
- •Министерство общего и профессионального образования российской федерации
- •Учебное пособие Воронеж 2000
- •Учебное издание
- •394026 Воронеж, Московский поспект, 14
- •1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:
- •1.1. Введение
- •1.2. Тестовое диагностирование в цифровой технике: цепи и терминология
- •1.3. Процедуры и проблемы программного тестирования
- •1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
- •2. Анализ тестопригодности: система camelot
- •2.1. Количественная оценка тестопригодности
- •2.2 Принципы вычисления управляемости
- •2.3 Принципы вычисления наблюдаемости
- •2.4 Принципы вычисления тестопригодности
- •2.4.1. Тестопригодность как функция управляемости и наблюдаемости
- •2.5. Применение системы camelot на практике.
- •2.5.1. Количественная оценка проектируемых схем.
- •2.5.2. Автоматический выбор контрольных точек.
- •2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
- •2.5.4. Методика автоматической генерации тестов
- •2.6. О других системах анализа тестопригодности
- •2.7. Заключительные замечания о методах анализа
- •3. Методы структурного проектирования
- •3.1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь
- •3.2. Сканирование с произвольным доступом
- •3.3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала
- •3.4. Недостатки и достоинства методов сканирования
- •3.5. Методы самотестирования: bilbo
- •3.5.3. Устройство встроенного поблочного диагностирования логических схем (bilbo)
- •3.6. Заключительные замечания о методах сканирования
- •4. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования
- •4.1. Алгоритм podem, условные обозначения, понятия и принципы
- •4.1.5. Вычисление относительных значении управляемости
- •4.2. Процедура podem
- •4.2.1. Пример 1. Основной принцип podem
- •4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
- •4.2.3. Пример 3. Переопределение состояний первичных входов
- •4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
- •4.3. Процедура raps
- •4.3.1 Пример 4. Процедура raps
- •4.3.2. Заключение о процедуре raps
- •4.4. Методика выполнения процедур raps и podem
- •4.4.1 Использование статического сжатия тестов
- •4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
- •4.5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей
- •4.6. Заключительные замечания о процедурах podem и raps
- •5. Практические рекомендации по проектированию тестопригодных схем
- •5.1. Средства поддержки процедуры генерации тестов
- •5.2. Средства поддержки процедур тестирования и поиска неисправностей
- •Содержание
4.3.1 Пример 4. Процедура raps
НАЧАЛЬНАЯ УСТАНОВКА всех узлов в неопределенное логическое состояние Х
ВЫБРАТЬ произвольно первичный выход: ПВых (NCN1)
ВЫБРАТЬ произвольно его исходное состояние: 1
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
OB (NCN1 = 1): –G 12.13/R (=G 11.3) = 0
OB (G 11.3 = 0): –G 11.2/R (=G 3.12) = 0
OB (G 3.12 = 0): –G 3.1/R (=G 1.3) = 1
OB (G 1.3 = 1): –G 1.2/R (=A2) = 0
OB (A2 = 0)
УСТАНОВИТЬ ПВх (A2) = 0 ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ:
А2 = 0
G 1.3 = 1
ВОПРОС: Обеспечивается ли выбранное логическое состояние в выходном
целевом узле
НЕТ
Возвратиться к выходному целевому узлу
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
OB (NCN1 = 1): –G 12.2/R (=G 10.3) = 0
OB (G 10.3 = 0): –G 10.1R (=CN) = 0
OB (CN = 0)
УСТАНОВИТЬ ПВх (CN) = 0 ПВх определение
МОДЕЛИРОВАТЬ:
CN = 0
G 7.3 = 0
G 8.12 = 0
G 9.3 = 0
G 10.3 = 0
ВОПРОС: Обеспечивается ли выбранное логическое состояние в вы-
ходном целевом узле?
НЕТ
Возвратиться к выходному целевому узлу
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД
ОB (NCN = 1): – G 12.13 (=G 11.3) = 0 (Единственный вариант выбора)
OB (G 11.3 = 0): –G 11.2/R (=G 3.12) = 0
OB (G 3.12 = 0): –G 3.13/R (=АC) = 1
УСТАНОВИТЬ ПВх (АС) = 1 ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ
АС = 1
ВОПРОС: Обеспечивается ли выбранное логическое состояние в вы-
ходном целевом узле?
НЕТ
Возвратиться к выходному целевому узлу
ОЬРАТНЫЙ ПРОХОД
ОB (NCN = 1): – G 12.13 (=G 11.3) = 0 (Единственный вариант выбора)
OB (G 11.3 = 0): –G 11.2/R (=G 3.12) = 0
ОB (G 3.12 = 1): – G 3.2 (=А*) = 1 (Единственный вариант выбора)
OB (A*) = 1
УСТАHOBИTЬ ПВх (А*) = 1 ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ:
А* = 1
G 3.12 = 0
G 5.3 = 0
G 8.12 = 0, как и прежде
G 9.3 = 0, как и прежде
G 11.3 = 0
G 12.12 = 1
NCN1 = 1 ПВых-определение
ВОПРОС: Обеспечиваемся ли выбранное логическое состояние в вы-
ходном целевом узле?
ДА
Примечание: методика теперь состоит в выборе другого первичного выхода, логи-
ческое состояние которого остается все еще неопределенным, н в продолжении про-
цедуры обратного прохода. Заметим, что значительное число логических состояний
внутренних узлов теперь уже определено.
ВОПРОС: Существует ли какой-либо первичный выход с неопределен-
ным состоянием?
ДА
ВЫБРАТЬ произвольно новый первичный выход: NSUM
Выбрать произвольно его исходное состояние: 0
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
ОB (NSUM = 0): – G 13.2 (=G 6.3) = 1 (Единственный вариант выбора)
ОB (G 6.3 = 1): – G 6.2 (=G 4.12) = 1 (Единственный вариант выбора)
ОB (G 4.12 = 1): – G 4.2/R (=В*) = 0
УСТАНОВИТЬ ПВх (В*) = 0 ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ:
В* = 0
G 4.12 = 1
G 6.3 = 1
G 13.6 = 0
NSUM = 0 ПВых-определение
G 4.12 = 1
SUM = 1 ПВых-определение
ВОПРОС: Обеспечивается ли выбранное логическое состояние в вы
ходном целевом узле?
ДА
ВОПРОС : Существует ли какой-либо первичный выход с неопределен-
ным состоянием?
НЕТ
Примечание: стратегия теперь состоит в нахождении первичных входов, которые все еще находятся в неопределенном состоянии. Если таких входов нет, то процедура завершается. Если такие входы есть, то осуществляется поиск вентиля, состояние выхода которого определено, а один или более входов находятся в неопределенном состоянии .Для определенного логического состояния выхода вентиля необходимо установить каждый неопределенный вход в такое состояние, которое повышало бы вероятность активизации дополнительных путей. Для вентилей И и И-НЕ таким состоянием входа является 1. Для вентилей ИЛИ и ИЛИ-НЕ — это 0. Для элементов Исключающее — ИЛИ — произвольно выбирается 0 или 1.
Возвращаемся к примеру:
ВОПРОС: Существуют ли какие-либо первичные входы в состоянии X?
ДА
ВОПРОС: Можно ли найти вентиль, состояние выхода которого
определено, но который имеет входы с неопределенным стоянием X?
Да: вентиль 4 типа И-НЕ. Вентили G 4.1 и G 4.13 в состоянии Х.
ОБРАТНЫЙ ПРОХОД:
0В (G 4.1 = 1)
0В (G 2.3 = 1): — G 2.1/R (=B1) = 0
0В (В1 = 0)
УСТАНОВИТЬ ПВх (В1) = 0 ПВх-определение
МОДЕЛИРОВАТЬ
B1 = 0
G 2.3 = 1
Последовательность вопросов приводит к возврату:
ОВ(G 4.13 = 1) ведет к ПВх (ВС) = 1
0В (G 2.2 = 1) ведет к ПВх (В2) = 1
0В (G 1.1 = 1) ведет к ПВх (А1) = 1.
Все первичные входы определены
Окончательный тест имеет вид
-
А1
А2
А*
АС
С
В1
B2
В*
ВС
NSUM
SUM
NCN
1
0
1
1
0
0
1
0
1
0
1
1
Множество покрываемых неисправностей, определенное моделированием, включает:
А2 н-к-1, А* н-к-0, АС н-к-0, CN н-к-1, В* н-к-1, G 1.3 н-к-0, G 3.12 н-к-1,
G 4.12 н-к-0, G 9.3 н-к-1, G 10.3 н-к-1, G 11.3 н-к-1, G 12.12 н-к-0, G 6.3
н-к-0, G 13.6 н-к-1, G 14.2 н-к-0.
В этом перечне представлены 15 из 46 неисправностей типа н-к-0 и н-к-1, т. е. покрыть 33% всех одиночных константных неисправностей узлов схемы.