- •1.1. Локализация диапазона ик- спектроскопии в общей шкале электромагнитного излучения. Уравнение Планка. Понятие о волновом числе. Соотношение частоты, длины волны и волнового числа.
- •1.2. Роль селективного поглощения излучения в специфическом характере ик- спектра. Закон Ламберта-Бера. Понятие о коэффициенте поглощения.
- •1.3. Многоатомные молекулы. Число степеней свободы, связанных с колебательными движениями. Колебательные спектры трехатомных молекул. Деформационные колебания.
- •1.4. Факторы, препятствующие интерпретации спектров.
- •1.5. Схема ик-спектрофотометра и принципы работы прибора. Эффективные характеристики прибора, калибровка.
- •1.6. Требования к образцу и его подготовка к анализу. Ограничения.
- •1.7. Деление ик-спектра на отдельные области. Условность деления. Значение для интерпретации. Факторы, усложняющие вид полос поглощения.
- •1.8. Оценка интенсивности полос поглощения в ик-спектроскопии и ее роль при интерпретации спектров. Факторы влияния на интенсивность.
- •1.9. Понятие о характеристических частотах групп и факторах, влияющих на них.
- •1.10. Межмолекулярные эффекты и характеристические частоты групп.
- •1.11. Внутримолекулярные факторы и характеристические частоты.
- •1.12. Характеристическое поглощение связей с-н. Виды колебаний в сн3—, сн2— и сн— группах.
- •Спектроскопия ямр
- •2.1. История открытия ямр. Уникальность метода ямр. Теоретические основы состава и движения ядер атомов. Характеристические параметры ядра.
- •2.2. Классический подход к объяснению возникновения ямр.
- •2.3. Квантово-механический подход к ямр. Квантование момента количества движения магнитных ядер. Уровни энергии.
- •2.4. Условия обнаружения сигнала ямр. Статистика и магнетизм ядра. Роль четности и нечетности в соотношении нуклонов ядра. Виды спектроскопии ямр.
- •2.5. Эффекты окружения в протонном резонансе. Представление об электронном экранировании и химическом сдвиге. Две шкалы оценки химического сдвига.
- •2.6. Ввзаимосвязь величин частоты и напряженности магнитного поля. Обеспечение постоянства Δν/ν. Зависимость вида спектра от частоты и напряженности поля.
- •2.7. Аномалия в химических сдвигах некоторых молекул. Эффект дальнего экранирования и его природа.
- •2.9. Спектры 0 и I-го порядка. Спин-спиновое взаимодействие, константа непрямого спин-спинового взаимодействия.
- •2.10. Механизм спин-спинового взаимодействия. Мультиплетность. Условия отнесения спектров ямр к спектрам I-го порядка. Формула мультиплетности для спектров I-го порядка.
- •2.12. Калибровка спектров ямр. Интегрирование сигналов. Назначение дополнительного оборудования.
- •2.13. Требования к образцу. Выбор растворителя. Реагенты специального назначения.
- •2.14. Введение в анализ спектров ямр высокого разрешения. Формулировка задачи.
- •2.17. Спектроскопия ямр других ядер помимо спектроскопии пмр. Преимущества и недостатки при сравнении результатов спектроскопии разных ядер. Области применения.
- •2.18. Динамические эффекты в ямр спектрах.
- •Масс-спектрометрия
- •3.2. Цели и задачи мс. Три основных типа информации, получаемые методом мс.
- •3.3. Характер дополнительной информации, получаемый методом мс. Определения массы молекулярного иона и его роль в мс анализе.
- •3.8. Общие схемы процессов, происходящих при ионизации нейтральных молекул в камере масс-спектрометра.
- •3.9. Понятие о масс-спектре. Обработка спектра для качественных и количественных исследований.
- •3.10. Условия появления молекулярного иона в спектре и его роль в идентификации веществ.
- •3.11. Особенности масс-спектрального анализа органических соединений.
- •3.12. Существующие ограничения при анализе органических соединений методом мс.
- •3.13. Схема основных узлов масс-спектрометра и принципы его работы. Особенности ввода пробы анализируемых веществ в прибор мс. Способы ввода образцов.
- •3.14. Основные характеристики прибора.
- •3.15. Процессы диссоциативной и ассоциативной ионизации органических соединений.
- •3.16. Методы диссоциативной ионизации.
- •3.17. Общие закономерности фрагментации.
- •3.18. Простой разрыв связей, правила фрагментации.
- •3.19. Масс-спектры отдельных классов органических соединений.
- •4.1. Электронные энергетические уровни и переходы – область исследования методом уф-спектроскопии.
- •4.2. Хромофоры. Ауксохромы. Батохромный и гипсохромный сдвиг максимума поглощения в уф-спектроскопии.
1.5. Схема ик-спектрофотометра и принципы работы прибора. Эффективные характеристики прибора, калибровка.
Источник излучения служит штифт Нернста или Глобара, нагреваемый эл.током до 1000—1800 °С. Штифт Нернста изготовляется из окислов Zr, Th и Ce и связующего в-ва. Штифт Глобара представляет собой небольшой стержень из карбида Si. Изображение источника должно быть шире, чем ширина максимум раскрытой щели. Максимум излучения Глобара приходится на область 5500-5000 см-1. При переходе к области 600 интенсивность излучения уменьшается в 600 раз. Штифт Нернста имеет максимум энергии излучения в области около 7100 см-1, которая падает примерно в 1000 раз при переходе к низким частотам. Излучение от источника разделяется на два пучка (канала) зеркалами М1 и М2. Оба пучка-пучок сравнения (ПС) и пучок образца (ПО)-фокусируются в кюветном отделении(КО) зеркалами М3 и М4.
Кюветное отделение. ПС и ПО входят в КО и проходят соответственно через кювету сравнения и кювету с образцом. Непрозрачные заслонки, смонтированные в кожухе осветителя, позволяют независимо перекрывать любой из пучков.
Фотометр. ПС проходит через фотометрический клин-ослабитель света отражаясь зеркалами М6 и М8, направляется на вращающееся зеркало М7 (модулятор), которое попеременно отражает ПС, выводя его из оптической системы, либо пропускает в сторону фокусирующего зеркала М9. ПС перекрывается с частотой от 8 до 13 Гц. Он направляется зеркалом М10 на входную щель S1 монохроматора. ПО проходит через компенсирующий клин и отражается зеркалом М5 на вращающееся секторное зеркало М7, которое попеременно пропускает пучок света, выводя его из оптической системы, либо отражает в направлении зеркала М9;отсюда он попадает на зеркало М10 и S1. На S1 постоянно фокусируется или ПС, который проходит через вырезы вращающегося зеркала М7, или ПО, который отражается зеркалом М7. ПС и ПО смешиваются вращающимся сектором в один пучок, что вызывает чередование сигналов на приемнике с частотой, равной скорости вращения зеркала М7. Когда пучки имеют одинаковую интенсивность, прибор показывает ≪оптический нуль≫. Компенсирующий клин в ПО служит для выравнивания пучков, если их интенсивность не одинакова. При отсутствии образца перо записывающего устройства показывает 100% пропускания, т. е.≪опт нуль≫. В зависимости от сигнала приемника, который определяется поглощением в ПО, в ПС вводится (выводится) из него фотометрический клин. Т.о, когда ПО поглощается пробой, фотометрический клин вводится в ПС до тех пор, пока его интенсивность не достигнет интенсивности ПО.
Монохроматор. Смешанный пучок, проходя через S1, попадает на зеркало М11, которое посылает его на отражательную дифракционную решетку G1. Этот пучок диспергируется в спектр по частотам и попадает опять на зеркало М11, а затем на М12 и выходную щель. Диапазон частот, падающих на S2, определяется шириной S1 и диспергирующей способностью (дисперсией) решетки. Область спектра диспергированного пучка, сфокусированная зеркалом М11 на S2, определяется углом поворота G1. Вращение G1 приводит к развертке (сканированию) спектра перед выходной щелью S2, т. е. перед приемником. В процессе сканирования спектра в пучок излучения перед S2 вводятся фильтры, чтобы исключить нежелательное излучение, которое обусловлено другими порядками спектра от дифракционной решетки, кратными измеряемой длине волны. Максимальное разрешение получается только в ограниченной области спектра, связанной с наибольшей концентрацией света дифракционной решеткой. Поэтому современные спектральные приборы высокого разрешения имеют сменные G1 и G2. Чем уже щель, тем выше разрешение. С понижением частот энергия источника излучения падает. В приборах имеется программное устройство, которое регулирует ширину щелей, чтобы энергия ПС, выходящая из монохроматора, оставалась постоянной при изменении длин волн.
Приемник. После S2 пучок излучения отражается плоским зеркалом М1З и попадает на эллиптическое зеркало М14. В одном его фокусе находится выходная щель, а в другом-приемник (детектор) представляет собой устройство, которое измеряет энергию излучения по его тепловому эффекту. 2 типа приемников: термоэлемент (энергия радиации нагревает один из двух биметаллических спаев и электродвижущая сила, возникающая между двумя спаями, пропорциональна степени нагрева) и болометр (при нагреве изменяет свое сопротивление. Он включается в одно из плеч моста, так что изменение Т-ры вызывает разбаланс сигнала в контуре. Сигнал разбаланса усиливается и регистрируется или используется для возбуждения сервомеханизма следящей системы, которая восстанавливает баланс. Поскольку на приемник попеременно попадают ПС и ПО с частотой переключения, задаваемой вращающимся М7, любое изменение интенсивности в результате поглощения в-ва регистрируется как отклонение от нулевого сигнала. Усиленный сигнал от приемника перемещает фотометрический клин и приводит его в такое положение, что интенсивность излучения в каналах сравнения и образца поддерживается постоянной. Степень ослабления дает непосредственно величину поглощения образца. Перемещение фотометрического клина регистрируется пером на бумаге.
