- •1 Корпускулярно-волновой дуализм электромагнитного излучения.
- •2. Стационарное уравнение Шредингера.
- •3 Нестационарное уравнение Шредингера(общее).
- •4. Строение атомов.
- •5. Методы расчета электронной структуры атомов.
- •6. Методы расчета электронной структуры молекул.
- •7. Зонная теория твердого тела.
- •8. Зонная структура металлов.
- •9.Зонная структура полупроводников.
- •10.Зонная структура диэлектриков.
- •11. Собственная проводимость полупроводников.
- •12. Донорные и акцепторные примеси в полупроводниках.
- •13. Термоэлектрические явления в металлах и полупроводниках.
- •14. Сверхпроводимость.
- •15.Электронно-дырочный переход
- •16. Вольтамперная характеристика p-n-перехода.
- •17. Виды пробоев р-n-перехода.
- •18. Контакт между полупроводниками одного типа проводимости.
- •19. Контакт «металл - полупроводник».
- •20. Физические процессы в структуре с двумя переходами.
- •21. Физические принципы работы полупроводниковых диодов
- •22. Выпрямительные диоды и их основные параметры.
- •23. Импульсные диоды и их основные параметры
- •24 Туннельные диоды и их основные харак-ки
- •25. Обращенные диоды и их основные параметры.
- •26. Диоды Шоттки и их основные параметры.
- •27. Режимы работы биполярных транзисторов.
- •28. Основные параметры биполярных транзисторов.
- •29. Схемы включения биполярных транзисторов.
- •30. Полевые транзисторы и схемы их включения.
- •31. Статические характеристики полевых транзисторов.
- •32. Применение полупроводниковых диодов и транзисторов.
- •33 Интегральные микросхемы
- •34 Фотоэлектрические явления в полупроводниках
- •35. Фоторезисторы и их основные параметры.
- •36 Фотодиоды и их параметры
- •37,38. Лавинные фотодиоды и их применение.
- •39. Многоэлементные фотоприемники.
- •40. Фотоэлементы.
- •41. Фотоэдс.Солнечные батареи.
- •42 Явление радиоактивности
- •43 Α , β, γ-излучение
- •44 Дозы излучения и их единицы
- •45 Активность радиоактивного ве-ва.
- •46 Биологическое действие ионизирующего излучения.
- •47 Физические принципы работы приборов дозиметрического контроля
- •48.Приборы на туннельном эффекте
- •49. Приборы на квантовых ямах
- •50. Низкоразмерные системы
- •51. Квантовые точки
- •52. Квантовые шнуры
- •53.Квантовые плёнки
- •54. Устройства молекулярной электроники : диоды , транзисторы, оптические сенсоры.
- •55.Одноэлектронные транзисторы
- •56.Физические принципы работы оптического волокна
- •Одномодовые оптические волокна
- •Многомодовые типы оптических волокон
- •59 Явление люминесценции в п/п.
- •Инжекционные светодиоды с р-n-переходами
- •61. Светодиоды с антистоксовым люминофором
- •62,63 Источники света с порошкообразным и пленочным
- •64 Когерентные источники и усилители оптического излучения
- •65. Лазеры и их основные параметры.
- •66. Применение лазеров.
- •67. Фотоприемники, основанные на внешнем фотоэффекте.
- •68. Фотоэлектронные умножители.
- •69 Методы счета фотонов
- •72. Сверхпроводниковые фотоприемники для счета фотонов.
- •74. Однофотонные источники излучения.
- •75. Методы регистрации оптических сигналов.
37,38. Лавинные фотодиоды и их применение.
Если
к фотодиоду приложить достаточно высокое
обратное напряжение, то напряженность
электрического поля в барьере оказывается
настолько высокой (5·105 – 1·106 В/см), что
развиваются процессы ударной ионизации
атомов решетки ускоренными в электрическом
поле электронами. Это приводит к росту
обратного тока фотодиода при данном
потоке оптического излучения Ф. При
достаточно протяженной области
электрического поля возникшие электрон
и дырка тоже могут ускориться до энергии
Еi и совершить новые ионизации, т.е. будет
наблюдаться лавинное нарастание числа
носителей заряда. Среднее число
электронно-дырочных пар, создаваемых
первичным носителем на единице пройденного
пути, называется коэффициентом
ударной ионизации.
Увеличение тока вследствие ионизации
при больших напряженностях электрического
поля характеризуется коэффициентом
умножения носителей М = I/
,
где I – ток при больших напряжениях U,
а
–
ток при малых U, когда умножения носителей
еще нет. Квантовый выход ионизации
зависит от коэффициентов ударной
ионизации (числа пар, созданных электроном
на 1 см пути) для электронов (α1) и дырок
(β1), а также от ширины d области
электрического поля. Лавинное умножение
фотоносителей получено как в поверхностных
барьерах ,так и в p-n-переходах. При больших
U сильные токи приводят к разогреву
полупроводника, что увеличивает темновой
ток и уменьшает фототок (электрический
пробой переходит в тепловой). Коэффициент
умножения определяет и коэффициент
внутреннего усиления фотодиода (Z = М).
Из-за сильной зависимости М(U) для лавинных
фотодиодов требуется высокостабильное
напряжение питания. Лавинные фотодиоды
являются наиболее совершенными
фотоприемниками для регистрации
оптических сигналов в волоконно-оптических
системах. В спектральном диапазоне 0,8
– 0,9 мкм оптимальным является кремниевый
лавинный фотодиод, превосходящий
фотоприемники на других материалах по
надежности, электрическим и оптическим
характеристикам, отработанности
технологии и дешевизне. В спектральном
диапазоне 1,0 – 1,6 мкм в настоящее время
практически используются германиевый
и InGaAs лавинные фотодиоды. Вклад в фототок
дают не все генерированные оптическим
излучением носите- ли заряда. Первые
три постоянные времени в основном
зависят от ширины области пространственного
заряда, которая выбирается в зависимости
от коэффициента поглощения полупроводникового
материала. Следовательно, в кремниевых
фотодиодах ширина области пространственного
заряда должна быть 30 – 50 мкм и быстродействие
определяется, в основном, временем
пролета через эту область. В германиевых
фотодиодах ширина этой области 2 – 3
мкм, время пролета носителей в ней
примерно 5·10–11 с и не ограничивает
быстродействие фотодиода. В германиевых
лавинных фотодиодах быстродействие
определяется постоянной RC и временем,
затрачиваемым на умножение
носителей.Установлено, что для получения
низкого уровня шума при большом внутреннем
усилении необходимо, чтобы коэффициенты
ударной ионизации электронов α и дырок
β значительно различались между собой.
В большинстве соединений АIIIВ V отношение
α/β ≈ 1, что приводит к значительному
шуму при умножении. Поэтому большое
практическое значение имеют методы,
позволяющие в указанных материалах
увеличить отношение α/β. Одним из способов
достижения этого является создание
структур типа сверх- решеток, использующих
явление ударной ионизации на разрыве
энергетических зон. Горячий электрон,
ускоряющийся в барьерном слое широкозонного
полупроводника, влетая в узкозонный
слой, резко увеличивает энергию на
величину разрыва зоны проводимости
∆Eс. Это эквивалентно тому, что он «видит»
энергию ионизации, уменьшенной на ∆Eс
по сравнению с пороговой энергией в
массивном узкозонном полупроводнике.
Так как коэффициент ударной ионизации
α с уменьшением пороговой энергии
экспоненциально растет, следует ожидать
резкого увеличения его эффективного
значения. В следующем барьерном слое
пороговая энергия увеличивается на
∆Eс, уменьшая тем самым α в этом слое.
Но так как α1 << α2 (индексы 1 и 2 относятся
соответственно к широкозонному и
узкозонному материалам), то экс-
поненциальный рост α2 приводит к тому,
что и среднее значение значительно
увели- чивается. Если разрывы в валентной
зоне ∆Eν значительно меньше разрывов
в зоне про- водимости, то подобный эффект
для дырочного коэффициента β будет
значительно меньше. Окончательным
результатом будет сильное увеличение
отношения α/β, что и приводит к уменьшению
шума лавинного фотодиода без уменьшения
чувствительности.
