- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
ческое распознавание)
СТЗ представляет собой оптоэлектронный аппаратурный комплекс, предназначенный
для автоматизированного контроля качества по внеш виду изделий, а также для управ
положением инструмента и самого изделия в процессе его автоматизированной
обработки.
Сравнение изображения с эталоном. Сущ 2 подхода: м-д сравн шаблонов и сравн
совокупности параметров изобр. В 1-ом м-де изобр объекта поэлементно сравнивается с
базовым изобр, а получаемые расхождения фиксируются и в итоге становятся критерием
качества контролируемого объекта. Сравн с базовым изобр может производиться на физ
уровне как в телевизионных компараторах, где имеется два ТВ-канала, один из которых
формирует негативное изобр, и схема сравнения , или на логическом уровне, когда
базовое изображение хранится в памяти процессора и является эталонным для всего
потока контролируемых изделий.
В обоих м-дах сущ общ технич сложность, связанная с тем, что изобр исследуемого
объекта, поступающ на позицию контроля, необходимо совмещать с эталонным изобр.
Для этого могут быть использованы: 1) механич средства 2) электронные средства,
изменяющ параметры электронной развёртки и порядок считывания изобр датчиком; 3)
программные средства, изменяющ ориентацию в памяти эталонного изображения.
2 м-д сравн с совокупностью параметров контролируемого и эталонного объектов
закл в измерении по изобр контролируемого объекта его хар-стик (геометрич и физ) и
сравн их значений с допустимыми знач, хранящимися в памятипроцессора. Такими
геометрич параметрами м б площадь S, периметр L, форма объекта, кот хар-тся некото-
рым коэффициентом формы Kф=L2/S .
Возможны другие м-ды опред Кф. Под данным параметром может пониматься отн
расстояния rmax между макс удаленными 2-мя точками элемента изобр к сумме
расстояний rmin между точками в направлении,┴ к линии соед макс удаленные друг от
друга точки, умноженное на число N(h) дискретного разбиения элемента изображения:
Kф* = (rmax / ∑rmin ) х N(h)
Площадь элемента изобр легко подсчитывается аппаратно или программно, путем за-
полнения стабильными по частоте импульсами временных интервалов, соотв выделен-
ным с помощью пороговой сегментации элементам изображения.
При расчете линейных размеров нужно учитывать ориентацию объекта отн направл
сканирования телевизионной развертки..
Топографическое распознавание. Другой класс задач, вкл 3=рный анализ и распозн.
обычно явл значительно более сложным. Трёхмерное видение сущ. упрощается если
можно опред топографию (рельеф) поверхности. По телевизионному изобр измеряют
все расстояния до видимых точек объекта. Такое реш задачи иногда называют 2,5-
мерным, т.е. наблюдения плоского изобр и измерение косвенным методом рельефа
поверхности.
Мет-дов измерения рельефа поверхности по её теневому изобр при косом освещении .
Зная направление и высоту подсветки по длине тени от выступа или углубления на пов
можно рассчитать высоту или глубину рельефных элементов этой поверхности.Изменяя
направление подсветки анализируемой пов в памяти процессора можно накопить
определенное кол-во проекций теневого изобр, по кот процессор восстановит объёмное
трёхмерное изобр объекта .
