Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Шпаргалка По Тоии (Андреев Ю. С.).doc
Скачиваний:
41
Добавлен:
07.10.2014
Размер:
835.07 Кб
Скачать

2. Развитие фотоматериалов.

Современные фт-плёнки, разрабатываемые для поэлементной записи в фото выводных устройствах, отличаются тем, что являются высококонтрастными (γ=6-10), а мах спектральной сенсибилизации совпадает с длиной волны излучения лазера. Данные фт-плёнки отличаются повышенной разрешающей способностью (≥800 мм-1), в то время как у контрастных 300-500.

Современные фт-плёнки одного назначения, но представленные различными производителями, имеют весьма близкие фотографические характеристики. Например, фт-плёнки для записи в ФВУ на длине волны излучения лазера λ=780нм имеют близкие назначения максимума спектральной чувствительности (Sλmax=780нм), коэффициента контрастности и разрешающей способности, их совместимость с различными проявителями, а не только с теми, которые рекомендованы производителем фт-плёнки.

3. Оценка муара.

Муар – вторичная низкочастотная повторяющаяся структура, возникающая при наложении друг на друга двух или более регулярных структур. Простейшей моделью муара является наложение двух одинаковых решёток – линейчатых структур. Воздействовать на величину муара в многокрасочной репродукции может точность совмещения изображений на ф/ф, п/ф, при печатании (приводка). Степень проявления муара зависит от линиатуры, угла поворота растровой структуры относительно другой, формы растрового элемента, т.е. самой растровой структуры, что особенно заметно при воспроизведении светов, телесных оттенков оригинала. Количественно муар описывается двумя характеристиками – периодом Тм и контрастом Км. Периодом муара называется расстояние между осевыми линиями светлых или тёмных полос. При строгом совмещении линий растровых решёток муар отсутствует.

Контраст муара – это разность между максимальной и минимальной плотностями в данном изображении, возникающая в следствии муара: Км=Dmax – Dmin. Контраст муара определяет степень влияния муара на качество изображения. При увеличении периода и контраста муара ухудшается качество репродукции.

Билет № 15.

1. Структурные признаки автотипных растровых структур.

1)регулярность решётки: а)регулярная смешенная решётка, линейчатая, необычная, перекрёстная: одно-структурная, многоструктурная; ортогональная, гексагональная; б)периодическая нерегулярная (стохастическая): случайные расстояния постоянный размер и форма; случайный размер и форма; случайные расстояния размер и форма. квазипериодическая решётка.

Видимая структура растровой решётки, которую можно наблюдать на фотоформе, на печатной форме. Наиболее важным признаком структуры является признак регулярности. Регулярная решетка, у которой расстояние между растровыми элементами постоянно. Нерегулярная растровая структура характеризуется тем, что её структурные параметры (расстояние между центрами растровых точек, форма, размер) являются нерегулярными. Важными признаками также являются частота растровой решётки, угол наклона.

2. Выбор углов поворота растра.

Уменьшение муара обеспечивается повышением линиатура растра и соблюдением оптимальных углов поворота растровой структуры в одном изображении относительно другого. Значения углов поворота определены экспериментально и рассчётно. Сейчас принято Желтая краска 0 (90) градусов, черная-45 градусов, Пурпурная-15 градусов, Голубая- 75 градусов, но возможно и использование и других углов.

Важно что растровые структуры ф/ф рисующих красок были отклонены на возможно большой угол по отношению к растровой структуре фотоформы чёрной краски в пределах угла 90% . Углы поворота в оптических системах устанавливаются визуально. Они должны быть максимально возможными в пределах квадрата. Эти углы соответствуют min период при 45 градусов, такой угол для всех красок обеспечить невозможно. Проекционные растры делаются круглой формы с использованием разметки. Метку на растре совмещают с меткой на фотоаппарате. При электронном растрировании эта регулировка поворота устанавливается программным методом.