3,0, а по плоскостям (100) – 3,4 мкм/мин. Особенно резко выражена эта зависимость при травлении кремния галогенами, в частности хлором. При температурах около 700°С газообразный хлор является прекрасным селективным травителем, выявляющим дислокации, дефекты упаковки и другие нарушения на поверхности кремниевых пластин ИС.
Термохимическое травление может применяться для формирования локальных углублений в пластине. При этом в качестве маскирующего покрытия служит слой оксида, в котором с помощью литографии создаются окна требуемой конфигурации. При этом наилучшие результаты травления достигаются при использовании в качестве травителя SF6. В этом случае обеспечивается получение углублений с плоским дном.
В табл. 4.1 приведены сравнительные характеристики газовых травителей, которые могут быть полезными для решения конкретных задач технологий изготовления ИС.
Для корректировки режимов служат кривые зависимости скорости травления от концентрации травителя и температуры процесса. Термохимическое травление оценивается помимо скорости процесса непосредственно по качеству получаемой поверхности и косвенно – по параметрам выращенного эпитаксиального слоя. В эпитаксиальных слоях, выращенных на подложках, обработанных термохимическим травлением, наблюдается низкая плотность дефектов упаковки. Для всех газовых травителей она не превышает 10-50 см2, а при травлении в SF6 может быть сведена к нулю. Для сравнения: при механической полировке подложек плотность дефектов упаковки составляет не менее 1000 см2. О качестве получаемых слоев после эпитаксии и термохимической обработки судят по тому, какой процент p-n переходов, созданных на границе подложка – эпитаксиальный слой, обладает высоким пробивным напряжением. Например, после обработки подложек в HCl при нагрузке в 100В имеем 54% годных переходов, в парах воды – 75%, а в смеси HCl с водой – 82%. Эти результаты позволяют судить об эффективности методов термохимического травления.
Таблица 4.1
Свойства методов газового травления
Реагент |
Хим. реакция |
Темп., °С |
Достоинства метода |
Недостатки метода |
HCl |
|
1150 - 1300 |
1) Освоенность метода 2) Высокая совместимость с эпитаксией |
Перенос примесей с частей реактора к подложке |
HBr |
|
~1260 |
1) Малая зависимость скорости от температуры 2) Высокое качество полировки |
Недостаточная освоенность процесса |
SF6 |
|
1050 - 1250 |
Сравнительно низкие температуры обработки |
ТОКСИЧНОСТЬ |
Cl2 в атм. Не |
|
700 - 1000 |
― ″ ―
|
ТОКСИЧНОСТЬ |
HCl+H2O |
|
>1230 |
Устранение включений нитрита кремния |
1) Малая скорость травления 2) Осаждение SiO2 на подложку |
В технологии полупроводниковых ИС характер требований к чистоте поверхности подложек зависит от того, будет или не будет осаждаться эпитаксиальный слой для формирования элементов схемы. В первом случае перед эпитаксией имеется возможность провести термохимическое травление, а степень совершенства эпитаксиального слоя может служить достаточно надежным критерием качества подложки и, следовательно, технологии ее обработки. Во втором случае, когда эпитаксиальный слой не осаждается, то помимо физической чистоты подложки и отсутствия нарушенного слоя критерием качества поверхности может служить толщина оксидного слоя, который оказывает отрицательное влияние на качество подзатворного оксида в МДП-структурах.
Термохимическое травление замечательно тем, что обеспечивает максимально достижимую чистоту поверхности и совместимо с термохимическими операциями: эпитаксией, окислением, диффузией. Высокая чистота обработки достигается за счет того, что кремний и практически любые загрязнения на поверхности переводятся в газовую фазу и легко удаляются, а вероятность дополнительного загрязнения при использовании чистых газов сведена к минимуму. При этом недостатками термохимического травления являются – необходимость использования высоких температур обработки и сложного оборудования, а также необходимость применять для процесса особо чистые газы.