Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

LS-Sb89582

.pdf
Скачиваний:
1
Добавлен:
13.02.2021
Размер:
315.85 Кб
Скачать

5. Для нахождения длины волны λx неизвестной линии x выбирается ближайшая к ней стандартная линия с известной длиной волны λст. Такой эталонной линией в данном случае является линия CuKβ эталона с длиной волны λKβ. Тогда длина волны λx неизвестной линии может быть вычислена по формуле

lx = lст ± D × Lx ,

(3.2)

где D – обратная линейная дисперсия; Lx – расстояние между стандартной и неизвестной линиями спектра, мм.

Обратной линейной дисперсией D называется интервал длин волн, при-

ходящийся на 1 мм спектрограммы (масштаб спектрограммы). Эта величина определяется по стандартным линиям спектра CuKβ и CuKα. Если интервал длин волн между линиями CuKβ и CuKα составляет Δλ0, а расстояние по спектрограмме L0, то обратная дисперсия имеет вид

D =

 

 

Δλ0

 

 

.

(3.3)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L0

 

При измерении расстояний L0 и Lx может быть допущена ошибка, кото-

рой соответствует ошибка в определении длины волны Δλx. Следовательно,

длина волны неизвестной линии должна находиться в пределах от значения

λx до λx ± Δλx.

6. Расшифровку спектрограммы следует проводить в следующей после-

довательности:

6.1.Определить положение спектральных линий (Kα и Kβ) стандартного вещества (меди).

6.2.Измерить расстояние между линиями Kα и Kβ стандартного веще-

ства и рассчитать Δλ0, пользуясь табл. 3.1 и формулой (3.3).

6.3. Измерить положение искомой линии (λx) относительно положения спектральных линий (λCuKα и λCuKβ) стандартного вещества. Следует учесть, что λKα > λKβ.

6.4. По формуле (3.2) вычислить λx линий неизвестных элементов.

21

6.5. Выписать из табл. 3.1 линии с длинами волн λтабл, ближайшие к экспериментально найденным значениям λx ср, и наименования линий

(например, λFeKα). Как показывает практика, расхождение между λтабл и

λx ср должно составлять не более 0.0009 нм.

7. Если расхождение превышает 0.0009 нм, следует проверить возмож-

ность присутствия на спектрограмме линий второго порядка отражения

K-серии (n = 2), а также линий L-серии (n = 1).

Таблица 3.1

Длины волн линий K-серии излучения некоторых химических элементов

 

Z

 

 

Элемент

 

 

Uвозб, кВ

 

 

λKα, нм

 

λKβ, нм

 

25

 

 

 

Mn

 

6.54

 

 

 

0.2104

 

0.1910

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

26

 

 

 

Fe

 

7.10

 

 

 

0.1937

 

0.1757

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

27

 

 

 

Co

 

7.71

 

 

 

0.1790

 

0.1621

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

28

 

 

 

Ni

 

8.29

 

 

 

0.1659

 

0.1500

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

29

 

 

 

Cu

 

8.86

 

 

 

0.1542

 

0.1392

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

30

 

 

 

Zn

 

9.65

 

 

 

0.1436

 

0.1295

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

31

 

 

 

Ga

 

10.4

 

 

 

0.1341

 

0.1208

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

32

 

 

 

Ge

 

11.1

 

 

 

0.1255

 

0.1129

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

33

 

 

 

As

 

11.9

 

 

 

0.1177

 

0.1057

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

34

 

 

 

Se

 

12.7

 

 

 

0.1106

 

0.0992

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

35

 

 

 

Br

 

13.5

 

 

 

0.1041

 

0.0933

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

36

 

 

 

Kr

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

37

 

 

 

Rb

 

15.2

 

 

 

0.0927

 

0.0828

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

38

 

 

 

Sr

 

16.1

 

 

 

0.0876

 

0.0784

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

39

 

 

 

Y

 

17.0

 

 

 

0.0830

 

0.0747

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

40

 

 

 

Zr

 

18.0

 

 

 

0.0787

 

0.0702

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

41

 

 

 

Nb

 

19.0

 

 

 

0.0748

 

0.0666

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

42

 

 

 

Mo

 

20.0

 

 

 

0.0711

 

0.0632

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

74

 

 

 

W

 

 

(L-серия)

 

 

(линия Lα1)

 

0.1476

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 3.2

 

 

 

 

 

 

 

Результаты анализа

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Номер

 

Lx, мм

 

D,

 

λx, нм

 

λx ср,

λтабл,

Наименование

λрасч,

 

Отсчет по

 

Отсчет по

 

линии

 

 

нм/мм

 

нм

нм

 

линии

нм

 

CuKα

CuKβ

 

CuKα

CuKβ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

22

8. Результаты расшифровки занести в табл. 3.2. Расшифровку можно

считать законченной только тогда, когда определены все линии спектро-

граммы.

3.4. Содержание отчета

1.Цель работы.

2.Основные теоретические положения, расчетные формулы и данные для расчета, схема установки (ход лучей в спектрометре).

3.Расшифровка спектрограммы (по форме табл. 3.2).

4.Результаты расчетов по закону Мозли для расшифрованных характе-

ристических линий.

5. Выводы, в которых должны быть описаны полученные результаты,

проведен сравнительный анализ полученных результатов с теоретическими положениями, сделаны выводы по составу образца.

Лабораторная работа № 4

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ ФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ АНАЛИЗ

Цель работы – ознакомление с аппаратурой и методами проведения ко-

личественного рентгеноспектрального флуоресцентного анализа (КРСФА).

4.1. Общие положения

КРСФА основан на том, что интенсивность аналитической линии K- или

L-серии зависит от концентрации анализируемого элемента в исследуемом образце. На практике широко используются два метода: внешнего и внутрен-

него стандартов. В методе внутреннего стандарта интенсивность аналитиче-

ской линии сравнивается с интенсивностью какой-либо линии другого эле-

мента, который добавляется в исследуемый образец в известном количестве.

Недостатком этого способа является то, что анализируемый образец должен быть препарирован (т. е. должен быть добавлен элемент сравнения в извест-

ном количестве), что снижает экспрессность анализа. В методе внешнего стандарта интенсивность аналитической линии сравнивается с интенсивно-

стью той же линии от стандартного образца аналогичного состава с извест-

23

ной концентрацией анализируемого элемента. Таким образом, устанавлива-

ется зависимость интенсивности от весовой концентрации анализируемого элемента, которая является сложной функцией элементного состава образца.

Анализ с помощью системы уравнений связи. Если анализируемая проба состоит из m элементов и, соответственно, скорость счета квантов, ко-

торая характеризует интенсивность аналитической линии, для каждого эле-

мента равна N1, N2, …, Nm, то концентрацию любого из элементов Сi можно

определить из системы уравнений

α −

1

 

C + α

C + ... + α

C

 

= 0;

 

 

 

11

 

N1

1 12 2

 

 

1m m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

α21C1

+ α22

 

C2 + ...

+ α2mCm

= 0;

 

 

 

 

 

 

N2

 

 

 

 

 

 

 

 

(4.1)

...................................................................

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

α

C + α

C + ... +

α

mm

 

1

 

C

= 0

 

 

 

 

m1 1

 

 

 

m2 2

 

 

 

 

Nm

 

 

m

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и дополнительного уравнения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

C1 + C2 + ... + Cm = 1,

 

 

 

 

(4.2)

где αis – коэффициенты, показывающие, как влияет присутствие в пробе эле-

мента s на интенсивность флуоресценции элемента i: если s = i, то αii = 1/Ni

величина, обратная скорости счета от пробы, полностью состоящей из элемента i. Число неизвестных в системе уравнений (4.1) равно числу компонентов пробы m. Заменив в (4.1) одно из уравнений дополнительным уравнением (4.2), нужно решить полученную систему уравнений относительно концентраций элементов C1, C2, …, Cm.

Коэффициенты α в системе уравнений (4.1) определяются экспериментально. Для этой цели следует использовать бинары (смесь элементов i и s) с известными концентрациями Ci и Cs. Система уравнений решается в виде

 

α

 

1

C + α

 

C

 

= 0;

 

ii

 

 

is

s

 

 

Ni

 

i

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(4.3)

 

 

 

 

 

1

 

C

 

 

 

 

 

 

α

 

 

 

+ α

 

C = 0,

 

ss

 

 

s

si

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i

 

 

 

 

 

Ns

 

 

 

 

 

 

 

 

24

где Ni и Ns – скорость счета квантов флуоресценции в бинаре для аналитиче-

ских линий элементов i и s. Так как число коэффициентов α в (4.1) равно т(т – 1), а при помощи бинара определяют два коэффициента αis и αsi, то число бинаров должно быть равно 1/2m(m – 1) . Этот метод позволяет проводить анализ для проб с сильным межэлементным влиянием.

Анализ с поправками на поглощение аналитической линии в пробе

ведется по аналитическому графику NA = N(CA), где NA – скорость счета квантов флуоресценции элемента А; CA – его концентрация. Аналитический график строится при помощи набора стандартов. Концентрацию определяют в предположении, что интенсивность аналитической линии, зарегистрированной от пробы, равна интенсивности той же линии от некоторого стандарта. Вследствие различия состава стандарта и пробы концентрация Cj, найденная по аналитическому графику, не будет равна истинному содержанию Сх эле-

мента в пробе. Истинную концентрацию с учетом поглощения аналитической линии в пробе следует определять как

 

 

= 0.75C

 

μx

 

C

 

 

m

,

x

j

 

 

 

 

μ j

 

 

 

 

 

m

 

где μmx , μmj – массовые коэффициенты поглощения аналитической линии в пробе и стандарте соответственно. Таким образом, для реализации этого метода необходимо определить массовые коэффициенты поглощения аналитической линии, которые для стандартов нужно рассчитать, а для пробы измерить экспериментально.

Анализ с введением арифметических поправок. Если при анализе элемента А в пробе присутствует мешающий элемент В (с атомным номером (ZB > Z A + 2), то соотношение (4.3) не выполняется. Интенсивность флуо-

ресценции элемента А в пробе возрастает за счет дополнительного возбуждения его атомов флуоресцентным излучением атомов элемента В. В этом слу-

чае следует использовать соотношение

CA = βN A (1 − γCB ),

где β – котангенс угла наклона аналитического графика NA = N(CA), полу-

ченного на наборе стандартов; γ – коэффициент, учитывающий дополнительное возбуждение атомов А, который не зависит от соотношения концентраций элементов А и В. Коэффициент γ может быть определен по специальному стандарту, содержащему элементы А к В в известном количестве. Этот метод

25

может быть использован и при наличии эффекта избирательного поглощения

аналитической линии элемента А, которое возможно, если между краем по-

глощения элемента А и его аналитической линией присутствует край погло-

щения элемента В. Этот эффект можно рассматривать как отрицательное воз-

буждение, и коэффициент γ в этом случае будет отрицательным.

 

4.2. Краткое описание спектрометра СПАРК-1

Спектрометр портативный аналитический коротковолновый СПАРК-1

предназначен

для рентгеноспектрального флуоресцентного анализа химиче-

ских элементов от 22 Ti до 38 Sr по K-серии и от 56 Ва до 92 U по L-серии в

твердых и порошкообразных пробах.

Функциональная схема спектрометра представлена на рис. 4.1. Высокое

напряжение, генерируемое высоковольтным источником 1, подается на рент-

геновскую трубку 2. Рентгеновское излучение, возникающее на прострельном

аноде трубки, попадает на исследуемую пробу 3 и возбуждает в ней флуорес-

1

 

 

 

центное излучение. Гониометрическое

7

8

9

устройство 6 обеспечивает настройку

 

2

5

 

 

рентгенооптической схемы по методу

 

4

10

11

Иогансона на определенную длину вол-

 

 

 

 

волны излучения или автоматическое

3

6

 

 

сканирование по спектру. Отраженное

Рис. 4.1. Функциональная схема

 

от кристалла-анализатора 4 излучение

спектрометра СПАРК-1

 

регистрируется блоком детектирования

 

 

 

 

5, в котором кванты излучения преобразуются в импульсы напряжения. Ча-

стота следования импульсов определяется интенсивностью излучения, попа-

дающего в блок детектирования. Импульсы поступают на вход усилителя дис-

криминатора 7, на выходе которого они выравниваются по амплитуде и дли-

тельности. Регистрация импульсов возможна двумя способами: при сканиро-

вании по спектру при помощи интенсиметра 10 и самопишущего потенцио-

метра 11, записывающего на ленте спектр флуоресцентного излучения образ-

ца; при измерении интенсивности флуоресцентного излучения фиксированной

длины волны с помощью пересчетного устройства 8 и цифрового блока инди-

кации 9, отображающего количество квантов флуоресцентного излучения, за-

регистрированное блоком детектирования за заданное время экспозиции. Пер-

вый способ используется при исследовании элементного состава образцов по

спектрам флуоресценции, второй –

при определении интенсивности аналити-

 

 

 

 

26

ческой линии анализируемого элемента. Спектрометр СПАРК-1 состоит из трех блоков: блока регистрации, высоковольтного блока, спектрометра.

Настройка спектрометра на необходимую длину волны осуществляется вращением штурвала (находится на спектрометре слева). Длина волны, на которую настроен спектрометр, отображается механическим счетчиком в ангстремах (Å).

Загрузка образцов осуществляется вращением штурвала, находящегося на спектрометре справа. Имеется четыре загрузочных люка. Номер люка, находящегося под загрузкой, нанесен слева от него цифрой черного цвета; при этом в спектрометре под излучением находится люк, номер которого нанесен справа цифрой красного цвета.

В работе используются образцы, представляющие собой наборы стандартов с известным содержанием никеля и железа, а также смеси, состоящие из никеля и железа. В качестве наполнителя используется борная кислота (Н3В2О3). Маркировка нанесена с обратной стороны образцов.

4.3.Порядок выполнения работы

1.Нажать клавишу «СЕТЬ» на блоке спектрометра, нажать клавишу «СЕТЬ» на высоковольтном блоке. Дать прогреться аппарату не менее 5 мин. Нажать клавишу «Высокое ВКЛ» на высоковольтном блоке. При этом переключатель «Напряжение» должен находиться в положении 12 кВ.

2.Выставить счетчик спектрометра на длину волны Kα – флуоресцент-

ного излучения никеля λNiK α = 1.655 Å.

3.На блоке регистрации установить экспозицию «10 сек.», режимы «I» и «ручн». На высоковольтном блоке установить напряжение «18 кВ».

4.Загрузить в спектрометр образец 100 %-го Ni.

5.Нажать клавишу «ПУСК» на блоке регистрации. После этого происходит счет квантов флуоресценции никеля, попадающих в детектор спектрометра в течение времени экспозиции. Записать показания количества квантов. Изменяя настройку спектрометра с шагом ±0.001 Å, повторить измерение количества квантов флуоресценции до получения максимального значения количества регистрируемых квантов.

6.Установить счетчик спектрометра на значение λ, при котором количество регистрируемых квантов максимально (по результатам п. 5).

7.Нажать клавишу «ПУСК» на блоке регистрации. По окончании счета снять показания количества квантов флуоресценции с цифрового индикатора.

27

Повторив измерения 3 раза, найти среднее арифметическое и, разделив на время экспозиции, записать в табл. 4.1.

Таблица 4.1

Результаты измерения интенсивности излучения никеля в образцах

Образец

 

 

 

Ni, %

 

 

 

NF1

NF2

NF3

100

20

10

 

6

3

1

0.5

 

 

 

 

 

Скорость счета, имп./с

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

8.Загрузить в спектрометр (не перенастраивая его) следующий образец из числа указанных в табл. 4.1.

9.Повторить пп. 7–8 для всех образцов, указанных в табл. 4.1.

10.Выставить счетчик спектрометра на длину волны Kα – флуорес-

центного излучения железа λFeK α = 1.933 Å.

11.3агрузить в спектрометр образец 100 %-го Fe.

12.Повторить пп. 7–8, используя образцы, содержащие железо. Результаты занести в табл. 4.2.

Таблица 4.2

Результаты измерения интенсивности излучения железа в образцах

Образец

 

 

 

Fe, %

 

 

 

NF1

NF2

NF3

100

20

10

 

6

3

1

0.5

 

 

 

 

 

Скорость счета, имп./с

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

13.Нажать клавишу «Высокое ВЫКЛ» на высоковольтном блоке.

14.Нажать клавишу «СЕТЬ» на высоковольтном блоке.

15.Нажать клавишу «ВЫКЛ» на блоке спектрометра.

4.4. Порядок расчета концентраций с помощью уравнений связи

1. Записать систему уравнений связи для образца, состоящего из двух элементов, используя обозначения αFeNi, αNiFe, CFe, CNi, NNi0 , NFe0 , NNi, NFe

( NNi0 , NFe0 – значения для 100 %-х образцов).

2.Вывести формулы для расчета коэффициентов влияния с использованием указанных в п. 1 обозначений.

3.Рассчитать коэффициенты влияния αFeNi, αNiFe. Для этого в качестве

стандартного бинара использовать NF1, в котором CNi = 15.7 %; CFe = 9.8 %. 4. Рассчитать концентрации никеля и железа в образцах NF2, NF3. До-

полнительные уравнения:

для образца NF2: СFe + CNi = 24 %;

для образца NF3: СFe + CNi = 26.9 %.

28

4.5. Порядок расчета концентраций с поправками на поглощение

1. Построить аналитический график NNi = N(CNi) с диапазоном измене-

ния СNi от 0.5 до 100 %.

2. По аналитическому графику определить концентрацию Cj в образцах

NF1, NF2, NF3. Результаты занести в табл. 4.3.

 

 

 

 

Таблица 4.3

 

Результаты расчета концентрации никеля

 

 

 

 

 

 

Образец

μmx , см2

μmj , см2

Cj, %

Cx, %

NF1

58.3

 

 

15.7

NF2

66.9

 

 

 

NF3

50.9

 

 

 

3. Определить для каждого образца μ j

по формуле

 

 

 

 

 

 

m

 

 

μmj = C jμmNi + (1 − C j )μmH3B2O3 ,

где μNi = 61 см2/г; μH3B2O3 = 13.1 см2/г. Результаты записать в табл. 4.3.

m

m

 

 

 

 

 

 

4. Истинную концентрацию никеля определить по формуле

 

 

 

= αC

 

μx

 

 

C

 

 

m

,

 

x

j

 

 

 

 

 

 

μ j

 

 

 

 

 

 

 

m

 

где μx

приведены в табл. 4.3; α –

нужно определить, зная истинную кон-

m

 

 

 

 

 

 

 

центрацию никеля в образце NF1 (приведена в табл. 4.3).

4.6.Порядок выполнения расчета концентраций

свведением арифметических поправок

1.Построить аналитический график NFe = N(CFe) c диапазоном измене-

ния CFe от 0.5 до 100 %.

2. Считая зависимость CFe = βNFe линейной, по графику определить ко-

эффициент β.

3. Зная концентрации в образце NF1: CFe = 9.8 %; СNi = 15.7 %, найти коэффициент γ из формулы CFe = βNFe (1 − γCNi ).

4. Используя полученные значения β и γ, рассчитать концентрацию железа для образцов NF2, NF3.

29

4.7. Содержание отчета

1.Цель работы.

2.Краткое описание схемы спектрометра СПАРК-1.

3.Результаты исследования (таблицы, графики).

4.Расчет концентрации элементов в анализируемых пробах.

5.Сводная таблица, с расчетами концентраций тремя способами.

6.Выводы, в которых должно быть проведено сравнение результатов, полученных по разным методикам, указаны причины погрешностей.

Содержание

 

Лабораторная работа № 1. Основы энергодисперсионного

 

анализа. Устройство и работа энергодисперсионного анализатора ..................

3

1.1. Основные сведения...................................................................................

3

1.2. Описание лабораторной установки ........................................................

5

1.3. Построение градуировочной зависимости. Оценка

 

параметров градуировочной зависимости.............................................

7

1.4. Порядок выполнения работы...................................................................

8

1.5. Обработка результатов градуировки: построение

 

градуировочной зависимости................................................................

10

1.6. Содержание отчета .................................................................................

10

Лабораторная работа № 2. Исследование аналитических характеристик

 

при анализе в растворе малых содержаний вещества.......................................

10

2.1. Основные сведения ................................................................................

10

2.2. Описание лабораторной установки......................................................

12

2.3. Порядок выполнения работы ................................................................

13

2.4. Обработка результатов ..........................................................................

15

2.5. Содержание отчета.................................................................................

16

Лабораторная работа № 3. Кристалл-дифракционный

 

рентгеноспектральный анализ .............................................................................

16

3.1. Основные теоретические положения...................................................

16

3.2. Описание лабораторной установки......................................................

19

3.3. Порядок выполнения работы................................................................

20

30

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]