Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Sobchuk_Nachalo.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.07.2025
Размер:
2.56 Mб
Скачать

8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-

метрическая дефектоскопия

Электронная дефектоскопия осущ при использовании выведенного пучка электронов

из бетатронов или линейных ускорителей. Регистрация электронов, прошедших, отра-

жённых или рассеянных изделием под различными углами к направлению падающего

пучка, позволяет судить о толщине покрытий, нарушениях внутренней геометрии и

сплошности изделий, появлении посторонних включений и других дефектах. Использо-

вание электронной дефектоскопии весьма полезно при контроле качества ферритовых

изделий для волноводов и других элементов РА.

Радиометрическая дефектоскопия - метод получения инфы о внутр сост контролиру-

емого изделия, просвечиваемого ионизирующим излучением, в виде электрических

сигналов. Этот м-д обесп наиб возможности автоматизации процесса контроля и осущ

автоматической обратной связи при контроле технологического процесса изготовления

изделий. По чувствительности этот метод не уступает радиографии. Детекторами

излуч здесь являются различного рода счётчики, ионизирующие камеры, электронные

умножители. Различают три способа регистрации прошедшего через объект излучения:

- счётный или токовый, когда регистрируется число частиц, прошедших через материал

или отражённых от него; -энергетический, когда регистрируется суммарная энергия

частиц, прошедших через объект или отражённых от него; - спектрометрический, когда

из всех частиц, прошедших через объект или отражённых от него, регистрируются

частицы только в определённом энергетическом интервале.

К аппаратуре радиометрического контроля относят радиационные толщиномеры, дефе-

ктоскопы с аналоговой записью местоположения дефектов на координатную бумагу и

др.

Метод позитронной дефектоскопии. Он основан на измерении углового рассеяния или

энергетического распределения позитронов, прошедших или отражённых от контроли-

руемого объекта

9.Ренгеновская микроскопия.

Рентгеновские лучи обладают большой проникающей способностью и сравнительно

небольшим разрушающим воздействием на объект .Им не нужны вакуумные условия,

толщина образцов, изучаемых на просвет может быть довольно большой, они инертны

к магнитным и электрическим полям, у них ничтожно малое преломление в различных

средах.

К методам рентгеновской микроскопии относятся контактная микроскопия (микро-

радиография), рентгенорадиография, рентгеновская топография, рентгеновский

микроанализ, рентгенотелевизионная микроскопия.

1 - электронная пушка, 2 - конденсорные линзы, 3 - фольга, 4 – фотопластинка.

Создава Созд электронной пушкой и формируемый линзами электронный пучок бомбардирует тонкую фольгу из меди или золота, вызывая возникновение мягкого (λ > 0.1 нм) рентге-

новского излучения. Объект исследования располагается в непосредственной близости

от анода. Пройдя сквозь образец, рентгеновские лучи засвечивают фотопластинку,

проектируя на ней его увеличенное изображение. Увеличение прибора равно отношению

расстояний катод - образец и анод - фотопластинка. Обычно увеличение проекционного

метода не превышает 100. При применении светового микроскопа для рассмотрения в

последующем рентгеновского микроизображения на фотопластинке общее увеличение

составляет 104.

При использ для контроля ИЭТ ренгенотелевизионных микроскопов обеспеч высокая

производительность процесса контроля, оперативность и разрешающая способность. В

рентгенотелевизионном микроскопе теневое изображение объекта попадает на мишень

видикона, чувствительного к рентгеновским лучам. Увеличенное изображение объекта

рассматривается на телевизионном экране.

1 - рентгеновская трубка; 2 - контролируемый

прибор; 3 - рентгеновидикон; 4 – видеоусили-тель; 5 – ВКУ.

В этих приборах полностью обеспечена защита оператора от рентгеновских лучей. Манипуляторы обеспечивают плавное перемещение объекта по 3-м координатам и

поворот вокруг трёх независимых осей.

Применение методов рентгенотелевизионной микроскопии на стадии разработки

изделий позволяет в любое время получить информацию о степени совершенства и

отработанности конструкции и технологии. На стадии анализа причин брака и отказов

изделий Рентгенотелевизионный микроскоп дает возможность, не вскрывая и не нарушая

внутреннего состояния изделия, установить причину брака и возможностей физических

механизмов отказа.

С помощью рентгенотелевизионного микроскопа можно производить измерение

геометрических размеров внутренних элементов диагностируемых радиоэлектронных

компонентов.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]