- •Мазмұны
- •1 Тарау. Құрылымдық кристаллографияның элементтері
- •1.1 Кеңістіктік тор және қарапайым ұяшық
- •- Сурет – Координатаның оң жақты жүйесі және қарапайым
- •1.1.5 Тiк бұрышты координатталар жүйесiндегi екi түзу арасындағы бұрыш.
- •1.2 Бравэ торлары
- •1.3 Жазықтық аралық арақашықтықтар
- •1.4 Кристаллографиялық проекциялар
- •12 Қабырғаларының (а) кристаллографиялық кешендерiмен (б, в) алмастыру қағидасы
- •1.4.1 Стереографиялық проекцияны құру принципi
- •1.4.2 Гномостереографиялық проекцияны тұрғызу қағидасы
- •1.5 Керi тор
- •1.6 Кристалды химияның негiздерi
- •1.7 Металдардың құрылымы және металл қорытпалардың фазалары
- •1.8 Кристалдық құрылыстың ақаулары
- •2 Тарау. Рентген құрылымды талдау тәсiлдерiнiң физикалық негiздерi
- •2.1 Рентген сәулелердiң табиғаты туралы қысқаша мәліметтер
- •2.2 Рентгендiк сәулеленудiң көздерi
- •2.3 Рентгендік сәулеленудiң спектрі
- •2.4 Рентген сәулелердiң затпен өзара әрекеттесуi
- •2.5 Вульф-Брэггтердiң теңдеуi
- •2.5.1 Зат арқылы өткенде рентген сәулеленудiң әлсiреуi
- •2 Қабат қалыңдығы, мм .10 - сурет– Бақылайтын үлгiлер қалындығының өзгеруiнен (5 және 7 мм) және материалдар табиғатынан (магний және темiр) рентген сәулелер қарқындылығының өзгеруi
- •2.6 Рентген сәулелердiң қосымша әдiстерi
- •2.6.1 Рентген сәулелердiң фотографиялық әсер етуге негiзделген тiркеу
- •2.7 Дифракционды максимумдардың қарқындылығына әсер ететiн факторлар
- •2.8 Рентген құрылымдық талдаудың қағидалары мен негiзгi әдiстерi
- •- Саңылаулы диафрагма;
- •3 Тарау. Рентген құрылымды талдаудың есептерi мен жаттығулары
- •3.1 Құрылымдық кристаллография және кристалдыхимия
- •3.2. Рентгендiк сәулелер шашырауының жалпы теориясы
- •3.2.1. Рентгендiк сәулеленудiң спектрлерi
- •3.2.2. Рентгендік сәулелердің әлсіреуі мен жұтылуы
- •3.3 Құрылымдық талдаудың тәжiрибелiк әдiстерi
- •3.3.1 Лауэ әдiсi
- •3.3.2 Кристалды айналдыру әдiсiмен зерттеу
- •3.3.3 Поликристалды нысандарды рентген құрылымдық зерттеу (ұнтақ әдiсi)
- •3.3.4 Фазалардың идентификациясы және фазалық талдау
- •3.3.5 Текстураның рентгенографиялық талдауы
- •3.3.6 Жұқа құрылымның параметрлерiн талдау
- •Рентгенография
1.3 Жазықтық аралық арақашықтықтар
Кристалл жазықтарының сипаттамасы тек қана оның кристалдық тор кеңiстiгiндегi бағыты ғана емес, сонымен қатар, координаттардың басынан барлық кристаллографиялық жазықтықтарынан өткiзiлген нормальдардың ұзындықтарына сәйкес келетiн көршiлес параллель бiрдей жазықтықтар арасындағы жазықтық аралық арақашықтығы болады (1.5 - сурет).
Жазықтықтар аралық арақашықтықтар кезкелген параллель жазықтықтар жүйесi үшiн тұрақты шама болып табылады, бұл түйiндердiң орналасуының дұрыс үш өлшемдi периодтылығы шартында және олардың кристалдағы бағытына байланысты тәуелдi өзгередi, демек Миллер индексiмен өзгереді.
Неғұрлым жазықтықтар индекстерiнiң мәндерi аз болса, соғұрлым жазықтықтар аралық арақашықтығының шамасы үлкен болады. Жазықтықтар аралық арақашықтық шамасының максимальдi мәндерi (100), (010), (001) - индекстерi бар жазықтарға сәйкес келедi.
Рентгенографиялық есептеулерде тәуелдiлiктiң квардраттық түрiн жиi қолданады, ол жазықтықтар аралық арақашықтықтарды тордың периодтарымен байланыстырады.
1.5– сурет – Координаттар басынан жүргiзiлген
нормальдардың ұзындықтары сияқты жазықтық аралық ара-қашықтықты анықтау
1.2 - кестеде кейбiр сингониялардың жазықтық аралық арақашық-тықтардың формулалары келтiрiлген.
1.2 – кесте – Жазықтық аралық ара қашықтықтар, dHKL
-
Сингония
Жазықтықтар арасындағы ара-қашықтықтар
Текшелік
Тетрагональдi
Ромбты
Гексагональдi
1.4 Кристаллографиялық проекциялар
Кристаллографияның, рентген құрылымдық және электрондыгра-фиялық талдаулардың кейбiр есептерiн есептегенде кристалдық тор жазықтығының өзара бағдарын және бағытын ғана бiлу жеткiлiктi. Сондықтан, параллель жазықтықтар жүйелерiн бiр жазықтықпен алмастырады да, ал параллель бағыттардың жүйелерiн - бiр түзумен алмастырады, олар кристаллографиялық кешенді түзедi және кристаллографиялық проекцияларда көрсетiледi (1.6 -сурет).
Бұл есептердiң шешуi кристаллографиялық кешендерді графикалық әдiстермен салуға байланысты. Кристалдың проекциясы мағынасы астында жазықтықтар мен бағыттардың нүктелер мен сызықтардың өзара орналасуын, яғни кристалдардың элементтерiнiң проекция жазықтығындағы шартты бейнесi деп түсiнемiз.
1.6 - сурет – Текшелік өзара 6 параллель жақтары мен
12 Қабырғаларының (а) кристаллографиялық кешендерiмен (б, в) алмастыру қағидасы
Проекция бойынша жазықтықтар мен бағыттардың арасындағы бұрыштарды дәлдiкпен анықтауға болады. Кристалдардың проекциялары тек ғана симметрияның жазықтары мен элементтерiнiң өзара орналасуын ғана анықтап ғана қоймай, сонымен қатар көрнектi құрылысы бола алады.
Кристалдарды (кристалды тордың элементтерiн) бейнелеу үшiн келесi проекциялардың түрлерiн пайдаланады: сызықтық, гномоникалық, сфералық, гномосфералық, стереографиялық және гномостереографиялық. Әсiресе, рентген құрылымдық талдауда стереографиялық және гномостереографиялық проекцияларды жиi қолданады, олардың артықшылығы кристалдық проекцияланған элементтерiнiң арасындағы бұрыштардың сақталуы болып табылады.
