3.3.5 Текстураның рентгенографиялық талдауы
1. Аксиальды текстуралы [uiviwi] және текшелік торлы үлгідегі нормальдардың таралу тығыздығының жазықтықтарға (hikili) проекциясын көрсетіңіз. Текстураның салыну бұрышы 7о. Проекция жазықтығы мен текстура өсі арасындағы бұрыш - .
Тапсырма нұсқалары
Нөмірі |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
[uiviwi] |
111 |
111 |
111 |
111 |
111 |
111 |
111 |
110 |
110 |
001 |
(hikili) |
110 |
111 |
111 |
111 |
100 |
100 |
110 |
001 |
111 |
110 |
, град |
30 |
0 |
45 |
90 |
0 |
90 |
0 |
0 |
0 |
45 |
2. (hikili) жазықтықтарынан дифракцияның минимальдi бұрыштарын-дағы шағылудың түсiрiлімі мыс анодынан К сәулеленуiнде Брегг-Брентано бойынша фокустеумен дифрактометрде түсiрiлген. Үлгiнiң айналу өсi оның жұмыс бетiне нормальдi; текстураның өсi жұмыс бетiнен - бұрышқа ауытқиды. Текстураның максимумдары арасындағы бұрыштық ара қашықтық қандай? Үлгiнiң аксиальдi текстурасы бойынша берiлгендер 1-ші тапсырманың нұсқаларында келтiрiлген.
3.3.6 Жұқа құрылымның параметрлерiн талдау
1. Егер 110=0,15 град; 220=0,61 град болса, 60% сығумен бөлме температурасында прокаттап деформацияланған болат 10 маркалы үлгiсiндегi дислокациялардың тығыздығын және олардың таралуын анықтаңыз. Со К - сәулеленуi.
2. Ni-V жүйесiндегi фазалық тепе-теңдiк кезiнде, Ni+25% (ат.) V қоспасында ЖОТ торымен қатты ерiтiндi және Ni3V фаза бар екенi табылған. 6700С температурадағы жасытудан кейiн қатты ерiтiндi торының периоды 0,3550 нм, 8000С болғанда - 0,3553 нм, 9000С - 0,3556 нм және 9800С - 0,3560 нм құрайды. 3.1 - суреттi қолданып, Ni-де V-дің еру шекарасын құрыңыз және 9000С кезiндегi ерудi анықтағанда жіберілген қатенi анықтаңыздар. Берілгені: t=50C, а=10-4 нм
3.1 - сурет – Қатты ерiтiндi тор периодының екiншi компоненттің (Ni-V жүйесi) атомдық концентрациядан тәуелдiлiгi
3. Sn ерiгенде Cu тор периодының былай өзгеретiнi белгiлi: а=3,608+0,010CSn (Csn - % (ат.) Sn). Периодтың анықтауын 420 (CuK - сәулеленуi) түзуi бойынша периодтың анықтауын РКУ-86 камерасында, 200, 300 және 4000С-дегi Sn-ның Cu-ғы ерiгіштік шегін анықтағандағы қатенi табыңыздар.
Берілгені: 3.2-суреттi қолданыңыздар, t=20C.
а - а=(СSn) тәуелдiлiгi; б - ерігіштік шекарасы (1 - С.Т. Конобеевскийдiң және В.П. Тарасовтың берiлгендерi; 2 - М.Хансеннiң берiлгендерi)
3.2 - сурет – Мыстағы қалайының ерiгіштігін анықтау
Пайдаланылған әдебиеттер тізімі
1. Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скакова Ю.А. Рентгенографический и электронно-оптический анализ - М.: МИСиС, 2002. – 360 с.
2. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия – М.: «Металлургия», 1982. – 632 с.
3. Русаков А.А. Рентгенография металлов – М.: «Атомиздат», 1977. – 479 с.
4. Шаскольская М.П. Кристаллография – М.: «Высшая школа», 1976. – 391 с.
5. Рентгенография. Спецпрактикум. Под общ. ред. Канцнельсона А.А. – М.: Изд-во МНУ, 1986. – 240 с.
6. Пинес Б.Я. Лекции по структурному анализу – Харьков: Изд-во ХГУ, 1967. - 476 с.
7. Приборы и методы физического металловедения. Выпуск 1. Под ред. Ф. Вейнберга. Перевод с англ. – М.: «Мир», 1973. – 427 с.
8. Боранбаева Б.М., Султамуратова Г.И. Кристаллография и дефекты кристаллического строения металлов/Учеб.пособие. – Алматы, 2005. – 117 с.
9. Смағұлов Д.Ұ. Металлография/Оқулық. – Алматы: ҚазҰТУ, 2007. – 376 б.
10. Сұлтамұрат Г.И. Кристаллография және кристалл құрылымының ақаулары/Оқу құралы. – Қарағанды: Қазақстан – Ресей Университеті баспасы, 2010. – 92 б.
11. Сұлтамұрат Г.И., Лежнев С.Н., Боранбаева Б.М., Андреященко В.А. Тонкая структура реальных материалов. Учебное пособие– Темиртау, 2013.- 111 с.
12. Сұлтамұрат Г.И. Кристаллография негіздері және кристалл құрылымының ақаулары/Оқу құралы. – Қарағанды: ҚарМТУ, 2014. – 95 б.
Оқу басылымы
СҰЛТАМҰРАТ ГҮЛМИРА ИЗАТУЛЛАҚЫЗЫ
БОРАНБАЕВА БАҒДАТ МЕКЕТАЕВНА