- •Содержание
- •Определение показателя преломления стекла с помощью микроскопа
- •Теоретические положения
- •Законы отражения света
- •Законы преломления света
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Интерференция в тонких пленках
- •Полосы равного наклона
- •Полосы равной толщины
- •Кольца Ньютона
- •Описание оборудования
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •1. Закон Брюстера, или поляризация при отражении от поверхности диэлектрика
- •2. Поляризация при двойном лучепреломлении
- •Поляроиды
- •Закон Малюса
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение концентрации раствора сахара поляриметром
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение постоянной стефана−больцмана при помощи оптического пирометра
- •Теоретические положения
- •Характеристики теплового излучения
- •Законы теплового излучения
- •Закон Стефана−Больцмана
- •Содержание работы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Фотоэлементы
- •Описание оборудования и порядок работы
- •Снятие вах фотоэлемента
- •Определение интегральной чувствительности фотоэлемента
- •Проверка 1-го закона фотоэффекта
- •Контрольные вопросы
- •3 Постулат
- •Измерение и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний линз методом бесселя
- •Теоретические положения
- •Содержание работы
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение фокусных расстояний и положений главных плоскостей двухлинзовой оптической системы
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Моделирование оптических приборов и определение их увеличения
- •Теоретические положения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы и обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Определение расстояния между щелями в опыте юнга
- •Теоретические положения
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Исследование закона малюса и прохождения поляризованного света через фазовую пластинку
- •Теоретические положения
- •Эллиптическая поляризация света
- •Закон малюса
- •Прохождение плоскополяризованного света через кристаллическую пластинку
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Исследование закона Малюса
- •Обработка результатов
- •Работа с фазовой пластинкой
- •Обработка результатов
- •Описание оборудования
- •Порядок выполнения работы
- •Описание лабораторной установки
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Примечание
- •Рекомендуемые задания
- •Приложение
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Характеристики фильтров оптического излучения
- •Коэффициенты поглощения для разных категорий оптического стекла
- •Описание оборудования
- •Порядок работы
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Дифракция Фраунгофера на круглом отверстии
- •Примеры дифракционных картин Пятно Пуассона
- •Дифракция Френеля на круглом отверстии
- •Настройка армс
- •Порядок измерений
- •Обработка результатов
- •Контрольные вопросы
- •Литература
Эллиптическая поляризация света
Поляризованное излучение имеет в общем случае эллиптическую поляризацию. При этом ортогональные компоненты светового вектора Е для выбранной системы координат (ось Ζ параллельна направлению распространения света) описываются выражениями вида:
Ex=Exo sin(ωt + δx ), (3.26.1)
Εγ=Εγο sin(ωt + δγ ). (3.26.2)
Сложение ортогональных колебаний вида (3.26.1) и (3.26.2) на плоскости XY дает проекционную картину эллипса. При этом форма эллипса определяется следующими параметрами:
δ = δγ – δx (3.26.3)
– разность фаз,
tgψ = EX0 /EY0 (3.26.4)
– отношение амплитуд.
При δ, равной нулю или π, эллипс вырождается в прямую и получается линейно поляризованный свет. При δ = π/2 и равенстве амплитуд складываемых волн эллипс превращается в окружность – получается свет, поляризованный по кругу.
В зависимости от направления вращения вектора Ε различают правую и левую эллиптическую поляризацию. Если по отношению к направлению луча вектор Ε вращается по правилу правого винта, поляризация называется правой, в противном случае – левой.
Для описания формы эллипса часто используют другую пару параметров, имеющих более наглядную геометрическую интерпретацию (рис. 3.26.1):
χ – азимут ориентации большой полуоси эллипса в выбранной системе координат;
Рис. 3.26.1.
tg γ = b/а – эллиптичность – отношение полуосей эллипса.
Связь между параметрами ψ, δ и χ, γ задается формулами:
cos 2ψ = -cos 2γ cos 2χ, (3.26.5)
tg δ = tg 2γ/sin 2χ, (3.26.6)
tg 2χ = -tg 2ψ cos δ, (3.26.7)
sin 2γ = sin 2ψ sin δ. (3.26.8)
Представление эллипса поляризации двумя парами параметров и соотношение между ними имеют важное практическое значение. Непосредственно измеряемыми параметрами в большинстве измерительных схем являются величины χ и γ, для физической интерпретации результатов измерений часто более удобны параметры ψ и δ (например, при построении математической модели объекта с использованием законов и формул Френеля для обработки результатов измерений).
Закон малюса
Пусть свет на своем пути проходит через поляризатор и анализатор, причем угол между их плоскостями поляризации составляет φ (рис. 3.26. 2). После поляризатора выйдет свет интенсивностью I0. Согласно закону Малюса после анализатора мы получим свет, интенсивность которого определяется выражением
I = I0 .cos2 φ. (3.26.9)
В справедливости этого выражения нетрудно убедиться, вспомнив, что интенсивность пропорциональна квадрату амплитуды Ε.
Рис. 3.26.2.
Если частично поляризованный свет пропускать через анализатор, то интенсивность I прошедшего света будет меняться в зависимости от положения плоскости поляризации анализатора. Она достигает максимального значения, если плоскость поляризации анализатора и плоскость преимущественных колебаний частично поляризованного света совпадают. Если же эти плоскости перпендикулярны друг другу, то интенсивность света, прошедшего через анализатор, будет минимальной.
