- •1.Классификация состояний технических объектов
- •2.Системы технического зрения. (Схема и способы сегментации) стз
- •3 Системы технического зрения. (Сравнение изображения с эталоном и топографи-
- •4. Техническия диагностика (тд) на различных стадиях жизненногоцикла смэ.
- •5 Общая классификация методов нк(неразрушающего контроля)
- •6.Приборы нк. Приборы визуализации изображений в нк
- •8.Радиоактивные и радиационные методы. (Электронная дефектоскопия – радио-
- •9.Ренгеновская микроскопия.
- •10. Электронная микроскопия (Осовные характеристики и принцип действия).
- •11. Электронная микроскопия. (Просвечивающий микроскоп).
- •Электронная микроскопия. (Растровая микроскопия).
- •Принцип действия ионного микроскопа.
- •Принцип действия туннельного микроскопа.
- •Принцип действия силового микроскопа.
- •Теоретические основы оптических методов нк
- •Классификация оптических методов нк
- •Оптическая (световая) микроскопия.
- •19.Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Лазерный сканирующий микроскопы).
- •20 Измерительный контроль в оптической (световой) микроскопии (Телевизионные микроскоп.).
- •21, Прямой контроль в оптической (световой) микроскопии
- •22. Микроинтерферометрия
- •23.Контроль толщины диэлек плёнок интерференц методами
- •24.Голографическая интерферометрия.
- •25. Разновидности спектральных методов нк:
- •26. Спектральные приборы
- •27. Фурье спектрометры
- •28.Эллипсометрия. (Поляризация света)
- •29. Эллипсометрия. (Контроль тонкоплёночных структур)
- •30. Эллипсометрия (Элипсометр)
- •31. Эллипсометрия. (Микроскоп)
- •32. Классификация методов тепловой дефектоскопии
- •33. Модель активного теплового контроля.
- •34. Модель пассивного теплового контроля
- •35. Оптическая пирометрия.
- •36. Приборы теплового контроля.
- •37. Системы прямой визуализации тепловых полей.
- •38. Системы промышленного тепловидения.
- •39. Радиоволновые методы нк.
- •40. Нк с использованием вихревых токов.
- •41. Акустические методы и средства нк. (Акустическая дефектоскопия.)
- •42. Акустические методы и средства нк. (Акустическая эмиссия)
- •43. Акустические методы и средства нк .(Методы акустографии.)
- •44. Акустические методы и средства нк .(Методы акустодефектоскопии.)
- •45. Акустическая микроскопия.
- •Акустоголографическая и лазерная система диагностирования.
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Принципы магнитной дефектоскопии.)
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Этапы методов магнитной дефектоскопии.)
- •1.Циркулярное намагничивание
- •2.Продольное намагничивание
- •3.Комбинированное намагничивание герца до 50...100 Гц
- •Магнитные методы нк и дефектоскопии.(Дефектоскопы.)
- •Магнитные толщиномеры.
- •Приборы для исследования и контроля структуры и характеристик ферромагнитных материалов
- •Электрические методы нк и дефектоскопии.(Электроразрядный метод дефектоскопии.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню третьей гармоники.)
- •Электропараметрические методы нк и диагностики радиоэлементов.(Оценка по уровню собственных шумов.)
- •56. Автоматизированные компьютер системы для нк. (рентгеновск томограф)
- •58, Осн принцип поиска неисправностей в рэс с приведенной последовательной структурой.
- •59 Оптимизация комбинир поиска неисправн по относит вероятностям сост
- •62. Поиск неисправностей в сложных аналоговых структурах с использованием их структурных моделей.
- •Р ис. 13.13. Функциональная модель рэс с разветвлённой структурой
- •64. Разновидность цифровых устройств и их неисправностей.
- •65. Функциональный и тестовый контроль цифровых устройств.
- •66. Поиск неисправностей в комбинационных схемах методом активизации одномерного пути
- •67. Диагностика цифровых устройств методом логического анализа
- •68. Диагностика цифровых устройств методом сигнатурного анализа.
- •69.Особенности внутрисхемного (поэлементного) контроля цифровых устройств. Диагностика и отладка цифровых устройств методом внутрисхемной эмуляции.
- •70.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Схемы контроля с избыточным дублированием аппаратной части иизбыточным кодированием операций.)
- •71.Встроенный контроль и диагностика цифровых устройств. (Метод псевдодублирования)
- •73. Методы поиска неисправностей (Метод внешних проявлений)
- •74. Методы поиска неисправностей (Метод анализа монтажа)
- •75. Методы поиска неисправностей (Методы измерений и чёрного ящика)
- •76. Методы поиска неисправностей (Метод замены)
- •77. Методы поиска неисправностей (Метод воздействия)
- •78. Методы поиска неисправностей (Методы электропрогона и простукивания)
- •79. Методики регулировки смэ.
- •80. Виды ремонта.
- •81. Системы автоматизации диагностирования.
25. Разновидности спектральных методов нк:
1.Атомный спектральный анализ обычно производят при высокой температуре исследуемого вещества (плазма, дуга, искра), когда происходит испарение вещества, расщепление его молекул на отдельные атомы и возбуждение этих атомов, приводящее к свечению вещества. (атомный эмиссионный анализ, т.е. исслед спектров излучения. атомный абсорбционный анализ, т.е. исслед спектров поглощения.)
2.Молекулярный. важно, чтобы в процессе анализа молекулы не изменили своей структуры. Спектры более сложных молекул легче изучать в поглощении, неподвергая исследуемое вещество нагреву, приводящему к распаду молекулы.
При абсорбционном анализе яркий пучок света от источника со сплошн спектром пропускают через исследуемое вещество. При этом часть световой энергии пучка будет поглощена.В результате в сплошн спектре появятся линии и полосы поглощен.
Частичное поглощение света происходит и при отражении его от поверхности различных тел, что также даёт возможность судить о структуре и химическом составе этих тел по их спектрам отражения.
Е
сли
атом или молекула поглощает падающую
на них световую энергию, то в некоторых
случаях наблюдается другое физическое
явление, которое характеризуется тем,
что в процессе пропускания света через
газообразное или парообразное вещество
и его рассеянии происходит изменение
длины световой волны (рис. 5.30).
Рис. 5.30. Комбинационный спектральный анализ
1 – лазер; 2 – объектив; 3 – сосуд с исследуемой средой; 4 – экран (фотоприемник)
При падении кванта излучения на молекулу исследуемого вещества возможно поглощ молекулой только части его энергии, причём возможно также и отдача молекулой части своей энергии.Поэтому энергия рассеянного кванта hрас может быть как меньше, так и больше энергии падающего кванта hпад на величину энергии собственных колебаний молекулы
hрас=hпад hмол .
По величине изменения длины волны можно судить о частотах собственных колебаний молекулы. Такой вид спектрального анализа- анализом по спектрам комбинационного рассеяния или комбинационным анализом.
Люминесцентный спектральн анализ: Поглощая падающее излучение, молекулы могут переходить в неустойчивое состояние с более высокой энергией, а затем, излучая, переходить в одно из устойчивых состояний с энергией, промежуточной между первоначальной и той, которой они обладали в неустойчивом состоянии. В результате этого длина волны излучения будет отличаться от длины волны возбуждения. По длине волны излучения люминесценции можно судить об уровнях энергии неустойчивых состояний молекулы, определять содержание примесей в полупроводниках.
26. Спектральные приборы
д
ля
проведения исследований излучения,
испуск различными физическими телами
или преобразованного в результате
взаимодействия с веществом при поглощении,
отражении, рассеянии или люминесценции.
Спектральный прибор оптического
диапазона состоит из: осветительной
(источник света 1 и конденсорные линзы
2, равномерно освещающие входную диафрагму
4. При абсорбцион анализе - кюветное
отделение 3. При эмиссионном анализе
источником излучения - исследуемый
объект, находящийся в виде атомного
газа), спектральной (входного коллиматора
5, диспергирующей системы 6 (призма или
дифракционная решётка) и выходного
объектива 7. В его фокальной плоскости
8 устанавливают переднюю фокальную
плоскость окуляра 9 (при визуальной
регистрации), фотопластинку 10 (при
фотографической регистрации) или
выходную диафрагму 11 (при фотоэлектрической
регистрации). В 1случае прибор называют
спектроскопом,
во 2м -спектрографом, а в 3м - спектрометром.)
и приемно-регистрирующей частей(состоит
при визуал методе из окуляра 9 и зрительной
трубы; при фотографическом - из
фотопластинки 10 или фотоплёнки; при
фотоэлектрическом - из фотоприёмника
12 (фотоэлемент, фотоумножитель,
фотосопротивление..), установл за вых
диафрагмой 11, усилительного устройства
13 и регистрирующего
устройства 14 (осциллограф, самописец,
цифровая печать).
Принципиальная схема спектрального прибора:
от назначения спект прибора им выделяется узкий спектр участок (монохроматором) или протяжённый участок спектра (полихроматором). при использ монохроматоров упрощается спектр часть, но усложн механич и эл-кая.
Осн характеристиками спектрального прибора: светосила и разрешающая способность.
Из общей энергии, испуск источником, до приёмника доходит небольшая часть, пропускаемая спектральным прибором-светосила, кот различна для излучений разных длин волн.
Способность прибора различать две близко расположенные линии определяется его разрешающей способностью. Разрешающая способность по Рэлею характеризуется количеством разрешаемых спектральных линий на определённой длине волны и зависит от ширины входной щели прибора и дисперсии (угловой или линейной) диспергирующего элемента. Для призменного диспергирующего элемента разрешающая способность зависит от длины волны анализируемого излучения
Разрешающая способность дифракционнй решётки определяется полным числом штрихов, нанесённых на её поверхность. При интерференц отдельных плоских волн, испытавших дифракцию на щелях решётки будут наблюдаться интерференционные максимумы тогда, когда разность хода лучей 2-1 будет равна целому числу волн падающего света. Положение максимумов t(sin - sin) = k , где t – пост решётки; - угол дифракции; - угол падения; k - порядок спектра.
