- •1 Корпускулярно-волновой дуализм электромагнитного излучения.
- •2. Стационарное уравнение Шредингера.
- •3 Нестационарное уравнение Шредингера(общее).
- •4. Строение атомов.
- •5. Методы расчета электронной структуры атомов.
- •6. Методы расчета электронной структуры молекул.
- •7. Зонная теория твердого тела.
- •8. Зонная структура металлов.
- •9.Зонная структура полупроводников.
- •10.Зонная структура диэлектриков.
- •11. Собственная проводимость полупроводников.
- •12. Донорные и акцепторные примеси в полупроводниках.
- •13. Термоэлектрические явления в металлах и полупроводниках.
- •14. Сверхпроводимость.
- •15.Электронно-дырочный переход
- •16. Вольтамперная характеристика p-n-перехода.
- •17. Виды пробоев р-n-перехода.
- •18. Контакт между полупроводниками одного типа проводимости.
- •19. Контакт «металл - полупроводник».
- •20. Физические процессы в структуре с двумя переходами.
- •21. Физические принципы работы полупроводниковых диодов
- •22. Выпрямительные диоды и их основные параметры.
- •23. Импульсные диоды и их основные параметры
- •24 Туннельные диоды и их основные харак-ки
- •25. Обращенные диоды и их основные параметры.
- •26. Диоды Шоттки и их основные параметры.
- •27. Режимы работы биполярных транзисторов.
- •28. Основные параметры биполярных транзисторов.
- •29. Схемы включения биполярных транзисторов.
- •30. Полевые транзисторы и схемы их включения.
- •31. Статические характеристики полевых транзисторов.
- •32. Применение полупроводниковых диодов и транзисторов.
- •33 Интегральные микросхемы
- •34 Фотоэлектрические явления в полупроводниках
- •35. Фоторезисторы и их основные параметры.
- •36 Фотодиоды и их параметры
- •37,38. Лавинные фотодиоды и их применение.
- •39. Многоэлементные фотоприемники.
- •40. Фотоэлементы.
- •41. Фотоэдс.Солнечные батареи.
- •42 Явление радиоактивности
- •43 Α , β, γ-излучение
- •44 Дозы излучения и их единицы
- •45 Активность радиоактивного ве-ва.
- •46 Биологическое действие ионизирующего излучения.
- •47 Физические принципы работы приборов дозиметрического контроля
- •48.Приборы на туннельном эффекте
- •49. Приборы на квантовых ямах
- •50. Низкоразмерные системы
- •51. Квантовые точки
- •52. Квантовые шнуры
- •53.Квантовые плёнки
- •54. Устройства молекулярной электроники : диоды , транзисторы, оптические сенсоры.
- •55.Одноэлектронные транзисторы
- •56.Физические принципы работы оптического волокна
- •Одномодовые оптические волокна
- •Многомодовые типы оптических волокон
- •59 Явление люминесценции в п/п.
- •Инжекционные светодиоды с р-n-переходами
- •61. Светодиоды с антистоксовым люминофором
- •62,63 Источники света с порошкообразным и пленочным
- •64 Когерентные источники и усилители оптического излучения
- •65. Лазеры и их основные параметры.
- •66. Применение лазеров.
- •67. Фотоприемники, основанные на внешнем фотоэффекте.
- •68. Фотоэлектронные умножители.
- •69 Методы счета фотонов
- •72. Сверхпроводниковые фотоприемники для счета фотонов.
- •74. Однофотонные источники излучения.
- •75. Методы регистрации оптических сигналов.
15.Электронно-дырочный переход
Электрические переходы классифицируют следующим образом:
электронно-дырочный переход, возникающий между полупроводниками n- и
p-типов;
переход между полупроводником и металлом;
переход между двумя примесными полупроводниками одного типа, отлича- ющимися значениями концентраций примесей;
переходы между двумя полупроводниками, имеющими различную ширину запрещенной зоны.
Поскольку в полупроводниковых устройствах чаще всего используется пер- вый из указанных электрических переходов, то рассмотрение физических явлений начнем с электронно-дырочного перехода, называемого также p-n-переходом.
На рис. 3.1 представлен полупроводник, у которого слева расположена область с преимущественно дырочной проводимостью, а справа - область, в которой основ- ными свободными носителями заряда являются электроны.
р
-
область n
-
область
–
–
–
+
+
+
–
–
–
+
+
+
–
–
–
+
+
+
–
–
–
+
+
+
Рис. 3.1 Диффузия свободных носителей заряда в р-n-переходе
а) диффузия
б)Wэл
в)Wд
Рис. 3.2 Образование запирающего слоя в р-n-переходе
Напомним, что дырка - это вакансия (незаполненное место) в электронной оболочке иона решетки. Возникающее между зарядами электрическое поле называют полем потенциального барьера.
На рис. 3.2б изображен потенциальный барьер для электронов, стремящихся за счет диффузии перемещаться справа налево (из области п в область р). Если этот график повернуть на 180º, получим потенциальный барьер для дырок, диффундирующих слева направо (рис. 3.2в)а) диффузия
При условии динамического равновесия уровни Ферми для обеих областей уста- навливаются на одной высоте. Вместе с уровнями Ферми происходит смещение энерге- тических зон, что приводит к их изгибу в области р-п-перехода (см. рис. 3.3)
а) р-тип
ЕС ЕF
Еа ЕV
п- тип
ЕС
Еd
ЕF
ЕV
б)
ЕС (p)
ЕV (p)
ЕС (n) ЕF
ЕV (n)
Рис. 3.3 Зонная структура примесных проводников (а) и р-п-перехода (б)
Важнейшим свойством р-п-перехода является резкое изменение его электрическо- го сопротивления в зависимости от направления, протекающего через него тока.
16. Вольтамперная характеристика p-n-перехода.
Зависимость тока, проходящего через р-п-переход, от величины приложенного к нему напряжения называется вольт-амперной характеристикой р-п-перехода и она представлена на рис. 3.6.
Рис. 3.6 Вольт-амперная характеристика р-п-перехода
Общий ток определяется суммой четырех слагаемых:
I pn In диф+ I p диф In др I p др, (3.1)
гдеIn диф - электронный ток диффузии,
I p диф - дырочный ток диффузии,In др – электронный ток дрейфа,
I p др– дырочный ток дрейфа.
Учитывая,
что первые два слагаемых пропорциональны
,
где U-внешнее
напряжение, выражение можно записть в
виде:
(3.2)
При прямом включении внешнего источника (U > 0) экспоненциальный член
eU в выражении (3.2) приводит к быстрому росту прямого тока который, как уже
kT
было отмечено, в основном определяется за счет диффузионных составляющих в выра- жении (3.1).
Быстрое возрастание прямого тока приводит к нагреванию области р-п-перехода. Значительный перегрев может привести к необратимым изменениям полупроводнико- вого кристалла. Поэтому для ограничения прямого тока к р-п-переходу подключают по- следовательно резистор.Из выражения (3.2) следует, что I0 - величина обратного тока, так как при достаточно больших значениях обратного напряжения внешнего источника (U < 0)
ф
луктуация-отклонение
величины от истинных значений
Омический(невыпрямляющийся)
неомический(выпрямляющийся)
