Экспериментальная часть

5. Проведение рентгеновской съемки

Рентгеновскую съемку проводят с целью измерения интенсивности I (hkl) соответствующих дифракционных линий образца и, если это требуется, эталона. Для измерения интегральных интенсивностей ис­пользуют рентгеновские дифрактометры типа УPC - 50И или ДРОН.

Для построения ОПФ снимают полную рентгенограмму образца в монохроматическом - излучении. При съемке образец приводят во вращение в своей плоскости . Скорость перемещения счетчика при съемке 0,5 - 1,0 град/мин. Для оптимального разрешения дифракцион­ных линий на рентгенограмме коллимационные щели (первая и вторая) и щель перед счетчиком должны быть шириной 0,5-0,5-1,0 мм соответ­ственно.

6. Порядок расчета и построения обратных полюсных фигур

По полученным дифрактограммам определяют интегральную ин­тенсивность соответствующих дифракционных линий образца и этало­на, после чего рассчитывают полюсную плотность рефлексов . При этом используют данные табл. 1 -3.

Расчет и построение ОПФ без применения ЭВМ

Полюсную плотность при этом рассчитывают по формулам (6-9). Необходимые для расчета значения для дифракционных линий на рентгенограммах алюминия, никеля и титана (см. табл. 1-5), измерен­ные значения интенсивности дифракционных линий, а также вычис­ленные значения полюсной плотности заносят в таблицу по форме (см. табл. 6).

Таблица 6

Значения интенсивности и полюсной плотности

№п/п	hkl

Обратную полюсную фигуру строят по стандартной сетке.

В соответствующих точках элементарных треугольников наносят величину полюсной плотности и проводят линии равной плотности.

Расчет и построение ОПФ с применением ЭВМ

1. Полюсную плотность рефлексов на ОПФ по второму методу (с применением ЭВМ) рассчитывают по программе IPFHC для металлов и сплавов с кубической решеткой и IPFHH для металлов и сплавов с гексагональной решеткой.

Исходные данные набивают на перфокарты в следующем порядке:

1ПК - число использованных дифракционных линий N (формат 13);

2ПК - значения с / а ( для гексагональных металлов), Å (формат F 7,5);

кристаллографические индексы Миллера (hkil) дифракционных линий (формат 13);

ЗПК - значения интегральной интенсивности дифракционных ли­ний эталона (см. табл. 1-5) (формат 14 F 5.0), порядок записи которых соответствует порядку записи кристаллографических индексов на вто­рой перфокарте;

4ПК - значения интегральной интенсивности дифракционных ли­ний исследуемого образца (формат 14 F 5.0), порядок записи которых соответствует порядку записи линий эталона на третьей перфокарте (при N>14 данные размещают на двух перфокартах)

2. Обратную полюсную фигуру строят на кальке, наложенной на стандартную сетку (рис. 1,в - для металлов с кубической решеткой; рис. 2, в- для металлов с гексагональной решеткой). В соответствующих точках ОПФ наносят значения полюсной плотности в зависимости от изменения углов и .