43. Атомдық - күшті микроскопия қалай жүзеге асырылады?

Сканирлеуші зондты микроскоптың кең көп таралған түрлерінің бірі. 1985 жылы Г.Бинниг қатты дене бетіндегі атом аралық тебілу күштерін және зонд тарпынан көрстілген қысымды бағалап, зонд пен үлгі бетінің бұзылмайтын балансының мүмкіндігін көрсетті. Ал 1986 жылы Г.Бинниг, Х.Гербер және С.Квайт атомды күшті микроскоптың алғашқы нұсқасын ойлап шығарды.

Контилевердің өткір ұшы үлгі және бетпен тікелей контактіде болады. Сканирлеу, қайтымды байланыс жүйесі кантилевердің тұрақты майысу өлшемімен байланысып тұрғанда тұрақты күш режимінде орындалады. Атомды-күштік микроскоптың «жартылай контактілі» жұмыс режимі: Жартылай контактілі жұмыс режимінде де кантилевердің ауытқуы туындайды. Ауытқудың төменгі жартылай периодында кантилевер үлгінің бетін жанап өтеді. Мұндай әдіс толық контактілі және толық контактілі емес жұмыс режимдерінің аралық әдісі болып табылады. Артықшылықтары (растрлы электронды микроскоппен салыстырғанда):Беттің шынайы үшөлшемді бейнесін береді; Ток өткізбейтін беттерді де зерттей алады; Ауада немесе сұйықта жұмыс істей алады; Рұқсат етуі жоғары. Кемшіліктері: Сканирлеу өрісінің размерінің кіші болуы; Бейненің сапасы зондтың қисықтық радиусына тәуелді (егер зондты дұрыс таңдамасақ, бейне анық, сапалы болып шықпайды); Үлгі бетін сканирлеуге көп уақыт жұмсайды.

Атомды-күштік микроскопия әдісі микроскоптың өлшеуші элементі – ине (сезімтал элементтің көлемі 1-10 нм) және зерттелетін макромолекуланың беткейін сканирлеу арасындағы Ван-дер-Ваальс күштерін мониторинг жасауына негізделген. Байланысуын талдауда макромолекуланың суретте көрініс алуға болады, оның көлемін анықтауға және ауру маркерлерімен зонд молекулаларымен құралған кешенді табу: мысалы, фермент-субстрат, антиген-антидене және т.б. кешендерді.

Нанотехнология in vitro - дағыдиагностикада екі бағытта дамиды:

- нанобөлшектерді биологиялық молекулалар маркерлері ретінде қолдану;

- инновациялық нанотехнологиялық өлшеу тәсілдерін қолдану.

44.Атомдық - күштік микроскопия қалай жүзеге асырылады?

Контилевердің өткір ұшы үлгі және бетпен тікелей контактіде (байланыста) болады. Сканирлеу, қайтымды байланыс жүйесі кантилевердің тұрақты майысу өлшемімен байланысып тұрғанда тұрақты күш режимінде орындалады. Атомды-күштік микроскоптың «жартылайконтактілі» жұмыс режимі: Жартылайконтактілі жұмыс режимінде де кантилевердің ауытқуы туындайды. Ауытқудың төменгі жартылай периодында кантилевер үлгінің бетін жанап өтеді. Мұндай әдіс толық контактілі және толық контактілі емес жұмыс режимдерінің аралық әдісі болып табылады. Атомды- күштік микроскоптың артықшылықтары мен кемшіліктері. Артықшылықтары (растрлы электронды микроскоппен салыстырғанда):Беттің шынайы үшөлшемді бейнесін береді; Ток өткізбейтін беттерді де зерттей алады;Ауада немесе сұйықта жұмыс істей алады;Рұқсат етуі жоғары.Кемшіліктері: Сканирлеу өрісінің размерінің кіші болуы;Бейненің сапасы зондтың қисықтық радиусына тәуелді(егер зондты дұрыс таңдамасақ, бейне анық, сапалы болып шықпайды); Үлгі бетін сканирлеуге көп уақытжұмсайды.

Атомды-күштік микроскопия әдісі микроскоптың өлшеуші элементі – ине (сезімтал элементтің көлемі 1-10 нм) және зерттелетін макромолекуланың беткейін сканирлеу арасындағы Ван-дер-Ваальс күштерін мониторинг жасауына негізделген. Байланысуын талдауда макромолекуланың суретте көрініс алуға болады, оның көлемін анықтауға және ауру маркерлерімен зонд молекулаларымен құралған кешенді табу: мысалы, фермент-субстрат, антиген-антидене және т.б. кешендерді.

Нанотехнология in vitro-дағыдиагностикада екі бағытта дамиды:

- нанобөлшектерді биологиялық молекулалар маркерлері ретінде қолдану;

- инновациялық нанотехнологиялық өлшеу тәсілдерін қолдану.