
- •1. Цель лабораторной работы
- •2. Физические процессы в электронно-дырочных переходах с туннельным эффектом
- •2.1. Понятие и особенности электронно-дырочных переходов с туннельным эффектом
- •2.2. Вольтамперная характеристика идеального электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом
- •2.3. Вольтамперная характеристика реального электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом
- •2.4. Влияние температуры окружающей среды на вах реального p-n перехода с туннельным эффектом
- •2.5. Параметры электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом
- •3. Схемы экспериментальных исследований
- •4. Лабораторное задание
- •5. Обработка результатов экспериментальных исследований
- •6. Содержание отчета
- •7. Вопросы и задания для самопроверки
- •Библиографический список
- •Приложение 1
- •Приложение 3 электронно-дырочные переходы с туннельным эффектом на основе арсенида галлия
- •Оглавление
- •620002, Екатеринбург, ул. Мира, 19
- •620002, Екатеринбург, ул. Мира, 19
2.3. Вольтамперная характеристика реального электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом
В реальном
электронно-дырочном переходе с туннельным
эффектом в сильной степени изменяется
прямая ветвь ВАХ. В основном изменяется
значение напряжения впадины. Если для
идеального p-n
перехода с туннельным эффектом UВП
2UП,
то для реального p-n перехода
UВП
(5–7) UП.
Вольтамперная характеристика реального электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом приведена на рис.8.
Рис.8. Вольтамперная характеристика реального p-n перехода с туннельным эффектом
Возрастание напряжения UВП на рис.8 вызвано наличием в p-n переходе избыточного туннельного тока. Электронно-дырочный переход, образованный «вырожденными» примесными полупроводниками, содержит в запрещенной зоне зонной диаграммы локальные энергетические уровни примесных атомов, которые образуются из-за наличия неконтролируемых примесей в исходных полупроводниках. Присутствие локальных энергетических уровней таких примесных атомов в запрещенной зоне приводит к появлению дополнительных туннельных переходов, а, следовательно, избыточного туннельного тока. Энергетическая диаграмма для этого случая приведена на рис.9.
При подаче прямого напряжения на реальный p-n переход с туннельным эффектом величиной более двух значений напряжения пика (UПР > 2UП) имеют место туннельные переходы электронов с занятых энергетических уровней зоны проводимости полупроводника n- типа на локальные энергетические уровни примесных атомов в запрещенной зоне полупроводника р- типа, а затем уже с этих локальных энергетических уровней электроны переходят на свободные энергетические уровни валентной зоны полупроводника р-типа. Эти дополнительные туннельные переходы и образуют избыточный туннельный ток p-n-перехода, увеличивая тем самым участок туннельной составляющей прямого тока вольтамперной характеристики электронно-дырочного перехода (см. рис.8). В основном удлиняется «падающий участок» прямой ветви ВАХ (см. рис.8) (участок АВ, рис.8 с отрицательным дифференциальным сопротивлением rДИФ АВ < 0).
Рис. 9 . Энергетическая диаграмма реального электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом при Uпр > 2UП
Дифференциальное сопротивление участка АВ ВАХ (см. рис.8) определяется по формуле
, (13)
где UП – напряжение пика; UВП – напряжение впадины; IП – ток пика; IВП – ток впадины.
Точка В соответствует напряжению впадины ВАХ (см. рис.8) и образуется в месте пересечения диффузионной и туннельной составляющих прямого тока
IВП
=
ID(B)
+ ITn(B). (14)
Точка С ВАХ (см. рис.8) определяет напряжение раствора Uр. В точке С значение диффузионной составляющей прямого тока становится равной току пика ВАХ (ID = IП). За счет смещения UВП в сторону бََольших прямых напряжений напряжение раствора Up также возрастает по сравнению с его значением для ВАХ идеального p-n перехода с туннельным эффектом.
Электронно-дырочные
переходы с туннельным эффектом
изготавливаются с использованием
полупроводниковых материалов на основе
германия (Ge)
и арсенида галлия (GaAs),
так как в этом случае получается лучшее
отношение тока пика к току впадины
.
При этомp-n
переходы с туннельным эффектом имеют
параметры, приведенные в табл. 1.
Величина тока пика
IП
зависит от площади p-n
перехода и степени легирования исходных
«вырожденных» полупроводников. При
увеличении концентрации примесей (NПР)
возрастает и ток пика IП.
Электронно-дырочные переходы с туннельным
эффектом на основе кремниевых
полупроводников имеют малое отношение
,
поэтому на практике они не применяются.
Таблица 1
Параметры электронно-дырочного перехода с туннельным эффектом на основе германия и арсенида галлия
Параметры |
Материал полупроводника p-n-перехода | |
Ge |
GaAs | |
UП, мВ |
40–90 |
100–180 |
UВП, мВ |
250–350 |
400–700 |
UР, В |
0,40–0,45 |
1,0–1,2 |
|
5–20 |
8–40 |