- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
Задача обнаружения неисправностей в логических схемах состоит в том, чтобы определить, обладает ли данная логическая схема требуемым поведением. Для решения этой задачи необходимо прежде всего установить модель логической схемы как объекта контроля, затем выбрать метод обнаружения неисправностей и, наконец, модель неисправностей. С точки зрения особенностей поведения логические схемы можно разделить на комбинационные и последовательностные.
Комбинационная схема характеризуется тем, что состояние её выходов в любой момент времени полностью определяется состоянием входов в тот же момент времени, а структура характеризуется отсутствием контуров обратной связи (рис. 13.19).
Выходные сигналы комбинационной схемы z1 . . zm можно описать булевыми функциями a1 . . am от её входных сигналов x1 . . xn: Z=A(X).
Последовательностная схема характеризуется наличием внутренних состояний, а её структура – наличием внутренних контуров обратной связи (рис. 13.20), поэтому обнаружить неисправности в них, как правило, чрезвычайно трудно.
Рис. 13.19. Комбинационное логическое устройство |
Рис. 13.20. Последовательностное логическое устройство |
Цифровая схема считается послледовательностной, если её выходные величины в данный момент времени зависят не только от сигналов, поданных на входы, но также и от сигналов, подававшихся на эти входы ранее. К последовательностным схемам относятся дискретные устройства с памятью. Выходной сигнал Z, снимаемый с выходов дискретного устройства с памятью в момент времени t, зависит не только от входного сигнала X, поданного с это время, но и от внутреннего состояния S, в котором находится последовательностное устройство в момент времени t :
Z=A(X,s).
Математической моделью комбинационных устройств является булева функция, которая может быть задана таблицей истинности или таблицей “вырождения покрытий”.
Таблица истинности задаётся набором n-переменных (где n – количество входов комбинационной схемы). Максимальное число входных наборов, на которых определяются булевы функции для таблицы истинности, равно 2n. Поэтому она включает себя 2n строк и n+1 столбцов, причём n столбцов отведены для входных наборов, а в (n+1)-м столбце записывается значение булевой функции для соответствующих входных наборов.
Булева функция для комбинаторного логического элемента 2ИЛИ-НЕ имеет вид Z=X1+X2, а его таблица истинности представляется как : (сами нарисуете (везде нули, кроме первой строки) Данную таблицу истинности можно представить в виде так называемого вырожденного покрытия. Входные переменные обычной таблицы истинности принимают значение 0 или 1, а входные переменные в вырожденном покрытии могут принимать, кроме того, неопределённое значение x. Обычно строку вырожденного покрытия булевой функции называют кубом. Если значение входной переменной Xi равно x в некотором входном наборе, то это свидетельствует о том, что значение булевой функции в этом наборе не зависит от значения Xi, т.е. Xi может принимать значение и 0, и 1. Следовательно, куб
-
X1
X2
Z
x
1
0
представляет две строки таблицы истинности :
-
X1
X2
Z
X1
X2
Z
x
1
0
x
1
0
Вырожденное покрытие булевой функции Z=X1+X2 имеет вид
-
X1
X2
Z
0
0
1
x
1
0
1
x
0
Для задания сложного комбинационного устройства без обратных связей используется его вырожденное покрытие, которое несёт информацию как о булевых функциях, реализуемых логическими элементами, входящими в него, так и о связях логических элементов с входами и выходами комбинационного устройства и между собой.
Неисправность цифровой схемы – это физический дефект одного или нескольких компонентов, способный вызвать неправильную работу схемы. Старение или производственные дефекты могут вызвать постепенное ухудшение компонента, приводя к появлению отказов (постоянных ошибок). Помехи и наложения сигналов на фронтах могут привести к перемежающимся неисправностям (сбоям). В этом случае ошибка существует в одни интервалы времени и отсутствует в другие. Однако многие ошибки, которые вначале нося перемежающийся характер, в конце концов, становятся постоянными.
Рассмотрим логический элемент типа 3И (рис. 13.22). При отсутствии неисправности выходной сигнал Z описывается булевой функцией :
Z=X1X2X3.
Если вход X1 постоянно разомкнут, поведение элемента И будет, очевидно, описываться такой функцией, которая вообще не учитывает существования входа X1. Т.е. переменная X1 постоянно имеет значение 1 :
X1=1;
Z=1X2X3=X2X3.
Неисправность такого рода называют просто “неисправность X1=1” (тождественная единица). Подобным же образом короткое замыкание между коллектором и эмиттером транзистора называют “неисправность Z=0” (тождественный ноль).
