- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
метрическая дефектоскопия
Электронная дефектоскопия осущ при использовании выведенного пучка электронов
из бетатронов или линейных ускорителей. Регистрация электронов, прошедших, отра-
жённых или рассеянных изделием под различными углами к направлению падающего
пучка, позволяет судить о толщине покрытий, нарушениях внутренней геометрии и
сплошности изделий, появлении посторонних включений и других дефектах. Использо-
вание электронной дефектоскопии весьма полезно при контроле качества ферритовых
изделий для волноводов и других элементов РА.
Радиометрическая дефектоскопия - метод получения инфы о внутр сост контролиру-
емого изделия, просвечиваемого ионизирующим излучением, в виде электрических
сигналов. Этот м-д обесп наиб возможности автоматизации процесса контроля и осущ
автоматической обратной связи при контроле технологического процесса изготовления
изделий. По чувствительности этот метод не уступает радиографии. Детекторами
излуч здесь являются различного рода счётчики, ионизирующие камеры, электронные
умножители. Различают три способа регистрации прошедшего через объект излучения:
- счётный или токовый, когда регистрируется число частиц, прошедших через материал
или отражённых от него; -энергетический, когда регистрируется суммарная энергия
частиц, прошедших через объект или отражённых от него; - спектрометрический, когда
из всех частиц, прошедших через объект или отражённых от него, регистрируются
частицы только в определённом энергетическом интервале.
К аппаратуре радиометрического контроля относят радиационные толщиномеры, дефе-
ктоскопы с аналоговой записью местоположения дефектов на координатную бумагу и
др.
Метод позитронной дефектоскопии. Он основан на измерении углового рассеяния или
энергетического распределения позитронов, прошедших или отражённых от контроли-
руемого объекта
9.Ренгеновская микроскопия.
Рентгеновские лучи обладают большой проникающей способностью и сравнительно
небольшим разрушающим воздействием на объект .Им не нужны вакуумные условия,
толщина образцов, изучаемых на просвет может быть довольно большой, они инертны
к магнитным и электрическим полям, у них ничтожно малое преломление в различных
средах.
К методам рентгеновской микроскопии относятся контактная микроскопия (микро-
радиография), рентгенорадиография, рентгеновская топография, рентгеновский
микроанализ, рентгенотелевизионная микроскопия.
1
- электронная пушка, 2 - конденсорные
линзы, 3 - фольга, 4 – фотопластинка.
Создава Созд электронной пушкой и формируемый линзами электронный пучок бомбардирует тонкую фольгу из меди или золота, вызывая возникновение мягкого (λ > 0.1 нм) рентге-
новского излучения. Объект исследования располагается в непосредственной близости
от анода. Пройдя сквозь образец, рентгеновские лучи засвечивают фотопластинку,
проектируя на ней его увеличенное изображение. Увеличение прибора равно отношению
расстояний катод - образец и анод - фотопластинка. Обычно увеличение проекционного
метода не превышает 100. При применении светового микроскопа для рассмотрения в
последующем рентгеновского микроизображения на фотопластинке общее увеличение
составляет 104.
При использ для контроля ИЭТ ренгенотелевизионных микроскопов обеспеч высокая
производительность процесса контроля, оперативность и разрешающая способность. В
рентгенотелевизионном микроскопе теневое изображение объекта попадает на мишень
видикона, чувствительного к рентгеновским лучам. Увеличенное изображение объекта
рассматривается на телевизионном экране.
1
- рентгеновская трубка; 2 - контролируемый
прибор; 3 - рентгеновидикон; 4 – видеоусили-тель; 5 – ВКУ.
В этих приборах полностью обеспечена защита оператора от рентгеновских лучей. Манипуляторы обеспечивают плавное перемещение объекта по 3-м координатам и
поворот вокруг трёх независимых осей.
Применение методов рентгенотелевизионной микроскопии на стадии разработки
изделий позволяет в любое время получить информацию о степени совершенства и
отработанности конструкции и технологии. На стадии анализа причин брака и отказов
изделий Рентгенотелевизионный микроскоп дает возможность, не вскрывая и не нарушая
внутреннего состояния изделия, установить причину брака и возможностей физических
механизмов отказа.
С помощью рентгенотелевизионного микроскопа можно производить измерение
геометрических размеров внутренних элементов диагностируемых радиоэлектронных
компонентов.
