- •А.Н. Игнатов
- •Новосибирск 2013
- •Предисловие
- •1.1 Введение в волоконную оптику
- •1.2 Особенности оптической электроники
- •1.3 История развития оптоэлектроники
- •1.4 Современное состояние оптоэлектронной элементной базы
- •1.5 Система обозначений оптоэлектронных приборов индикации
- •1.6 Система обозначений полупроводниковых приборов и оптронов
- •Тестовые вопросы к главе 1 «Введение в оптоэлектронику»
- •2 Физические основы оптоэлектроники
- •2.1 Различие между фотометрическими и энергетическими характеристиками
- •2.2 Фотометрические характеристики оптического излучения
- •2.2.1 Функция видности и ее зависимость от длины электромагнитной волны
- •2.2.2 Телесный угол, световой поток и механический эквивалент света
- •2.2.3 Сила света, IV
- •2.2.4 Освещенность поверхности, е
- •2.2.5 Закон освещенности
- •2.2.6 Светимость излучающей поверхности, м
- •2.2.7 Яркость светящейся поверхности, l
- •Величина
- •2.2.8 Закон Ламберта
- •2.2.9 Световая экспозиция, нv
- •2.5 Колориметрические параметры
- •2.6 Когерентность оптического излучения
- •2.6.1 Монохроматическая электромагнитная волна (мэв)
- •2.6.2 Особенности излучения электромагнитных волн в ультрафиолетовом (уф), видимом и инфракрасном (ик) диапазонах
- •2.7 Квантовые переходы и вероятности излучательных переходов
- •2.7.1 Энергетические уровни и квантовые переходы
- •2.7.2 Спонтанные переходы
- •2.7.3 Вынужденные переходы
- •2.7.4 Соотношения между коэффициентами Эйнштейна
- •2.7.5 Релаксационные переходы
- •2.8 Ширина спектральной линии
- •2.9 Использование вынужденных переходов для усиления электромагнитного поля
- •2.10 Механизм генерации излучения в полупроводниках
- •2.11 Прямозонные и непрямозонные полупроводники
- •2.12 Внешний квантовый выход и потери излучения
- •2.13 Излучатели на основе гетероструктур
- •2.14 Поглощение света в твердых телах
- •2.15 Типы переходов и характеристики излучающих полупроводниковых структур.
- •2.16 Параметры оптического излучения
- •Тестовые вопросы к главе 2 «Физические основы оптоэлектроники»
- •3 Приборы некогерентного излучения
- •3.1 Источники света
- •3.1.1 Разновидности источников
- •3.2 Основные характеристики и параметры светодиодов
- •3.2.1 Параметры светодиодов
- •3.2.2 Характеристики светодиодов
- •3.2.3 Определение и оценка параметров светодиодов
- •3.2.4 Схемы возбуждения, обеспечивающие высокую световую эффективность светодиодов
- •3.2.5 Влияние температуры
- •3.2.6 Срок службы
- •3.2.7 Ограничение тока
- •3.2.8 Достоинства твердотельных излучателей
- •3.3 Конструкции светодиодов
- •3.4 Основные схемы возбуждения светодиодов
- •3.5 Выбор типа светодиода
- •3.5.1 Основные соображения для выбора типа светодиода
- •3.5.2 Памятка разработчику
- •3.6 Электрическая модель светодиода
- •3.7 Светодиоды инфракрасного излучения
- •3.8 Светодиодные источники повышенной яркости и белого света
- •Тестовые вопросы к главе 3 «Источники некогерентного излучения»
- •4 Приборы когерентного излучения
- •4.1 Физические основы усиления и генерации лазерного излучения
- •4.2 Структурная схема лазера
- •4.3 Лазеры на основе кристаллических диэлектриков
- •4.4 Жидкостные лазеры
- •4.5 Газовые лазеры
- •4.6 Устройство и принцип действия полупроводникового инжекционного моно лазера
- •4.7 Устройство и принцип действия полупроводниковых лазеров с гетероструктурами
- •4.8 Волоконно-оптические усилители и лазеры
- •4.8.1 Волоконные усилители
- •4.8.2 Волоконные лазеры
- •4.8.3 Волоконные лазеры на основе вынужденного комбинационного рассеяния
- •4.9 Светоизлучающие диоды для волоконно-оптических систем
- •4.10 Сравнительная характеристика лазеров и светодиодов
- •4.10.1 Параметры отечественных полупроводниковых лазеров и оптических модулей
- •4.11. Квантовые эффекты в полупроводниках
- •4.12. Фотонные нанокристаллы.
- •4.13. Наноэлектронные лазеры
- •4.13.1. Наноэлектронные лазеры с горизонтальными резонаторами
- •4.13.2. Наноэлектронные лазеры с вертикальными резонаторами
- •4.14.1. Органические светодиоды
- •4.14.2. Пассивно-матричные oled
- •4.14.3. Активно-матричные oled
- •4.14.4. Технологии получения органических светодиодов
- •Тестовые вопросы к главе 4 «Приборы когерентного излучения»
- •5 Полупроводниковые фотоприемные приборы
- •5.1 Принцип работы фотоприемных приборов
- •5.2 Характеристики, параметры и модели фотоприемников
- •5.2.1 Параметры фотоприемников
- •5.2.2 Характеристики фотоприемников
- •5.2.3 Параметры фотоприемника как элемента оптопары
- •5.2.4 Электрические модели фотоприемников
- •5.3 Фотодиоды на основе p-n – перехода
- •5.4 Фотодиоды с p–I–n структурой
- •5.5 Фотодиоды Шоттки
- •5.6 Фотодиоды с гетероструктурой
- •5.7 Лавинные фотодиоды
- •5.8 Фототранзисторы
- •5.9 Фототиристоры
- •5.10 Фоторезисторы
- •5.11 Основные характеристики и параметры фоторезистора
- •5.12 Пзс приемные фотоприборы
- •5.13 Фотодиодные сбис на основе моп – транзисторов
- •5.14 Пиротехнические фотоприемники
- •5.15. Фотоприемные наноэлектронные приборы
- •5.15.1. Фотоприемники на квантовых ямах
- •5.15.2. Фотоприемники на основе квантовых точек
- •Тестовые вопросы к главе 5 «Полупроводниковые фотоприемные Приборы»
- •6 Оптроны
- •6.1 Устройство и принцип действия оптронов
- •6.2 Структурная схема оптрона
- •6.3 Классификация и параметры оптронов
- •6.4 Электрическая модель оптрона
- •6.5 Резисторные оптопары
- •6.6 Диодные оптопары
- •6.7 Транзисторные оптопары
- •6.8 Тиристорные оптопары
- •Тестовые вопросы к главе 6 «Оптроны»
- •7 Индикаторные приборы
- •7.1 Жидкокристаллические индикаторы
- •7.1.1 Основы теории
- •7.1.2 Ячейки на основе эффекта динамического рассеяния (др – ячейки)
- •7.1.3 Ячейки на основе твист-эффекта
- •7.1.4 Основные типы и параметры
- •7.1.5 Схемы включения жидкокристаллических индикаторов
- •7.1.6 Схемы управления многоразрядными индикаторами
- •7.2 Электролюминесцентные индикаторы
- •7.2.1 Устройство и принцип действия
- •7.2.2 Типы и параметры
- •7.2.3 Схемы включения электролюминесцентных индикаторов
- •7.3 Плазменные панели и устройства на их основе
- •7.4 Электрохромные индикаторы
- •7.5. Отображение информации индикаторными приборами
- •Тестовые вопросы к главе 7 «Индикаторные приборы»
- •8 Применение оптоэлектроннх приборов
- •8.1 Устройство и принцип действия оптоэлектронных генераторов
- •8.1.1 Блокинг - генератор
- •8.1.2 Генератор линейно изменяющегося напряжения
- •8.1.3 Генератор с мостом Вина
- •8.2 Применение оптоэлектронных приборов в аналоговых ключах и регуляторах
- •8.3 Применение оптронов для выполнения логических функций
- •8.4 Применение оптронов как аналогов электрорадиокомпонентов
- •8.5 Устройство и принцип действия оптоэлектронных усилителей
- •8.6 Устройство и принцип действия оптоэлектронных цифровых ключей
- •8.7 Применение оптоэлектронных приборов для измерения высоких напряжений и управления устройствами большой мощности
- •8.8 Устройство и принцип действия оптических устройств записи информации
- •8.9 Принцип лазерно-оптического считывания информации
- •8.10 Принципы цифровой оптической записи и воспроизведения информации с компакт дисков
- •8.10.1 Устройство компакт-диска
- •8.10.2 Запись на компакт диски
- •8.10.3 Отличия cd-r/cd-rw дисков от штампованных
- •8.10.4 Маркировка дисков
- •8.10.5 Надежность дисков cd-r/rw в сравнении со штампованными
- •8.10.6 Изготовление и тиражирование компакт-дисков
- •8.10.7 Воспроизведение компакт-диска
- •8.10.8 Устройство накопителей на cd-rom
- •8.10.9 Представление и параметры звукового сигнала на cd
- •8.10.10 Джиттер
- •8.11 Оптоэлектронные сенсорные системы взаимодействия человека с электронной техникой.
- •8.11 Лазерный микропроектор со спиральной разверткой для мобильных устройств
- •Тестовые вопросы к главе 8 «Применение оптоэлектронных приборов»
- •9. Волоконно-оптические системы связи
- •9.1. Общие сведения
- •9.2. Классификация волоконно-оптических систем распределения
- •9.3. Волоконно-оптические системы распределения
- •9.4. Оптические передатчики
- •9.5 Приемники волоконно-оптических систем связи
- •9.5.1 Приемные оптоэлектронные модули
- •9.6. Цифровые волоконно-оптические системы связи
- •9.7. Аналоговые волоконно-оптические системы связи
- •9.8 Умные соединители на основе смартлинков
- •9.8.1 Технические решения смартлинков
- •9.8.2 Самоформирующиеся компьютеры
- •9.8.3 Оптоволоконные нейроинтерфейсы
- •9.9 Волоконно оптические технологии для сетей доступа
- •9.9.1 Общие сведения
- •9.9.2 Тенденции мирового развития сетей доступа
- •9.9.3 Технологии оптических сетей доступа
- •9.9.4 Категории оптических сетей доступа
- •9.9.5 Волокно до бизнеса – FttBusiness
- •9.9.6 Волокно до дома – ftth
- •9.9.7 Волокно до многоквартирного дома – fттb
- •9.9.8 Волокно до сельского района
- •9.10 Медиоконверторы и их применение в оптических системах связи
- •9.10.1 Общие сведения
- •9.10.2. Основные технические требования, предъявляемые к оборудованию
- •9.10.3. Классификация медиаконвертеров по критерию управляемости
- •9.10.4. Конструктивное исполнение
- •9.10.5. Основные параметры медиаконвертеров
- •9.10.6. Система управления
- •9.10.7. Устройство и применение медиоконвертора rs-485
- •Тестовые вопросы к главе 9 «Волоконно-оптические системы связи»
- •Приложение п1
- •Приложение п2
- •Приложение п3
- •Приложение п4 Перечень принятых сокращений
- •Список цитированной литературы
2.11 Прямозонные и непрямозонные полупроводники
На первом этапе люминесценции возможны различные переходы электронов: зона – зона, зона – примесный уровень и переходы между уровнями примеси. При межзонных переходах возможны два основных случая, соответствующие прямым и непрямым переходам. Наличие прямых и непрямых переходов объясняется зависимостью энергии электрона от его импульса (в соответствии с рис. 2.15). Импульс электрона РЭ равен произведению его массы mЭ на скорость движения
.
(2.69)
Рис. 2.15. Зависимость энергии электрона от импульса для прямых переходов электронов
Рис. 2.16. Зависимость энергии электрона от импульса для непрямых переходов электронов
Прямой переход – это переход электрона без изменения импульса электрона. Непрямой переход сопровождается изменением импульса электрона, которое компенсируется импульсом излучаемого или поглощаемого фотона.
По закону сохранения импульса при излучении или поглощении фотона должно выполняться равенство
,
(2.70)
где Рэ1 и Рэ2 – соответственно начальный и конечный импульсы элек трона;
kФ – импульс фотона.
Так как скорость движения фотона равна скорости света, то kФ = mФс, где масса фотона mФ связана с длиной волны соотношением Де-Бройля
.
(2.71)
Тогда импульс фотона
,
(2.72)
где ЕG – ширина запрещенной зоны.
Для ЕG 1 эВ имеем kФ << РЭ2, т. е. импульс электрона можно считать неизменным при прямом переходе (РЭ1 РЭ2), что соответствует переходу по вертикали между максимумом валентной зоны ЕВ и минимумом зоны проводимости ЕG (в соответствии с рис. 2.15).
Могут происходить также переходы электронов из валентной зоны в зону проводимости с изменением импульса электрона (РЭ1 РЭ2) — непрямые переходы. При этом в процессе поглощения энергии кроме фотона и электрона должна, участвовать еще третья частица, которая заберет часть импульса на себя (в соответствии с рис. 2.16). Закон сохранения импульса при непрямых переходах имеет вид
,
(2.73)
где k – импульс третьей частицы (например, фонона).
Основные материалы полупроводниковых излучателей (GaAs и тройные соединения на его основе – GaAlAs и GaAsP) относятся к прямозонным полупроводникам, т. е. к таким, в которых разрешены прямые оптические переходы зона – зона. Каждая рекомбинация носителя заряда при таком переходе сопровождается излучением фотона, длина волны которого определяется соотношением
,
(2.74)
где – в микрометрах; ЕG - в электрон-вольтах.
Таким образом, выполнение закона сохранения импульса (оно также обязательно для любого электронного перехода, как и соблюдение закона сохранения энергии) при прямых переходах не требует участия в рекомбинации третьей (кроме электрона и дырки) частицы. Вследствие этого вероятность прямых оптических переходов высока и прямозонные полупроводники являются эффективными люминесцентными материалами.
В непрямозонных полупроводниках (например, в фосфиде галлия GaP) минимум зоны проводимости смещен по оси импульса. Излучательная рекомбинация электрона с дыркой идет лишь на некотором комплексе, которому передается избыточный импульс и, соответственно часть энергии. Длина волны излучения при непрямых переходах получается больше. Тем не менее излучательная рекомбинация может эффективно идти через подходящие примесные центры в два этапа сначала происходит локализация носителя одного знака на примесном центре, а затем рекомбинация этого носителя со свободным носителем другого знака. В качестве таких центров излучательной рекомбинации в фосфиде галлия, например, выступают комплексы донор - акцептор (Zn+ – 0-) или нейтральные ловушки (атом N вместо атома Р в решетке GaP).
Следует отметить, что самопоглощение излучения идет в прямозонных полупроводниках значительно сильнее, чем в непрямозонных.
Кроме двойных (бинарных) соединений широко используются и твердые растворы – в основном тройные соединения, например GaAlAs, GaAsP, InGaP и др. Структура формул тройных соединений показывает, атомы каких элементов замещают в кристаллической решетке друг друга. Значение ширины запрещенной зоны и структура энергетических зон твердых растворов зависят от соотношения компонентов в растворе.
В таблице 2.3 приведены материалы, которые используются для изготовления полупроводниковых излучателей; дано также значение ширины запрещенной зоны ЕЗ для каждого материала.
Таблица 2.3 – Перспективные материалы для элементной базы оптоэлектроники
Характеристика материала |
Легирующая примесь |
||||
Тип материала |
Химическая формула |
Ширина запрещенной зоны, ЭВ |
Показатель преломления |
p-типа |
n-типа |
AIIIBV |
GaP GaAs GaN InN AlN AlP Ga1-xInxP Ga1-xAsxP AlAs1-xPx Al1-xInxP Ga1-xAlxP GaAlN Ga1-xInxAs1-yPy Ga1-xAlAs1-yPy Al1-xInxAs1-yPy |
2,25 1,43 3,25 2,4 3,8 2,45 1,35-2,25 1,43-2,25 2,16-2,45 1,30-2,45 2,25-2,45 3,25-3,8 0,36-2,25 1,43-2,45 0,36-2,45 |
3,3 3,6 2,1-2,4 2,9 2,0 - 2,9-3,3 3,3-3,6 - - - - 2,9-3,3 2,9-3,2 3,0-32 |
Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd Zn, Cd |
Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te Se, Te |
|
ZnS CdS ZnSe CdSe ZnTe CdTe Zn1-xCdxS Zn1-xCdxSe ZnSe1-xSx Cd1-xSexS CdTe1-xSx |
3,8 2,9 2,7 1,8 2,3 1,6 2,9-3,8 1,8-2,7 2,7-3,8 1,8-2,9 1,6-2,9 |
2,4 2,5 2,9 2,6 3,6 2,8 2,4-2,5 2,6-2,9 2,4-2,9 2,5-2,6 2,5-2,7 |
Cu, P Cu, P - - Cu, Ag, P Li, Sb, P Cu, P - - - Cu, P, Sb |
Ai, Br, Cl Al, In, Ga, Br Al, Br, In, Ga Cl, Br, I Al, Cl, Ga Al, Cl, In Al, In, Br, Ga Br, Ga, In, Al Al, Br, Cl Al, Br, Cl Cl, In, I |
AVIBVI |
SiC |
2,8-3,3 |
2,5-2,7 |
Al, In |
N |
Другие материалы |
Si CuAlS2 GaS ZnSe-GaP ZnS- GaP |
1,1 3,5 3,4 2,25-2,70 2,25-3,80 |
3,5 - - 2,9-3,3 2,4-3,3 |
B, Ga, Al |
As, P, Sp |
Современные
излучатели в основном используют прямые
переходы. Выбор ширины запрещенной
зоны ЕЗ
определяется рабочей длиной волны
излучателя
в оптическом диапазоне волн.
Из выражения (2.75) имеем
(2.75)
Следовательно, для работы в диапазоне видимого излучения (0,38 мкм 0,78 мкм) необходимы полупроводники с шириной запрещенной зоны (1,5 3,0) эВ. Это требование сразу исключает использование германия и кремния и других полупроводников, технология которых хорошо разработана, и обусловливает переход к материалам типа АIIIВV, их твердым растворам и др.
В полупроводниках генерация оптического излучения обеспечивается обычно с помощью электролюминесценции. При электролюминесценции энергия возбуждения потребляется из электрического поля. Различают два вида электролюминесценции:
инжекционную, которая возникает в p-n – переходе, находящемся под прямым напряжением;
предпробойную, которая развивается в сильных полях, близких к тем, при которых появляется электрический пробой p-n - перехода.
Наибольшее применение в излучателях нашла инжекционная электролюминесценция.
