- •Содержание
- •Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа
- •Теоретические положения
- •Законы отражения света
- •Законы преломления света
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Интерференция в тонких пленках
- •Полосы равного наклона
- •Полосы равной толщины
- •Кольца Ньютона
- •Описание оборудования
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •1. Закон Брюстера, или поляризация при отражении от поверхности диэлектрика
- •2. Поляризация при двойном лучепреломлении
- •Поляроиды
- •Закон Малюса
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение концентрации раствора сахара поляриметром
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение постоянной стефана−больцмана при помощи оптического пирометра
- •Теоретические положения
- •Характеристики теплового излучения
- •Законы теплового излучения
- •Закон Стефана−Больцмана
- •Содержание работы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Фотоэлементы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Снятие вах фотоэлемента
- •Определение интегральной чувствительности фотоэлемента
- •Проверка 1-го закона фотоэффекта
- •Контрольные вопросы
- •3 Постулат
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний линз методом бесселя
- •Теоретические положения
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний и положений главных плоскостей двухлинзовой оптической системы
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Моделирование оптических приборов и определение их увеличения
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение расстояния между щелями в опыте юнга
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Исследование закона малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку
- •Теоретические положения
- •Эллиптическая поляризация света
- •Закон малюса
- •Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Исследование закона Малюса
- •Обработка результатов
- •Работа с фазовой пластинкой
- •Обработка результатов
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Примечание
- •Рекомендуемые задания
- •Приложение
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Характеристики фильтров оптического излучения
- •Коэффициенты поглощения для разных категорий оптического стекла
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Дифракция Фраунгофера на круглом отверстии
- •Примеры дифракционных картин Пятно Пуассона
- •Дифракция Френеля на круглом отверстии
- •Настройка армс
- •Порядок измерений
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
При прохождении света через прозрачные кристаллы может наблюдаться явление двойного лучепреломления, заключающееся в том, что упавший на кристалл луч разделяется внутри кристалла на два луча – обыкновенный и необыкновенный. Исследования показывают, что помимо прочих различий эти лучи полностью поляризованы во взаимно перпендикулярных направлениях, связанных с собственными осями кристалла. Оптической осью кристалла называют некоторое выделенное направление, относительно которого свойства кристалла обладают симметрией.
Р
Рис. 3.26.3.
ассмотрим кристаллическую пластинку, вырезанную вдоль оптической оси. При падении на такую пластинку линейно поляризованного света обыкновенный и необыкновенный лучи распространяются по одной траектории, но приобретают разность фаз, обусловленную различными значениями показателей преломления для обыкновенного и необыкновенного луча. Если толщина пластинки такова, что при прохождении через нее лучи приобретут оптическую разность хода ∆ = λ/4 + + mλ (m = 0,1,2...), то разность фаз для них составит π /2. При Δ = π/2 и равенстве амплитуд электрических колебаний в обоих лучах поляризация света станет круговой (циркулярной). Такая пластинка называется пластинкой в четверть волны (рис. 3.26.3).Пластинка, для которой Δ = λ/2 + mλ, называется пластинкой в полволны. Она вносит разность фаз, равную π, и прошедший свет в этом случае оказывается линейно поляризованным, но уже в плоскости, отличной от исходной.
Описание оборудования
Схема установки приведена на рис. 3.26.4. В первой части работы (при исследовании закона Малюса) установка включает в себя полупроводниковый лазер, анализатор и фотоприемник.
В работе используется лазер, на выходной диафрагме которого установлен дихроичный пленочный поляризатор, и, таким образом, выходное излучение является линейно поляризованным, его интенсивность соответствует обозначению I0 в формуле для закона Малюса. Угол φ изменяется вращением анализатора.
Свет, прошедший через анализатор интенсивностью I, попадает на фотоприемник (фотодиод), подключенный к мультиметру. Показания мультиметра пропорциональны световому потоку, попадающему на фотодиод.
Рис. 3.26.4.
Показания с мультиметра следует снимать в режиме измерения тока, так как получаемая в этом случае характеристика является линейной.
Во второй части работы между лазером и анализатором помещается фазовая пластинка из слюды.
На рисунке приведен внешний вид лабораторной установки РМС1, аналогичная оптическая схема может быть собрана также в комплекте РМС7.
Порядок работы
Исследование закона Малюса
Установить мультиметр в режим измерения тока I, мА и вращением анализатора установить положение максимального пропускания. Выставить на мультиметре необходимый предел измерений, при котором отсутствует индикация перегрузки.
Перекрыть луч лазера оптически непрозрачным материалом и снять отсчет темнового тока фотоприемника IT. Установить анализатор в положение, соответствующее φ = 0°. Снять показания мультиметра в режиме измерения тока I, мА. Затем, поворачивая анализатор через 10°, заполнить табл. 1 для I .
Таблица 1
Угол φ |
0 |
10 |
20 |
30 |
40 |
|
… |
|
320 |
330 |
340 |
350 |
360 |
|
I, мА
|
1 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
2 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
I0 = <I> – IT |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Произвести указанные измерения дважды (или большее число раз по заданию преподавателя) и рассчитать средние значения < I > по результатам измерений.
