- •Конспект лекцій
- •Елементна база в радiоапаратобудуванi
- •Мета, завдання і зміст курсу
- •1. 2. Використання еб еа в радiоапаратобудуванi
- •3. Відхилення параметрів еб еа та прогнозирування їх якості
- •3.1. Імовірна оцінка відхилення параметрів еб еа
- •3.1.1. Загальні положення
- •3.1.2. Розрахунок виробничих допусків еб еа
- •3.1.3. Розрахунок допусків з впливом влагi, температури, старіння
- •3.2. Прогнозування якості еб еа на основі засобу распознавання образу
- •3.2.1. Загальні положення
- •3.2.3. Засіб узагальненої крапки
- •3.2.4. Імовірносний підхід
- •3.2.5. Метод потенційної функції
- •3.2.6. Дискрiмiнантний аналіз
- •4. Резистори
- •4.1. Загальні положення, класифікація параметрів
- •4.1.1. Позначення резисторів
- •4.2. Резистори постійні
- •4.2.1. Непроволочні резистори
- •4.2.2. Дротові резистори
- •4.3. Резистори перемінного опіру
- •4.3.1. Недротові резистори
- •4.3.2. Дротові резистори
- •4.4. Резистори спеціального призначення
- •4.4.1. Варистори
- •4.4.2. Фоторезистори
- •5.2. Конденсатори постійної ємкості
- •5.2.1. Конденсатори з неорганичним диелектриком
- •5.2.2. Конденсатори з органічним диелектриком
- •5.2.3. Плівочні конденсатори
- •5.2.4. Електролітичнi конденсатори
- •3.2.5. Конденсатори на суперiониках
- •5.2.6. Інші конденсатори
- •5.3. Конденсатори перемінної ємкості
- •5.3.1 Загальні положення
- •5.3.2. Основи проектування кпе по заданим функціональним характеристикам
- •5.3.2.1. Загальні положення
- •5. 4. Конденсатори спеціального призначення
- •6. Iндуктивні елементи
- •6.1. Загальні положення, класифікація параметрів
- •6.2. Iндуктивні елементи без магнітопровіда
- •6.2.1. Iндуктивні елементи без каркаса
- •6.2.2. Iндуктивні елементи з каркасом
- •6.5. Дроселі вч
- •8. Лінії затримкі
- •8.1. Основні поняття
- •8.2. Електричні лінії затримкi
- •8.3. Ультразвукові та магнітострикціонні лінії затрикi
- •9.2. Електричні фільтри
- •9.3. П’єзоелектричнi і механичні резонатори фільтрів
- •9.3.1. Загальні положення
- •9.3.2. П’єзоелектричнi резонаторні фільтри. Прямий і зворотний п’єзоеффект.
- •9.3.3. Електромеханичні резонатори і фільтри
- •9.3.4. Акустоелектронні фільтри. Фільтри на пзз
- •9.4.2. Цифрові фільтри
- •10. Елементи і пристрої пам’яті
- •10.1. Загальні положення
- •10.2. Запомiнаючі пристрої на ферромагнитних матеріалах
- •10.3. Запоминаючі пристрої на цмд
- •10.4. Запоминаючі пристрої на пав, мсв і пзз
- •10.5. Криогенни запомiнаючі пристрої
- •11. Елементи і пристрої відображення інформації
- •11.1. Загальні положення
- •11.2.6. Лазери
- •11.3. Пасивні індикатори
- •11.3.1. Жiдкокристалічнi індикатори
- •11.3.2. Електрохiмичні індикатори
- •12. Пристої функціональної електроникi
- •12.1. Акустоелектронні елементи і пристрої
- •12.1.1. Трансформатори, фазообертувачi і атенюатори на пах
- •12.1.2. Фур’є процессори, конвольвіри, активні пристрої на пах
- •12.2. Оптоелектронні пристрої і елементи
- •12.2.1. Загальні положення
- •12.2.2. Оптрони
- •12.2.3. Пристрої керування випромінювання
- •12.2.4. Дефлектор
- •12.3. Елементи і пристрої коммутацiї
- •12.3.1. Загальні положення і класифікація
- •12.3.2. Електромагнітне реле
- •12.3.4. Геркони і феррiди
3.2.4. Імовірносний підхід
В тому случаї якщо класи перемішани, т. є. вектор містить випадкові що складають, оте находiт застосування імовірностний засіб. Вводяться поняття належності об'єкту по S-му параметру-му класу.
P(s/);
k
k
s=1
s=1
k
k
П
s=1
s=1
В цих формулах відсутне поняття апріорної інформації про те, що об'єкт відноситься по S-му параметру -му класу.
Формула Байеса:
P
k
k
s=1
s=1
k
[
s=1
P(/R)max
k
[
s=1
P(/R)max/P(/R)maxпоріг, Pmax=0.8, Pmax=0.75, =0.9.
Отже об'єкт відноситься к - класу.
3.2.5. Метод потенційної функції
Хай існують два класу R1 і R2, а також простір значень .
Розглянемо простір параметрів признаків -1, 2, ..., 1.
При появі 1, йому ставиться у відповідність функція потенціалів:
1k(,1),
а для 2 функція потенціалів:
2k(, 2).
На основі цих функцій будується потенційна функція:
(, 1, 2, ..., l).
Хай є K(x, y), де y=x*, тоді можна записати цю функцію в виді:
K(x,x*).
Функція K(x,x*) буде залежати від положення x* в просторі. Тоді для X1, X2 і X3
можна записати: X1K(X,X1) X1R1;
X2K(X,X2) X2R2;
X3K(X,X3) X3R3.
Підсумовуємо ці функції по областям і будуємо функції потенціалів:
K1(X, X*)=K(X, Xi), XiR1;
K2(X, X*)=K(X, Xi), XiR2.
На основі наших експериментів вводиться разделительна функція:
Ф(x)=K1(X, X*)-K2(X, X* ),
K1(X, Xk)>K2(X, Xk), XkR1.
Розглянемо алгоритм розрахунку:
Хай є два класу R1>0 і R2<0.
{
Ф()=
-K(, 1), при R2.
Візьмемо l-й крок і довільним образом одержимо розділову функцію: l(), подставив в цю функцію l+1, одержимо слідуючі варіанти:
1. l(l+1)>0; l+1R1, ці результати нас зчиняють і ми переходимо до слідуючого;
2. l(l+1)<0; l+1R2;
3. l(l+1)<0; l+1R1, ці результати потребують корегування;
4. l(l+1)>0; l+1R2.
Коррекція для випадків 3 і 4:
3. l+1()=l(l+1)+K(, l+1);
4. l+1()=l(l+1)-K(, l+1).
Якщо результат нас знов не задовольняє, то необхідно змінити функцію:
()=K(l/2)-K(, д).
l=R1 д=R2
(-l)R (-д)R2
K(, *)= 1/(1+2(, *),
K(, *)= /(1+2(, *),
K(, *)= e-2(, *).
Рекомендації по вибору функції k:
Рекомендації для приватних випадків:
Якщо [0, 2]:
k
s=1
Якщо -m- мерний куб:
K(, *)=(1-2/2)(, *)(1+2/2)m-(, *);
Якщо - числова ось (-,):
K(, *)=(1/((1-2))*exp(-2*+(2+*2)2/1-2).
Якщо класи перемешани, оте треба перейти від детермінуючего до імовірностного підходу.
Введем поняття міра належності об'єкту до першого класу L(,R1) і аналогічно для другого класу- L (,R2).
L(,R1)=1-L(,R2).
{
l()=
l, 0l()<1;
1, >l()1.