- •Мазмұны
- •1 Тарау. Құрылымдық кристаллографияның элементтері
- •1.1 Кеңістіктік тор және қарапайым ұяшық
- •- Сурет – Координатаның оң жақты жүйесі және қарапайым
- •1.1.5 Тiк бұрышты координатталар жүйесiндегi екi түзу арасындағы бұрыш.
- •1.2 Бравэ торлары
- •1.3 Жазықтық аралық арақашықтықтар
- •1.4 Кристаллографиялық проекциялар
- •12 Қабырғаларының (а) кристаллографиялық кешендерiмен (б, в) алмастыру қағидасы
- •1.4.1 Стереографиялық проекцияны құру принципi
- •1.4.2 Гномостереографиялық проекцияны тұрғызу қағидасы
- •1.5 Керi тор
- •1.6 Кристалды химияның негiздерi
- •1.7 Металдардың құрылымы және металл қорытпалардың фазалары
- •1.8 Кристалдық құрылыстың ақаулары
- •2 Тарау. Рентген құрылымды талдау тәсiлдерiнiң физикалық негiздерi
- •2.1 Рентген сәулелердiң табиғаты туралы қысқаша мәліметтер
- •2.2 Рентгендiк сәулеленудiң көздерi
- •2.3 Рентгендік сәулеленудiң спектрі
- •2.4 Рентген сәулелердiң затпен өзара әрекеттесуi
- •2.5 Вульф-Брэггтердiң теңдеуi
- •2.5.1 Зат арқылы өткенде рентген сәулеленудiң әлсiреуi
- •2 Қабат қалыңдығы, мм .10 - сурет– Бақылайтын үлгiлер қалындығының өзгеруiнен (5 және 7 мм) және материалдар табиғатынан (магний және темiр) рентген сәулелер қарқындылығының өзгеруi
- •2.6 Рентген сәулелердiң қосымша әдiстерi
- •2.6.1 Рентген сәулелердiң фотографиялық әсер етуге негiзделген тiркеу
- •2.7 Дифракционды максимумдардың қарқындылығына әсер ететiн факторлар
- •2.8 Рентген құрылымдық талдаудың қағидалары мен негiзгi әдiстерi
- •- Саңылаулы диафрагма;
- •3 Тарау. Рентген құрылымды талдаудың есептерi мен жаттығулары
- •3.1 Құрылымдық кристаллография және кристалдыхимия
- •3.2. Рентгендiк сәулелер шашырауының жалпы теориясы
- •3.2.1. Рентгендiк сәулеленудiң спектрлерi
- •3.2.2. Рентгендік сәулелердің әлсіреуі мен жұтылуы
- •3.3 Құрылымдық талдаудың тәжiрибелiк әдiстерi
- •3.3.1 Лауэ әдiсi
- •3.3.2 Кристалды айналдыру әдiсiмен зерттеу
- •3.3.3 Поликристалды нысандарды рентген құрылымдық зерттеу (ұнтақ әдiсi)
- •3.3.4 Фазалардың идентификациясы және фазалық талдау
- •3.3.5 Текстураның рентгенографиялық талдауы
- •3.3.6 Жұқа құрылымның параметрлерiн талдау
- •Рентгенография
2.2 Рентгендiк сәулеленудiң көздерi
Рентген сәулелердiң ең кең таралған көзi ол 2.3-суретте көрсетiлген рентгендiк электрондық түтiк.
Егер катодты (вольфрамнан жасалған жiп немесе спиральдi) 22002400 0С температураға қыздырсақ, онда термоэлектронды эмиссия-ның нәтижесiнде оның айналасында электрондардың бұлты пайда болады. Түтiкшеге потенциалдар айырмасын қолдансақ, электрондар ағыны металдық анодқа ұмтылады, қолданатын кернеу U қаншама жоғары болса, сондай тез ұшатын электрондардың жылдамдығы және энергиясы: э=еU, мұндағы е - электрон заряды. Тез ұшатын электрондардың анодпен соқтығысуы олардың кинетикалық энергиясының үлкен бөлiгi жылу энергиясына трансформациялауына әкеледi, ол анодтың жылытуын туғызады және тек ~1% рентгендiк сәулеленуi электромагниттi тербелiс энергиясына және 0,1% төмен сипаттамалық сәулеленуiне айналады.
1 - катод; 2 - фокустаушы қалпақ; 3 - бериллийлі терезелер;
4 - қорғаныс цилиндрi; 5 - анод айнасы
2.3 - сурет – БСВ типті рентгендік түтiкшенiң сұлбасы
Рентгендiк түтiктердiң маңызы сипаттамалары фокус мөлшерi, яғни электрондар шоғыры фокустанушы бағытталатын анодтың ауданы және түтiктiң қуаты болып табылады.
Рентген құрылымды және рентгенді дефектоскопия талдауында алған рентгенограммалардың сапасын, маңызды мөлшерде түтiктiң фокусы анықтайды. Түтiктiң қуаты рентген сәулелердiң қарқындылығын және жұмыс режимдерiн анықтайды.
2.2 - кестеде құрылымдық талдау үшiн кейбiр рентген түтiктердiң техникалық сипаттамалары берiлген.
2.2 - кесте – Рентген түтiктердiң техникалық сипаттамалары
Түтiктiң типi |
1,2БСВ-22 |
1,5БСВ-23 |
1,6БСВ-24 |
2,0БСВ-24 |
анод айнасының материалы |
Mo |
Cu |
Co |
Cu |
фокустың өлшемi, мм |
0,4*0,8 |
1,0*10 |
1,6*10 |
1,6*10 |
анодтық кернеу, кВ |
2560 |
2560 |
2560 |
2560 |
қуат, кВт |
1,2 |
1,5 |
1,6 |
2,0 |
қызу тоғы, тА |
3 |
4 |
4 |
4 |
қызу кернеуi, кВ |
3 |
4 |
4 |
4 |
жұтылу шегi |
0,689 |
1,488 |
1,743 |
1,488 |
фильтрдiң материалы |
Zr |
Ni |
Fe |
Ni |
Рентген құрылымды талдау үшiн түтікшеден бөлiнетiн рентгендік сәулелердiң спектрi үздiксiз (ақ, тежегiштi) және дискретті аралас (сипаттамалық) болуы мүмкiн (2.4 - сурет). Бұл спектрлердiң пайда болуы рентгендік түтiктің жұмыс режимімен және рентгендік түтiктің анодын-дағы екi әр түрлi механизммен процестердiң осы жағдайларында өтуімен сәйкес анықталады.
2.4 - сурет – Молибдендік анодының тұтас спектрдің фонындағы сипаттамалық спектрі
Қорыта келгенде, ауыр бөлшектердi (протондар) электрлiк жолмен үдететiн синхротрондарды рентген сәулеленудiң көзi ретiнде пайдала-нылатынын айта кеткен жөн.
Синхротронды сәулеленудiң артықшылығына үлкен қарқындылықты жатқызады, бiрақ, сәулеленудiң кең спектрi кристалдардың арнайы түрiн - монохроматтардың қолдануын туғызады. Құрылымдық талдауды жүргiзу үшiн электрондардың және нейтрондардың шоғырларын қолданатынын көрсеткен абзал.
