- •А.М.Грушевский, п.А.Жуков Учебно-методические разработки для лабораторного практикума по курсу «Конструктивно-технологические основы сборки электронных средств»
- •Лабораторная работа № 1 Технологические процессы сборки и монтажа бескорпусных полупроводниковых бис
- •Теоретические сведения
- •Конструктивные исполнения бескорпусных бис
- •Сборка и монтаж бескорпусных бис на коммутационных платах
- •Конструкции ленточных носителей
- •Технология сборки и монтажа бескорпусных имс на полиимидных носителях с алюминиевыми выводами (а1-пн)
- •Сравнительные характеристики оборудования для присоединения выводов к контактным площадкам кристаллов
- •Сравнительные характеристики оборудования для резки полупроводниковых пластин на кристаллы (дисковая резка)
- •Технология сборки и монтажа бескорпусных имс с объемными выводами
- •Сравнительные характеристики оборудования для приварки объемных выводов к кп кристаллов
- •Бескорпусная защита имс, смонтированных на полиимидных носителях
- •Домашнее задание
- •Лабораторное задание
- •Варианты заданий
- •Аппаратура
- •Методика выполнения работы
- •Требования к отчету
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Маршрутные карты тп
- •Маршрутная карта тп сборки и монтажа имс с гибкими проволочными выводами
- •Маршрутная карта тп сборки и монтажа имс на полиимидных носителях с алюминиевыми выводами
- •Маршрутная карта тп сборки и монтажа имс с объемными выводами, включая сборку и монтаж на полиимидных носителях с медными выводами
- •Формы таблиц для заполнения
- •Изучение технологического процесса сборки и монтажа интегральных микросхем
- •Конструктивно-технологические особенности изучаемых имс
- •Теоретические сведения
- •Сравнительные параметры мкп, выполненных по различным технологиям
- •Особенности реализации некоторых конструкторско-технологических разновидностей мкп
- •Перспективные конструкторско-технологические разработки мкп
- •Параметры полимерных материалов, используемых в качестве оснований гибких плат
- •Исходные данные и варианты задания
- •Порядок выполнения задания
- •Пример выполнения задания по варианту 1 практического занятия № 2
- •Варианты задания
- •Форма табл. 2.5 Результаты выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Лабораторная работа № 3 Автоматизация процесса пайки при монтаже компонентов на коммутационные платы
- •Теоретические сведения Автоматизированный процесс пайки
- •Автоматизированная система контроля и управления параметрами технологической среды при пайке
- •Форма табл. 3.3 Результаты выполнения задания для варианта …
- •Результаты выполнения задания для варианта 1
- •Лабораторная работа № 4 Герметизация эвс и методы контроля герметичности
- •Теоретические сведения
- •Герметизирующие конструкции с замкнутыми газовыми полостями
- •Исходные данные и варианты заданий
- •Порядок выполнения задания
- •Пример выполнения задания
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
Сравнительные характеристики оборудования для приварки объемных выводов к кп кристаллов
Технико-эксплуатационные данные
|
Оборудование |
||
ЭМ-4006-1 |
ОЗУ С-10000 |
УЗС.ПСП |
|
Диаметр золотой проволоки, мкм |
30-40 |
30 - 40 |
30 |
Время сварки, мс (с регулированием) |
30-250 |
30-190 |
30 - 250 |
Давление, Н |
0,1-15 |
0,1*15 |
0,1 - 13,5 |
Выходная мощность УЗ генератора, Вт |
6,3 |
10 |
10 |
Машинное зрение |
Нет |
Нет |
Есть |
Управление циклом работ |
Ручное |
Автоматическое |
Автоматическое |
Машинное время цикла приварки, с |
3 |
1 |
1 |
Способ оплавления золотой проволоки |
Искра высоковольтного разряда |
Газовое пламя |
Искра высоковольтного разряда |
При контроле внешнего вида кристаллов ИМС с ОВ регламентируются обычные дефекты скрайбирования, металлизации, защитного слоя окисла и объемных выводов.
Высота ОВ контрольной картой не регламентируется и обеспечивается технологическим процессом, т.е. равна 65 + 5 мкм в пределах кристалла, 65 + 15 мкм в пределах плат.
Укладка ИМС с ОВ производится на рабочем месте совмещения полиимидного носителя с кристаллом, которое включает устройство совмещения и специальную тару.
Устройство совмещения настольного типа оснащено проектором ПН-80 вакуумной системы с клапаном, обеспечивающим автономное подключение вакуума к ПН и кристаллу для фиксации их положения.
Специальная тара предназначена для механического формирования контакта выводов измерительного ПН и ОВ кристалла, транспортирования кристалла БИС с ОВ и измерительным ПН без потери ориентации, а также для проведения операций по измерению параметров БИС и проведения электротермотренировки.
Основными видами брака при формировании ОВ являются несовмещение ОВ с КП кристалла и отклонение геометрии ОВ от требований контрольной карты. Причины брака - дефекты проволоки и невнимательность операторов при обслуживании автоматов. Выход годных на операции формирования ОВ составляет ~ 80 %. Объемные выводы на кристаллах БИС имеют следующие технические данные: высота Н = 65 ± 5 мкм и диаметр D =(115 + 15) мкм (рис.21).
Рис. 21. Геометрия объемного вывода
Для монтажа Сu - ПН (платы гибкой) на кристаллы с ОВ используется установка полуавтоматической пайки УПП-600. Установка обеспечивает пайку выводов с кристаллами размером от 1x1 до 15x15 мм, имеющими высоту ОВ не менее 40 мкм, при разновысотности ±2,5 мкм. Количество одновременно присоединяемых выводов - до 60.
Установка позволяет производить монтаж объемных выводов кристалла на выводы ПН с покрытием Sn - Bi.
Ее производительность при длительности монтажа 0,5 с составляет не менее 600 кристаллов/ч. Температура нагрева инструмента для монтажа от 100 до 450°С.
Установка состоит из механизма автоматической подачи кристаллов и ПН в зону монтажа, элементов ручного подсовмещения балочных выводов ПН с выводами кристалла и электронной системы управления.
Так как локальный подвод тепла к каждому выводу затруднен, то соединение, как правило, получают пайкой за счет подвода тепла через кристалл. Иными словами, монтаж навесных элементов может производиться на платы с лужеными контактными площадками. Основными ограничениями применения метода перевернутого кристалла являются высокие требования к точности изготовления ОБ по высоте и сечению. Оптимальная толщина покрытия балочных выводов ПН 3-5 мкм. При меньшей толщине наблюдаются частые разрушения контакта между выступами кристалла и балочными выводами носителя; при толщине, большей 5 мкм, припоем могут замкнуться соседние шариковые выводы и образоваться интерметаллиды. Монтаж осуществляется на установке микросварки МС-6Р2-4 (буква "Р" означает "ручная").
Для кристаллов ИМС Б537РУ2А-2 выход годных на операции монтажа равен ~ 23 %.
