- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
Этим методом можно не только обнаружить неисправность в комбинационной схеме, но и локализовать ее.
Основная идея этого метода заключается в выборе пути от места неисправности, например от ЛЭ D1 (рис. 4.26.), через последовательность ЛЭ D2 ... DN к некоторому выходу схемы Z
Сигналы на выходах ЛЭ, примыкающих к выбранному пути, должны активизировать эти ЛЭ, т.е. переключить их в состояние, открытое для прохождения сигнала по выбранному пути. Таким образом, о состоянии выхода ЛЭ D1 можно судить, контролируя выход DN. Часть схемы от ЛЭ D1 до ЛЭ DN активизированным путем, а процедура его формирования – прямой фазой, или фазой продвижения вперед.
Установив активизированный путь, мы должны найти некоторый первичный входной набор сигналов, который позволит протестировать рассматриваемый неисправный ЛЭ D1 ... DN до первичных входов схемы. Эта процедура называется обратной фазой продвижения назад.
Достоинства метода активизации одномерного пути – его простота, а также экономия объема памяти и времени выполнения программ поиска на ЭВМ.
Недостаток метода – невозможность применить его в некоторых случаях для поиска неисправности а сложных разветвленных комбинационных схемах.
67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
Метод логического анализа находит широкое применение для отладки и поиска дефектов как в аппаратуре, так и программном обеспечении.
Этот метод является аналогом метода измерений с помощью многолучевого осциллографа. Он позволяет наблюдать на дисплее логического анализатора одновременное изменение сигналов по нескольким каналам и запоминать их для дальнейшего анализа процессов, происходящих в диагностируемом устройстве.
Логические анализаторы (ЛА) выполняют функцию многоканальной регистрации, запоминания и отображения информации о поведении устройства в моменты времени, предшествующие какому-либо событию или следующему за ним. Они могут регистрировать одновременно однократные, периодические сигналы и обнаруживать помехи. Информация отображается на экранах дисплея в виде временных диаграмм или таблиц состояний. В зависимости от этого их подразделяют на два типа: анализаторы временных диаграмм (АВД) и анализаторы логических состояний (АЛС).
АЛС фиксирует состояния контрольных точек проверяемой схемы во время тактовых сигналов, задаваемых проверяемым устройством, и записывают процесс изменения состояний синхронно с его работой. АВД фиксируют состояния контрольных точек проверяемой схемы в моменты времени, которые задаются внутренним тактовым генератором анализатора независимо от проверяемой схемы. В обоих случаях состояния контрольных точек фиксируются в дискретные моменты времени в двоичной форме (0 – при отсутствии сигнала, 1 – при его наличии), заносятся во внутреннюю память, преобразуются к виду, удобному для индикации, и отображаются на экране индикатора либо в виде таблицы истинности (для АЛС), либо в виде квазивременной диаграммы (для АВД).
В первом случае данные заносятся в память синхронно с изменением логического состояния испытуемого узла, а во втором – асинхронно. Поэтому очень часто АЛС называют синхронными, а АВД – асинхронными анализаторами.
Чтобы избежать потери информации в АВД, необходимо запись в память вести с частотой, в несколько раз превышающей рабочую частоту испытуемого узла (в 5-6 раз). Поэтому рабочая частота АВД всегда выше, чем у АЛС и достигает в некоторых случаях 200 МГц. Кроме того, для полного воспроизведения диаграммы изменения логических состояний глубина памяти каждого канала АВД должна быть много больше, чем у АЛС.
АВД чаще всего используется на начальной стадии проектирования при отладке аппаратных средств, так как он позволяет оценить относительные задержки между каналами. Благодаря большой глубине памяти и специальной схеме детектора коротких импульсов АВД возможно отыскание коротких паразитных выбросов, существующих между тактовыми импульсами.
Многие АЛС имеют возможность отображать информацию не только в двоичном, но и в восьмеричном и шестнадцатеричном коде или в мнемокодах. Наличие дополнительного блока преобразования форматов в некоторых АЛС позволяет получить на экране индикатора таблицу команд непосредственно на языке программирования высокого уровня.
