- •2.4 Выполнение арифметических операций в микропроцессорных
- •1 Основные сведения об информационно-измерительных системах
- •1.1 Место информационно-измерительных систем в современной измерительной технике и информационных технологиях
- •1.2 Классификация иис
- •1.3 Принципы организации и основные структурные схемы иис
- •1.3.1 Измерительные системы
- •1.3.2 Телеизмерительные системы
- •1.3.3 Системы автоматического контроля
- •1.3.4 Системы технической диагностики
- •1.4 Функции микропроцессоров в иис
- •1.5 Преимущества микропроцессорных измерительных систем
- •2 Базовые понятия и определения микропроцессорной арифметики
- •2.1 Системы счисления
- •2.1.1 Классификация систем счисления
- •1. Табличные методы.
- •2. Расчетные методы.
- •2.2 Представление числовых данных в микропроцессорных системах
- •Обратный код.
- •2.2.1 Арифметические флажки
- •2.2.2 Контроль переполнения в микропроцессорных системах
- •2.3 Выполнение арифметических операций в микропроцессорных системах над двоичными числами с фиксированной точкой
- •2.3.3 Операции сдвига в микропроцессорных системах
- •2.4 Выполнение арифметических операций в микропроцессорных системах над числами с плавающей точкой
- •2.4.2 Форматы двоичных числовых данных с плавающей точкой
- •2.4.3 Стандарт ieee-754
- •2.4.5 Сложение и вычитание чисел в форме с плавающей точкой
- •2.4.6 Умножение и деление чисел в форме с плавающей точкой
- •2.5 Представление числовых данных в коде bcd
- •2.5.1 Форматы числовых данных bcd-кодов
- •2.5.2 Арифметические операции над числовыми данными bcd-кодов
- •3 Основы микропроцессорных метрологических систем
- •3.1 Архитектурные особенности вычислительных систем на базе микропроцессора і80х86 в реальном режиме
- •3.1.1 Исследование сегментной структуры программы
- •3.2 Изучение арифметических и логических команд мп і80х86
- •3.2.1 Изучение принципов логического анализа данных
- •3.2.2 Изучение арифметических команд мп і80х86
- •3.3 Обработка массивов на языке Assembler для мп і80х86
- •3.3.2 Команды сравнения, условного и безусловного перехода
- •3.3.3 Оператор цикла
- •3.4 Исследование принципов организации подпрограмм в языке Аssembler для мп і80х86
- •3.4.1 Принципы функционирования стека в мп і80х86
- •3.5 Изучение принципов функционирования микропроцессоров со стековой архитектурой на примере математического сопроцессора і80х87
- •3.5.2 Архитектура математического сопроцессора і80х87
- •Задание:
- •Приложение е. Программа для изучения принципов обработки массивов на языке assembler для мп і80х86
- •Приложение и. Программа для исследования системы команд математического сопроцессора
1.3 Принципы организации и основные структурные схемы иис
1.3.1 Измерительные системы
Измерительные ИИС характеризуются преимуществом функций измерения, функции обработки и хранения незначительные или отсутствуют. В зависимости от вида и числа различных элементов в структуре измерительных систем их делят на следующие категории:
многоканальные (системы с параллельной структурой);
сканирующие (системы с последовательной структурой);
мультиплицированные (системы с развертывающим уравновешива-нием);
многоточечные.
Упрощенная структура многоканальной измерительной системы представлена на рис. 1.5. В каждом измерительном канале есть полный набор основных функциональных элементов: датчик Д (первичный измерительный преобразователь), мера М, элемент сравнения С (компаратор) и блок выдачи результата измерения ВР. Преимуществами многоканальной измерительной системы являются высокая надежность и быстродействие, обусловленные параллельной структурой. Вместе с тем такие системы характеризуются аппаратной избыточностью, следствием которой являются повышенная сложность и стоимость.
Рисунок 1.5 – Многоканальная измерительная система
Сканирующая измерительная система изображена на рис. 1.6. Она имеет один измерительный канал, а отличительной особенностью является наличие сканирующего устройства СкУ, осуществляющего перемещение датчика в различные точки объекта измерения.
Рисунок 1.6 – Сканирующая измерительная система
Эти системы последовательно во времени выполняют измерение многих величин с помощью одного канала измерения. Сканирующее устройство перемещает датчик в пространстве, причем траектория движения может быть заранее запрограммирована (так называемое пассивное сканирование) или может изменяться в зависимости от полученной в процессе сканирования информации (активное сканирование).
При исследованиях параметрических полей (температур, давлений, механических напряжений, магнитных и др.) такие ИИС дают количественную оценку значений параметров полей в заданных точках. Иногда с помощью сканирующих измерительных систем определяют экстремальные значения параметров исследуемых полей или эквипотенциальные области.
К недостаткам сканирующих измерительных систем можно отнести относительно малое быстродействие из-за последовательного выполнения операций измерения для всех измеряемых величин.
Структура мультиплицированной измерительной системы, которую еще называют системой с развертывающим уравновешиванием, представлена на рис. 1.7. Она содержит несколько измерительных каналов, но в отличие от многоканальной структуры, мера является общей для всех каналов. Эти системы разрешают на протяжении цикла изменения известной величины (развертки) выполнить сравнение со всеми измеряемыми величинами. Как правило, в таких системах измеренная величина x сравнивается с линейно изменяющейся величиной xk. В момент равенства x и xk формируется интервал времени Tx, пропорциональный измеряемой величине.
Рисунок 1.7 – Мультиплицированная измерительная система
Мультиплицированные измерительные системы имеют меньшее число элементов по сравнению с многоканальными системами, а следовательно и меньшую стоимость при обеспечении такого же быстродействия. Вместе с тем они содержат большое количество элементов сравнения, которые значительно усложняются при измерении сигналов низкого уровня.
Многоточечные измерительные системы (рис. 1.8) применяются для исследования сложных объектов с большим числом измеряемых величин. Число измерительных каналов в таких системах может достигать нескольких тысяч за счет использования измерительных коммутаторов ИК, предназначеных для последовательного подключения большого количества датчиков ко входу одного измерительного канала.
Рисунок 1.8 – Многоточечная измерительная система
Достоинства таких систем очевидны: меньшее количество оборудования в сравнении с многоканальными системами, возможность наращивания числа измерительных каналов за счет коммутатора. Недостатками многоточечных измерительных систем являются пониженное быстродействие при большом количестве опрашиваемых датчиков и некоторое снижение точности за счет остаточных параметров ключей коммутации.
