- •Министерство общего и профессионального образования российской федерации
- •Учебное пособие Воронеж 2000
- •Учебное издание
- •394026 Воронеж, Московский поспект, 14
- •1. Тестовое диагностирование в цифровой технике:
- •1.1. Введение
- •1.2. Тестовое диагностирование в цифровой технике: цепи и терминология
- •1.3. Процедуры и проблемы программного тестирования
- •1.4. Необходимость проектирования тестопригодных схем
- •2. Анализ тестопригодности: система camelot
- •2.1. Количественная оценка тестопригодности
- •2.2 Принципы вычисления управляемости
- •2.3 Принципы вычисления наблюдаемости
- •2.4 Принципы вычисления тестопригодности
- •2.4.1. Тестопригодность как функция управляемости и наблюдаемости
- •2.5. Применение системы camelot на практике.
- •2.5.1. Количественная оценка проектируемых схем.
- •2.5.2. Автоматический выбор контрольных точек.
- •2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
- •2.5.4. Методика автоматической генерации тестов
- •2.6. О других системах анализа тестопригодности
- •2.7. Заключительные замечания о методах анализа
- •3. Методы структурного проектирования
- •3.1. Принцип метода сканирования: сканируемый путь
- •3.2. Сканирование с произвольным доступом
- •3.3. Метод сканирования, чувствительного к уровню тактового сигнала
- •3.4. Недостатки и достоинства методов сканирования
- •3.5. Методы самотестирования: bilbo
- •3.5.3. Устройство встроенного поблочного диагностирования логических схем (bilbo)
- •3.6. Заключительные замечания о методах сканирования
- •4. Генерация тестов для схем, реализующих принцип сканирования
- •4.1. Алгоритм podem, условные обозначения, понятия и принципы
- •4.1.5. Вычисление относительных значении управляемости
- •4.2. Процедура podem
- •4.2.1. Пример 1. Основной принцип podem
- •4.2.2. Пример 2. Многомерный d-проход
- •4.2.3. Пример 3. Переопределение состояний первичных входов
- •4.2.4. Заключение относительного алгоритма podem
- •4.3. Процедура raps
- •4.3.1 Пример 4. Процедура raps
- •4.3.2. Заключение о процедуре raps
- •4.4. Методика выполнения процедур raps и podem
- •4.4.1 Использование статического сжатия тестов
- •4.4.2. Использование динамического сжатия тестов
- •4.5. Замечание относительно процедуры моделирования неисправностей
- •4.6. Заключительные замечания о процедурах podem и raps
- •5. Практические рекомендации по проектированию тестопригодных схем
- •5.1. Средства поддержки процедуры генерации тестов
- •5.2. Средства поддержки процедур тестирования и поиска неисправностей
- •Содержание
2.5.3 Методика генерации тестов вручную.
Методика генерации тестов вручную для неструктурированных схем (на уровне кристалла или печатной платы) является темой, которой зачастую пренебрегают. Обычно возникает ключевой вопрос, с чего начать? Вообще есть несколько вариантов ответа на этот вопрос.
Вариант 1. Начать с узла с наихудшей управляемостью.
Вариант 2. Начать с узла с наихудшей наблюдаемостью.
Вариант 3. Начать с узла с наилучшими управляемостью и наблюдаемостью, т. е. с наилучшей тестопригодностью.
Выбор варианта 1 или 2 может быть обоснован тем, что тест для узла с наихудшими значениями управляемости и наблюдаемости, по всей вероятности, будет автоматически покрывать более «простые» неисправности узлов с высокими показателями тестопригодности. Обоснованием варианта 3 является то, что решение в первую очередь легкой задачи обеспечивает постепенное приближение к сложным участкам схемы, а так как задача простая, то ее успешное решение служит моральной поддержкой для разработчика тестов.
Оба подхода позволяют осуществить полезное структурирование процесса генерации тестов. Однако очень часто методика тестового диагностирования развивается на основе специального подхода, рассчитанного на применение к данному случаю. Использование показателей тестопригодности узлов схемы обеспечивает путь к более обоснованному планированию методики тестирования.
Для иллюстрации этого вновь рассмотрим, схему контроллера (рис 2.22) вместе с узловыми значениями тестопригодности, управляемости и наблюдаемости, вычисленными системой CAMELOT (табл. 2.4). Узлами с наименьшим значением управляемости CY=0,411 являются А12 и U8.8 Состояние узла А12 представляет результат выполнения операции И-НЕ над значениями выходов U2.2 и U2 6 дешифратора U2. Состояние узла U8.8 — результат выполнения операции И-НЕ над значениями выходов U2.7 и U2.9 дешифратора U2. Состояние узла А12 непосредственно наблюдается, как на первичном выходе схемы, в то время как U8.8 запитывает подсхем управления дешифратором, образуя обратную связь.
Одной этой информации достаточно, чтобы предположить, что дешифратор U2 является существенным элементом схемы и, возможно, необходимо формировать процедуру тестового диагностирования, ориентируясь на этот элемент схемы (вывод, который очевиден для этой частной схемы, но может быть не столь очевидным для существенно большей схемы).
Теперь рассмотрим параметры наблюдаемости схемы узлом с наименьшим значением наблюдаемости OY=0,411 является U12.3. Этот узел топологически расположен в центре схемы. Его состояние в большей степени можно наблюдать на первичном входе А10, а также на других ПВых через ветвление выхода U6.12 к U 2 и, следовательно, на выходах дешифратора U 2. Таким образом, принимая решение начать процедуру генерации тестов с нахождения тестов, обнаруживающих обе неисправности н-к-1 и н-к-0 узла U12.3 путем активизации путей, будем решать одну из наиболее сложных задач генерации проверяющих тесов схемы.
В заключение рассмотрим ряд вопросов другого подхода — процедуры генерации тестов, начинающейся с наиболее простых узлов. Здесь необходимо определить узел, который одновременно легко управляется и наблюдается, т. е. узел с наивысшим показателем тестопригодности. В рассматриваемом примере вход А42 представляется наиболее тестопригодным узлом (TY = 0,957) вместе с первичным входом А46, характеризующимся вторым по значению показателем тестопригодности (TY=0,911). Это неудивительно, так как А42 — основной тактовый вход, а А46 — вход сигнала общего сброса. Поэтому полученный результат не приносит заметной пользы. Можно надеяться, что входы общего сброса и тактирования проверяются достаточно просто, поскольку имеют определяющее воздействие на поведение схемы. Тем не менее, когда теоретические расчеты дают результат, который интуитивно воспринимается как правильный, то этот результат представляется обнадеживающим.
Таким образом, анализ количественных показателей тестопригодности приводит к выводу о том, что наилучшим подходом к решению задачи тестирования рассматриваемой схемы является сосредоточение на анализе элемента U2. Его выходное состояние воздействует почти на каждый элемент схемы, и наличие знаний о характеристиках управляемости и наблюдаемости дешифратора, безусловно, позволит осуществлять управление узлами и наблюдение за ними в остальной части схемы.