- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
(Характеристика СМЭ и их неисправностей)
Жизненный цикл РЭА состоит из следующих этапов: разработка, производство и экс-
плуатация. На этапах проектирования и изготовления в объекте могут возникать раз-
личные ошибки разработки и дефекты изготовления. В сфере применения в нем могут
возникать неисправности вследствие повреждений и отказов. Это требует организации
проведения диагностических процедур на каждом этапе жизненного цикла РЭА.
На каждом этапе формирования свойств объекта решается комплекс следующих задач: оптимального пла-нирования контрольноизмерительных операций; выполнения контрольно-измерительных операций и диагности-ческих процедур; анализ состояний объекта и диагностика причин нару-шения работоспособности; разра-ботка рекомендаций по обеспечению качества и надежности. Анализ отказов - это завершающий этап технич диагностирования разрабатываемых, изготавливаемых или используемых изделий. Он должен решать следующие общие и частные
задачи: установление видов отказов на этапах разработки, производства, испытаний и
эксплуатации; обобщение данных по отказам. Изучение их количественных изменений
во времени. Классификация и систематизация видов отказов; составление гипотез о
механизме отказа и его причинах. Проведение исследований для подтверждения этих
гипотез; разработка принципов неразрушающих методов определения потенциально
ненадежных изделий на основе результатов исследования механизмов отказов;
разработка рекомендаций по устранению причин отказов или по уменьшению числа
отказов определенного вида.
Техническая диагностика является одним из основных звеньев в общей цепи
разработки, изготовления и эксплуатации электронной аппаратуры, а также в цепи
контроля и управления качества продукции КБ, НИИ, производственных предприятий и
организаций, использующих эту аппаратуру в своих производственных процессах,
включая и медицинские учреждения.
5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
Под НК понимают такие методы контроля, кот не изменяя качества (параметров и харк)
изделий позволяют по вторичным признакам обнаружить скрытые дефекты, либо такие
их особенности, которые могут привести к потенциальной ненадежности изделий.
При неразрушающих испытаниях изделия без дефектов сохраняют своё качество не-
смотря на то, что при этом на испытуемый объект со стороны средств н контроля оказы-
вается определенное воздействие.
Все методы НК можно разделить на: методы, использующие потоки высокоэнергетич-
ных заряженных и нейтральных частиц; методы, использующие электромагнитные излу-
чения; методы, использующие статические электрические и магнитные поля; методы,
использующие упругие акустические колебания;
методы, основанные на капиллярном эффекте.
Методы НК, использующ потоки частиц, основаны на высоких проникающих способ-
ностях радиоактивных частиц (нейтронов, протонов, α и β частиц) и информационных
возможностях пучков электронов и ионов
Электромагнитные методы НК используют весь спектр электромагнитных излучений от
коротковолнового γ- и рентгеновского излучения до длинноволнового радиочастотного
диапазона длин волн .
Акустические методы используют упругие колебания среды, в которой они распро-
страняются, в диапазоне от ультра- до гиперзвука. Благодаря созданию СВЧ акустоэлек-
тронных и электронно-акустических преобразователей эти методы сейчас могут конку-
рировать с оптическими по информативности и разрешающей способности создаваемых
изображений.
Электрические, магнитные и капиллярные методы НК используют статические и мед-
ленно изменяющиеся электрические и магнитные поля, а также различные красящие
проникающие жидкости для обнаружения дефектов изделий и материалов типа
нарушения сплошности (трещины, раковины, расслоения, микронеровности поверхности
и т.д.).
