- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
Метод измерений применяется в том случае, когда уже существует заключение о возможных причинах дефекта — определена область нахождения X'. Работа каждого элемента в СМЭ может быть оценена определенными электрическими характеристиками.
Суть метода измерений заключается в том. чтобы с помощью измерительных приборов найти противоречия в работе устройства и на основе этих противоречий отыскать дефектные элементы.
При поиске дефекта результаты измерений сравниваются с данными, приведенными на принципиальных схемах, в описаниях или же полученными с помощью измерения аналогичных параметров в исправном СМЭ, если имеется такая возможность.
При отсутствии отклонения в измеряемых параметрах переходят к измерению в другой части области поиска X'; если же имеется явное отличие измеренных величин от нормы, то, используя данный или другие методы, находят неисправный элемент хi
При данном методе производят два основных вида измерений: измерение параметров сигналов (напряжения, полярности, формы, длительности импульса и т. п.) и измерение параметров электрических цепей (сопротивления, параметров АЧХ и т. п.)
Поиск дефектного элемента происходит следующим образом:
-последовательными измерениями в области X' находят элемент хR , напряжение на выходе которого отличается от нормы;
-на основе анализа принципиальной схемы отыскивается подмножество элементов, электрически связанных с элементом хк , которые могут влиять на изменение его режима;
-с помощью одного из описанных методов отыскивается дефектный элемент (в частном случае им может оказаться сам элемент xk ).
Если дефект х’ i определен в достаточно узкой области X', то проще и быстрее измерить не параметры сигналов, а параметры цепей, а именно: проверить омметром транзисторы, катушки индуктивности, дроссели и т. д.
Метод «черного ящика»
Многие сборочные элементы, входящие в состав СМЭ, могут быть представлены в виде многополюсников, содержащих m входов и n выходов Если входной сигнал в норме, а выходной не в норме, то деффект внутри.
76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
Метод замены применяют в двух случаях: на средних этапах обнаружения дефекта — для сужения найденной другими методами области X'; на поздних этапах — для нахождения дефектного элемента х’i .
Суть метода заключается в следующем. Если подмножество элементов Х с неисправного СМЭ заменить на аналогичное подмножество Xi заведомо исправных элементов и при этом проявление дефекта исчезает, то можно говорить о нахождении дефектного элемента х’i среди элементов подмножества Xi. Для повышения достоверности нахождения дефекта можно использовать следующие приемы:
-неоднократное повторение операции замены X'i на Xi и наоборот в ремонтируемом телевизоре с проверкой повторяемости эффекта;
-установку X'i в работающий СМЭ на место исправного Xi с проверкой проявления аналогичного дефекта.
77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
Метод воздействия в основном применяется на средних и поздних этапах поиска неисправности. Он основан на воздействии радиолюбителем на различные участки схемы СМЭ; реакция СМЭ на эти действия является дополнительной информацией о нахождении дефекта.
Метод осуществляется следующим образом.
1. На основе результатов, полученных другими методами, выбирается область воздействия X', в которой предположительно находится дефект x'i. Выбор области X' следует производить таким образом, чтобы за один шаг постараться отсечь значительное число элементов из числа сомнительных.
2. Выбирается способ воздействия, основными требованиями к которому являются: простота реализации; оперативность и быстрота выполнения; знание реакции СМЭ на данное воздействие; безопасность для радиомеханика; возможность повторения; исключение возможности внесения в устройство дополнительных дефектов.
Такими способами воздействия являются: изменение положения регуляторов и переключателей; замыкания выводов у некоторых элементов; подключение различных точек к земляной шине; подача сигналов на различные участки устройства; проверка на звук; выявление зависимости от колебаний напряжения сети.
Рассматриваются те или иные воздействия, после чего определяется, какой (и неопаснойли) будет реакция на указанное воздействие.
