- •Лазерные измерения
- •1. Теоретическое описание 23
- •Лабораторная работа № 1. Тепловой метод измерения мощности лазерного излучения
- •Измерение мощности и энергии лазерного излучения
- •Методы измерения энергетических параметров излучения
- •Тепловой метод измерения мощности и энергии лазерного излучения
- •Устройство и принцип действия измерительного преобразователя пи- 7
- •Устройство и принцип действия измерителя средней мощности и энергии лазерного излучения имо–2н
- •Порядок выполнения работы
- •Экспериментальная установка
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 2. Исследование характеристик фотопреобразователей лазерного излучения
- •Теоретическое описание
- •Г Рис. 2.2. Схема включения фотодиода в гальваническом режиме. Альванический режим
- •Вольтаический режим
- •Основные параметры фотодиода
- •Основные характеристики фотодиода
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 3. Интерферометр Майкельсона
- •Теоретическое описание
- •П Рис. 3.1. К определению комплексной степени кочгерентности. Араметры, характеризующие временную когерентность источников света
- •И Рис. 3.3. Схема интерферометра Майкельсона. Нтерферометр Майкельсона
- •Экспериментальная установка «Интерферометр Майкельсона»
- •Описание установки
- •Оценка длины временной когерентности
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 4. Интерферометр Фабри-Перо
- •Теоретическая часть
- •Эталон Фабри-Перо
- •Разрешающая способность интерферометра Фабри–Перо
- •Дисперсионная область
- •Примеры использования интерферометра Фабри-Перо
- •Экспериментальная установка «Интерферометр Фабри – Перо»
- •Описание установки
- •Измерение разности длин волн
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 5. Интерференция поляризованного света
- •Коноскопические картины
- •Интерференция в кристаллических пластинках
- •Интерференционные картины в одноосных кристаллах
- •Интерференционные картины в двуосных кристаллах
- •Применение коноскопических картин для анализа свойств оптически одноосных кристаллов
- •Э Рис. 5.3. Интерференционная картина в двуосном кристалле (бразильский топаз). Кспериментальная установка «Интерференция поляризованного света»
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Лабораторная работа № 6. Линейный электрооптический эффект
- •Распространение света в двулучепреломляющих кристаллах и линейный электрооптический эффект
- •Линейный электрооптический затвор (лэз)
- •Экспериментальная установка
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы Основной список
- •Дополнительный список
Вольтаический режим
В вольтаическом режиме к фотодиоду прикладывается от внешнего источника обратное напряжение Uсм, (рис. 2.3). И в этом случае при отсутствии засветки через p-n переход и нагрузочный резистор протекает темновой ток IТ. Освещение индуцирует дополнительный фототок IФ. Суммарный ток в цепи будет складываться из темнового тока и фототока:
Рис. 2.3. Схема включения
фотодиода в вольтаическом режиме.
.
Фотодиод в этом режиме обладает значительным внутренним сопротивлением (режим источника напряжения) и нагружается на схемы с большим входным сопротивлением.
Основные параметры фотодиода
Параметром называется
характерная величина, которая служит
критерием оценки качества данного
объекта (например, фотоприемника -
уровень собственных шумов), или процесса
(например, релаксации - постоянная
времени). К основным параметрам фотодиода
относятся: время
пролёта, ёмкость,
эквивалентная
мощность шума NEP, линейная
(угловая) апертура, темновой
ток, коэффициент
преобразования (по току -
,
по напряжению
,
спектральный Sλ, интегральный
SA).
Рассмотрим временные параметры фотодиода детально. Постоянная времени фотодиода определяется как время, прошедшее от начала засветки входной апертуры фотодиода до достижения выходным электрическим сигналом на его нагрузке определённого уровня (например 0,5; 0,707; 0,9... от максимального значения) и выражается суммой:
● времени пролёта tпр носителей от места их генерации под действием света (в тонком поверхностном слое) до p-n перехода, где они рекомбинируют, типичное значение tпр ≈ 0.1 нс;
● постоянной времени τ схемной релаксации, определяемой параметрами RC-цепочки, образуемой емкостью p-n перехода фотодиода и сопротивлением нагрузки.
Ёмкость p-n перехода описывается выражением
,
где ε0 = 8.85∙10-12 Ф/м - диэлектрическая постоянная вакуума, ε - относительная диэлектрическая проницаемость полупроводникового материала фотодиода, (для используемых в настоящей работе εSi = 11.9 и εGe = 16.0), S - площадь р-n перехода (площадь входного окна фотодиода), dp-n - ширина области объёмного заряда для резкого р-n перехода (отметим, что за исключением р-i-n структур, переходы всех остальных промышленных фотодиодов можно считать резкими), определяемая формулой:
, (2.1)
где e = 1,6∙10-19 Кл - заряд
электрона, N - концентрация электронов
в n- области, P- концентрация дырок в p-
области, φ - контактная разность
потенциалов. С хорошим приближением
можно считать, что
,
где W - ширина запрещённой зоны используемого
полупроводникового материала (для
исследуемых фотодиодов WSi = 1,12эВ,
WGe = 0,66эВ).
Поскольку используемые в работе фотодиоды ФД-24 и ФД-10ГА имеют несимметричный p-n переход, то есть N<<P, то формула (2.1) принимает вид:
.
Таким образом, постоянную времени схемной релаксации, которую несложно измерить экспериментально, выразим как
. (2.2)
Основные характеристики фотодиода
Характеристикой фотоприёмника называют зависимость, описывающую поведение его выходного (электрического) сигнала как функцию какого-либо параметра входного (как правило, светового) сигнала.
К основным характеристикам фотодиода следует отнести спектральную, световую, частотную, нагрузочную, шумовую и ряд других. В данной лабораторной работе изучаются частотная, нагрузочная характеристики фотодиода и характеристика, описывающая чувствительность его фотоотклика к напряжению смещения. Остановимся на этих характеристиках подробно.
Частотная характеристика фотодиода определяется как зависимость амплитуды отклика фотодиода на синусоидально-модулированный по мощности поток излучения от f - частоты модуляции. При этом средняя мощность излучения от частоты модуляции не зависит - это обеспечивается условиями проведения эксперимента (в данной работе - путём поддержания мощности P модулированной части потока на одном и том же уровне - калибровкой источника излучения - оптического генератора). Аналитически токовая частотная характеристика выражается формулой:
(2.3)
При нелинейной зависимости
U от RН соответствующую нагрузочную
характеристику получают экспериментально,
как функцию амплитуды фотоотклика
(мощность излучения модулируется
гармонически) от сопротивления нагрузки.
Физически насыщение нагрузочной
характеристики обусловлено собственным
внутренним сопротивлением r фотодиода
и описывается исходя из закона Ома для
полной цепи
.
