- •1 Корпускулярно-волновой дуализм электромагнитного излучения.
- •2. Стационарное уравнение Шредингера.
- •3 Нестационарное уравнение Шредингера(общее).
- •4. Строение атомов.
- •5. Методы расчета электронной структуры атомов.
- •6. Методы расчета электронной структуры молекул.
- •7. Зонная теория твердого тела.
- •8. Зонная структура металлов.
- •9.Зонная структура полупроводников.
- •10.Зонная структура диэлектриков.
- •11. Собственная проводимость полупроводников.
- •12. Донорные и акцепторные примеси в полупроводниках.
- •13. Термоэлектрические явления в металлах и полупроводниках.
- •14. Сверхпроводимость.
- •15.Электронно-дырочный переход
- •16. Вольтамперная характеристика p-n-перехода.
- •17. Виды пробоев р-n-перехода.
- •18. Контакт между полупроводниками одного типа проводимости.
- •19. Контакт «металл - полупроводник».
- •20. Физические процессы в структуре с двумя переходами.
- •21. Физические принципы работы полупроводниковых диодов
- •22. Выпрямительные диоды и их основные параметры.
- •23. Импульсные диоды и их основные параметры
- •24 Туннельные диоды и их основные харак-ки
- •25. Обращенные диоды и их основные параметры.
- •26. Диоды Шоттки и их основные параметры.
- •27. Режимы работы биполярных транзисторов.
- •28. Основные параметры биполярных транзисторов.
- •29. Схемы включения биполярных транзисторов.
- •30. Полевые транзисторы и схемы их включения.
- •31. Статические характеристики полевых транзисторов.
- •32. Применение полупроводниковых диодов и транзисторов.
- •33 Интегральные микросхемы
- •34 Фотоэлектрические явления в полупроводниках
- •35. Фоторезисторы и их основные параметры.
- •36 Фотодиоды и их параметры
- •37,38. Лавинные фотодиоды и их применение.
- •39. Многоэлементные фотоприемники.
- •40. Фотоэлементы.
- •41. Фотоэдс.Солнечные батареи.
- •42 Явление радиоактивности
- •43 Α , β, γ-излучение
- •44 Дозы излучения и их единицы
- •45 Активность радиоактивного ве-ва.
- •46 Биологическое действие ионизирующего излучения.
- •47 Физические принципы работы приборов дозиметрического контроля
- •48.Приборы на туннельном эффекте
- •49. Приборы на квантовых ямах
- •50. Низкоразмерные системы
- •51. Квантовые точки
- •52. Квантовые шнуры
- •53.Квантовые плёнки
- •54. Устройства молекулярной электроники : диоды , транзисторы, оптические сенсоры.
- •55.Одноэлектронные транзисторы
- •56.Физические принципы работы оптического волокна
- •Одномодовые оптические волокна
- •Многомодовые типы оптических волокон
- •59 Явление люминесценции в п/п.
- •Инжекционные светодиоды с р-n-переходами
- •61. Светодиоды с антистоксовым люминофором
- •62,63 Источники света с порошкообразным и пленочным
- •64 Когерентные источники и усилители оптического излучения
- •65. Лазеры и их основные параметры.
- •66. Применение лазеров.
- •67. Фотоприемники, основанные на внешнем фотоэффекте.
- •68. Фотоэлектронные умножители.
- •69 Методы счета фотонов
- •72. Сверхпроводниковые фотоприемники для счета фотонов.
- •74. Однофотонные источники излучения.
- •75. Методы регистрации оптических сигналов.
62,63 Источники света с порошкообразным и пленочным
Электролюминофорами
Светодиоды являются почти точечными источниками света (площадь излуча-ющей поверхности не превышает 1 мм2). Электролюминесцентные источники света большой площади могут быть получены с помощью слоев порошкообразных люминофоров толщиной около 50 мкм или пленок толщиной около 1 мкм.
В качестве люминесцирующего вещества обычно используют сульфид цинка (ширина запрещенной зоны 3,7 эВ), позволяющий получить люминесценцию в видимой области при введении ряда примесей, например, меди (зеленое излучение), серебра (синее) и марганца (желто-оранжевое). Применяется также смешанное основание ZnS - ZnSe. В подобных материалах не удается получить р-n-переходы с инжекционной люминесценцией, поэтому возбуждение свечения производят сильным полем в поверхностных барьерах, включенных в запирающем направлении, или в микроскопических барьерах на границе ZnS с вкраплениями сульфида меди, которые присутствуют в зернах люминофоров с большим содержанием меди.
Для того чтобы дырки, образующиеся при ударной ионизации атомов кри-сталлической решетки ускоренными в электрическом поле электронами, не выходили в металлический электрод и не пропадали с точки зрения получения видимого света, зерна порошка размером ~ 10 мкм распределяют в слое твердого диэлектрика, а пленку люминофора изолируют от обоих электродов тонкими слоями диэлектрика.
Процессы в одиночном зерне люминофора - структура из двух диэлектриков Д и люминофора П между ними в присутствии напряжения. Электроны, освобождающиеся из поверхностных уровней на левой границе пленки, ускоряются сильным полем и совершают ионизации центров свечения (переход 4), атомов основного вещества (переход 5) или вызывают внутрицентровый переход 7. Созданные дырки отводятся электрическим полем к левой границе пленки, а электроны – к правой границе. После изменения направления поля дырки могут вернуться в объем зерна и захватиться центрами люминесценции, а возвращающиеся электроны − рекомбинировать на этих центрах с излучением. В этот (второй) полупериод произойдет ионизация у правой стороны зерна.
Таким образом, схема энергетических зон на «качается» с частотой приложенного к источнику переменного напряжения, ионизация попеременно происходит на левом и правом краях зерна или пленки, возникает поток света, пульсирующий с частотой 2f, где f - частота приложенного к источнику переменного напряжения. Если примеси, создающие центры рекомбинации, отсутствуют, а пленка ZnS содержит только примесь, в которой происходят внутрицентровые переходы (7), то под действием поля происходит возбуждение примесных атомов и одновременно возникают обратные переходы с излучением (8), не зависящие от напряжения. Именно такой тип излучения используют в тонкопленочных излучателях на основе ZnS:Мn. Концентрация марганца в ZnS может быть сделана настолько высокой (~ 1%), что вероятность столкновений электронов с атомами Мn оказывается достаточно большой. Если толщина пленки мала (меньше 1 мкм), то электрическое поле в ней почти однородно, оно имеет при внешнем напряжении U = 100 В напряженность порядка 1·106 В/см, что приводит к интенсивному возбуждению атомов Мn и решетки. Пробой структуры предупреждается слоями диэлектриков. Яркость подобных тонкопленочных излучателей достигает 103 кд/м2 при U = 200 В и f = 1 кГц, что достаточно для их использования в различных устройствах отображения ин-формации.
Яркость порошковых источников света (их часто называют электролюминес-центными панелями) равна примерно 50 кд/м2 при напряжении U = 150 В, частоте f = 1 кГц и комнатной температуре. Выход ηke ≈ 10 %, срок службы (время, в тече-ние, которого яркость падает до половинного значения) t0,5 ≈ 2·103 часов. Меньший срок службы по сравнению с пленочными структурами на основе ZnS:Мn связан с присутствием меди, ионы которой диффундируют в электрическом поле и изменяют свойства барьеров, в которых возбуждается электролюминесценция. Вследствие этого t0,5 уменьшается с ростом напряжения U и особенно сильно с ростом температуры. Длительность затухания свечения после выключения напряжения меньше 1·10–3 с (оно связано с временем формирования области пространственного заряда и вероятностью внутрицентровых переходов). Яркость порошковых и пленочных об-разцов растет с повышением частоты и амплитуды напряжения и приближенно может быть представлена выражением L=L1 (f) Un
Значение п у порошковых излучателей равно 3 – 4, а у пленочных 10 – 15; функция L1 (f) обычно растет с увеличением частоты f примерно линейно, а при частотах в несколько килогерц выходит на насыщение. Это связано как с зависимостью вероятности излучательных рекомбинаций Р от частоты, так и с тем, что за время импульсов напряжения различной длительности происходит одно и то же число ионизаций (оно ограничивается числом ускоряемых электронов и полем поляризации), и рост числа импульсов в секунду означает и рост средней яркости источников света.
