Графики

Зависимость емкости конденсатора от расстояния между обкладками

Зависимость электрической постоянной от расстояния между пластинами

Зависимость электрической постоянной от напряжения питания

Зависимость диэлектрической проницаемости от напряжения на источнике питания

Погрешность прямых измерений

∆U10= ± 0,05 В

∆U1 = ± 0,01 В

∆d = ± 0,5 мм

Погрешность косвенных измерений

Примеры вычислений

C_{х эксп} =(218 ∗ 10⁻⁹ ∗ 2,1)/(2000 − 2,1)= 0,23 нФ

С_{х теор} =(8,85 ∗ 10⁻¹² ∗ 1 ∗ 0,05)/0,002= 0,22 нФ

₀ =(218 ∗ 10−9 ∗ 0,87 ∗ 0,005)/((2000 − 0,87) ∗ 1 ∗ 0,0531)= 8,8 ∗ 10−12 Ф/м

ε_диеэл =(218 ∗ 10−9 ∗ 0,5 ∗ 0,01)/((500 − 0,5) ∗ 8,85 ∗ 10−12 ∗ 0,0531)= 2,33

ɛ_возд =(218 ∗ 10−9 ∗ 0,21 ∗ 0,005)/((500 − 0,21) ∗ 8,85 ∗ 10−12 ∗ 0,0531)= 0,98

Вывод

В ходе работы были изучены методы определения диэлектрической проницаемости. Была определена эл. емкость конденсатора C_x, выявлена взаимосвязь электрической постоянной ₀ и напряжения U, электрической постоянной ₀ и расстояния между обкладками конденсатора d, а также определена зависимость диэлектрической проницаемости от напряжения ɛ(U). Также были построены графики зависимостей электрической постоянной от напряжения на источнике, электрической постоянной от расстояния между пластинами, диэлектрической проницаемости от напряжения на источнике тока.