3лаба

Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И.Ульянова (Ленина)

Факультет ЭА

Кафедра БЖД

Отчет по лабораторной работе №3

Испытания приборной техники на устойчивость к микросекундным импульсным помехам.

Выполнили: Лозак Е.А., Павлова Е.В.

Группа: 7491

Проверил: Буканин В.А.

Санкт-Петербург

2011

Цель работы:

• Получение навыков испытаний оборудования на устойчивость к микросекундным импульсным помехам;

• Определение уровней устойчивости реального оборудования.

Описание лабораторной установки

Лабораторная установка включает испытательный генератор (ИГ) МИП, устройство связи и развязки, а также испытуемое техническое средство.

Характеристики испытательного генератора установлены таким образом, что он с максимальным подобием имитирует источник помех. Если источник помех и ИТС находятся в одной цепи, например в цепи электропитания (непосредственная связь) , ИГ МИП имитирует источник с низким внутренним сопротивлением, подключенный к ИТС.

Упрощенная электрическая схема ИГ МИП приведена на рис.1.

U

Рис.1

Устройство связи/развязки. Необходимы для того, чтобы избежать возможного влияния помех на оборудование, не подлежащее испытаниям, которое может быть подключено к тем линиям электропитания, что и ИТС, а также для обеспечения достаточного нагрузочного сопротивления для МИП, с тем, чтобы на испытуемые линии мог быть подан импульс установленной формы. Устройства связи/развязки не должны существенно влиять на параметры ИГ, например, на допустимые отклонения выходного напряжения и тока.

Электромагнитная обстановка при прокладке соединительных кабелей вне помещений вблизи силовых кабелей использовании многопроводных кабелей, содержащих цепи электронного и электротехнического оборудования, характеризуемая следующим:

• Технические средства имеют общую систему заземления с энергетическими установками, подверженную значительным помеховым воздействиям, создаваемым энергетическими установками и молниевыми разрядами;

• Токи от коротких замыканий, операций переключения в сетях электропитания и молниевых разрядов могут достигать в системе заземления, нескольких килоампер;

• Электронные устройства и другое оборудование имеют общую систему электропитания;

• Кабели к высоковольтному оборудованию приложены вне помещения.

Программа испытаний

При разных схемах подключения испытать устройство (вольтметр цифровой) на устойчивость к микросекундным импульсным помехам. Схемы испытаний: фаза-ноль(положительная полярность), фаза-ноль (отрицательная полярность), фаза-земля (положительная полярность).

Установлена степень жесткости испытания – класс 4.

1 эксперимент

Положительная полярность

Фаза – ноль

Амплит. кВ	0,5	1	2	4	4	2	1	0,5
Фаза,°	30	30	30	30	150	150	150	150
Сеть	1
, кОм	350	350	350	350	350	350	350	350
N	1

N- количество импульсов.

2 эксперимент

Отрицательная полярность

Фаза – ноль

Амплит. кВ	0,5	1	2	4	4
Фаза,°	90	90	90	30	180
Сеть	1
, кОм	350	350	350	350	350
N	1					3

3 эксперимент

Положительная полярность

Фаза – земля

Амплит. кВ	0,5
Фаза,°	270
Сеть	1
, кОм	350
N	1

Выводы:

В лабораторной работе испытывали приборную технику на устойчивость к микросекундным импульсным помехам. Лабораторная установка включала испытательный генератор (ИГ) МИП, устройство связи и развязки, а также испытуемое техническое средство (вольтметр цифровой), над которым и производилось испытание. Определили класс жесткости испытания 4- для испытуемого устройства. МИП большой энергии вызываются перенапряжениями, возникающими в результате коммутационных переходных процессов и молниевых разрядов. Коммутационные переходные процессы могут быть вызваны: переключениями в мощных системах электроснабжения; резонансными колебаниями напряжения в эл. сетях, обусловленными работой таких переключающихся приборов, как тиристор; короткие замыкания на землю и дуговые разряды в электрических установках. В ходе испытания оборудования, изменяли фазу импульсов, амплитуду импульсов, количество импульсов, но испытуемое устройство всегда показывало одно значение сопротивления равное 350 кОм, из этого можно заключить, что устройство прошло испытания на устойчивость к микросекундным импульсным помехам в рамках класса жесткости 4.