- •Конспект лекцій
- •Елементна база в радiоапаратобудуванi
- •Мета, завдання і зміст курсу
- •1. 2. Використання еб еа в радiоапаратобудуванi
- •3. Відхилення параметрів еб еа та прогнозирування їх якості
- •3.1. Імовірна оцінка відхилення параметрів еб еа
- •3.1.1. Загальні положення
- •3.1.2. Розрахунок виробничих допусків еб еа
- •3.1.3. Розрахунок допусків з впливом влагi, температури, старіння
- •3.2. Прогнозування якості еб еа на основі засобу распознавання образу
- •3.2.1. Загальні положення
- •3.2.3. Засіб узагальненої крапки
- •3.2.4. Імовірносний підхід
- •3.2.5. Метод потенційної функції
- •3.2.6. Дискрiмiнантний аналіз
- •4. Резистори
- •4.1. Загальні положення, класифікація параметрів
- •4.1.1. Позначення резисторів
- •4.2. Резистори постійні
- •4.2.1. Непроволочні резистори
- •4.2.2. Дротові резистори
- •4.3. Резистори перемінного опіру
- •4.3.1. Недротові резистори
- •4.3.2. Дротові резистори
- •4.4. Резистори спеціального призначення
- •4.4.1. Варистори
- •4.4.2. Фоторезистори
- •5.2. Конденсатори постійної ємкості
- •5.2.1. Конденсатори з неорганичним диелектриком
- •5.2.2. Конденсатори з органічним диелектриком
- •5.2.3. Плівочні конденсатори
- •5.2.4. Електролітичнi конденсатори
- •3.2.5. Конденсатори на суперiониках
- •5.2.6. Інші конденсатори
- •5.3. Конденсатори перемінної ємкості
- •5.3.1 Загальні положення
- •5.3.2. Основи проектування кпе по заданим функціональним характеристикам
- •5.3.2.1. Загальні положення
- •5. 4. Конденсатори спеціального призначення
- •6. Iндуктивні елементи
- •6.1. Загальні положення, класифікація параметрів
- •6.2. Iндуктивні елементи без магнітопровіда
- •6.2.1. Iндуктивні елементи без каркаса
- •6.2.2. Iндуктивні елементи з каркасом
- •6.5. Дроселі вч
- •8. Лінії затримкі
- •8.1. Основні поняття
- •8.2. Електричні лінії затримкi
- •8.3. Ультразвукові та магнітострикціонні лінії затрикi
- •9.2. Електричні фільтри
- •9.3. П’єзоелектричнi і механичні резонатори фільтрів
- •9.3.1. Загальні положення
- •9.3.2. П’єзоелектричнi резонаторні фільтри. Прямий і зворотний п’єзоеффект.
- •9.3.3. Електромеханичні резонатори і фільтри
- •9.3.4. Акустоелектронні фільтри. Фільтри на пзз
- •9.4.2. Цифрові фільтри
- •10. Елементи і пристрої пам’яті
- •10.1. Загальні положення
- •10.2. Запомiнаючі пристрої на ферромагнитних матеріалах
- •10.3. Запоминаючі пристрої на цмд
- •10.4. Запоминаючі пристрої на пав, мсв і пзз
- •10.5. Криогенни запомiнаючі пристрої
- •11. Елементи і пристрої відображення інформації
- •11.1. Загальні положення
- •11.2.6. Лазери
- •11.3. Пасивні індикатори
- •11.3.1. Жiдкокристалічнi індикатори
- •11.3.2. Електрохiмичні індикатори
- •12. Пристої функціональної електроникi
- •12.1. Акустоелектронні елементи і пристрої
- •12.1.1. Трансформатори, фазообертувачi і атенюатори на пах
- •12.1.2. Фур’є процессори, конвольвіри, активні пристрої на пах
- •12.2. Оптоелектронні пристрої і елементи
- •12.2.1. Загальні положення
- •12.2.2. Оптрони
- •12.2.3. Пристрої керування випромінювання
- •12.2.4. Дефлектор
- •12.3. Елементи і пристрої коммутацiї
- •12.3.1. Загальні положення і класифікація
- •12.3.2. Електромагнітне реле
- •12.3.4. Геркони і феррiди
3.2. Прогнозування якості еб еа на основі засобу распознавання образу
3.2.1. Загальні положення
Для забезпечення заданої надійності проектованого РЕЗ необхідно використати елементну базу з наданимі показникамі надійності.
Існують різноманітні підходи до оцінки надійності ЕБ ЕА: аналітичне прогнозирування, імовірностне, прогнозирування на основі фiзико-хімічних процесів.
Рис. 31
Всі ці методи базуються на прямій екстраполяції функції надійності, що веде до помилок із-за відсутності априорної інформації.
Другий підхід засновується на теорії розпознання образів. Стан об'єкта характеризується якими k- параметрами 1,2,...,k {}- визначає надійність об'єкту;
=1i1+2i2+...+kik - k-мерний простір.
Припустимо існують слідуючи класи параметрів: 1,2,...,m.
Див. Рис. 32,
де 1є+2є+...+mє- еталонні класи.
Якщо перший клас є еталонним, тоді застосовують підхід ,що детермінувався.
Рис. 32
Якщо класи перемішани, тоді підхід, що детермінувався не працює і класи необхідно характеризувати статистичними параметрами:
f1(),f2(),...,fm()- статистична функція.
Для визначення до якого класу відноситься наш вектор треба ввести поняття міри близькості.
В кожному класі існують свої еталонні значення:
1, 2,...,k =1,m,
де - індекс класу;
k- індекс параметра.
Міра близькості для різноманітних випадків буде мати вигляд:
k
s=1
де s- значення s-го параметра об'єкту, що діагностується.
k
s=1
k
k
k
s=1
s=1
s=1
k
k
s=1
s=1
k
k
k
s=1
s=1
s=1
k
s=1
В більшості випадків рекомендують використати нормiровання параметрів.
Крім нормiрування використають вагові коефицієнти s:
k
s=1
k
s=1
де p- показник нелiнейностi.
При цьому необхiдно, щоб виконувалися умови:
s
s
k=1
k=1
3.2.2. Засіб зон
Застосовуючи цей засіб, поділяємо всі класи на два:
Рис. 33
Вводиться поняття осей для кожного елементу. На кожної із цих осей виділяються три зони.
Межи зон:
1s*=1s+r1s, 2s*=2s+r1s, S= 1,k.
1s*- середнє значення S-го параметра.
1s- среднеквадратичне відхилення.
Якщо s<1s*, sR1 - належить до 1-го класу
s>2s*, sR2 - належить до 2-го класу
{
-1, s<1s*
s= 0, 1s*<s<2s*
1, s<2s*
Т
s
k=1
R1, <0,
R2, >0,
R1, R2, =0.
При наявності вагових коефіціентів:
s
k=1
3.2.3. Засіб узагальненої крапки
Всі -k- осі сводяться до однієї осі:
Рис. 34.
Об'єкт: R1, 0<10*,
R2, 0>20*,
k-
s=1
l=1
k-
s=1
l=1
k-
s=1
l=1
k-
s=1
l=1
k-
s=1
l=1
k-
s=1
l=1
Перед може стоять ваговий коефіціент.
Для одержання хорошого розділення класів із усіх класів:
11, 12, ..., 2к - для першого класу, 21, 22, ..., 2к - для другого класу вибирають параметри, значення яких із першого класу більше значень другого класу.
