
Гамма-гамма-методы (ггм)
ГГМ основан на облучении горных пород первичным потоком γ-квантов средней энергии (до 2 Мэв) и после взаимодействия регистрации вторичного γ-излучения.
Для γ-излучения с энергией до 2 Мэв характерно взаимодействие с электронами атомов, наиболее вероятны фотоэлектрическое поглощение (фотоэффект) на электронах внутренних оболочек атома и неупругое рассеяние γ-кванта на электронах (эффект Комптона).
Для легких породообразующих элементов (Z < 20), макросечение μк комптоновского рассеяния не зависит от Z и пропорционально плотности вещества δ, т.к. для легких элементов Z/M ≈ 0.5 (М – атомная масса вещества, Z – заряд ядра). Число атомов в 1 см3 вещества N = δ*NA/M (NА – число Авогадро), следовательно μk =N*σk = AδZσk/M (σk – микросечение Комптон-эффекта). Учитывая, что Z/M ≈ 0.5, получаем μk = NAδσk/2.
Сечение комптоновского рассеяния σk при малых энергиях растет, достигает максимального значения в интервале 100 – 300 Кэв, а затем медленно уменьшается с увеличением энергии γ-квантов.
Для одного и того же вещества для К-оболочки ход сечения фотоэффекта приблизительно оценивается:
при Еγ > IK σф ≈ Z5/ Еγ3.5;
при Еγ >> IK σф ≈ Z5/ Еγ.
где Еγ – энергия γ-кванта, IK – потенциал ионизации К-оболочки.
Фотоэффект наиболее вероятен в области энергий, близких к потенциалу ионизации электронных К-оболочек, это для тяжелых элементов (Z > 50) энергия до 100 Кэв, для более легких элементов эта энергия снижается до единиц Кэв. Например, для титана (Z = 22) IK < 6 Кэв.
Чтобы
изучать плотность пород, необходимо
реализовать определенный тип
взаимодействия γ-квантов с веществом,
а именно комптоновское рассеяние, метод
называется гамма-гамма метод плотностной
модификации (ГГМ-П). Для исследования
изменения состава пород применяется
гамма-гамма-метод селективный (ГГМ-С),
в основе которого - фотоэффект. Методически
оба эти метода сходны – первичное
облучение породы потоком гамма-квантов
с последующей регистрацией вторичного
гамма-излучения. Выбор типа взаимодействия
первичного излучения (Комптон-эффект
или фотоэффект) решается с помощью
выбора источника первичного γ-излучения:
при энергии источника Еγ
< 300 Кэв преобладает фотоэффект (ГГМ-С),
при Еγ
> 600 Кэв превалирует комптоновское
рассеяние (ГГМ-П).
Чувствительность ГГМ-С к изменению Zэфф породы определяется энергией источника первичного гамма-излучения. При использовании источника γ-квантов низкой энергии (Еγ = 50 Кэв) максимальная чувствительность – в области малых значений Zэфф – до 14, далее чувствительность падает, а при Zэфф > 20 чувствительность практически равна 0. Такая ситуация реализуется при разведке угольных месторождений – изменение параметра зольности, который определяет качество углей, основано на изменении Zэфф на величины, не более 0.2 ÷ 0.4. При разведке полиметаллических и, особенно железорудных, месторождений изменение Zэфф от вмещающей до рудосодержащей породы более значительно – на единицы, а в случае массивных руд, до десяти. В этом случае используется более жесткий источник первичного γ-излучения, чтобы перекрыть весь диапазон измерений Zэфф. Основным источником первичного γ-излучения в ГГМ-С является изотоп селена Se75 (Т = 120 дней; Еγ = 136 Кэв и 265 Кэв), может также использоваться изотоп тулия Tm170 (Т = 129 дней; Еγ = 84,2 Кэв).
ГГМ-П, как было сказано выше, необходимо осуществлять в таких условиях, когда преобладает комптоновское рассеяние -излучения, а именно в интервале энергий от 500 Кэв до 2 Мэв. Так как при многократном рассеянии -излучения в среде образуется низкоэнергетическая часть -спектра, которая поглощается при помощи фотоэффекта (вследствие чего образуются низкоэнергетичные -кванты характеристического излучения), устранить влияние фотоэффекта можно соответствующим выбором энергии первичного -излучения и использованием детекторов, имеющих в области малых энергий низкую эффективность.
Для реализации ГГМ-П обычно используются источники -квантов Cs137 (Еγ = 0.66 Мэв), Со60 (1.25 Мэв), реже Ra226 (1.7 Мэв). Низкую эффективность в области мягкого -излучения имеют газоразрядные счетчики типа МС и СТС и сцинтилляционные детекторы NaJ (Tl) в металлических фильтрах (корпус прибора).